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半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法與流程

文檔序號:40521329發(fā)布日期:2024-12-31 13:30閱讀:8來源:國知局
半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法與流程

本公開涉及半導(dǎo)體,尤其涉及一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法。


背景技術(shù):

1、動態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dynamic?random?access?memory,簡稱dram)是一種高速地、隨機(jī)地寫入和讀取數(shù)據(jù)的半導(dǎo)體存儲器,被廣泛地應(yīng)用到數(shù)據(jù)存儲設(shè)備或裝置中。

2、dram包括陣列區(qū)和圍設(shè)在陣列區(qū)外周的外圍區(qū),陣列區(qū)設(shè)置有陣列電路和陣列排布的多個存儲結(jié)構(gòu),陣列電路用于為多個存儲結(jié)構(gòu)提供驅(qū)動電流,實(shí)現(xiàn)存儲結(jié)構(gòu)的存儲過程。外圍區(qū)中設(shè)置有外圍電路,外圍電路用于為陣列電路提供驅(qū)動電流,并控制陣列電路的工作時序。相關(guān)技術(shù)中,陣列區(qū)和外圍區(qū)中的電路結(jié)構(gòu)會分別采用不同的制程進(jìn)行單獨(dú)制備。

3、然而,上述dram的制程較為復(fù)雜,制備成本較高。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本公開提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,能夠有效簡化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制程,降低制備成本。

2、第一方面,本公開提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:

3、提供襯底,襯底包括有源區(qū),有源區(qū)包括陣列區(qū)和圍設(shè)于陣列區(qū)外周的外圍區(qū);

4、形成陣列晶體管和第一外圍晶體管,陣列晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型和第一外圍晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型相同,陣列晶體管位于陣列區(qū),第一外圍晶體管位于外圍區(qū);

5、形成第二外圍晶體管,第二外圍晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型與陣列晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型不同,第二外圍晶體管位于外圍區(qū)。

6、本公開實(shí)施例提供的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,通過形成襯底,并劃分襯底的有源區(qū)包括陣列區(qū)和外圍區(qū),利用襯底對后續(xù)形成的陣列晶體管、第一外圍晶體管和第二外圍晶體管形成支撐的結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)。通過將陣列晶體管的部分結(jié)構(gòu)與第一外圍晶體管或第二外圍晶體管的部分結(jié)構(gòu)同時制備,相比于兩者單獨(dú)制備,本公開可以有效減少半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制程步驟。通過形成第二外圍晶體管,可以在外圍區(qū)形成溝道區(qū)導(dǎo)電類型不同的第一外圍晶體管和第二外圍晶體管,完成外圍區(qū)內(nèi)的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的結(jié)構(gòu)制備?;诖耍竟_能夠有效簡化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制程,降低其制備成本。

7、本公開的構(gòu)造以及它的其他發(fā)明目的及有益效果將會通過結(jié)合附圖而對優(yōu)選實(shí)施例的描述而更加明顯易懂。



技術(shù)特征:

1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述陣列晶體管和所述第一外圍晶體管,包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第二外圍晶體管,包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第二外圍柵結(jié)構(gòu)之前,還包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第二外圍晶體管之后,還包括:

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述外圍接觸結(jié)構(gòu)和所述陣列接觸結(jié)構(gòu)之后,還包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求1-4中任一項(xiàng)所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述外圍區(qū)包括第一外圍區(qū)和第二外圍區(qū),所述第一外圍區(qū)圍設(shè)于所述陣列區(qū)的外周,所述第二外圍區(qū)圍設(shè)于所述第一外圍區(qū)的外周;

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,提供所述襯底,包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第一外圍阱區(qū)和所述陣列阱區(qū),包括:

10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第二外圍阱區(qū),包括:

11.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述第一外圍柵結(jié)構(gòu)和所述陣列柵結(jié)構(gòu),包括:

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述第二外圍柵結(jié)構(gòu)與所述第一外圍柵結(jié)構(gòu)同步形成;

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述陣列晶體管和所述第一外圍晶體管,包括:

14.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,形成所述外圍接觸結(jié)構(gòu)和所述陣列接觸結(jié)構(gòu),包括:

15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,其特征在于,所述電容包括第一電容導(dǎo)電層、電容介質(zhì)層和第二電容導(dǎo)電層;


技術(shù)總結(jié)
本公開提供一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制備方法,包括:提供襯底,襯底包括有源區(qū),有源區(qū)包括陣列區(qū)和圍設(shè)于陣列區(qū)外周的外圍區(qū);形成陣列晶體管和第一外圍晶體管,陣列晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型和第一外圍晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型相同,陣列晶體管位于陣列區(qū),第一外圍晶體管位于外圍區(qū);形成第二外圍晶體管,第二外圍晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型與陣列晶體管的溝道區(qū)導(dǎo)電類型不同,第二外圍晶體管位于外圍區(qū)。本公開能夠有效簡化半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的制程,降低制備成本。

技術(shù)研發(fā)人員:白文琦
受保護(hù)的技術(shù)使用者:長鑫存儲技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/30
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