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一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法

文檔序號:10727793閱讀:606來源:國知局
一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法,屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)領(lǐng)域。所述制備方法包括:在基板上形成N型半導(dǎo)體層、量子阱發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層、以及透明導(dǎo)電層,并開設(shè)延伸至N型半導(dǎo)體層的凹槽;開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的隔離槽,在部分高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道;在隔離槽內(nèi)鋪設(shè)絕緣層;在絕緣層上形成金屬層,并設(shè)置N電極和P電極;對電絕緣的高壓LED芯片進行測試;當測試結(jié)果符合要求時,減薄基板,采用激光在所有高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,并沿切割道切割基板,得到相互獨立的高壓LED芯片。本發(fā)明可以滿足小尺寸的高壓LED芯片的生產(chǎn)要求。
【專利說明】
一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法。
【背景技術(shù)】
[0002]發(fā)光二極管(LightEmitting D1de,簡稱LED)是一種能夠?qū)㈦娔苡行мD(zhuǎn)化為光能的半導(dǎo)體器件,是目前最具前景之一的綠色光源,已經(jīng)廣泛應(yīng)用于照明和背光等領(lǐng)域。隨著近些年來LED制造技術(shù)的成熟,其應(yīng)用范圍也越來越廣泛,其中高壓系列的LED芯片就是一個重要的應(yīng)用范圍。與常規(guī)照明芯片不同,高壓LED芯片由多個小功率LED串聯(lián)或并聯(lián)成的一顆集成式的發(fā)光二極管芯片,具有高抗靜電能力、高發(fā)光效率和節(jié)約封裝廠打線成本等優(yōu)點,在芯片領(lǐng)域的地位逐漸顯現(xiàn)。
[0003]現(xiàn)有的高壓LED芯片的制備方法包括:在基板上依次生長形成N型半導(dǎo)體層、量子阱發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層、以及透明導(dǎo)電層,并開設(shè)延伸至N型半導(dǎo)體層的凹槽;在N型半導(dǎo)體層上開設(shè)延伸至基板的隔離槽和切割道,并在隔離槽內(nèi)鋪設(shè)絕緣層,得到多個子芯片;在絕緣層上形成連接相鄰子芯片的金屬層,并在N型半導(dǎo)體層上設(shè)置N電極,在P型半導(dǎo)體層上設(shè)置P電極,得到高壓LED芯片;對所有高壓LED芯片進行測試,得到測試結(jié)果;當測試結(jié)果符合要求時,減薄基板并沿切割道切割基板,得到相互獨立的高壓LED芯片。
[0004]在實現(xiàn)本發(fā)明的過程中,發(fā)明人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)至少存在以下問題:
[0005]切割道是采用刻蝕技術(shù)形成的,由于采用刻蝕技術(shù)形成的切割道的寬度有一定的波動范圍,因此形成的切割道的實際寬度通常比理想寬度大。在基板的寬度不變的情況下,高壓LED芯片的有效發(fā)光區(qū)域的面積減小,單個基板的芯片產(chǎn)生量降低,無法滿足小尺寸的高壓LED芯片的生產(chǎn)要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]為了解決現(xiàn)有技術(shù)無法滿足小尺寸的高壓LED芯片的生產(chǎn)要求的問題,本發(fā)明實施例提供了一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法。所述技術(shù)方案如下:
[0007]本發(fā)明實施例提供了一種高壓發(fā)光二極管芯片的制備方法,所述制備方法包括:
[0008]在基板上依次生長形成N型半導(dǎo)體層、量子阱發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層、以及透明導(dǎo)電層,并開設(shè)延伸至所述N型半導(dǎo)體層的凹槽;
[0009]在所有高壓LED芯片的各個子芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的隔離槽,在部分所述高壓LED芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的切割道,形成部分電絕緣的所述高壓LED芯片;
[0010]在所述隔離槽內(nèi)鋪設(shè)絕緣層;
[0011]在所述絕緣層上形成連接同一個所述高壓LED芯片相鄰的所述子芯片的金屬層,并在所述N型半導(dǎo)體層上設(shè)置N電極,在所述P型半導(dǎo)體層上設(shè)置P電極;
[0012]對電絕緣的所述高壓LED芯片進行測試,得到測試結(jié)果;
[0013]當所述測試結(jié)果符合要求時,減薄所述基板,采用激光在所有所述高壓LED芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的切割道,并沿所述切割道切割所述基板,得到相互獨立的所述高壓LED芯片。
[0014]可選地,各個電絕緣的所述高壓LED芯片呈陣列排列。
[0015]優(yōu)選地,相鄰兩行的電絕緣的所述高壓LED芯片的間距相同,相鄰兩列的電絕緣的所述高壓LED芯片的間距相同。
[0016]可選地,所述高壓LED芯片包括排成一列的至少兩個所述子芯片。
[0017]優(yōu)選地,各個所述子芯片的電壓均為設(shè)定值。
[0018]更優(yōu)選地,所述高壓LED芯片包括的所述子芯片的數(shù)量等于所述高壓LED芯片的電壓與所述子芯片的電壓的比值。
[0019]優(yōu)選地,同一個所述高壓LED芯片的各個所述子芯片串聯(lián)或并聯(lián)。
[0020]具體地,當同一個所述高壓LED芯片的各個子芯片串聯(lián)時,兩個相鄰的所述子芯片中,一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層與另一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層通過所述金屬層電連接。
[0021]具體地,當同一個所述高壓LED芯片的各個子芯片并聯(lián)時,兩個相鄰的所述子芯片中,一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層與另一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層通過所述金屬層電連接,且一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層與另一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層通過所述金屬層電連接。
[0022]可選地,所述制備方法還包括:
[0023]當所述測試結(jié)果不符合要求時,去除所述透明導(dǎo)電層、所述絕緣層、以及所述金屬層;
[0024]在所述基板上重新制備高壓LED芯片。
[0025]本發(fā)明實施例提供的技術(shù)方案帶來的有益效果是:
[0026]通過采用激光在所有高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,利用激光可以準確形成理想寬度的切割道,避免由于切割道的實際寬度波動而減小高壓LED芯片的有效發(fā)光區(qū)域的面積,提高單個基板的芯片產(chǎn)生量,可以滿足小尺寸的高壓LED芯片的生產(chǎn)要求。
【附圖說明】
[0027]為了更清楚地說明本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案,下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0028]圖1是本發(fā)明實施例提供的一種高壓LED芯片的制備方法的流程圖;
[0029]圖2a是本發(fā)明實施例提供的高壓LED芯片結(jié)構(gòu)的主視圖;
[0030]圖2b是本發(fā)明實施例提供的高壓LED芯片結(jié)構(gòu)的俯視圖;
[0031]圖3是本發(fā)明實施例提供的一個電絕緣的高壓LED芯片及其相鄰LED芯片的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0032]為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實施方式作進一步地詳細描述。
[0033]實施例
[0034]本發(fā)明實施例提供了一種高壓發(fā)光二極管LED芯片的制備方法,參見圖1,該制備方法包括:
[0035]步驟101:在基板上依次生長形成N型半導(dǎo)體層、量子阱發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層、以及透明導(dǎo)電層,并開設(shè)延伸至N型半導(dǎo)體層的凹槽。
[0036]步驟102:在所有高壓LED芯片的各個子芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的隔離槽,在部分高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,形成部分電絕緣的高壓LED芯片。
[0037]可選地,各個電絕緣的高壓LED芯片可以呈陣列排列。
[0038]優(yōu)選地,相鄰兩行的電絕緣的高壓LED芯片的間距可以相同,相鄰兩列的電絕緣的高壓LED芯片的間距可以相同。
[0039]可選地,高壓LED芯片可以包括排成一列的至少兩個子芯片。
[0040]優(yōu)選地,各個子芯片的電壓可以均為設(shè)定值,如3V。
[0041]進一步地,高壓LED芯片包括的子芯片的數(shù)量可以等于高壓LED芯片的電壓與子芯片的電壓的比值。
[0042]優(yōu)選地,同一個高壓LED芯片的各個子芯片可以串聯(lián)或并聯(lián)。
[0043]具體地,當同一個高壓LED芯片的各個子芯片串聯(lián)時,兩個相鄰的子芯片中,一個子芯片的N型半導(dǎo)體層與另一個子芯片的透明導(dǎo)電層通過金屬層電連接。
[0044]具體地,當同一個高壓LED芯片的各個子芯片并聯(lián)時,兩個相鄰的子芯片中,一個子芯片的N型半導(dǎo)體層與另一個子芯片的N型半導(dǎo)體層通過金屬層電連接,且一個子芯片的透明導(dǎo)電層與另一個子芯片的透明導(dǎo)電層通過金屬層電連接。
[0045]步驟103:在隔離槽內(nèi)鋪設(shè)絕緣層。
[0046]步驟104:在絕緣層上形成連接同一個高壓LED芯片相鄰的子芯片的金屬層,并在N型半導(dǎo)體層上設(shè)置N電極,在P型半導(dǎo)體層上設(shè)置P電極。
[0047]步驟105:對電絕緣的高壓LED芯片進行測試,得到測試結(jié)果。當測試結(jié)果符合要求時,執(zhí)行步驟106;當測試結(jié)果不符合要求時,執(zhí)行步驟107。
[0048]步驟106:減薄基板,采用激光在所有高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,并沿切割道切割基板,得到相互獨立的高壓LED芯片。
[0049]步驟107:去除基板上的透明導(dǎo)電層、絕緣層、以及金屬層,并在基板上重新制備高壓LED芯片。
[0050]圖2a和圖2b以三個子芯片100串聯(lián)形成的高壓LED芯片為例,11為基板,12為N型半導(dǎo)體層,13為量子講發(fā)光層,14為P型半導(dǎo)體層,15為透明導(dǎo)電層,16為絕緣層,17為P電極,18為N電極,19為金屬層,21為隔離槽。
[0051]圖3以一個電絕緣的高壓LED芯片為例,21為隔離槽,22為切割道,100為子芯片,200為電絕緣的高壓LED芯片,300為與相鄰高壓LED芯片之間未形成切割道的高壓LED芯片。
[0052]本發(fā)明實施例通過采用激光在所有高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,利用激光可以準確形成理想寬度的切割道,避免由于切割道的實際寬度波動而減小高壓LED芯片的有效發(fā)光區(qū)域的面積,提高單個基板的芯片產(chǎn)生量,可以滿足小尺寸的高壓LED芯片的生產(chǎn)要求。而且在減薄基板之前,在部分高壓LED芯片之間開設(shè)從N型半導(dǎo)體層延伸至基板的切割道,形成部分電絕緣的高壓LED芯片,并對電絕緣的高壓LED芯片進行測試,以在測試結(jié)果不符合要求時可以對基板進行再利用。
[0053]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi),所作的任何修改、等同替換、改進等,均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種高壓發(fā)光二極管LED芯片的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括: 在基板上依次生長形成N型半導(dǎo)體層、量子阱發(fā)光層、P型半導(dǎo)體層、以及透明導(dǎo)電層,并開設(shè)延伸至所述N型半導(dǎo)體層的凹槽; 在所有高壓LED芯片的各個子芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的隔離槽,在部分所述高壓LED芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的切割道,形成部分電絕緣的所述高壓LED芯片; 在所述隔離槽內(nèi)鋪設(shè)絕緣層; 在所述絕緣層上形成連接同一個所述高壓LED芯片相鄰的所述子芯片的金屬層,并在所述N型半導(dǎo)體層上設(shè)置N電極,在所述P型半導(dǎo)體層上設(shè)置P電極; 對電絕緣的所述高壓LED芯片進行測試,得到測試結(jié)果; 當所述測試結(jié)果符合要求時,減薄所述基板,采用激光在所有所述高壓LED芯片之間開設(shè)從所述N型半導(dǎo)體層延伸至所述基板的切割道,并沿所述切割道切割所述基板,得到相互獨立的所述高壓LED芯片。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,各個電絕緣的所述高壓LED芯片呈陣列排列。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,相鄰兩行的電絕緣的所述高壓LED芯片的間距相同,相鄰兩列的電絕緣的所述高壓LED芯片的間距相同。4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的制備方法,其特征在于,所述高壓LED芯片包括排成一列的至少兩個所述子芯片。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,各個所述子芯片的電壓均為設(shè)定值。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制備方法,其特征在于,所述高壓LED芯片包括的所述子芯片的數(shù)量等于所述高壓LED芯片的電壓與所述子芯片的電壓的比值。7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,同一個所述高壓LED芯片的各個所述子芯片串聯(lián)或并聯(lián)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,當同一個所述高壓LED芯片的各個子芯片串聯(lián)時,兩個相鄰的所述子芯片中,一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層與另一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層通過所述金屬層電連接。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,當同一個所述高壓LED芯片的各個子芯片并聯(lián)時,兩個相鄰的所述子芯片中,一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層與另一個所述子芯片的所述N型半導(dǎo)體層通過所述金屬層電連接,且一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層與另一個所述子芯片的所述透明導(dǎo)電層通過所述金屬層電連接。10.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的制備方法,其特征在于,所述制備方法還包括: 當所述測試結(jié)果不符合要求時,去除所述透明導(dǎo)電層、所述絕緣層、以及所述金屬層; 在所述基板上重新制備高壓LED芯片。
【文檔編號】H01L21/304GK106098863SQ201610455109
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月22日
【發(fā)明人】馬雙彪, 顧小云, 黃龍杰, 王江波
【申請人】華燦光電(蘇州)有限公司
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