專利名稱：一種ad采樣值校正方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于電子技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種AD采樣值校正方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
AD轉(zhuǎn)換就是模數(shù)轉(zhuǎn)換，就是把模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，模擬信號可以是電壓、電流等電信號，也可以是壓力、溫度、濕度、位移、聲音等非電信號，但在A/D轉(zhuǎn)換前，輸入到A/D轉(zhuǎn)換器的輸入信號必須經(jīng)各種傳感器把各種物理量轉(zhuǎn)換成電壓信號。AD采樣的精度對一個控制系統(tǒng)的性能有著至關(guān)重要的作用，在實際應(yīng)用中，由于技術(shù)等因數(shù)的制約，通常主控制芯片采樣的AD采樣值與理論值存在一定的偏差，AD采樣值與理論值存在三種關(guān)系A(chǔ)D采樣值整體偏小于理論值、AD采樣值整體偏大于理論值、AD采樣值在理論值附近上下波動，這種AD采樣偏差會使后續(xù)處理過程也產(chǎn)生偏差，多級偏差的累計會影響處理結(jié)果的精度，因此，為了獲得更高精度的AD值，需要對采樣的AD采樣值進行處理。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例的目的在于提供一種AD采樣值校正方法及系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)AD采樣偏差會使后續(xù)處理過程也產(chǎn)生偏差，多級偏差的累計會影響處理結(jié)果的精度的問題。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明實施例提供如下技術(shù)方案本發(fā)明實施例是這樣實現(xiàn)的，一種AD米樣值校正方法,將模擬輸入電壓值分成多個采樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述方法包括獲取每一米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系,及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一米樣區(qū)間的實際AD米樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本發(fā)明實施例還提供了一種AD米樣值校正系統(tǒng),將模擬輸入電壓值分成多個米樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述系統(tǒng)包括 第一獲取單元，用于獲取每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；第二獲取單元，用于獲取每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；
生成單元，用于根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；校正單元，用于根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本發(fā)明實施例還提供了 一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括所述AD采樣值校正系統(tǒng)。本發(fā)明實施例與現(xiàn)有技術(shù)相比，有益效果在于通過將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系,及模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系，根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正，實現(xiàn)可以得到精度較高的AD采樣值，很好的改善了 AD采樣精度，從而得到精度較高的后續(xù)處理結(jié)果。


為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本發(fā)明實施例一提供的AD采樣值校正方法的實現(xiàn)的流程圖；圖2是本發(fā)明實施例二提供的AD采樣值校正方法的模擬輸入電壓值與AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系的不意圖；圖3是本發(fā)明實施例二提供的模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系的示意圖；圖4是本發(fā)明實施例二提供的實際AD采樣值與理論AD采樣值對應(yīng)關(guān)系的示意圖；圖5是本發(fā)明實施例二提供的實際AD采樣值與校準輸出實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系的不意圖；圖6是本發(fā)明實施例三提供的本發(fā)明實施例三提供的AD采樣值校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應(yīng)當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明實施例提供了一種AD米樣值校正方法,將模擬輸入電壓值分成多個米樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述方法包括獲取每一米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系,及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一米樣區(qū)間的實際AD米樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本發(fā)明實施例還提供了一種AD米樣值校正系統(tǒng),將模擬輸入電壓值分成多個米樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述系統(tǒng)包括第一獲取單元，用于獲取每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；第二獲取單元，用于獲取每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；生成單元，用于根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；校正單元，用于根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本發(fā)明實施例還提供了 一種電子設(shè)備，所述電子設(shè)備包括所述AD采樣值校正系統(tǒng)。以下結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的實現(xiàn)進行詳細描述實施例一圖1示出了本發(fā)明實施例一提供的AD采樣值校正方法的實現(xiàn)的流程圖，將模擬輸入電壓值分成多個采樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述方法詳述如下在SlOl中，獲取每一米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；在S102中，根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；本實施例中，獲取每一米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系具體可以采用以下方式1、對每一采樣區(qū)間的起點和終點的輸入電壓值進行多次AD采樣，計算起點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值；2、根據(jù)所述點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值，獲取模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系。通過對每一采樣區(qū)間的起點和終點輸入電壓值進行多次AD采樣，以求得起點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值，可以有效消除采用過程中的產(chǎn)生的誤差，從而得到準確的模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系。在S103中，根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本實施例中，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系，根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正，實現(xiàn)可以得到精度較高的AD采樣值，很好的改善了 AD采樣精度，從而得到精度較高的后續(xù)處理結(jié)果。實施例二本實施例中，所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)
系可以為
權(quán)利要求
1.ー種AD米樣值校正方法,其特征在于，將模擬輸入電壓值分成多個米樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述方法包括 獲取姆一米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系,及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系； 根據(jù)所述姆ー米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系,及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每ー采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系； 根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取每ー采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系具體為 對每ー采樣區(qū)間的起點和終點的輸入電壓值進行多次AD采樣，計算起點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值； 根據(jù)所述點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值，獲取模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系。
3.如權(quán)利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述每ー采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系為
4.ー種AD米樣值校正系統(tǒng),其特征在于，將模擬輸入電壓值分成多個米樣區(qū)間，根據(jù)所述多個采樣區(qū)間，將理論AD采樣直線和實際AD采樣曲線劃分成多段，假設(shè)每段內(nèi)的實際AD采樣曲線為線性直線，所述系統(tǒng)包括 第一獲取單元，用于獲取每ー采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系;第二獲取單兀，用于獲取姆ー米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與實際AD米樣值的對應(yīng)關(guān)系; 生成単元，用于根據(jù)所述每ー采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每ー采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系； 校正単元，用于根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。
5.如權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一獲取單元包括 計算模塊，用于對每ー采樣區(qū)間的起點和終點的輸入電壓值進行多次AD采樣，計算起點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值； 獲取模塊，用于根據(jù)所述點AD采樣的平均值和終點AD采樣的平均值，獲取模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系。
6.如權(quán)利要求4或5所述的系統(tǒng),其特征在于，所述姆ー米樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系為
7.ー種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括權(quán)利要求4至6任ー權(quán)利要求所述的AD采樣值校正系統(tǒng)。
全文摘要
本發(fā)明適用于電子技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種AD采樣值校正方法及系統(tǒng)，所述方法包括獲取每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系；根據(jù)所述每一采樣區(qū)間內(nèi)的模擬輸入電壓值與理論AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，及模擬輸入電壓值與實際AD采樣值的對應(yīng)關(guān)系，生成每一采樣區(qū)間的實際AD采樣值與理論AD采樣值的補償關(guān)系；根據(jù)所述補償關(guān)系，對與所述補償關(guān)系對應(yīng)的實際AD采樣曲線的實際AD采樣值進行校正。本發(fā)明實現(xiàn)可以得到精度較高的AD采樣值，很好的改善了AD采樣精度，從而得到精度較高的后續(xù)處理結(jié)果。
文檔編號H03M1/10GK103051339SQ20121012832
公開日2013年4月17日 申請日期2012年4月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年4月27日
發(fā)明者韋福松 申請人:深圳市正弦電氣股份有限公司