專利名稱：減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法和裝置。
背景技術(shù)：
軟失效是基于帶RAM (Random Access Memory,隨才幾存儲器)等存儲內(nèi)存 器件特有的失效模式，和硬失效相對應(yīng)，硬失效是器件的硬件本身發(fā)生故障， 除此之外，對于器件不能正常運(yùn)行的情況都稱為軟失效。通常，器件的工作 電壓越低，工藝線寬越窄，或者器件工作環(huán)境所處的位置海拔越高時，器件 的軟失效概率越大。例如，采用0. 13微米技術(shù)的存儲器，其軟失效的概率高 達(dá)每兆位10000 ~ lOOOOOFITs ( Failures In Time,菲特)，相當(dāng)于平均幾個月或 者幾個星期就可能會出現(xiàn)一次軟失效。
目前，為了減小由于器件的軟失效帶來的嚴(yán)重性， 一般會在單板等設(shè)備 上增加一片或多片存儲內(nèi)存用于檢測器件軟失效，為了方便說明，本申請將 增加的所述用于4企測器件軟失效的內(nèi)存統(tǒng)稱為ECC (Error Checking and Correcting,檢錯或糾錯)內(nèi)存，所述ECC內(nèi)存能夠檢測設(shè)備上的一個或多 個器件。單板在每次啟動或復(fù)位時，所述ECC內(nèi)存都要對該單板中的器件進(jìn) 行檢測，當(dāng)所述ECC內(nèi)存檢測出單板故障時，單板會重新啟動或復(fù)位，然后 重新進(jìn)行檢測，直到4企測正常。
然而，在進(jìn)行本發(fā)明創(chuàng)造過程中，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在如下 問題
由于ECC內(nèi)存在每次單板啟動或重啟時，對單板上的RAM器件進(jìn)行4企 測，當(dāng)出現(xiàn)故障，則重新啟動該單板?，F(xiàn)有技術(shù)中無論這種故障是單板上的 器件導(dǎo)致還是ECC內(nèi)存本身出現(xiàn)故障，只要檢測不通過，則會重復(fù)啟動。
因此，如果是由于ECC內(nèi)存本身出現(xiàn)的故障，而設(shè)備單板除ECC內(nèi)存外
的其他器件完全正常，即能夠正常執(zhí)行業(yè)務(wù)，那么也會由于該ECC內(nèi)存故障， 而導(dǎo)致該單板的業(yè)務(wù)中斷。而這時，只能通過更換設(shè)備的單板或者通過冗余
系統(tǒng)的倒換等方式，才能使中斷的業(yè)務(wù)恢復(fù)正常。因此增大了 MTTR(Mean TimeToR印air,平均故障修復(fù)時間)，降低了設(shè)備的可用度和運(yùn)行的可靠性。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明 一個或多個實(shí)施例的目的在于提供一種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法 和裝置，以達(dá)到通過及時檢測出ECC內(nèi)存故障，而減少設(shè)備業(yè)務(wù)中斷時間的 目的。
為解決上述問題，本發(fā)明實(shí)施例^提供了一種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法， 包括
當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，判斷所述故障是否是由該設(shè)備的ECC 內(nèi)存引發(fā)，若是，則關(guān)閉所述ECC內(nèi)存的運(yùn)行；
觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例還提供了一種對設(shè)備ECC內(nèi)存故障檢 測的方法，包4舌
當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，關(guān)閉設(shè)備中ECC內(nèi)存的運(yùn)行；
觸發(fā)設(shè)備重新啟動，并
檢驗該設(shè)備是否能夠正常啟動，若是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種用于減少業(yè)務(wù)中斷時間 的裝置，包括
觸發(fā)單元，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向判斷單元發(fā)送 觸發(fā)信號；
判斷單元，用于在收到所述觸發(fā)信號后，判斷所述故障是否是由該設(shè)備 的ECC內(nèi)存引發(fā)，若是，則判斷得到ECC內(nèi)存故障消息；
ECC內(nèi)存控制單元，用于在收到所述ECC內(nèi)存故障消息后，關(guān)閉所述
ECC內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例還提供了 一種用于檢測設(shè)備ECC內(nèi)存 故障的裝置，包括
觸發(fā)單元，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向ECC內(nèi)存控制 單元發(fā)送觸發(fā)信號；
所述ECC內(nèi)存控制單元，用于在收到所述觸發(fā)信號后，關(guān)閉所述ECC
內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動，同時通知沖企驗單元進(jìn)行檢驗；
檢驗單元，用于在收到所述通知后，檢驗該設(shè)備是否能夠正常啟動，若 是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明實(shí)施例具有以下優(yōu)點(diǎn)
本發(fā)明在當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時，能夠及時將檢測到出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān) 閉，從而使得設(shè)備再啟動后，能夠不運(yùn)行故障的ECC內(nèi)存，而正常啟動，并 且恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。本發(fā)明能夠在設(shè)備出現(xiàn)故障時，排查故障，并盡可能地克 服設(shè)備故障，保證設(shè)備的正常運(yùn)行，從而避免了設(shè)備業(yè)務(wù)的長時間中斷，減 少了設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。


圖1為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的一種方法實(shí)施例的流程圖； 圖2為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的另一種方法實(shí)施例的流程圖； 圖3為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的另一種方法實(shí)施例的流程圖； 圖4為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的另 一 種方法實(shí)施例的流程圖； 圖5為本發(fā)明用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的一種裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖； 圖6為本發(fā)明用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的另一種裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖7為本發(fā)明用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的另 一種裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖8為本發(fā)明用于檢測設(shè)備ECC內(nèi)存故障的一種裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)框圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明實(shí)施例提供的 一 種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法為，當(dāng)設(shè)備因故障而 無法正常啟動時，例如，設(shè)備反復(fù)重啟，此時判斷所述故障是否是由該設(shè)備
的ECC內(nèi)存引發(fā)，若是，則關(guān)閉所述ECC內(nèi)存的運(yùn)行；并在關(guān)閉后，觸發(fā)設(shè) 備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。
其中，所述判斷所述故障是否是由該設(shè)備的ECC內(nèi)存引發(fā)的具體實(shí)現(xiàn)包 括，可通過單獨(dú)對所述設(shè)備的ECC內(nèi)存進(jìn)行故障檢測，或者通過對設(shè)備中除
從而得知ECC內(nèi)存狀態(tài)，或者通過其他常用手段來^r測所述ECC內(nèi)存的工作 狀態(tài)，其中，采用的任何對所述ECC內(nèi)存的故障檢測方法都不影響對本發(fā)明 的實(shí)現(xiàn)。
本發(fā)明在當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時，能夠及時將檢測到出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān) 閉，從而使得設(shè)備再啟動后，能夠不運(yùn)行故障的ECC內(nèi)存，而正常啟動，并 且恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。本發(fā)明能夠在設(shè)備出現(xiàn)故障時，排查故障，并盡可能地克 服設(shè)備故障，保證設(shè)備的正常運(yùn)行，從而避免了設(shè)備業(yè)務(wù)的長時間中斷，減 少了設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明提供的一種對設(shè)備ECC內(nèi)存故障檢測的方法， 該方法包括以下步驟
當(dāng)收到設(shè)備因故障而無法正常啟動的指令后，關(guān)閉設(shè)備中的RAM存儲內(nèi) 存的運(yùn)行；
觸發(fā)i殳備重新啟動，并
檢驗該設(shè)備中的ECC內(nèi)存是否能夠正常工作，若不能，則確定該設(shè)備的 ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
下面結(jié)合附圖，詳細(xì)闡述一下采用本發(fā)明提供的檢測ECC內(nèi)存故障的方 法，來如何實(shí)現(xiàn)減少設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。
如圖1所示，為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的一種方法實(shí)施例，該方法當(dāng) 設(shè)備單板無法正常啟動時，首先檢查是否ECC內(nèi)存發(fā)生故障，并將出現(xiàn)故障 的ECC內(nèi)存關(guān)閉，以恢復(fù)設(shè)備的正常業(yè)務(wù)運(yùn)行。該方法包括以下步驟
步驟101:設(shè)備的單板啟動或復(fù)位。其中，所述啟動或復(fù)位可以發(fā)生在該 設(shè)備的單板上電時，或者是該設(shè)備的單板由于在運(yùn)行中出現(xiàn)了故障，而執(zhí)行 的重新啟動或復(fù)位。
步驟102:所述單板中的ECC內(nèi)存檢測該單板中的待檢測的所有RAM存 儲芯片是否能正常工作(即是否軟失效)，如果正常，則執(zhí)行步驟103;否貝'J, 執(zhí)行步驟104。
步驟103:所述單板在啟動后l丸行業(yè)務(wù)。并結(jié)束本流程。
步驟104:關(guān)閉所述單板中的所有待檢測的RAM存儲芯片的運(yùn)行，并且 重啟該單板。其中，所述關(guān)閉設(shè)置可通過人工手動將單板上的用于控制所述 RAM存儲芯片運(yùn)行的使能開關(guān)關(guān)閉，或由所述單板在重啟時自動關(guān)閉所述 RAM存儲芯片的運(yùn)行，或者其他停止所述RAM存儲芯片運(yùn)行的方法都不影 響本發(fā)明實(shí)施例的實(shí)現(xiàn)。
步驟105:所述單板在重啟后，檢驗所述ECC內(nèi)存是否能正常工作，若 正常，則執(zhí)行步驟106;否則，執(zhí)行步驟107。
步驟106:確定為該單板上的除所述ECC內(nèi)存外的其他RAM存儲芯片 發(fā)生故障。此時，所述單板會由于該單板上的RAM存儲芯片的故障，而無法 正常啟動，因此無法正常執(zhí)行相關(guān)業(yè)務(wù)。此時，則只能通過更換單板來恢復(fù) 業(yè)務(wù)。結(jié)束本流程。
步驟107:確定為該單板上的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。此時，關(guān)閉所述單板 的ECC內(nèi)存，使得所述ECC內(nèi)存在每次該板重啟后不會運(yùn)行，同時，開啟所 述單板中的所有待檢測的RAM存儲芯片。之后，再執(zhí)行步驟108。
步驟108:所述單板重新啟動，此時，由于所述單板已經(jīng)將出現(xiàn)故障的 ECC內(nèi)存關(guān)閉了，即暫時消除了單板的故障，所以在重啟時，所述單板可正 常啟動，并在啟動后恢復(fù)相關(guān)的業(yè)務(wù)正常運(yùn)行。結(jié)束本流程。此外，如果所 述單板在重新啟動后，仍然不能正常啟動，則確定所述單板的RAM存儲芯片 也出現(xiàn)了故障，此時，只能通知維護(hù)人員更換單板。
本發(fā)明能夠在設(shè)備出現(xiàn)故障時，檢測是否是設(shè)備的ECC內(nèi)存出現(xiàn)故障，
并將出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉，使得設(shè)備在重新啟動時，能夠不運(yùn)行發(fā)生故
障的ECC內(nèi)存，而正常啟動，并且恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行，避免了設(shè)備因ECC內(nèi)存出 現(xiàn)故障而導(dǎo)致單板的業(yè)務(wù)中斷，減少了業(yè)務(wù)中斷的時間。
此外，如圖2所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，該方法在所述步驟107和 步驟108之間，還可包括
步驟209:所述單板分析所述ECC內(nèi)存發(fā)生故障的原因，并將故障原因 保存在該單板的存儲單元上。其中，所述存儲單元包括但不限于FLASH、 BOOTROM?；蛘?，還可直接將所述故障原因?qū)懭氪鎯卧哪臣拇嫫髦小?br> 并且，在執(zhí)行完上述實(shí)施例中的步驟108之后，還可包括
步驟210:所述單板根據(jù)所記錄的ECC內(nèi)存的故障原因，生成故障報告 或者故障日志，并以告警的形式上報。設(shè)備維護(hù)人員可以通過所述告警及時 得知所述單板的故障狀態(tài)及原因，進(jìn)行相應(yīng)的維護(hù)。
上述實(shí)施例單板能夠在確定ECC內(nèi)存發(fā)生故障后，記錄ECC內(nèi)存的故障 原因，并在單板重啟后，將所述故障原因上報。以便維護(hù)人員能夠及時了解 到所述設(shè)備的運(yùn)行情況，并當(dāng)發(fā)現(xiàn)單板出現(xiàn)故障時，能夠及時趕赴現(xiàn)場進(jìn)行 處理。尤其是對于單板的ECC內(nèi)存故障，由于已將發(fā)生故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉， 單板不啟動ECC內(nèi)存，就能夠正常執(zhí)行業(yè)務(wù)。維護(hù)人員可以根據(jù)實(shí)際的業(yè)務(wù) 量，選擇在夜間或業(yè)務(wù)量較小的時候，更換單板。從而能夠盡大可能地維護(hù) 業(yè)務(wù)的正常運(yùn)行，減少業(yè)務(wù)中斷的時間，及業(yè)務(wù)中斷帶來的不利影響。
與此同時，本發(fā)明還提供了另一種對設(shè)備ECC內(nèi)存故障檢測的方法，該 方法包括以下步驟
當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，關(guān)閉設(shè)備中ECC內(nèi)存的運(yùn)行；
觸發(fā)設(shè)備重新啟動，并
檢驗該設(shè)備的RAM存儲芯片能夠正常工作，以至于使得所述單板能夠正 常啟動，若是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
其中，判斷所述存儲芯片能否正常工作的方法可以為設(shè)備在啟動時，
設(shè)備的CPU通過讀取所述RAM存儲芯片中的數(shù)據(jù)，來判斷所述存儲芯片的 狀態(tài)，當(dāng)所述RAM存儲芯片中的數(shù)據(jù)能夠全部被所述CPU正常讀到時，則 認(rèn)為該存儲芯片能正常工作。當(dāng)然，現(xiàn)有的其他對所述RAM存儲芯片是否正 常的檢測手段也同樣適用于本發(fā)明。
下面結(jié)合附圖，詳細(xì)闡述一下采用本發(fā)明提供的上述檢測ECC內(nèi)存故障 的方法，來如何實(shí)現(xiàn)減少設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。
如圖3所示，為本發(fā)明減少業(yè)務(wù)中斷時間的另一種方法實(shí)施例，與上述 實(shí)施例不同的是，本實(shí)施例在檢查是否ECC內(nèi)存發(fā)生故障時，不是直接對ECC 內(nèi)存進(jìn)行檢觀'J,而是通過對單板上除了 ECC內(nèi)存外的其他所有待檢測的RAM 存儲芯片的狀態(tài)檢測，來排查ECC內(nèi)存狀態(tài)。該實(shí)施例包括以下步驟
步驟301:設(shè)備的單板啟動或復(fù)位。其中，所述啟動或復(fù)位可以發(fā)生在該 設(shè)備的單板上電時，或者是該設(shè)備的單板由于在運(yùn)行中出現(xiàn)了故障，而進(jìn)行 的重新啟動或復(fù)位。
步驟302:所述單板中的ECC內(nèi)存檢測該單板中的待檢測的所有RAM存 儲芯片是否能正常工作(即是否軟失效)，如果正常，則執(zhí)行步驟303;否則， 執(zhí)行步驟304。
步驟33:所述單板在啟動后執(zhí)行業(yè)務(wù)。并結(jié)束本流程。
步驟304:關(guān)閉所述單板中的ECC內(nèi)存的運(yùn)行，使得在重啟時不再運(yùn)行 所述ECC內(nèi)存。重啟該單板。其中，所述關(guān)閉設(shè)置可通過人工手動將單板上 的用于控制所述RAM存儲芯片運(yùn)行的使能開關(guān)關(guān)閉，或由所述單板在重啟時 自動關(guān)閉所述RAM存儲芯片的運(yùn)行，或者其他停止所述RAM存儲芯片運(yùn)行 的方法都不影響本發(fā)明實(shí)施例的實(shí)現(xiàn)。
步驟305:所述單板在重啟后，檢驗所述單板上的所有待檢測的RAM存 儲芯片是否能正常工作，以至于使得所述單板能夠正常啟動，并且進(jìn)行業(yè)務(wù) 運(yùn)行，若單板能夠正常啟動，則執(zhí)行步驟306;否則，執(zhí)行步驟307。
步驟306:確定為該單板上的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。此時，由于所述單板 已經(jīng)將出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉了，即暫時消除了故障，所以在重啟時，所述單板上的ECC內(nèi)存不會再對單板上的RAM存儲單元進(jìn)行檢測，使得所述 單板可正常啟動，并在啟動后執(zhí)行相關(guān)的業(yè)務(wù)。結(jié)束本流程。
步驟307:確定為該單板上的除所述ECC內(nèi)存外的其他RAM存儲芯片 發(fā)生故障。此時，所述單板會由于該單板上的RAM存儲芯片的故障，而無法 正常啟動，因此無法正常執(zhí)行相關(guān)業(yè)務(wù)。此時，則只能通過更換單板來恢復(fù) 業(yè)務(wù)。結(jié)束本流程。
本發(fā)明能夠通過在單板首次啟動失敗時，關(guān)閉ECC內(nèi)存的檢測功能，并 在之后的單板重新啟動中，判斷單板是否能夠正常啟動，從而確定了單板的 故障，同時，由于已將出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉了，使得單板能夠正常啟動， 從而避免了設(shè)備因ECC內(nèi)存出現(xiàn)故障而導(dǎo)致單板的業(yè)務(wù)中斷，減少了業(yè)務(wù)中 斷的時間。
此外，如圖4所示，在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上，該方法在所述步驟306之 后，還可包括步驟409和步驟410，其中，
步驟409:所述單板分析所述ECC內(nèi)存發(fā)生故障的原因，并將所述原因 保存在該單板的存儲單元上。其中，所述存儲單元包括但不限于FLASH、 BOOTROM?；蛘?，還可直接將所述故障原因?qū)懭氪鎯卧哪臣拇嫫髦小?br> 步驟410:所述單板根據(jù)所記錄的ECC內(nèi)存的故障原因，生成故障報告 或者故障日志，并以告警的形式上報。設(shè)備維護(hù)人員可以通過所述告警及時 得知所述單板的故障狀態(tài)及原因，進(jìn)行相應(yīng)的維護(hù)。
上述實(shí)施例單板能夠在確定是ECC內(nèi)存發(fā)生故障時，生成ECC內(nèi)存的故 障原因，并將所述故障原因上報，使得維護(hù)人員能夠及時獲知單板故障的原 因，并且能夠盡可能地在不影響業(yè)務(wù)的情況下維修故障，從而能夠盡大可能 地維護(hù)業(yè)務(wù)的正常運(yùn)行，減少業(yè)務(wù)中斷的時間，及業(yè)務(wù)中斷帶來的不利影響。
務(wù)中斷時間的方法并不只針對單板，還同樣適用于設(shè)備、設(shè)備中的功能模塊、 或者系統(tǒng)中，其檢測的方法雷同，因此不再贅述。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種用于減少業(yè)務(wù)中斷時間
的裝置，如圖5所示，所述裝置包括觸發(fā)單元501、判斷單元502、 ECC內(nèi) 存控制單元503,其中，
所述觸發(fā)單元501,用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向所述判 斷單元502發(fā)送觸發(fā)信號；
所述判斷單元502，用于在收到所述觸發(fā)信號后，判斷所述故障是否是由 該設(shè)備的ECC內(nèi)存(圖中未示出)引發(fā)，若是，則判斷得到ECC內(nèi)存故障消 息；
所述ECC內(nèi)存控制單元503,用于在收到所述判斷單元502的ECC內(nèi)存 故障消息后，關(guān)閉所述ECC內(nèi)存(圖中未示出)的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟 動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)^f亍。
上述實(shí)施例所述觸發(fā)單元501能夠當(dāng)獲知設(shè)備無法正常啟動時，觸發(fā)所 述判斷單元502檢測是否是ECC內(nèi)存(圖中未示出)故障導(dǎo)致，所述判斷單 元502在判斷得知所述設(shè)備的故障是有ECC (圖中未示出)內(nèi)存引發(fā)時，指 令所述ECC內(nèi)存控制單元503關(guān)閉所述ECC內(nèi)存(圖中未示出)的運(yùn)行。從 而使得設(shè)備在重新啟動后，能夠不運(yùn)行發(fā)生故障的ECC內(nèi)存(圖中未示出)， 而正常啟動，并且恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。本發(fā)明能夠在設(shè)備出現(xiàn)故障時，排查故障， 并盡可能地克服設(shè)備故障，保證設(shè)備的正常運(yùn)行，從而避免了設(shè)備業(yè)務(wù)的長 時間中斷，減少了設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。
此外，如圖6所示，其為本發(fā)明第二種用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的裝置實(shí) 施例的結(jié)構(gòu)框圖，該裝置包括觸發(fā)單元601、判斷單元602、 ECC內(nèi)存控制 單元603,其中，所述判斷單元602中具體包括RAM存儲內(nèi)存控制單元6021 、 ECC內(nèi)存檢驗單元6022。
所述觸發(fā)單元601，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，發(fā)送觸發(fā) 信號；
所述RAM存儲內(nèi)存控制單元6021,用于在收到所述觸發(fā)單元601的觸 發(fā)信號后，關(guān)閉設(shè)備中的RAM存儲內(nèi)存(圖中未示出)的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備 重新啟動；所述ECC內(nèi)存檢驗單元6022,用于在所述設(shè)備啟動中檢驗該設(shè)備中的 ECC內(nèi)存604是否能夠正常工作，若否，則向所述RAM存儲內(nèi)存控制單元 6021和所述ECC內(nèi)存控制單元603輸出ECC內(nèi)存故障消息；
所述RAM存儲內(nèi)存控制單元6021，還用于在收到所述ECC內(nèi)存故障消 息后，開啟設(shè)備中的RAM存儲內(nèi)存(圖中未示出)的運(yùn)行，并向所述ECC 內(nèi)存控制單元603發(fā)送觸發(fā)指令。
所述ECC內(nèi)存控制單元603，用于在收到所述ECC內(nèi)存故障消息后，關(guān)閉 所述ECC內(nèi)存604的運(yùn)行，并在收到所述RAM存^f諸內(nèi)存控制單元6021的觸 發(fā)指令后，觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。
上述實(shí)施例能夠在設(shè)備出現(xiàn)故障時，所述ECC內(nèi)存檢驗單元6022檢測 是否是設(shè)備的ECC內(nèi)存604出現(xiàn)故障，并在確定ECC內(nèi)存604出現(xiàn)故障時， 指令所述ECC內(nèi)存控制單元6021將出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存604關(guān)閉，使設(shè)備 能夠在重新啟動后，能夠不運(yùn)行發(fā)生故障的ECC內(nèi)存，而正常啟動，并且恢 復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行，避免了設(shè)備因ECC內(nèi)存出現(xiàn)故障而導(dǎo)致單板的業(yè)務(wù)中斷，減少 了業(yè)務(wù)中斷的時間。
與此同時，如圖7所示，在上述第二個裝置實(shí)施例的基礎(chǔ)上，所述裝置 還可包括告警單元701,用于在所述設(shè)備重新正常啟動后，生成有關(guān)ECC 內(nèi)存604的故障原因的故障報告，并將所述故障報告以告警的形式通過發(fā)送 單元702上報。
此外，所述告警單元701不僅可應(yīng)用于上述圖6所示的第二個裝置實(shí)施 例中，還可應(yīng)用于上述圖5所示的第一個裝置實(shí)施例中，以及其他可實(shí)現(xiàn)本 發(fā)明方法的等同裝置實(shí)施例中。
上述實(shí)施例單板能夠在確定是ECC內(nèi)存發(fā)生故障時，生成ECC內(nèi)存的故 障原因，并將所述故障原因上報，使得維護(hù)人員能夠及時獲知單板故障的原 因，并且能夠盡可能地在不影響業(yè)務(wù)的情況下維修故障，從而能夠盡大可能 地維護(hù)業(yè)務(wù)的正常運(yùn)行，減少業(yè)務(wù)中斷的時間，及業(yè)務(wù)中斷帶來的不利影響。
基于上述技術(shù)方案，本發(fā)明實(shí)施例還公開了 一種用于檢測設(shè)備ECC內(nèi)存
故障的裝置，如圖8所示，所述裝置包括觸發(fā)單元801、 ECC內(nèi)存控制單 元802、判斷單元803，其中，
所述觸發(fā)單元801，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向所述 ECC內(nèi)存控制單元802發(fā)送觸發(fā)信號；
所述ECC內(nèi)存控制單元802,用于在收到所述觸發(fā)信號后，關(guān)閉所述ECC
內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動，同時通知所述4全驗單元803進(jìn)行檢驗；
所述沖全驗單元803，用于在收到所述通知后，4企驗該設(shè)備是否能夠正常啟 動，若是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
上述實(shí)施例所述觸發(fā)單元801能夠在設(shè)備發(fā)生故障時，觸發(fā)所述ECC內(nèi) 存控制單元802關(guān)閉設(shè)備的ECC內(nèi)存，使得在設(shè)備重現(xiàn)啟動后，所述檢驗單 元803能夠檢驗該設(shè)備是否能夠正常啟動，以便進(jìn)一步判定該設(shè)備故障是否 由ECC內(nèi)存故障引起，方便維護(hù)人員及時了解設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)。同時，由于 已經(jīng)將發(fā)生故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉，使所述設(shè)備能夠在重新啟動時，恢復(fù)業(yè)務(wù) 運(yùn)行，避免了設(shè)備因ECC內(nèi)存出現(xiàn)故障而導(dǎo)致單板的業(yè)務(wù)中斷，減少了業(yè)務(wù) 中斷的時間。
以上所述的本發(fā)明實(shí)施方式，并不構(gòu)成對本發(fā)明保護(hù)范圍的限定。任何 在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本 發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1、一種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法，其特征在于，包括當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，判斷所述故障是否是由該設(shè)備的ECC內(nèi)存引發(fā)，若是，則關(guān)閉所述ECC內(nèi)存的運(yùn)行；觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。
2、 如權(quán)利要求1所述的減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法，其特征在于，判斷所 述故障是否是由該設(shè)備的ECC內(nèi)存引發(fā)具體包括關(guān)閉設(shè)備中的RAM存儲內(nèi)存的運(yùn)行；及 觸發(fā)i殳備重新啟動；檢驗該設(shè)備中的ECC內(nèi)存是否能夠正常工作，若不能，則確定該設(shè)備的 ECC內(nèi)存發(fā)生故障；在確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障之后，所述方法還包括開啟所述設(shè)備中的RAM存儲內(nèi)存的運(yùn)行。
3、 如權(quán)利要求1或2所述的減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法，其特征在于，在 確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障之后，該方法還包括記錄ECC內(nèi)存的故障原因，并將所述故障原因以告警的形式上l艮。
4、 一種對設(shè)備ECC內(nèi)存故障檢測的方法，其特征在于，包括 當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，關(guān)閉設(shè)備中ECC內(nèi)存的運(yùn)行； 觸發(fā)設(shè)備重新啟動，并檢驗該設(shè)備是否能夠正常啟動，若是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
5、 一種用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的裝置，其特征在于，包括觸發(fā)單元，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向判斷單元發(fā)送 觸發(fā)信號；判斷單元，用于在收到所述觸發(fā)信號后，判斷所述故障是否是由該設(shè)備 的ECC內(nèi)存引發(fā)，若是，則判斷得到ECC內(nèi)存故障消息；ECC內(nèi)存控制單元，用于在收到所述ECC內(nèi)存故障消息后，關(guān)閉所述 ECC內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)4亍。
6、 如權(quán)利要求5所述的用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的裝置，其特征在于，所 述判斷單元包括RAM存儲內(nèi)存控制單元，用于在收到所述觸發(fā)信號后，關(guān)閉設(shè)備中的 RAM存儲內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動,同時通知ECC內(nèi)存4全驗單元進(jìn) 行檢驗；所述ECC內(nèi)存4全驗單元，用于在收到所述通知后，^r-驗該設(shè)備中的ECC 內(nèi)存在設(shè)備啟動時能否正常工作，若否，則輸出ECC內(nèi)存故障消息；所述RAM存儲內(nèi)存控制單元，還用于在收到所述ECC內(nèi)存故障消息后， 開啟設(shè)備中的RAM存儲內(nèi)存的運(yùn)行，并指令所述ECC內(nèi)存控制單元執(zhí)行觸 發(fā)設(shè)備重新啟動功能。
7、 如權(quán)利要求5或6所述的用于減少業(yè)務(wù)中斷時間的裝置，其特征在于， 該裝置還包括告警單元，用于在所述設(shè)備重新正常啟動后，生成有關(guān)ECC內(nèi)存故障原 因的故障報告，并將所述故障報告以告警的形式通過發(fā)送單元上報。
8、 一種用于檢測設(shè)備ECC內(nèi)存故障的裝置，其特征在于，包括觸發(fā)單元，用于當(dāng)獲知設(shè)備因故障而無法正常啟動時，向ECC內(nèi)存控制 單元發(fā)送觸發(fā)信號；所述ECC內(nèi)存控制單元，用于在收到所述觸發(fā)信號后，關(guān)閉所述ECC內(nèi)存的運(yùn)行，并觸發(fā)設(shè)備重新啟動，同時通知檢驗單元進(jìn)行檢驗；檢驗單元，用于在收到所述通知后，檢驗該設(shè)備是否能夠正常啟動，若 是，則確定該設(shè)備的ECC內(nèi)存發(fā)生故障。
全文摘要
本發(fā)明實(shí)施例公開的一種減少業(yè)務(wù)中斷時間的方法為，當(dāng)設(shè)備因故障而無法正常啟動時，判斷所述故障是否是由該設(shè)備的ECC內(nèi)存引發(fā)，若是，則關(guān)閉所述ECC內(nèi)存的運(yùn)行；觸發(fā)設(shè)備重新啟動，以在啟動后恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。同時，本發(fā)明實(shí)施例還公開了一種對設(shè)備ECC內(nèi)存故障檢測的方法及裝置。本發(fā)明能夠在當(dāng)設(shè)備發(fā)生故障時，及時將檢測到出現(xiàn)故障的ECC內(nèi)存關(guān)閉，從而使得設(shè)備再啟動后，能夠恢復(fù)業(yè)務(wù)運(yùn)行。從而避免了設(shè)備業(yè)務(wù)的長時間中斷，減少了設(shè)備的業(yè)務(wù)中斷時間。
文檔編號H04B1/74GK101106441SQ20071013575
公開日2008年1月16日 申請日期2007年8月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月10日
發(fā)明者張志龍 申請人:華為技術(shù)有限公司