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自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)的制作方法

文檔序號:7514791閱讀:396來源:國知局
專利名稱:自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種光電開關(guān),特別是涉及智能檢測領(lǐng)域的反射型光電開關(guān)。
背景技術(shù)
光電開關(guān)是利用被檢測物對光束的遮擋或反射,由同步回路選通電路, 從而檢測物體有無的,所有能反射光線的物體均可被檢測。光電開關(guān)將輸入電流在發(fā)射器上轉(zhuǎn)換為光信號射出,接收器再根據(jù)接收到的光線的強弱或有無對目標(biāo)物體進(jìn)行探測。反射式光電開關(guān)是一種集發(fā)射器和接收器于一體的傳感器,當(dāng)有被檢測物體經(jīng)過時,物體將光電開關(guān)發(fā)射器發(fā)射的足夠量的光線反射到接收器,光電開關(guān)就產(chǎn)生了檢測開關(guān)信號。
傳統(tǒng)的反射型光電開關(guān)通過檢測開關(guān)的接收元件接收光量的大小來判斷檢測目標(biāo)的有無,而難以檢測目標(biāo)物的遠(yuǎn)近或顏色變化,特別是對鏡面目標(biāo)物的檢測。另外,現(xiàn)有的反射型光電開關(guān)是由邏輯電路構(gòu)成,其靈敏度的設(shè)定是通過一電位器來實現(xiàn)的,而由于電位器的電阻變化精度較大,有時很難調(diào)節(jié)所需要加靈敏度,從而需要反復(fù)調(diào)節(jié)多次。

實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種可以對鏡面目標(biāo)物進(jìn)行穩(wěn)定檢測,并可單鍵、全自動校正,從而實現(xiàn)光電的智能檢測的自學(xué)習(xí)型發(fā)射光電開關(guān)。
為解決上述技術(shù)問題,本實用新型的自學(xué)習(xí)型發(fā)射光電開關(guān)包括光軸系統(tǒng)、光學(xué)元件、反射板和檢測電路,所述光軸系統(tǒng)包括發(fā)射器、接收器以及光源,于所述接收器的前端設(shè)有光學(xué)元件,所述光學(xué)元件由鏡架、透鏡、偏光片以及濾光片依次排列構(gòu)成;于所述接收器的后端設(shè)有電路板,所述電路 板包含有單片機系統(tǒng),用以實現(xiàn)智能檢測。
作為本實用新型的一種優(yōu)選方案,所述光源可以是波長為700nm的可見 紅色發(fā)光二極管。
作為本實用新型的一種優(yōu)選方案,所述偏光片將所述發(fā)光二極管投射出 的無偏光的振動方向限制在水平或垂直方向上。
作為本實用新型的一種優(yōu)選方案,所述電路板上包含由一發(fā)光二極管 1D1和一三極管1T1構(gòu)成的發(fā)射電路、受光器件電路、放大電路、檢波電路、 單片機電路和輸出電路,所述放大電路包含一三極管T8,該三極管的發(fā)射 極通過一電容C16與所述檢波電路的三極管T9的基極相連接,所述檢波電 路與所述單片機電路的單片機IC1的兩腳位18、 19相連接,所述單片機IC1 的一腳位10與所述發(fā)射電路相連,所述單片機IC1的另一腳位11通過一電 阻R9于所述輸出電路的三極管T7的基極相連接。
本實用新型的技術(shù)效果在于通過獨特的光學(xué)系統(tǒng)與單片機系統(tǒng)實現(xiàn)了 光電的智能檢測,并提高了對鏡面目標(biāo)物檢測的穩(wěn)定性。
以下結(jié)合附圖和優(yōu)選實施方式對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

圖1是本實用新型自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)的立體結(jié)構(gòu)圖; 圖2是本實用新型自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)的電路方框圖;以及 圖3是本實用新型自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)的電路原理圖。
具體實施方式
如圖1所示,本實用新型的自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān)包括一光軸系統(tǒng),其 包括發(fā)射器、接收器以及光源;于所述接收器的前端設(shè)有光學(xué)元件,所述光 學(xué)元件由鏡架4、透鏡3、偏光片2以及濾光片1依次排列構(gòu)成;于所述接 收器的后端設(shè)有檢測電路,所述檢測電路包含有單片機系統(tǒng),用以實現(xiàn)智能檢測。
如圖2所示,所述電路板上包含由發(fā)光二極管和電流放大組成的發(fā)射電 路、受光器件電路、放大電路、檢波電路、單片機電路、輸出電路以及電源 穩(wěn)壓電路。
請同時參閱圖3,所述放大電路包含一三極管T8,該三極管的發(fā)射極通 過一電容C16與所述檢波電路的三極管T9的基極相連接,所述檢波電路與所述單片機電路的單片機IC1的兩腳位18、19相連接,所述單片機IC1的一腳位10與所述發(fā)射電路相連,所述單片機IC1的另一腳位11通過一電阻R9于所述輸出電路的三極管T7的基極相連接。
單片機IC1產(chǎn)生同步信號經(jīng)腳10輸出,用以驅(qū)動發(fā)射電路中的三極管 1T1,經(jīng)該三極管1T1放大后的信號傳遞給發(fā)射管1D1,該發(fā)射管1D1將電信號轉(zhuǎn)換成光信號經(jīng)過透鏡4、偏光片2、濾光片l發(fā)射出來,遇到反光板后光經(jīng)過折射被反射回來,經(jīng)過濾光片l、偏光片2、透鏡4到達(dá)接收器;若光電開關(guān)和反射板之間存在物體,則光線不能被反射回來。接收器接收到信號后將被后續(xù)的放大電路進(jìn)行放大給檢波電路,檢波電路對信號濾波以后 轉(zhuǎn)變成電平信號,連接到單片機IC1的腳18、19,所述腳18、19為單片機IC1的A/D轉(zhuǎn)換電路的引腳。單片機IC1收到腳18、 19的信號并同步信號 經(jīng)過運算后進(jìn)行判別處理過濾干擾信號,然后從腳11輸出驅(qū)動信號,經(jīng)輸出電路的三極管T7放大后驅(qū)動輸出繼電器。Kl為設(shè)定功能鍵,當(dāng)按住K1 三秒后,腳IC1將會對接收到腳18、19的光信號與設(shè)定的比較電平進(jìn)行比 較,以判定設(shè)定的比較電平是否過大或過小,然后自動調(diào)節(jié)比較電平,以確保有一個合適的比較電平,從而實現(xiàn)單鍵設(shè)定。
以上已對本發(fā)明創(chuàng)造的較佳實施例進(jìn)行了具體說明,但本發(fā)明創(chuàng)造并不限于所述實施例,熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不違背本發(fā)明創(chuàng)造精神的前提下還可作出種種的等同的變型或替換,這些等同的變型或替換均包含在本申請 權(quán)利要求所限定的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān),包括光軸系統(tǒng)、光學(xué)元件、反射板和檢測電路,其特征在于所述光軸系統(tǒng)包括發(fā)射器、接收器以及光源,于所述接收器的前端設(shè)有光學(xué)元件,所述光學(xué)元件由鏡架、透鏡、偏光片以及濾光片依次排列構(gòu)成;于所述接收器的后端設(shè)有電路板,所述電路板包含有單片機系統(tǒng),用以實現(xiàn)智能檢測。
2. 如權(quán)利要求l所述的自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān),其特征在于所述光源 可以是波長為700nm的可見紅色發(fā)光二極管。
3. 如權(quán)利要求2所述的自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān),其特征在于所述偏光 片將所述發(fā)光二極管投射出的無偏光的振動方向限制在水平或垂直方向上。
4. 如權(quán)利要求1所述的自學(xué)習(xí)型反射光電開關(guān),其特征在于所述電路 板上包含由一發(fā)光二極管(1D1)和一三極管(1T1)構(gòu)成的發(fā)射電路、受 光器件電路、放大電路、檢波電路、單片機電路和輸出電路,所述放大電路 包含一三極管(T8),該三極管的發(fā)射極通過一電容(C16)與所述檢波電路 的三極管(T9)的基極相連接,所述檢波電路與所述單片機電路的單片機(IC1)的兩腳位(18、 19)相連接,所述單片機(IC1)的一腳位(10)與 所述發(fā)射電路相連,所述單片機(IC1)的另一腳位(11)通過一電阻(R9) 于所述輸出電路的三極管(T7)的基極相連接。
專利摘要本實用新型公開了一種可以對鏡面目標(biāo)進(jìn)行穩(wěn)定檢測,并可單鍵、全自動校正,從而實現(xiàn)光電的智能檢測的自學(xué)習(xí)型發(fā)射光電開關(guān),其包括光軸系統(tǒng)、光學(xué)元件、反射板和檢測電路,所述光軸系統(tǒng)包括發(fā)射器、接收器以及光源,于所述接收器的前端設(shè)有光學(xué)元件,所述光學(xué)元件由鏡架、透鏡、偏光片以及濾光片依次排列構(gòu)成;于所述接收器的后端設(shè)有電路板,所述電路板包含有單片機系統(tǒng),用以實現(xiàn)智能檢測。本實用新型的自學(xué)習(xí)型發(fā)射光電開關(guān)通過獨特的光學(xué)系統(tǒng)與單片機系統(tǒng)實現(xiàn)了光電的智能檢測,并提高了對鏡面目標(biāo)物檢測的穩(wěn)定性。
文檔編號H03K17/795GK201181337SQ20082005696
公開日2009年1月14日 申請日期2008年4月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月3日
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