專利名稱：：一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及移動(dòng)終端測(cè)試技術(shù)，具體涉及一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
：目前，全球數(shù)字移動(dòng)用戶已經(jīng)達(dá)到13億，而且隨著中國(guó)3G牌照的發(fā)放該數(shù)字有望在未來(lái)幾年內(nèi)翻一番。據(jù)預(yù)測(cè)，2008年全球通信業(yè)將呈現(xiàn)高達(dá)20億移動(dòng)用戶數(shù)的巨大市場(chǎng)。全球的移動(dòng)業(yè)務(wù)和應(yīng)用正朝著語(yǔ)音、多媒體和企業(yè)應(yīng)用這三個(gè)主要方向增長(zhǎng)。移動(dòng)數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)將在移動(dòng)市場(chǎng)中擁有越來(lái)越大的份額。截至2003年9月，全球移動(dòng)數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)用戶達(dá)到l億人，占全球12.9億移動(dòng)用戶的7.7%,與2003年6月份的統(tǒng)計(jì)結(jié)果相比增長(zhǎng)了14%。到2007年，移動(dòng)數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)所占比例將從2002年的10%上升至30%，移動(dòng)服務(wù)市場(chǎng)本身將成為6千億歐元的市場(chǎng)。隨著市場(chǎng)對(duì)終端數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)的需求日益增長(zhǎng)。終端的功能越來(lái)越多，它本身的EMC，EMI問(wèn)題也日趨凸現(xiàn)?，F(xiàn)在所有的移動(dòng)終端在進(jìn)入市場(chǎng)前，要經(jīng)過(guò)各種認(rèn)證測(cè)試，其中有一項(xiàng)就是對(duì)產(chǎn)品的輻射連續(xù)騷擾有明確的指標(biāo)限制。而在做輻射連續(xù)騷擾測(cè)試時(shí)這項(xiàng)指標(biāo)對(duì)測(cè)試環(huán)境的要求很高一一必須要到經(jīng)過(guò)認(rèn)證的微波無(wú)反射暗室去做，如圖1所示，微波無(wú)反射暗室由屏蔽體11和吸波材料12構(gòu)成在微波無(wú)反射暗室中，將被測(cè)移動(dòng)終端14放到轉(zhuǎn)臺(tái)15上之后，關(guān)閉微波無(wú)反射暗室的門(mén)，與外界的環(huán)境完全屏蔽隔開(kāi)，模擬基站一_綜合測(cè)試儀輸出端口連接到呼叫天線131，由呼叫天線131對(duì)被測(cè)件發(fā)起呼叫，呼叫成功后，輻射連續(xù)騷擾接受系統(tǒng)連接到接收天線132，由接收天線1321開(kāi)始接受被測(cè)件14發(fā)出的雜散信號(hào)，接收天線132可以接收30MHz-1000MHz的所有電磁信號(hào)，它將接收到的所有信號(hào)傳給輻射連續(xù)騷擾接受系統(tǒng)最后端一—頻譜分析儀，頻譜分析儀上會(huì)峰值保持。當(dāng)接收天線132開(kāi)始工作以后，被測(cè)件14所在的轉(zhuǎn)臺(tái)15就開(kāi)始工作，在轉(zhuǎn)臺(tái)15轉(zhuǎn)動(dòng)的過(guò)程中呼叫天線131不斷地將接收到的數(shù)據(jù)刷新，并保持峰值。在被測(cè)件14旋轉(zhuǎn)一周后，呼叫天線131要升高1米再測(cè)試一遍，因?yàn)閯傞_(kāi)始時(shí)的位置是與轉(zhuǎn)臺(tái)上的被測(cè)件14一樣高，即距地面1米，最后將兩次轉(zhuǎn)動(dòng)后的總峰值顯示出來(lái)，就是被測(cè)移動(dòng)終端14最終的輻射連續(xù)騷擾測(cè)試結(jié)果。對(duì)于大多數(shù)的終端設(shè)備廠商來(lái)說(shuō)，建一個(gè)微波無(wú)反射暗室加上測(cè)試儀器，其費(fèi)用相當(dāng)高昂，達(dá)千萬(wàn)人民幣，不現(xiàn)實(shí)。目前廠家采取的方法是1.到有條件的單位租借他方的暗室和儀表來(lái)進(jìn)行測(cè)試。2.到專業(yè)的測(cè)試機(jī)構(gòu)測(cè)試。遇到指標(biāo)測(cè)試不合格需要調(diào)試的產(chǎn)品(大多數(shù)產(chǎn)品一次通過(guò)測(cè)試的幾率很小)。廠家的工程師往往要長(zhǎng)時(shí)間占用暗室一邊調(diào)試一邊測(cè)試，對(duì)廠家而言其過(guò)程耗時(shí)長(zhǎng)，效率低，費(fèi)用高昂。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明需要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法及其系統(tǒng)，無(wú)須傳統(tǒng)的微波無(wú)反射暗室及測(cè)量設(shè)備就可以對(duì)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)和電平值做到指標(biāo)摸底，從而避免在正式的輻射連續(xù)騷擾i人證測(cè)試前廠家頻繁的租借微波無(wú)反射暗室和專用儀表去測(cè)試、調(diào)試移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)。本發(fā)明的上述第一個(gè)技術(shù)問(wèn)題這樣解決，提供一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法，使用輻射電磁場(chǎng)近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換關(guān)系，包括以下步驟1.1)在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，屏蔽外界干擾；1.2)建立綜合測(cè)試儀與被測(cè)移動(dòng)終端之間的無(wú)線通信，利用綜合測(cè)試儀指令被測(cè)移動(dòng)終端以最大功率向外發(fā)射；1.3)使用頻i普分析儀及其連接的近場(chǎng)電磁波接收小探頭掃描被測(cè)移動(dòng)終端采集輻射連續(xù)騷擾能量電平值；1.4)計(jì)算獲取各騷擾頻點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)移動(dòng)終端主發(fā)射頻點(diǎn)的能量電平差值，并#^據(jù)指標(biāo)測(cè)試的判定門(mén)限，加上近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換導(dǎo)致的容差，最終判斷該頻點(diǎn)輻射連續(xù)騷擾是否滿足指標(biāo)要求。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述步驟1.2)中建立包括在綜合測(cè)試儀的輸出/入端口用射頻電纜將與被測(cè)移動(dòng)終端工作頻段相一致的螺旋天線連接起來(lái)，構(gòu)成一虛擬基站。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述步驟1.2)中建立包括在被測(cè)移動(dòng)終端中插入綜合測(cè)試儀專用測(cè)試USIM卡，這里也可以是其他可通話的卡如SIM卡，UIM卡。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述綜合測(cè)試儀和被測(cè)移動(dòng)終端位置固定，所述綜合測(cè)試儀設(shè)置與綜合測(cè)試儀和被測(cè)移動(dòng)終端位置關(guān)系相適應(yīng)的空間插損值。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述步驟1.3)中掃描是緊貼被測(cè)移動(dòng)終端表面進(jìn)行直至所有區(qū)域都掃過(guò)一遍，可以是按照被測(cè)移動(dòng)終端外型幾何面的短邊相平行的方向分別逐行掃描。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述容差可以是+Z-2.5dB。按照本發(fā)明提供的測(cè)試方法，所述頻點(diǎn)位于30~1000MHz之間。本發(fā)明的上述另一個(gè)技術(shù)問(wèn)題這樣解決，提供一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，包括被測(cè)移動(dòng)終端、模擬基站的綜合測(cè)試儀和測(cè)量輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)能量電平值的頻譜分析儀，還包括屏蔽室放置所述被測(cè)移動(dòng)終端、綜合測(cè)試儀和頻鐠分析儀，用于提供屏蔽外界所有干擾頻點(diǎn)的測(cè)試環(huán)境；近場(chǎng)電磁波接收小探頭通過(guò)射頻電纜與所述頻鐠分析儀連接，用于接收被測(cè)移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾能量。按照本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)，所述近場(chǎng)電磁波接收小探頭是磁流環(huán)或電流環(huán)。按照本發(fā)明提供的測(cè)試系統(tǒng)，所述近場(chǎng)電磁波接收小探頭的前端還可以焊接有隔直流電容。本發(fā)明提供的移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法及其系統(tǒng)，利用廠家通常配備的屏蔽室，增設(shè)近場(chǎng)電磁波接收小探頭，使用被測(cè)移動(dòng)終端輻射電磁場(chǎng)近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換關(guān)系，測(cè)量被測(cè)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)，能為企業(yè)節(jié)約花費(fèi)上千萬(wàn)建微波無(wú)反射暗室的這部分資金，提高研發(fā)調(diào)試效率，為產(chǎn)品在正式的輻射連續(xù)騷擾測(cè)試前做好摸底測(cè)試而提供一個(gè)實(shí)用簡(jiǎn)單高效的測(cè)試和調(diào)試環(huán)境，節(jié)省費(fèi)用，同時(shí)給工程師提供方便，縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。附困說(shuō)明下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例進(jìn)一步對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。圖l是傳統(tǒng)微波無(wú)反射暗室的測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖。圖3是圖2所示系統(tǒng)中綜合測(cè)試儀連接螺旋天線示意圖。圖4是圖2所示系統(tǒng)中綜合測(cè)試儀與移動(dòng)終端建立呼叫鏈接示意圖。圖5是圖2所示系統(tǒng)中近場(chǎng)電磁波接收小探頭連接高精度頻譜分析儀示意圖。圖6是圖2所示系統(tǒng)中近場(chǎng)電磁波接收小探頭掃描移動(dòng)終端示意圖。圖7是使用圖2所示系統(tǒng)的本發(fā)明方法的流程示意圖。圖8是電磁場(chǎng)電流元坐標(biāo)系示意圖。圖9是在微波無(wú)反射暗室中輻射連續(xù)騷擾圖。圖10是采用本發(fā)明方法在屏蔽室中用頻鐠分析儀測(cè)試輻射連續(xù)騷擾圖。具體實(shí)施例方式首先，說(shuō)明本發(fā)明的理論基礎(chǔ)，先給出電流元的電磁場(chǎng)方程并做輔助說(shuō)明電流元是基本的輻射單元之一(也稱電基本振子或電偶極子，是一段載有高頻電流的兩端帶有等值異號(hào)電荷的短導(dǎo)線，導(dǎo)線直徑d《/(/為導(dǎo)線長(zhǎng)度)，"<、線上電流沿軸線流動(dòng)，沿線等幅同相，電荷與電流的關(guān)系滿足連續(xù)性方程)。電流元的坐標(biāo)系如附圖8所示電i乾元的磁場(chǎng)和電場(chǎng)方禾呈:^下<formula>formulaseeoriginaldocumentpage8</formula>(公式2)式中『=>/^—一媒質(zhì)的波阻抗。A—一媒質(zhì)的磁導(dǎo)率，s—一媒質(zhì)的介電常數(shù)；義*——電磁波的相位常數(shù)；/——電流強(qiáng)度；義——電磁波波長(zhǎng)；電磁場(chǎng)的各個(gè)分量均隨r的增大而減少，每個(gè)分量中的各項(xiàng)隨"的增大而減小的速度不相同，如果按r的大小進(jìn)行分區(qū)，則各區(qū)的電^f茲場(chǎng)可以有不同的近似表達(dá)式。(-)近場(chǎng)(感應(yīng)場(chǎng))區(qū)當(dāng)Ar《l時(shí)，電磁場(chǎng)主要由r-2或"-3的高階項(xiàng)決定，又由于e)sl,式(1)和式(2)變?yōu)?lt;formula>formulaseeoriginaldocumentpage8</formula>(r)遠(yuǎn)場(chǎng)(輻射場(chǎng))區(qū)當(dāng)^r》l時(shí)，電流元的電磁場(chǎng)主要由r-'項(xiàng)決定，故<formula>formulaseeoriginaldocumentpage9</formula>從上面的公式(l)，(2),(3)，(4)可以看出，(D在整個(gè)的電磁場(chǎng)近/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換過(guò)程當(dāng)中，變化的是電磁波的幅度和相位，而所傳播的電磁頻率是不變的，根據(jù)這一原則，如果說(shuō)在遠(yuǎn)場(chǎng)的接收天線平面上有頻點(diǎn)f,則在輻射源點(diǎn)處必有頻率為f的振蕩電磁波。②在所有正規(guī)，經(jīng)過(guò)認(rèn)證的測(cè)試輻射連續(xù)騷擾的微波無(wú)反射暗室中，測(cè)試系統(tǒng)是經(jīng)過(guò)精密校準(zhǔn)的，校準(zhǔn)使的該暗室中遠(yuǎn)場(chǎng)處測(cè)得的頻點(diǎn)及其電平值可真實(shí)的反映被測(cè)件近場(chǎng)的客觀情況。所以該暗室中遠(yuǎn)場(chǎng)處各頻點(diǎn)電平的相對(duì)值也就是此被測(cè)件近場(chǎng)處的相對(duì)值，各頻點(diǎn)在近/遠(yuǎn)場(chǎng)處電平值變化的是絕對(duì)值，而不變的是相對(duì)值。遠(yuǎn)場(chǎng)接收到的所有頻點(diǎn)，它們的電平值間的相對(duì)差值，是由發(fā)射源處的各頻點(diǎn)場(chǎng)的強(qiáng)弱來(lái)決定的，我們測(cè)出近場(chǎng)各頻點(diǎn)的相對(duì)電平后，取相對(duì)差值，選擇合適的參照頻點(diǎn)(用其電平值做零點(diǎn)，其他各頻點(diǎn)電平值與其求差)，加入一定的修正值，即可判斷出各輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)電平是否滿足要求。這里補(bǔ)充一點(diǎn)我們最原始的參考頻點(diǎn)電平肯定是來(lái)自微波無(wú)反射暗室的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試值，通常所取的參考頻點(diǎn)是我們的被測(cè)移動(dòng)終端的發(fā)射頻點(diǎn)。根據(jù)①和②，將微波無(wú)反射暗室里接收被測(cè)移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾值的天線面處遠(yuǎn)場(chǎng)感應(yīng)頻點(diǎn)及其電平根據(jù)上面的近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)相互轉(zhuǎn)換，等效關(guān)系，用近場(chǎng)電磁波接收小探頭，將它感應(yīng)到的高頻電流分量傳輸?shù)礁呔阮l語(yǔ)分析儀上，從頻譜分析儀上來(lái)確定輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)和電平，經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單求差分析計(jì)算，被測(cè)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)分布情況和電平是否超標(biāo)是完全可以達(dá)到的。從而給移動(dòng)終端的調(diào)試提供了平臺(tái)，給產(chǎn)品在正式認(rèn)證測(cè)試前提供了可信的摸底測(cè)試。采用本發(fā)明所述方法，與現(xiàn)有的在#:波無(wú)反射暗室測(cè)試的結(jié)果相比，兩種環(huán)境下測(cè)得的結(jié)果非常吻合，測(cè)得的雜散點(diǎn)一致，對(duì)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)不合格需要調(diào)試的情況極為有利，工程師可以在自己企業(yè)的屏蔽室(多數(shù)移動(dòng)終端制造廠家都配有自己的屏蔽室，一般建屏蔽室的費(fèi)用在20萬(wàn)人民幣左右，大大低于建微波無(wú)反射暗室一千萬(wàn)人民幣的花費(fèi))中對(duì)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)進(jìn)行指標(biāo)摸底，調(diào)試，而不用再到專業(yè)的微波無(wú)反射暗室或檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)產(chǎn)品做調(diào)試。提高了工作效率，為企業(yè)節(jié)約了調(diào)試成本。第二步，說(shuō)明本發(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)，總體結(jié)構(gòu)具體如圖2所示，在屏蔽室21中，綜合測(cè)試儀31通過(guò)射頻電纜32連接作無(wú)線信號(hào)收發(fā)用的螺旋天線33,與被測(cè)移動(dòng)終端14建立通訊；用近場(chǎng)電磁波接收小探頭52通過(guò)射頻電纜32連接高精度頻譜分析儀51測(cè)試被測(cè)移動(dòng)終端14的輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)。在整個(gè)系統(tǒng)中，屏蔽室21的作用相當(dāng)重要，它可以將外界的干擾頻點(diǎn)全部屏蔽掉，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的正確性。其中，模擬基站-綜合測(cè)試儀31通過(guò)射頻電纜32連接作無(wú)線信號(hào)收發(fā)用的螺旋天線33如圖3所示，在綜合測(cè)試儀31的輸出/入端口311用射頻電纜32將與被測(cè)移動(dòng)終端14工作頻段相一致的螺旋天線33連接起來(lái)，構(gòu)成一個(gè)虛擬基站。其中，模擬基站一綜合測(cè)試儀31與被測(cè)移動(dòng)終端14建立通訊鏈接如圖4所示，將綜合測(cè)試儀31,被測(cè)移動(dòng)終端14擺放在一定的位置且位置固定好以后不再挪動(dòng)，以避免影響到綜合測(cè)試儀31空間插損的設(shè)置，在綜合測(cè)試儀31上設(shè)置合理的空間插損值，然后讓被測(cè)移動(dòng)終端14的程序運(yùn)行起來(lái)，被測(cè)移動(dòng)終端14與綜合測(cè)試儀31建立起通訊鏈接，綜合測(cè)試儀31指令被測(cè)移動(dòng)終端14以最大發(fā)射功率工作。其中，本發(fā)明中的近場(chǎng)電磁波接收小探頭52連接高精度頻譜分析儀51如圖5所示，高精度頻謙分析儀51是用來(lái)處理信號(hào)用的，近場(chǎng)電磁波接收小探頭52是用來(lái)采集數(shù)據(jù)用的.近場(chǎng)電磁波接收小探頭52的種類可以是小的磁流環(huán)，也可以是做耦合接收數(shù)據(jù)用的小電流環(huán)，若用傳導(dǎo)的方法來(lái)接收數(shù)據(jù)，則小探頭的前端還要焊接上一個(gè)隔直流電容，以保護(hù)頻語(yǔ)分析儀。不管用那種都不會(huì)影響到最終測(cè)試結(jié)杲，頻鐠分析儀51與小探頭52之間通過(guò)射頻電纜32連接.打開(kāi)高精度頻譜分析儀51的FSQ,設(shè)置測(cè)量帶寬為開(kāi)始頻率30MHz,截至頻率1000MHz，頻譜分析儀51的RBW，VBW，衰減，參考電平設(shè)置到自動(dòng)。頻謙分析儀51設(shè)置為峰值保持，準(zhǔn)備采集、處理數(shù)據(jù)。其中，本發(fā)明中的近場(chǎng)電磁波接收小探頭52掃描被測(cè)移動(dòng)終端14的如圖6所示.用近場(chǎng)電磁波接收小探頭52緊貼被測(cè)移動(dòng)終端14的正面和反面按照被測(cè)移動(dòng)終端14外型幾何面的短邊相平行的方向分別逐行掃描，近場(chǎng)電磁波接收小探頭52通過(guò)耦合/傳導(dǎo)的方式接收輻射連續(xù)騷擾的高頻能量，直至確認(rèn)將正反面的所有區(qū)域都掃過(guò)一遍。最終將測(cè)試結(jié)果顯示到頻譜分析儀51上。這樣就將此被測(cè)移動(dòng)終端14在30-1000MHz頻段上的輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)全部測(cè)試完畢。進(jìn)一步，說(shuō)明本發(fā)明測(cè)試方法，用于完成^f皮測(cè)移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)的采集和電平值的測(cè)量，具體如圖7所示，包括以下步驟710)屏蔽室21中，被測(cè)移動(dòng)終端14開(kāi)機(jī)運(yùn)行程序，開(kāi)始工作；720)綜合測(cè)試儀31與被測(cè)移動(dòng)終端14建立通信；730)打開(kāi)高精度頻鐠分析儀51，作測(cè)試前相應(yīng)設(shè)置，將近磁場(chǎng)電波接收小探頭52連接到頻譜儀51上；740)用近磁場(chǎng)電波接收小探頭52接收被測(cè)移動(dòng)終端14輻射連續(xù)騷擾能量，將最終結(jié)果顯示到頻鐠儀51上以備工程師分析；750)對(duì)頻語(yǔ)儀51收集到的頻點(diǎn)以移動(dòng)終端14的主發(fā)射頻率電平值為基準(zhǔn)，用它減去其他的輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)電平，得到一系列的差值，根據(jù)一定的判定門(mén)限，加上一定的容差，最終判斷此頻點(diǎn)輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)是否滿足要求；760)結(jié)束。最后，結(jié)合一款實(shí)際的UMTS850制式移動(dòng)終端的對(duì)比試驗(yàn)(-)和t)來(lái)驗(yàn)證本發(fā)明方法，其中(-)我們首先將插有綜合測(cè)試儀專用測(cè)試USIM卡的被測(cè)移動(dòng)終端開(kāi)始工作，在圖1所示^t波無(wú)反射暗室中輻射連續(xù)騷擾測(cè)試環(huán)境下用綜合測(cè)試儀與被測(cè)移動(dòng)終端建立鏈接，測(cè)試被測(cè)移動(dòng)終端的30-1000MHz頻段上的輻射連續(xù)騷擾，測(cè)試結(jié)果如下圖8所示。(r)再將被測(cè)移動(dòng)終端在圖6所示的屏蔽室中用近場(chǎng)電磁波接收小探頭連接高精度頻譜分析儀測(cè)試被測(cè)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾如圖9所示對(duì)圖8和圖9中的各頻點(diǎn)和其電平值列表如表一<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>其中1、w表示在微波無(wú)反射暗室，p表示在屏蔽室；2、點(diǎn)836Mhz上行)和4405(頻點(diǎn)881Mhz下行)信道上；對(duì)表一中數(shù)據(jù)，以被測(cè)移動(dòng)終端的上行頻點(diǎn)F5w(F5p)為參考零電平:其他頻點(diǎn)的電平與它求差，做如下運(yùn)算見(jiàn)表二<table>tableseeoriginaldocumentpage12</column></row><table>從表二中我們可以清楚的看到幾個(gè)比較有代表性的雜散點(diǎn)600MHz，750MHz，902MHz,如果我們?cè)谇蟛詈蟮臄?shù)據(jù)中加入+/-2.5€1:6的修正值，那么用屏蔽室中的數(shù)據(jù)我們就可以完全的對(duì)該被測(cè)移動(dòng)終端的輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)進(jìn)行指標(biāo)把握。較兩個(gè)不同的測(cè)試環(huán)境中得到的結(jié)果，也進(jìn)一步證明了本發(fā)明測(cè)試方法的有效性。權(quán)利要求1.一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法，其特征在于，使用輻射電磁場(chǎng)近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換關(guān)系，包括以下步驟1.1)在屏蔽室(21)內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，屏蔽外界干擾；1.2)建立綜合測(cè)試儀(31)與被測(cè)移動(dòng)終端(14)之間的無(wú)線通信，利用綜合測(cè)試儀指令被測(cè)移動(dòng)終端以最大功率向外發(fā)射；1.3)使用頻譜分析儀(51)及其連接的近場(chǎng)電磁波接收小探頭(52)掃描被測(cè)移動(dòng)終端采集輻射連續(xù)騷擾能量電平值；1.4)計(jì)算獲取各騷擾頻點(diǎn)相對(duì)于被測(cè)移動(dòng)終端(14)主發(fā)射頻點(diǎn)的能量電平差值，并根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的判定門(mén)限，加上近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換導(dǎo)致的容差，最終判斷該頻點(diǎn)輻射連續(xù)騷擾是否滿足標(biāo)準(zhǔn)要求。2、根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟1.2)中建立包括在綜合測(cè)試儀(31)的輸出/入端口(311)用射頻電纜(32)將與被測(cè)移動(dòng)終端工作頻段相一致的螺旋天線(33)連接起來(lái)，構(gòu)成一虛擬基站。3、根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)試方法，其特征在于，所述綜合測(cè)試儀(31)和被測(cè)移動(dòng)終端(14)位置固定，所述綜合測(cè)試儀設(shè)置與綜合測(cè)試儀和被測(cè)移動(dòng)終端位置關(guān)系相適應(yīng)的空間插損值。4、根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟L3)中掃描是緊貼被測(cè)移動(dòng)終端(14)表面進(jìn)行直至所有區(qū)域都掃過(guò)一遍。5、根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)試方法，其特征在于，所述容差可以是+/-2.5dB。6、根據(jù)權(quán)利要求1所述測(cè)試方法，其特征在于，所述頻點(diǎn)位于30~1000MHz之間。7、一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試系統(tǒng)，包括被測(cè)移動(dòng)終端(14)、模擬基站的綜合測(cè)試儀(31)和測(cè)量輻射連續(xù)騷擾頻點(diǎn)能量電平值的頻譜分析儀(51),其特征在于，還包括屏蔽室(21):放置所述被測(cè)移動(dòng)終端、綜合測(cè)試儀和頻譜分析儀(51)，用于提供屏蔽外界所有干擾頻點(diǎn)的測(cè)試環(huán)境；近場(chǎng)電磁波接收小探頭(52):通過(guò)射頻電纜(32)與所述頻譜分析儀連接，用于接收被測(cè)移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾能量。8、根據(jù)權(quán)利要求7所述測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所迷近場(chǎng)電磁波接收小探頭(52)是磁流環(huán)或電流環(huán)。9、根據(jù)權(quán)利要求7所述測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述近場(chǎng)電磁波接收小探頭(52)的前端還可以焊接有隔直流電容。全文摘要本發(fā)明涉及一種移動(dòng)終端輻射連續(xù)騷擾指標(biāo)測(cè)試方法及其系統(tǒng)，其中系統(tǒng)包括屏蔽室(21)、綜合測(cè)試儀(31)、頻譜分析儀(51)和電磁波接收小探頭(52)；其中方法包括在屏蔽室(21)內(nèi)測(cè)試屏蔽干擾；建立綜合測(cè)試儀與移動(dòng)終端之間通信，指令移動(dòng)終端以最大功率發(fā)射；使用頻譜分析儀及其連接接收小探頭(52)掃描移動(dòng)終端采集輻射連續(xù)騷擾能量；計(jì)算各騷擾頻點(diǎn)相對(duì)于主發(fā)射頻點(diǎn)的能量電平差值，并根據(jù)指標(biāo)測(cè)試判定門(mén)限，結(jié)合容差判斷是否滿足指標(biāo)要求。這種方法及其系統(tǒng)，使用屏蔽室替代微波無(wú)反射暗室，利用近場(chǎng)/遠(yuǎn)場(chǎng)轉(zhuǎn)換關(guān)系，為產(chǎn)品在正式的輻射連續(xù)騷擾測(cè)試前做好摸底測(cè)試而提供環(huán)境，節(jié)省費(fèi)用，提供方便，縮短開(kāi)發(fā)周期。文檔編號(hào)H04B17/00GK101207447SQ20061016228公開(kāi)日2008年6月25日申請(qǐng)日期2006年12月19日優(yōu)先權(quán)日2006年12月19日發(fā)明者健李,李廣峰,李成恩,段亞軍,秦國(guó)強(qiáng),城緱申請(qǐng)人:中興通訊股份有限公司