專利名稱：射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)及調節(jié)測試范圍的方法
技術領域：
本發(fā)明涉及射頻(RF，Radio Frequency)參數(shù)測試技術，特別涉及一種射頻時間模板(Time Mask)參數(shù)的測試系統(tǒng)、以及一種調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法。
背景技術：
在中國提出的擁有自主知識產權的時分同步碼分多址(TD-SCDMA， TimeDivision-Synchronous Code Division Multiple Access)網絡規(guī)模商用的過程中，運營商和設備供應商需要對入網設備進行大量的一致性測試工作，其中，包括TD-SCDMA入網設備的射頻一致性測試，為此，在第三代移動通信伙伴計劃(3GPP，3rd GenerationPartnership Project) 25. 142協(xié)議中，對系統(tǒng)中發(fā)射機(TD基站)的時間模板參數(shù)的測試進行了技術和測試上的規(guī)范，其中，時間模板參數(shù)即指發(fā)射機的射頻功率隨時間變化的參數(shù)指標，也就是發(fā)射機在各個指定時間點的功率值。 具體的，在3GPP 25. 142協(xié)議規(guī)范中，規(guī)定發(fā)射機在非發(fā)射時隙(接收時隙)中信號的功率電平(即關斷功率(Transmit OFF Power))必須小于_82dBm，而在發(fā)射時隙，對于單載波發(fā)射機，規(guī)定發(fā)射信號的發(fā)射功率(Transmit ON Power)最低為25dBm。關于測試的其它要求和規(guī)范，具體可參見3GPP 25. 142協(xié)議規(guī)范。通過時間模板參數(shù)的測試可以確定發(fā)射機在非發(fā)射時隙和發(fā)射時隙的實際信號功率電平，通過將該實際值與上述協(xié)議規(guī)范進行比較，判斷該發(fā)射機的信號功率是否符合要求。 圖1為現(xiàn)有時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)結構示意圖，參見圖l，該測試系統(tǒng)包括發(fā)射機以及射頻頻譜儀，發(fā)射機和射頻頻譜儀通過線纜相連，其中，發(fā)射機，用于向射頻頻譜儀發(fā)送5ms幀同步信號以及被測信號，5ms幀同步信號用于同步射頻頻譜儀以及通知同步射頻頻譜儀自身所處的工作狀態(tài)，被測信號按照發(fā)射機標定的發(fā)射時隙和接收時隙的要求分別進行發(fā)送；射頻頻譜儀接收到發(fā)射機發(fā)送的5ms幀同步信號后，觸發(fā)進行時間模板參數(shù)的測試。具體來說，發(fā)射機通過發(fā)送的5ms幀同步信號的高低電平來表示處于發(fā)射時隙還是接收時隙，如果射頻頻譜儀檢測到接收的5ms幀同步信號為高電平，表示發(fā)射機處于發(fā)射時隙，則利用接收的被測信號進行發(fā)射機發(fā)射時隙的時間模板參數(shù)測試；如果射頻頻譜儀檢測到接收的5ms幀同步信號為低電平，表示發(fā)射機處于非發(fā)射(接收)時隙，則利用接收的被測信號進行發(fā)射機非發(fā)射時隙的時間模板參數(shù)的測試。 現(xiàn)有的射頻頻譜儀僅能處理功率處于其額定的測試范圍內的輸入信號，當輸入信號的功率超過其額定的測試范圍時，無法準確測量輸入信號的功率。由于技術以及成本的考慮，現(xiàn)有射頻頻譜儀可處理的被測信號最大動態(tài)范圍一般為75dB。 而如前所述，對于單載波發(fā)射機，即使?jié)M足協(xié)議規(guī)定的最低要求，則發(fā)射機的發(fā)射時隙的信號與非發(fā)射時隙(接收時隙)的信號的功率電平差也可達到107dB，即接收時隙和發(fā)射時隙的被測信號的射頻功率動態(tài)范圍為-82dBm 25dBm。如果發(fā)射機采用大功率的多載波形式，則其被測信號的發(fā)射時隙的射頻功率電平上限值還會更大，使得被測信號的功率電平差將會更進一步增大。
可見，對于滿足協(xié)議規(guī)定的發(fā)射機，其被測信號的功率動態(tài)范圍電平差必然超過 現(xiàn)有射頻頻譜儀的最大動態(tài)范圍(75dB)，因此將導致射頻頻譜儀測試過載，使得測試誤差 增大，無法獲得準確的測試時間模板參數(shù)。其中，通常接收時隙的信號功率電平能夠保持在 射頻頻譜儀的額定測試范圍內，但是發(fā)射時隙的信號功率電平會超出射頻頻譜儀的額定測 試范圍。 如果通過改進射頻頻譜儀，使其測試范圍擴大，又將使得射頻頻譜儀結構變得十 分復雜，同時也大大增加了測試成本。因此，實際應用中，雖然3GPP協(xié)議和工信部制定的 TD產品行業(yè)標準對于時間模板參數(shù)指標都有明確規(guī)定，但是由于射頻頻譜儀的技術能力限 制，從2004年年底開始的TD產品入網測試直到現(xiàn)在，當發(fā)射機設置的時間模板參數(shù)動態(tài)范 圍超過75dB時，將不對該發(fā)射機信號的時間模板參數(shù)指標進行測試。

發(fā)明內容
有鑒于此，本發(fā)明提供了一種射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)，能夠對超出射頻頻 譜儀測試范圍的發(fā)射機信號進行測試。 本發(fā)明還提供了一種調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法，能夠對超出射頻頻 譜儀測試范圍的發(fā)射機信號進行測試。 本發(fā)明提供的一種射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)，包括用于產生同步信號和被 測信號的發(fā)射機、以及根據所述發(fā)射機產生的同步信號對被測信號進行時間模板參數(shù)測試 的射頻頻譜儀，該測試系統(tǒng)還包括連接于所述發(fā)射機和所述射頻頻譜儀之間的同步可變 射頻衰減器、以及連接于所述射頻頻譜儀輸出端的補償器， 同步可變射頻衰減器，用于在所述發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對該發(fā)射機 產生的被測信號按照預設的衰減量衰減，以供所述射頻頻譜儀對衰減后的被測信號執(zhí)行時 間模板參數(shù)測試。 所述預設的衰減量是根據所述射頻頻譜儀的額定測試范圍、以及所述發(fā)射機在其 發(fā)射時隙和接收時隙的功率參數(shù)確定的。 相互級聯(lián)的一個以上的同步可變射頻衰減器連接于所述發(fā)射機和所述射頻頻譜 儀之間； 且，所有同步可變射頻衰減器對所述測試信號的衰減總量等于所述預設的衰減 所述預設的衰減量包括發(fā)射時隙衰減量和接收時隙衰減量，所述同步可變射頻衰
減器包括第一單輸入雙輸出選擇開關、按照所述發(fā)射時隙衰減量衰減的第二 RF衰減器、
按照所述接收時隙衰減量衰減的第三RF衰減器、同步控制信號發(fā)生器，其中， 所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述同步可變射頻衰減器的輸入 端相連、其中一路輸出與所述第二RF衰減器的輸入相連、另一路輸出與所述第三RF衰減器
的輸入相連； 所述第二 RF衰減器的輸出、以及所述第三RF衰減器的輸出均與所述同步可變射 頻衰減器的輸出端相連； 所述同步控制信號發(fā)生器用于在所述發(fā)射機產生的同步信號表示發(fā)射時隙時，觸 發(fā)所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機產生的同步信號表示接收時隙時，觸發(fā)所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另 一路輸出導通。 所述同步可變射頻衰減器與所述射頻頻譜儀之間，進一步連接一個、或級聯(lián)多于 一個可變射頻衰減器，用于對所述同步可變射頻衰減器輸出的被測信號按照預設的衰減量 衰減； 且，所述同步可變射頻衰減器、所有可變射頻衰減器對所述測試信號的衰減總量 等于所述預設的衰減量。 所述可變射頻衰減器包括第二單輸入雙輸出選擇開關、第四RF衰減器、以及第 一切換控制器， 所述第二單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述可變射頻衰減器的輸入端相 連、其中一路輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連、另一路輸出與所述第四RF衰減器 的輸入相連； 所述第四RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連； 所述第一切換控制器在所述發(fā)射機的接收時隙到來時，觸發(fā)所述第二單輸入雙輸
出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機的發(fā)射時隙到來時，觸發(fā)
所述第二單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另一路輸出導通。 所述可變射頻衰減器包括第三單輸入雙輸出選擇開關、第五RF衰減器、第六RF 衰減器、以及第二切換控制器， 所述第三單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述可變射頻衰減器的輸入端相 連、其中一路輸出與所述第五RF衰減器的輸入相連、另一路輸出與所述第六RF衰減器的輸 入相連； 所述第五RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連； 所述第六RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連； 所述第二切換控制器在所述發(fā)射機的接收時隙到來時，觸發(fā)所述第三單輸入雙輸
出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機的發(fā)射時隙到來時，觸發(fā)
所述第三單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另一路輸出導通。 所述同步可變射頻衰減器與所述發(fā)射機之間，進一步級聯(lián)至少一個第一射頻RF 衰減器，用于對尚未經所述同步可變射頻衰減器衰減的測試信號進行預衰減。
所述第一同步可變射頻衰減器設置有多個衰減量等級。
該系統(tǒng)進一步包括 補償器，用于對所述射頻頻譜儀輸出的衰減后被測信號的時間模板參數(shù)，按照所
述預設的衰減量進行補償，得到衰減之前的被測信號的時間模板參數(shù)。 本發(fā)明提供的一種調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法，該方法包括 在發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對該發(fā)射機產生的被測信號按照預設的衰減
量衰減，以供射頻頻譜儀對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板參數(shù)測試。 由上述技術方案可見，本發(fā)明實施例的射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)及調節(jié)測試 范圍的方法，在發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對該發(fā)射機產生的被測信號按照預設的 衰減量衰減，以將測試信號的功率動態(tài)范圍電平差縮小至射頻頻譜儀最大動態(tài)范圍內，從 而使得射頻頻譜儀能夠對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板參數(shù)測試。
而且，對于功率動態(tài)范圍電平差超出射頻頻譜儀最大動態(tài)范圍的測試信號來說， 由于使射頻頻譜儀能夠在額定的動態(tài)測試范圍內可以對該被測信號準確地進行射頻時間 模板參數(shù)測試，因而提高了該被測信號的射頻時間模板參數(shù)的精度。 此外，在對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板參數(shù)測試后，只需要通過任意方式對 射頻頻譜儀輸出的衰減后被測信號的時間模板參數(shù)，按照所述預設的衰減量進行補償，即 可得到衰減之前的被測信號的時間模板參數(shù)，從而不會影響測試的準確性。


圖1為現(xiàn)有時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)結構示意圖。 圖2為本發(fā)明射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)結構示意圖。 圖3(a)為本發(fā)明同步可變射頻衰減器的結構示意圖。 圖3(b)為本發(fā)明同步可變射頻衰減器的第二結構示意圖。 圖3(c)為本發(fā)明可變射頻衰減器的結構示意圖。 圖4為本發(fā)明調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法流程示意圖。
具體實施例方式
為使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下參照附圖并舉實施例，對 本發(fā)明作進一步詳細說明。 本發(fā)明實施例是通過在射頻頻譜儀進行測試前，對被測信號進行衰減，使被測信 號衰減到射頻頻譜儀的動態(tài)測試范圍內，避免射頻頻譜儀測試過載，從而使射頻頻譜儀在 額定的動態(tài)測試范圍內可以對超出射頻頻譜儀額定動態(tài)測試范圍的被測信號進行測試。
在本發(fā)明實施例中，對被測信號進行衰減的處理可以有兩種方式如前所述，發(fā)射 時隙的被測信號很可能會超出射頻頻譜儀的額定測試范圍，而接收時隙的被測信號通常會 在射頻頻譜儀的額定測試范圍內，因此在進行衰減時，可以僅對發(fā)射時隙的被測信號進行 衰減；或者，也可以對發(fā)射時隙和接收時隙的被測信號均進行衰減。
以下以對發(fā)射時隙被測信號的衰減為例進行說明。 圖2為本發(fā)明射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)結構示意圖。參見圖2，該測試系統(tǒng)包
括發(fā)射機、同步可變射頻衰減器、射頻頻譜儀和補償器，其中，同步可變射頻衰減器連接于
發(fā)射機和射頻頻譜儀之間、補償器連接于射頻頻譜儀輸出端，發(fā)射機與同步可變射頻衰減
器之間、以及同步可變射頻衰減器和射頻頻譜儀之間通過線纜相連， 發(fā)射機，用于輸出被測信號以及同步信號； 本實施例中，發(fā)射機為TD基站，同步信號為5ms幀同步信號。 同步可變射頻衰減器，用于在發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對發(fā)射機產生被 測信號按照預設的衰減量衰減后輸出，以供射頻頻譜儀對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板 參數(shù)測試； 具體來說，同步可變射頻衰減器根據接收的同步信號確定發(fā)射機處于發(fā)射時隙工 作狀態(tài)，按照發(fā)射機工作狀態(tài)發(fā)射時隙狀態(tài)對應的預設的衰減量將接收的被測信號衰減到 射頻頻譜儀測試的動態(tài)范圍內，并將同步信號輸出至射頻頻譜儀； 本實施例中，如果確定發(fā)射機處于發(fā)射時隙，將接收的被測信號按照同步可變射頻衰減器中預設的衰減量進行衰減后輸出至射頻頻譜儀，如果確定發(fā)射機處于接收時隙，將接收的被測信號輸出至射頻頻譜儀。 實際應用中，可以根據射頻頻譜儀的額定測試范圍內以及發(fā)射機標稱的發(fā)射時隙和接收時隙的功率參數(shù)確定預設的衰減量，以保證經過衰減后的被測信號功率處于射頻頻譜儀的額定測試范圍內。舉例來說，如果射頻頻譜儀的額定測試范圍為-90dBm -20dBm，發(fā)射機標定的發(fā)射時隙的功率參數(shù)為30dBm，接收時隙的功率參數(shù)為-85dBm，則預設的衰減量可以是50dB。 預設的衰減量也可以包括多個衰減量等級，例如，對于上述預設的衰減量是50dB的同步可變射頻衰減器來說，可以設定最低衰減量為50dB，最高衰減量為80dB，在最低衰減量等級與最高衰減量等級之間，設定多個中間衰減量數(shù)值，以調節(jié)被測信號，使射頻頻譜儀處于較佳的測試范圍內。 射頻頻譜儀，用于接收衰減后的被測信號，進行時間模板參數(shù)測試，并輸出衰減后被測信號的時間模板參數(shù)； 補償器，用于對射頻頻譜儀輸出的衰減后被測信號的時間模板參數(shù)，按照預設的衰減量進行補償，得到衰減之前的被測信號的時間模板參數(shù)。 需要說明的是，本發(fā)明主要是希望解決如何對超出射頻頻譜儀測試范圍的發(fā)射機信號進行測試，那么在實現(xiàn)上述測試后，可以不涉及如何得到正確的時間模板參數(shù)，且如何得到正確的時間模板參數(shù)可由本領域技術人員采用任意方式來實現(xiàn)，因此，上述的補償器并非必須包含的元器件。 例如，對本領域技術人員來說，只要獲知射頻頻譜儀是針對衰減后被測信號進行
測試，那么射頻頻譜儀輸出衰減后被測信號的時間模板參數(shù)后，無需補償器也可通過例如
人工計算、或以計算機程序對衰減后被測信號的時間模板參數(shù)進行補償。 本實施例中，射頻頻譜儀對接收的被測信號進行時間模板參數(shù)的測試屬于現(xiàn)有技
術，在此不再贅述，不同的是，由于預先對被測信號進行了衰減，因而，在獲取測試的時間模
板參數(shù)后，需要將測試獲取的該時間模板參數(shù)按照同步可變射頻衰減器中預設的衰減量進
行補償，以獲取被測信號的實際時間模板參數(shù)。例如，如前所述，如果射頻頻譜儀測試得到
的發(fā)射時隙的被測信號時間模板參數(shù)為_15(18111，則發(fā)射時隙的被測信號實際的模板參數(shù)
為-15+50 = 35dBm ;而測試得到的接收時隙的被測信號時間模板參數(shù)就是發(fā)射時隙的被測
信號實際的模板參數(shù)。 實際應用中，同步可變射頻衰減器、射頻頻譜儀與補償器也可以集成于同一物理實體，即將同步可變射頻衰減器與補償器集成于射頻頻譜儀中形成測試射頻時間模板參數(shù)
的裝置。此外，為了降低同步可變射頻衰減器衰減較大時設備的復雜性，也可以將多個同步可變射頻衰減器進行級聯(lián)，具體來說，在多個同步可變射頻衰減器級聯(lián)時，其結構與存在上述同步可變射頻衰減器可以相同；也可以不同，這里，可以分為兩種情況，第一種情況，在同步可變射頻衰減器與射頻頻譜儀之間，連接一個、或級聯(lián)多于一個可變射頻衰減器，用于對同步可變射頻衰減器輸出的被測信號按照預設的衰減量衰減；且，同步可變射頻衰減器、所有可變射頻衰減器對測試信號的衰減總量等于預設的衰減量。第二種情況，需要對與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器進行一些改動，以下以第二種情況級聯(lián)的兩個不同結構的同步可變射頻衰減器為例進行說明。
將與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器設置為三個輸出端口，第一輸出端口用于 輸出同步信號，第二輸出端口用于輸出接收時隙的被測信號，第三輸出端口用于輸出發(fā)射 時隙的被測信號，相應地， 后一同步可變射頻衰減器設置為三個輸入端口和三個輸出端口 ，第一輸入端口接 收同步信號，進行透明傳輸，通過第一輸出端口輸出，第二輸入端口接收來自與發(fā)射機連接 的同步可變射頻衰減器第二輸出端口輸出的被測信號，通過第二輸出端口輸出，第三輸入 端口接收來自與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器第三輸出端口輸出的被測信號，通過第 三輸出端口輸出；當然，后一同步可變射頻衰減器也可以設置為兩個輸入端口和兩個輸出 端口 ，與具有三個輸入端口的同步可變射頻衰減器不同的是，具有兩個輸入端口的同步可 變射頻衰減器不需同步信號，同步信號經與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器輸出后直接 輸入射頻頻譜儀。 由與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器根據接收的同步信號確定發(fā)射機狀態(tài)并 將同步信號發(fā)送至下一同步可變射頻衰減器如果確定發(fā)射機處于發(fā)射時隙狀態(tài)，按照發(fā) 射機發(fā)射時隙狀態(tài)對應的預設的衰減量將接收的被測信號進行衰減，然后輸出至后一同步 可變射頻衰減器的發(fā)射時隙的被測信號接收端口繼續(xù)進行衰減；如果確定發(fā)射機處于接收 時隙狀態(tài)，將接收的被測信號輸出至下一同步可變射頻衰減器的接收時隙的被測信號接收 端口 ； 當然，對于不需要對接收時隙的被測信號進行衰減的情況下，后一同步可變射頻 衰減器也可設置為單輸入端口和單輸出端口 ，與發(fā)射機連接的同步可變射頻衰減器根據接 收的同步信號確定發(fā)射機狀態(tài)并將同步信號直接發(fā)送至射頻頻譜儀；如果確定發(fā)射機處 于發(fā)射時隙狀態(tài)，按照發(fā)射機發(fā)射時隙狀態(tài)對應的預設的衰減量將接收的被測信號進行衰 減，然后輸出至下一同步可變射頻衰減器的接收端口繼續(xù)進行衰減；如果確定發(fā)射機處于 接收時隙狀態(tài)，將接收的被測信號直接輸出至射頻頻譜儀。 進一步地，為了得到更加精確的時間模板參數(shù)測試數(shù)據，在測量之前可以使用矢 量網絡分析儀對同步可變射頻衰減器進行校準，例如，對同步可變射頻衰減器的穩(wěn)定性以 及預設的衰減量等進行校準，有關對同步可變射頻衰減器進行校準的操作流程，可參見相 關文獻，在此不再贅述。 此外，為了進一步保護射頻頻譜儀以及降低同步可變射頻衰減器的復雜性，也可 以將發(fā)射機輸出的被測信號先通過RF衰減器進行預衰減以確保被測信號不超出射頻頻譜 儀額定的測試范圍，例如，衰減器可以為一個10dB的大功率衰減器。與上述同步可變射頻 衰減器不同的是，該RF衰減器不需要同步信號的控制，對發(fā)射時隙和接收時隙的被測信號 進行相同的衰減，這樣，也降低了衰減器結構的復雜性。 圖3(a)為本發(fā)明同步可變射頻衰減器的結構示意圖，參見圖3(a)，該同步可變射 頻衰減器包括同步控制信號發(fā)生器、開關、RF衰減器，其中， 同步控制信號發(fā)生器，用于接收來自發(fā)射機的同步信號，根據同步信號確定的發(fā) 射機工作狀態(tài)控制開關導通或關斷RF衰減器，并將同步信號輸出，RF衰減器在與開關導通 后，將接收的被測信號按照預設的衰減量進行衰減后輸出； 具體來說，如果接收的同步信號為高電平，確定發(fā)射機處于發(fā)射時隙，生成同步控 制信號控制開關與RF衰減器連接導通，RF衰減器將接收的被測信號按照預設的衰減量進行衰減后輸出；如果接收的同步信號為低電平，確定發(fā)射機處于接收時隙，控制開關將接收 的被測信號直接輸出。 開關可以是RF單刀雙擲開關，也可以是其它開關，如MOS管開關等。 實際應用中，對于按照各自預設的衰減量同時對發(fā)射時隙的被測信號以及接收時
隙的被測信號進行衰減的情形，可以在同步可變射頻衰減器中再增加一個RF衰減器，用于
接收時隙所接收的被測信號進行相應衰減后輸出，與處于發(fā)射時隙的RF衰減器不同的是，
該RF衰減器的衰減量要小得多，例如，1. 5dB。 圖3(b)為本發(fā)明同步可變射頻衰減器的第二結構示意圖，參見圖3(b)，該同步可 變射頻衰減器包括單輸入雙輸出選擇開關、按照發(fā)射時隙衰減量衰減的RF衰減器、按照 接收時隙衰減量衰減的RF衰減器、同步控制信號發(fā)生器，其中， 單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與同步可變射頻衰減器的輸入端相連、其中一 路輸出與發(fā)射時隙的RF衰減器的輸入相連、另一路輸出與接收時隙的RF衰減器的輸入相 連； 發(fā)射時隙的RF衰減器的輸出、以及接收時隙的RF衰減器的輸出均與同步可變射 頻衰減器的輸出端相連； 同步控制信號發(fā)生器用于在發(fā)射機產生的同步信號表示發(fā)射時隙時，觸發(fā)單輸入 雙輸出選擇開關的一路輸入與其中一路輸出導通；在發(fā)射機產生的同步信號表示接收時隙 時，觸發(fā)單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與另一路輸出導通。 圖3(c)為本發(fā)明可變射頻衰減器的結構示意圖，參見圖3(c)，該可變射頻衰減器 用于與圖3(b)中同步可變射頻衰減器輸出相連，包括單輸入雙輸出選擇開關、RF衰減器、 以及切換控制器， 單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與可變射頻衰減器的輸入端相連、其中一路輸 出與可變射頻衰減器的輸出端相連、另一路輸出與RF衰減器的輸入相連；
RF衰減器的輸出與可變射頻衰減器的輸出端相連； 切換控制器在發(fā)射機的接收時隙到來時，觸發(fā)單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入 與其中一路輸出導通；在發(fā)射機的發(fā)射時隙到來時，觸發(fā)單輸入雙輸出選擇開關的一路輸 入與另一路輸出導通。 圖3(c)中，也可以在與可變射頻衰減器的輸出端相連的一路上再串接一個RF衰 減器。 由上可見，本發(fā)明實施例在射頻頻譜儀對被測信號進行測試前，首先對被測信號 進行衰減，使衰減后的被測信號在射頻頻譜儀的動態(tài)測試范圍內，這樣，避免了射頻頻譜儀 測試中的過載引起的測試誤差較大的問題，從而使射頻頻譜儀在額定的動態(tài)測試范圍內可 以對超出射頻頻譜儀額定動態(tài)測試范圍的被測信號進行測試，提高了測試射頻時間模板參 數(shù)的精度，同時，測試系統(tǒng)僅需增加同步可變射頻衰減器，不需對射頻頻譜儀進行復雜的改 進，測試系統(tǒng)結構簡單、操作方便，測試成本低。 圖4為本發(fā)明調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法流程示意圖。參見圖4，該流 程包括 步驟401，在發(fā)射機產生的同步信號的控制下，將接收的被測信號按照預設的衰減 量衰減后輸出；
本步驟中，具體包括接收發(fā)射機產生的同步信號，根據同步信號確定發(fā)射機的工 作狀態(tài)，按照發(fā)射機工作狀態(tài)對應的預設的衰減量將接收的被測信號衰減到射頻頻譜儀測 試的動態(tài)范圍內，并將同步信號輸出至射頻頻譜儀。
其中， 根據同步信號確定發(fā)射機的工作狀態(tài)具體為如果確定接收的同步信號為高電 平，則發(fā)射機處于發(fā)射時隙；如果確定接收的同步信號為低電平，則發(fā)射機處于接收時隙。 本實施例中，同步信號為5ms幀同步信號。 預設的衰減量根據射頻頻譜儀額定的測試范圍以及發(fā)射機標定的發(fā)射時隙和接 收時隙的功率參數(shù)進行設定，使經過同步可變射頻衰減器輸出的信號的功率在射頻頻譜儀 額定的合適的測試范圍內。 如前所述，具體的衰減操作可以僅對發(fā)射時隙的被測信號進行，或者，也可以對發(fā) 射時隙和接收時隙的被測信號均進行衰減。具體地， 若僅對發(fā)射時隙的被測信號進行衰減，則預設的衰減量為發(fā)射時隙衰減量，在設
定該衰減量時，根據發(fā)射機標定的發(fā)射時隙的功率參數(shù)和射頻頻譜儀的額定測試范圍進行
設置。在進行衰減操作時，如果確定發(fā)射機處于發(fā)射時隙，將接收的被測信號按照預設的發(fā)
射時隙衰減量進行衰減，如果確定發(fā)射機處于接收時隙，對接收的被測信號不作處理。 若對發(fā)射時隙和接收時隙的被測信號均進行衰減，則預設的衰減量為發(fā)射時隙衰
減量和接收時隙衰減量，在設定衰減量時，需要根據發(fā)射機標定的發(fā)射時隙的功率參數(shù)和
射頻頻譜儀的額定測試范圍設置發(fā)射時隙衰減量，再根據發(fā)射機標定的接收時隙的功率參
數(shù)和射頻頻譜儀的額定測試范圍設置接收時隙衰減量。在進行衰減操作時，如果確定發(fā)射
機處于發(fā)射時隙，將接收的被測信號按照預設的發(fā)射時隙衰減量進行衰減，如果確定發(fā)射
機處于接收時隙，將接收的被測信號按照預設的接收時隙衰減量進行衰減。 實際應用中，預設的衰減量也可以包括多個衰減量等級，根據相應發(fā)射機標定的
參數(shù)以及射頻頻譜儀動態(tài)測試范圍預設多個衰減量等級，可以減少針對每一發(fā)射機配置的
同步可變射頻衰減器個數(shù)，這樣，針對不同發(fā)射機標定的參數(shù)，可以選擇合適的衰減量等級
對被測信號進行衰減，以調節(jié)被測信號，同時，由于設置的衰減量等級多，還可以根據相應
發(fā)射機標定的參數(shù)以及射頻頻譜儀較佳的動態(tài)測試范圍，選擇相應的衰減量等級，使射頻
頻譜儀接收到的被測信號處于較佳的測試范圍內。 上述中，對接收的被測信號進行衰減的處理，也就是將被測信號調節(jié)到射頻頻譜 儀測試的動態(tài)范圍內，以避免射頻頻譜儀測試時過載的處理過程。進行衰減的處理可以是 進行一次衰減處理，實際應用中，為了降低一次衰減處理衰減過大時設備的復雜性，也可以 是進行多次衰減處理。舉例來說，如果對發(fā)射時隙的被測信號進行50dB的衰減，可以是先 對發(fā)射時隙的被測信號進行20dB的衰減，然后對經20dB衰減后的被測信號再進行30dB的 衰減，使總的衰減量為50dB。 步驟402，射頻頻譜儀接收衰減后的被測信號，進行時間模板參數(shù)測試； 本步驟中，射頻頻譜儀的測試流程與現(xiàn)有技術相同，在此不再贅述。 步驟403，將測試獲取的時間模板參數(shù)按照前述衰減的衰減量進行補償，以獲取被
測信號的實際時間模板參數(shù)。 本步驟中，即將測試獲取的時間模板參數(shù)按照預設的衰減量進行補償，例如，預設的衰減量是對接收時隙的被測信號不進行衰減，而對發(fā)射時隙的被測信號進行40dB的衰
減，則對測試接收時隙獲取的時間模板參數(shù)不進行補償，對測試發(fā)射時隙獲取的時間模板
參數(shù)進行40dB的補償，從而獲取衰減之前的被測信號的時間模板參數(shù)。 實際應用中，本發(fā)明也可以應用于其它一些當被測信號超過測試設備測試范圍
時，需要對被測信號進行衰減的場合。 以上舉較佳實施例，對本發(fā)明的目的、技術方案和優(yōu)點進行了進一步詳細說明，所應理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
權利要求
一種射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括用于產生同步信號和被測信號的發(fā)射機、以及根據所述發(fā)射機產生的同步信號對被測信號進行時間模板參數(shù)測試的射頻頻譜儀，其特征在于，該測試系統(tǒng)還包括連接于所述發(fā)射機和所述射頻頻譜儀之間的同步可變射頻衰減器、以及連接于所述射頻頻譜儀輸出端的補償器，同步可變射頻衰減器，用于在所述發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對該發(fā)射機產生的被測信號按照預設的衰減量衰減，以供所述射頻頻譜儀對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板參數(shù)測試。
2. 如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述預設的衰減量是根據所述射頻頻譜儀的額定測試范圍、以及所述發(fā)射機在其發(fā)射時隙和接收時隙的功率參數(shù)確定的。
3. 如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，相互級聯(lián)的一個以上的同步可變射頻衰減器連接于所述發(fā)射機和所述射頻頻譜儀之間；且，所有同步可變射頻衰減器對所述測試信號的衰減總量等于所述預設的衰減量。
4. 如權利要求2或3中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述預設的衰減量包括發(fā)射時隙衰減量和接收時隙衰減量，所述同步可變射頻衰減器包括第一單輸入雙輸出選擇開關、按照所述發(fā)射時隙衰減量衰減的第二 RF衰減器、按照所述接收時隙衰減量衰減的第三RF衰減器、同步控制信號發(fā)生器，其中，所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述同步可變射頻衰減器的輸入端相連、其中一路輸出與所述第二RF衰減器的輸入相連、另一路輸出與所述第三RF衰減器的輸入相連；所述第二 RF衰減器的輸出、以及所述第三RF衰減器的輸出均與所述同步可變射頻衰減器的輸出端相連；所述同步控制信號發(fā)生器用于在所述發(fā)射機產生的同步信號表示發(fā)射時隙時，觸發(fā)所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機產生的同步信號表示接收時隙時，觸發(fā)所述第一單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另一路輸出導通。
5. 如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述同步可變射頻衰減器與所述射頻頻譜儀之間，進一步連接一個、或級聯(lián)多于一個可變射頻衰減器，用于對所述同步可變射頻衰減器輸出的被測信號按照預設的衰減量衰減；且，所述同步可變射頻衰減器、所有可變射頻衰減器對所述測試信號的衰減總量等于所述預設的衰減量。
6. 如權利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述可變射頻衰減器包括第二單輸入雙輸出選擇開關、第四RF衰減器、以及第一切換控制器，所述第二單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述可變射頻衰減器的輸入端相連、其中一路輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連、另一路輸出與所述第四RF衰減器的輸入相連；所述第四RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連；所述第一切換控制器在所述發(fā)射機的接收時隙到來時，觸發(fā)所述第二單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機的發(fā)射時隙到來時，觸發(fā)所述第二單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另一路輸出導通。
7. 如權利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述可變射頻衰減器包括第三單輸入雙輸出選擇開關、第五RF衰減器、第六RF衰減器、以及第二切換控制器，所述第三單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述可變射頻衰減器的輸入端相連、其中一路輸出與所述第五RF衰減器的輸入相連、另一路輸出與所述第六RF衰減器的輸入相連；所述第五RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連；所述第六RF衰減器的輸出與所述可變射頻衰減器的輸出端相連；所述第二切換控制器在所述發(fā)射機的接收時隙到來時，觸發(fā)所述第三單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述其中一路輸出導通；在所述發(fā)射機的發(fā)射時隙到來時，觸發(fā)所述第三單輸入雙輸出選擇開關的一路輸入與所述另一路輸出導通。
8. 如權利要求2、或3、或5至7中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述同步可變射頻衰減器與所述發(fā)射機之間，進一步級聯(lián)至少一個第一射頻RF衰減器，用于對尚未經所述同步可變射頻衰減器衰減的測試信號進行預衰減。
9. 如權利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述第一同步可變射頻衰減器設置有多個衰減量等級。
10. 如權利要求2、或3、或5至7中任一項所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)進一步包括補償器，用于對所述射頻頻譜儀輸出的衰減后被測信號的時間模板參數(shù)，按照所述預設的衰減量進行補償，得到衰減之前的被測信號的時間模板參數(shù)。
11. 一種調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法，其特征在于，該方法包括在發(fā)射機產生的同步信號的控制下，對該發(fā)射機產生的被測信號按照預設的衰減量衰減，以供射頻頻譜儀對衰減后的被測信號執(zhí)行時間模板參數(shù)測試。
全文摘要
本發(fā)明公開了射頻時間模板參數(shù)的測試系統(tǒng)，包括產生同步信號和被測信號的發(fā)射機、以及根據發(fā)射機產生的同步信號對被測信號進行時間模板參數(shù)測試的射頻頻譜儀，還包括連接于發(fā)射機和射頻頻譜儀之間的同步可變射頻衰減器、以及連接于射頻頻譜儀輸出端的補償器，同步可變射頻衰減器，在同步信號控制下對被測信號按照預設的衰減量衰減并輸出。應用本發(fā)明，能夠對超出射頻頻譜儀測試范圍的發(fā)射機信號進行測試，提高了測試射頻時間模板參數(shù)的精度，同時，測試系統(tǒng)結構簡單、操作方便，成本低。本發(fā)明還公開了一種調節(jié)射頻時間模板參數(shù)測試范圍的方法。
文檔編號H04B17/00GK101777955SQ20091007694
公開日2010年7月14日 申請日期2009年1月14日 優(yōu)先權日2009年1月14日
發(fā)明者黃云 申請人:鼎橋通信技術有限公司