專利名稱：一種電荷耦合元件校正裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明為分案申請，原案發(fā)明名稱電荷耦合元件校正方法及其裝置，申請日1998年3月2日，申請?zhí)?8100590.X。
掃描系統(tǒng)必需處理文件的圖像信號，為一相當精密的光學系統(tǒng)，任何光學上的誤差，均會影響掃描的品質(zhì)、分辨率及色彩等，因此在制造掃描系統(tǒng)過程中，電荷耦合元件的安裝、調(diào)整及校正成為決定掃描系統(tǒng)品質(zhì)的關鍵。通常在一掃描系統(tǒng)中，電荷耦合元件是安裝于光學系統(tǒng)內(nèi)，必需先掃描一輔助參考的目標或文件，以精確校正其位置后，再將電荷耦合元件固定，確保圖像品質(zhì)。傳統(tǒng)制造掃描系統(tǒng)過程中，安裝電荷耦合元件的校正方法，如圖2所示，為使用一參考平板18，其上有一參考圖案20a、20b及20c，通常為一實線區(qū)域以做為辨識之用，以電荷耦合元件16掃描后，經(jīng)由一示波器觀察其信號，如圖3所示的信號24，為當電荷耦合元件的掃描線位于圖2所示的22a的正確位置時，所得的示波器信號而當電荷耦合元件的掃描線位于圖2所示的22b的偏斜位置時，便會得到錯誤的示波器信號；而當電荷耦合元件的掃描線位于圖2所示的22c的偏斜位置時，便得不到示波器信號；藉此一判斷來校正電荷耦合元件的位置。
傳統(tǒng)的電荷耦合元件的校正方法，存在以下幾項缺點。當示波器得不到示波器信號時，只知電荷耦合元件的掃描線位于圖2所示的22c或22d的偏斜位置，但無法確知電荷耦合元件須向上或向下調(diào)整才可得到正確的信號，形成校正上的困難，須花費更多的時間反復嘗試才能得到信號，并藉以調(diào)整至一正確的電荷耦合元件位置。此外，當電荷耦合元件的掃描線位于圖2所示的22e的輕微偏斜位置時，仍可得到如圖3所示的信號24，造成即使電荷耦合元件的安裝位置有所偏差，仍無法由示波器的信號判斷，并無法將電荷耦合元件校正至一完全精確的水平位置，掃描線的位置偏差，將導致掃描系統(tǒng)的品質(zhì)下降。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的一種電荷耦合元件校正裝置，用于一掃描系統(tǒng)內(nèi)，該掃描系統(tǒng)具有至少一個電荷耦合元件，其特征在于所述的校正裝置至少由一處理器、一應用電路、一校正平板和一顯示裝置組成，所述的處理器與電荷耦合元件相連，該電荷耦合元件產(chǎn)生的一模擬信號輸入至該處理器中，由處理器將此模擬信號轉換為一數(shù)字信號，所述的應用電路相連于所述的處理器之后，針對上述數(shù)字信號產(chǎn)生復數(shù)個校正信號，所述的顯示裝置與該應用電路相連接，以顯示該復數(shù)個校正信號，所述的校正平板置于所述的電荷耦合元件之前。
所述的校正平板上有至少兩個校正圖案形成于其上，且該校正圖案間的間距相等。上述的校正信號是由電荷耦合元件掃描該校正圖案所產(chǎn)生。所述的校正圖案系以對稱方式形成于所述的校正平板上。
所述的校正圖案為至少一個線段，該線段為直線及曲線其中之一。
所述的校正圖案其中一例為至少包含一條相對于水平線傾斜第一角度的一斜線及一條垂直線，垂直線與該斜線的一端相接。所述的第一角度約為45度。
所述的校正圖案另一例為至少包含一條相對于水平線傾斜第二角度的一斜線及兩條垂直線，兩條垂直線分別與該斜線的兩端相接。所述的第二角度約為45度。
由此可以看出，電荷耦合元件產(chǎn)生的圖象信號送至一處理器，由該處理器將電荷耦合元件掃描所產(chǎn)生的模擬信號轉換為數(shù)字信號，經(jīng)由一連接于處理器之后的一應用電路，針對此數(shù)字信號產(chǎn)生復數(shù)個校正信號，傳送至一顯示裝置，達到校正電荷耦合元件位置的目的。實現(xiàn)在短時間內(nèi)校正電荷耦合元件位置，免除傳統(tǒng)方法中，無法確知電荷耦合元件調(diào)整方向而導致校正不易的缺點，并且可將電荷耦合元件校正至一完全精確的水平位置，提升掃描系統(tǒng)的品質(zhì)，節(jié)省校正電荷耦合元件位置所需的時間。
見圖4，P1到P4為校正平板30上，電荷耦合元件的掃描線位于正中央時，對應到校正圖案位置所在的參考標記，校正平板30的長度大于P1到P4間的距離。而電荷耦合元件16能感測到的寬度至少等于或大于P1到P4間的距離。P1及P4分別對應到校正圖案32及34中的直線部分，P2是與校正圖案32中斜線部分的中心點對應，同樣的，P3則與校正圖案34中斜線部分的中心點對應。
圖6所示本發(fā)明中信號處理的流程圖，電荷耦合元件16將讀到圖像的一模擬信號傳送至一處理器200，處理器200將模擬信號轉換為一數(shù)字信號，接著使用一應用電路300針對此數(shù)字信號產(chǎn)生多數(shù)個校正信號，并藉由一顯示裝置400顯示校正信號，以判斷并校正電荷耦合元件16的位置。
通常如果要求更進一步的圖像質(zhì)量，可在處理器200設計中包含更多的處理電路，例如可包含以下系列電路，包含一互補式雙倍取樣器(correlated double sampler；CDS)，針對電荷耦合元件16偵測到的模擬信號調(diào)整其直流增益，產(chǎn)生一信號，并使用一個三合一紅、綠、藍三原色多重處理器(RGB multiprocesso)與互補式雙倍取樣器相連，以選擇將紅、綠、藍三原色信號依序輸出至下一元件中，一模擬—數(shù)字轉換器連接于三原色多重處理器之后，將此調(diào)整過的信號轉換為數(shù)字信號，再經(jīng)過一后處理單元，連接于模擬—數(shù)字轉換器之后，將數(shù)字信號做明部、暗部、及珈瑪修正后產(chǎn)生一圖像碼做為處理器200輸出的數(shù)字信號。以上電路及功能皆可視需要而外加，并非執(zhí)行電荷耦合元件16校正的必要元件。
圖7、圖8顯示不同位置的電荷耦合元件的掃描線對應至校正平板上所在的位置，掃描線與校正圖案32的垂直線交點為a、與校正圖案32的斜線交點為b、與校正圖案34的垂直線交點為d、與校正圖案34的斜線交點為c，其對應的校正信號結果顯示在附圖
9。電荷耦合元件經(jīng)過一系列處理將轉換后的信號傳送一顯示裝置400中，將校正信號顯示以作為校正之用。參見圖9的38a，為便于調(diào)整及校正對比此校正信號，顯示裝置400顯示一預設的參考標志40，參考標志40為當電荷耦合元件的掃描線位于校正平板正中央正確位置時，顯示的結果，做為調(diào)整的依據(jù)，如圖4中所示的參考標記P2或P3之位置，信號42顯示電荷耦合元件掃描校正平板的結果，圖9中的38a至38g分別顯示電荷耦合元件的掃描線位于不同位置時，顯示裝置400顯示的結果。
當掃描線為圖7所示的46a時，其結果為圖9中的38a，顯示時以42a及42d為左方的基準，相對于參考標志40，42b向左偏移，42c則向右偏移，即可判斷得知掃描線為由左下向右上傾斜，如圖7中的掃描線46a，并藉此將電荷耦合元件的位置修正；參見圖9中的38b，相對于參考標志40，42b向右偏移，42c則向左偏移，因此即可判斷得知掃描線為由左上向右下傾斜，即為圖7中的掃描線46b，并藉此將電荷耦合元件的位置修正；同理，由圖9中的38c即可判斷得知，掃描線為如圖7中的46c偏移情形；由圖9中的38d即可判斷得知，掃描線為如圖7中的46d偏移情形；由圖9中的38e即可判斷得知，掃描線為如圖8中的46e偏移情形；由圖9中的38f即可判斷得知，掃描線為如圖8中的46f偏移情形。因此，各種掃描偏移的狀況，皆可以清楚的被判斷，并將電荷耦合元件做對應的修正，最后可得到如圖9中的38g顯示的信號，且此時的掃描線位于如圖7中46的中心正確位置，完成電荷耦合元件的準確定位。
藉由本發(fā)明的對應裝置，可在短時間內(nèi)校正電荷耦合元件位置，免除現(xiàn)有技術中，無法確知電荷耦合元件調(diào)整方向而導致校正不易的缺點，并且可將電荷耦合元件校正至一完全精確的水平位置，提升掃描系統(tǒng)的品質(zhì)，節(jié)省校正電荷耦合元件位置所需的時間。
權利要求
1.一種電荷耦合元件校正裝置，用于一掃描系統(tǒng)內(nèi)，該掃描系統(tǒng)具有至少一個電荷耦合元件，其特征在于所述的校正裝置至少由一處理器、一應用電路、一校正平板和一顯示裝置組成，所述的處理器與電荷耦合元件相連，該電荷耦合元件產(chǎn)生的一模擬信號輸入至該處理器中，由處理器將此模擬信號轉換為一數(shù)字信號，所述的應用電路相連于所述的處理器之后，針對上述數(shù)字信號產(chǎn)生復數(shù)個校正信號，所述的顯示裝置與該應用電路相連接，以顯示該復數(shù)個校正信號，所述的校正平板置于所述的電荷耦合元件之前。
2.根據(jù)權利要求1所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正平板上有至少兩個校正圖案形成于其上，且該校正圖案間的間距相等。
3.根據(jù)權利要求2所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正信號是由電荷耦合元件掃描該校正圖案所產(chǎn)生。
4.根據(jù)權利要求2所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正圖案系以對稱方式形成于所述的校正平板上。
5.根據(jù)權利要求2所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正圖案為至少一個線段，該線段為直線及曲線其中之一。
6.根據(jù)權利要求5所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正圖案至少包含一條相對于水平線傾斜第一角度的一斜線，及一條垂直線，垂直線與該斜線的一端相接。
7.根據(jù)權利要求6所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的第一角度約為45度。
8.根據(jù)權利要求5所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的校正圖案至少包含一條相對于水平線傾斜第二角度的一斜線，及兩條垂直線，兩條垂直線分別與該斜線的兩端相接。
9.根據(jù)權利要求8所述的電荷耦合元件校正裝置，其特征在于所述的第二角度約為45度。
全文摘要
本發(fā)明公開了一掃描系統(tǒng)中電荷耦合元件校正裝置,用于一掃描系統(tǒng)內(nèi),掃描系統(tǒng)至少包含一個電荷耦合元件,校正裝置至少由一處理器、一應用電路、一校正平板和一顯示裝置組成,校正平板置于電荷耦合元件之前,處理器與電荷耦合元件相連,電荷耦合元件產(chǎn)生的一模擬信號輸入至處理器中,由處理器將此模擬信號轉換為一數(shù)字信號,應用電路相連于處理器之后,針對上述數(shù)字信號產(chǎn)生復數(shù)個校正信號,顯示裝置與應用電路相連接,以顯示該復數(shù)個校正信號。
文檔編號H04N1/047GK1356822SQ0113986
公開日2002年7月3日 申請日期1998年3月2日 優(yōu)先權日1998年3月2日
發(fā)明者蔡振財 申請人:鴻友科技股份有限公司