一種基于flex測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器rhf1201的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001 ]本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試技術(shù)，特別涉及一種基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法。
[0002]
【背景技術(shù)】
[0003]RHF1201是一種12位50Msps模數(shù)轉(zhuǎn)換器，為流水線結(jié)構(gòu)，具有抗輻照，數(shù)據(jù)誤差糾正，優(yōu)化速度功耗比等優(yōu)點(diǎn)，在宇航型號(hào)中有廣泛的應(yīng)用。Micro FLEX是一種大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)，具有高速，高精度測(cè)試的功能，且有比較完善的窗口編輯界面，適合用于高速器件的測(cè)試，在FLEX上開發(fā)RHF1201的測(cè)試程序并設(shè)計(jì)相關(guān)測(cè)試線路，可較好地滿足測(cè)試要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明解決的問(wèn)題是現(xiàn)有技術(shù)中模數(shù)轉(zhuǎn)化器RHFl201測(cè)試難度大、精度低的問(wèn)題；為解決所述問(wèn)題，本發(fā)明提供一種基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHFl 201的方法。
[0005]本發(fā)明提供的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHFl201的方法包括:根據(jù)產(chǎn)品說(shuō)明，RHF1201各引腳分別連接激勵(lì)信號(hào)源，包括電源、基準(zhǔn)信號(hào)、控制信號(hào)和數(shù)字信號(hào);采用FLEX測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)選擇不同性能的激勵(lì)信號(hào)測(cè)試不同的參數(shù)。
[0006]進(jìn)一步，測(cè)試積分線性誤差、差分線性誤差時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與模擬信號(hào)源連接;模擬信號(hào)源提供幅度為土 IV，頻率2MHz的差分正弦波;數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲。
[0007]進(jìn)一步，測(cè)試全諧波失真、動(dòng)態(tài)范圍、信噪比、信號(hào)與噪聲扭曲比時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與模擬信號(hào)源連接;模擬信號(hào)源提供幅度為± IV，頻率15MHz的差分正弦波；數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲。
[0008]進(jìn)一步，測(cè)量滿量程誤差、雙極零點(diǎn)誤差時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與POOLII儀表中超過(guò)分辨率的Vsource連接;通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道滿量程和雙極零點(diǎn)，計(jì)算滿量程誤差和雙極零點(diǎn)誤差。
[0009]進(jìn)一步，測(cè)量數(shù)字輸入漏電流測(cè)試時(shí)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加輸入要求的高低電平，分別測(cè)量輸入器件管腳的電流。
[0010]進(jìn)一步，測(cè)試參考源電平時(shí)，器件上電，用DC30儀表VI源測(cè)量器件參考電源產(chǎn)生的電壓值。
[0011]進(jìn)一步，測(cè)試數(shù)字輸出高低電平、漏電流時(shí)，:用PO O L11儀表中超高分辨率的Vsource連接激勵(lì)信號(hào)輸入端，通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道全“I”或全“O”狀態(tài)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電流來(lái)測(cè)量高低電平的電壓值；用數(shù)字通道激勵(lì)OEB管腳，使所有數(shù)字輸出處于高阻抗?fàn)顟B(tài)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電壓來(lái)測(cè)量漏電流。
[0012]進(jìn)一步，測(cè)試電源供應(yīng)時(shí)，用DC30通道加電壓測(cè)電流。
[0013]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，其優(yōu)點(diǎn)是:解決了傳統(tǒng)高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器電路高分辨率，高線性度，動(dòng)態(tài)參數(shù)無(wú)法測(cè)試的缺點(diǎn)，充分考慮了在進(jìn)行高速測(cè)試時(shí)，繼電器的開關(guān)速率、開關(guān)性能對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，采用合適的繼電器和測(cè)試線路，保證了測(cè)試的速度和精度，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的高速測(cè)試功能。
[0014]
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1是本發(fā)明的高速50Msps、12位模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201測(cè)試電路示意圖。
[0016]
【具體實(shí)施方式】
[0017]下文中，結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步闡述。
[0018]本發(fā)明的實(shí)施例提供了一種基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，圖1所示為測(cè)試電路示意圖，參考圖1，測(cè)試包括以下步驟:
I.積分線性誤差(Integral Linearity Error)、差分線性誤差(DifferentialLinearity Error):繼電器S3閉合，BBACSRC1+、BBACSRC_提供激勵(lì)信號(hào)，激勵(lì)信號(hào)為幅度為± IV，頻率為2MHz的差分正弦波；數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲；用統(tǒng)計(jì)直方圖計(jì)算INL，DNLο
[0019]2.全諧波失真(THD)，動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)，信噪比(SNR)，信號(hào)與噪聲扭曲比(SINAD):繼電器S3閉合，BBACSRCI +，BBACSRC-送幅度土 IV，頻率15MHz的差分正弦波;數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲；用DSP計(jì)算THD，SFDR，SNR，SINAD。
[0020]3.滿量程誤差(Ful I Scale Error)，雙極零點(diǎn)誤差(Bipolar Zero Error):繼電器S3斷開、S5閉合，用POOLII儀表中超高分辨率的Vsource作為激勵(lì)信號(hào)，通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道滿量程和雙極零點(diǎn)，計(jì)算滿量程誤差和雙極零點(diǎn)誤差。
[0021]4.數(shù)字輸入漏電流測(cè)試:用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加輸入要求的高低電平，分別測(cè)量輸入器件管腳的電流。
[0022]5.參考源電平測(cè)試:器件上電，用DC30儀表VI源測(cè)量器件參考電源產(chǎn)生的電壓值。
[0023]6.數(shù)字輸出高低電平、漏電流測(cè)試:繼電器S3斷開、S5閉合，用P00LII儀表中超高分辨率的Vsource作為激勵(lì)信號(hào)，通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道全“I”或全“O”狀態(tài)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電流來(lái)測(cè)量高低電平的電壓值。用數(shù)字通道激勵(lì)OEB管腳，使所有數(shù)字輸出處于高阻抗?fàn)顟B(tài)，在數(shù)字輸出管腳用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電壓來(lái)測(cè)量漏電流。
[0024]7.電源Power Supply:用DC30通道加電壓測(cè)電流。
[0025]綜上，本發(fā)明的實(shí)施例中，對(duì)于不同參數(shù)，采用不同功能、不同性能要求的激勵(lì)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，在線性參數(shù)測(cè)試時(shí)，采用高性能任意波發(fā)生器產(chǎn)生符合測(cè)試要求IVpp的2Mhz正弦波，并用50Msps采樣率捕獲數(shù)據(jù)，計(jì)算動(dòng)態(tài)線性參數(shù)，非常接近器件真實(shí)運(yùn)行環(huán)境;在測(cè)試高性能動(dòng)態(tài)參數(shù)時(shí)，用高性能24位任意波發(fā)生器直接產(chǎn)生15Mhz信號(hào)激勵(lì)到RHF1201;在測(cè)試高分辨率要求的每位數(shù)字輸出高低電平參數(shù)時(shí)，用超高分辨率電壓源激勵(lì)到RHF1201。考慮到滿足高性能測(cè)試的要求，輸出管腳采用50歐姆阻抗匹配，繼電器S3帶寬10Mhz以上，每個(gè)繼電器連接USER POWER 12V和UDBxx，繼電器均選用HFS-1A-12LD。
[0026]本發(fā)明雖然已以較佳實(shí)施例公開如上，但其并不是用來(lái)限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對(duì)本發(fā)明技術(shù)方案做出可能的變動(dòng)和修改，因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化及修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于F L E X測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器R H FI 2 O I的方法，其特征在于，根據(jù)產(chǎn)品說(shuō)明，RHF1201各引腳分別連接激勵(lì)信號(hào)源，包括電源、基準(zhǔn)信號(hào)、控制信號(hào)和數(shù)字信號(hào);采用FLEX測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)選擇不同性能的激勵(lì)信號(hào)測(cè)試不同的參數(shù)。2.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)試積分線性誤差I(lǐng)NL、差分線性誤差DNL時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與模擬信號(hào)源連接;模擬信號(hào)源提供幅度為± IV，頻率2MHz的差分正弦波;數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲。3.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)試全諧波失真THD、動(dòng)態(tài)范圍SFDR、信噪比SNR、信號(hào)與噪聲扭曲比SINAD時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與模擬信號(hào)源連接;模擬信號(hào)源提供幅度為±1V，頻率15MHz的差分正弦波;數(shù)字通道DSSC采用速率50Mhz捕獲。4.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)量滿量程誤差、雙極零點(diǎn)誤差時(shí)，激勵(lì)信號(hào)輸入端與POOLII儀表中超高分辨率的Vsource連接;通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道滿量程和雙極零點(diǎn)，計(jì)算滿量程誤差和雙極零點(diǎn)誤差。5.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)量數(shù)字輸入漏電流測(cè)試時(shí)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加輸入要求的高低電平，分別測(cè)量輸入器件管腳的電流。6.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)試器件內(nèi)嵌參考源電平時(shí)，器件上電，用DC30儀表VI源測(cè)量器件參考電源產(chǎn)生的電壓值。7.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)試數(shù)字輸出高低電平、漏電流時(shí):用POOLII儀表中超高分辨率的Vsource連接到器件激勵(lì)信號(hào)輸入端，通過(guò)改變Vsource值，達(dá)到數(shù)字通道全“I”或全“O”狀態(tài)，用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電流來(lái)測(cè)量高低電平的電壓值;用數(shù)字通道激勵(lì)OEB管腳，使所有數(shù)字輸出處于高阻抗?fàn)顟B(tài)，所有數(shù)字輸出管腳用數(shù)字通道上的參數(shù)測(cè)量單元PMU施加規(guī)定的電壓來(lái)測(cè)量漏電流。8.依據(jù)權(quán)利要求1所述的基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法，其特征在于，測(cè)試電源供應(yīng)時(shí)，用DC30通道加電壓測(cè)電流。
【專利摘要】本發(fā)明公開了基于FLEX測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換器RHF1201的方法包括：根據(jù)產(chǎn)品說(shuō)明，RHF1201各引腳分別連接激勵(lì)信號(hào)源，包括電源、基準(zhǔn)信號(hào)、控制信號(hào)和數(shù)字信號(hào)；采用FLEX測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)選擇不同性能的激勵(lì)信號(hào)測(cè)試不同的參數(shù)。
【IPC分類】H03M1/10
【公開號(hào)】CN105553477
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510906007
【發(fā)明人】許偉達(dá), 徐導(dǎo)進(jìn)
【申請(qǐng)人】上海精密計(jì)量測(cè)試研究所
【公開日】2016年5月4日
【申請(qǐng)日】2015年12月9日