技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及頻域ADC閃存校準(zhǔn)?？扉W模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)包括將模擬輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字輸出信號(hào)的比較器。這些比較器的偏移引入噪聲，并可能損害ADC的性能。因此，使用校準(zhǔn)碼來校準(zhǔn)這些比較器。傳統(tǒng)的校準(zhǔn)方法通過從輸入信號(hào)中去除ADC來確定這些校準(zhǔn)碼。否則，在校準(zhǔn)測(cè)量中難以區(qū)分噪聲和信號(hào)。相反，實(shí)施例可以在ADC將輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)時(shí)確定校準(zhǔn)碼。這樣的實(shí)施例可以通過頻域技術(shù)來實(shí)現(xiàn)。在采用頻域功率計(jì)的實(shí)施例中，可以從功率測(cè)量中去除輸入信號(hào)。這種移除使得能夠精確地測(cè)量帶內(nèi)噪聲，而不會(huì)使測(cè)量被輸入信號(hào)功率破壞。

技術(shù)研發(fā)人員：李棹;柴田肇;T·C·考德威爾;R·E·施瑞爾;V·考茲羅夫;D·N·奧爾里德;P·M·什雷斯塔
受保護(hù)的技術(shù)使用者：亞德諾半導(dǎo)體集團(tuán)
文檔號(hào)碼：201611163546
技術(shù)研發(fā)日：2016.12.16
技術(shù)公布日：2017.06.27