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具有全鏡面結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管及其制作方法與流程

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具有全鏡面結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管及其制作方法與流程

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體光電器件領(lǐng)域,具體為一種具有全鏡面結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管及其制作方法。



背景技術(shù):

發(fā)光二極管(英文為L(zhǎng)ight Emitting Diode,簡(jiǎn)稱(chēng)LED)是一種半導(dǎo)體固體發(fā)光器件,其利用半導(dǎo)體PN結(jié)作為發(fā)光材料,可以直接將電轉(zhuǎn)換為光。隨著 LED 應(yīng)用的越來(lái)越廣泛,進(jìn)一步提高發(fā)光效率已勢(shì)在必行。

LED的發(fā)光效率主要取決于內(nèi)量子效率和取光效率,前者由發(fā)光材料本身的外延晶體質(zhì)量決定,而后者則由芯片結(jié)構(gòu)、出光界面形貌、封裝材料的折射率等因素決定。現(xiàn)有發(fā)光二極管之增光工藝,常會(huì)借由鍵合工藝在芯片外延層與吸光基板之間制作反射鏡面,藉此避免芯片內(nèi)發(fā)光被吸光基板吸收,并將其反射至出光面提升整體亮度。鏡面材質(zhì)通常選用對(duì)于該芯片波長(zhǎng)具有高反射率之金屬材料,如紅光常用Au/Ag鏡,藍(lán)綠光常用Al/Ag鏡;此外,也常見(jiàn)地將高反射率金屬結(jié)合SiO2,形成全方位反射鏡面ODR結(jié)構(gòu),如圖1所示。在圖1所示的發(fā)光二極管結(jié)構(gòu)中,為了P、N電流導(dǎo)通,在發(fā)光外延疊層的下方部分區(qū)域需作為歐姆接觸的電極132,其一方面損失鏡面面積(~5%),另一方面歐姆接觸的電極區(qū)域還會(huì)吸光造成亮度損失。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

本發(fā)明針對(duì)上述問(wèn)題,本發(fā)明利用外延預(yù)先成長(zhǎng)的DBR(Distributed Bragg Reflector:分布布拉格反射鏡)層,在芯片工藝中再將歐姆接觸層對(duì)應(yīng)的DBR層保留,使歐姆接觸電極區(qū)域既可形成歐姆接觸亦具有反射層的效果,并搭配ODR(Omni Direction Reflection:全方位反射鏡)鏡面系統(tǒng),構(gòu)成全鏡面結(jié)構(gòu),達(dá)到無(wú)反射鏡面面積損失,進(jìn)而提升光取出效率。

本發(fā)明的技術(shù)方案為:具有全鏡面結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管,包括發(fā)光外延疊層及位于其下方的鏡面系統(tǒng),所述發(fā)光外延疊層包含N型半導(dǎo)體層、有源層和P型半導(dǎo)體層,所述鏡面系統(tǒng)包括金屬反射層和位于其上的透光層,所述透光層包括透光區(qū)和歐姆接觸區(qū),所述透光區(qū)由透光性介電材料構(gòu)成,與金屬反射層構(gòu)成ODR反射鏡,所述歐姆接觸區(qū)從下到上依次包含歐姆接觸層和DBR層,所述DBR層至少由第一半導(dǎo)體層和第二半導(dǎo)體層交替構(gòu)成,從而構(gòu)成一個(gè)不間斷反射鏡面系統(tǒng)。

優(yōu)選地,所述金屬反射層、透光層及歐姆接觸區(qū)的DBR層構(gòu)成三維鏡面系統(tǒng)。

優(yōu)選地,所述DBR層具有傾斜的側(cè)壁,其傾斜角為45~60°。

優(yōu)選地,所述透光層的透光區(qū)與歐姆接觸區(qū)之間無(wú)縫隙。

優(yōu)選地,所述透光層遠(yuǎn)離所述發(fā)光外延疊層的一側(cè)表面的平整度RMS為10nm以?xún)?nèi)。

優(yōu)選地,所述透光層的厚度為n×λ/4。

優(yōu)選地,所述DBR層的晶格常數(shù)與所述發(fā)光外延疊層的晶格常數(shù)匹配。

本發(fā)明同提供了一種具有全鏡面結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管的制作方法,包括步驟:(1)提供一外延結(jié)構(gòu),其依次包含發(fā)光外延疊層、DBR層和歐姆接觸層,所述發(fā)光外延疊層包含N型半導(dǎo)體層、有源層和P型半導(dǎo)體層,所述DBR層至少由第一半導(dǎo)體層和第二半導(dǎo)體層交替構(gòu)成;(2)在所述歐姆接觸層的表面上定義透光區(qū)和歐姆接觸區(qū),去除所述透光區(qū)的歐姆接觸層和DBR層,裸露出所述發(fā)光外延疊層的表面;(3)在裸露出的發(fā)光外延疊層表面上沉積透光性介電材料作為透光層;(4)在所述透光層和歐姆接觸層之上形成金屬反射層,所述透光層與金屬反射層構(gòu)成ODR反射鏡,并與所述歐姆接觸區(qū)的DBR構(gòu)成一個(gè)不間斷反射鏡面系統(tǒng)。

優(yōu)選地,所述步驟(2)具體為:在所述歐姆接觸層的表面上定義透光區(qū)和歐姆接觸區(qū);在所述歐姆接觸區(qū)上形成金屬電極層;以所述金屬電極層為掩膜層,蝕刻去除所述透光區(qū)的歐姆接觸層和DBR層。

優(yōu)選地,所述步驟(3)中沉積透光層后,使用CMP將其表面進(jìn)行拋光,裸露出所述金屬電極層作為電流導(dǎo)通。經(jīng)拋光后,所述透光層與金屬電極層之間無(wú)縫隙且所述透光層表面的平整度RMS為5nm以?xún)?nèi),對(duì)于后續(xù)金屬鏡面蒸鍍具有較佳平整度以及階梯覆蓋。

本發(fā)明具有至少以下有益效果:(1)發(fā)光外延疊層下方的歐姆接觸區(qū)既形成歐姆接觸亦具有反射層的效果;(2)發(fā)光外延疊層下方由ODR和DBR構(gòu)成不間斷反射鏡面結(jié)構(gòu),且ODR與歐姆接觸電極無(wú)縫隙,鏡面系統(tǒng)無(wú)任何反射面積損失;(3)ODR反射鏡與歐姆接觸區(qū)的DBR結(jié)構(gòu)之間無(wú)縫隙,采用傾斜45~60°的DBR結(jié)構(gòu)結(jié)合ODR鏡面系統(tǒng),形成三維反射鏡面系統(tǒng),使得反射鏡面面積更為增加;(4)在制作方法上,直接將歐姆接觸層金屬蒸鍍于外延之上,并作為掩膜層,不用進(jìn)行黃光對(duì)位,簡(jiǎn)化流程且提高良率。

本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說(shuō)明書(shū)中闡述,并且,部分地從說(shuō)明書(shū)中變得顯而易見(jiàn),或者通過(guò)實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過(guò)在說(shuō)明書(shū)、權(quán)利要求書(shū)以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來(lái)實(shí)現(xiàn)和獲得。

附圖說(shuō)明

附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解,并且構(gòu)成說(shuō)明書(shū)的一部分,與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。此外,附圖數(shù)據(jù)是描述概要,不是按比例繪制。

圖1為現(xiàn)有的一種垂直結(jié)構(gòu)發(fā)光二極管芯片的側(cè)面剖視圖。

圖2為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的一種發(fā)光二極管芯片的側(cè)面剖視圖。

圖3為顯示了圖2所示發(fā)光二極管芯片之透光層的分布,劃分為透光區(qū)和歐姆接觸區(qū)。

圖4~12為根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的一種發(fā)光二極管芯片的制作過(guò)程示意圖。

圖13是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的另一種發(fā)光二極管芯片結(jié)構(gòu)剖視圖。

圖14是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的再一種發(fā)光二極管的外延結(jié)構(gòu)剖視圖。

圖中:

100:導(dǎo)電基板;110:金屬鍵合層;120:金屬反射層;130:透光層;131:金屬電極層;132:歐姆接觸層;140:發(fā)光外延疊層;141:N型半導(dǎo)體層;142:有源層;143:P型半導(dǎo)體層;150:P型電極;200:生長(zhǎng)襯底;201:臨時(shí)基板;202:導(dǎo)電基板;210:蝕刻截止層;220:N型歐姆接觸層;230:DBR層;240:發(fā)光外延疊層;241:N型半導(dǎo)體層;242:有源層;243:P型半導(dǎo)體層;250:金屬電極層;260:透光層;270:金屬反射層;280:金屬鍵合層;290:P型電極。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明的核心點(diǎn)為提供一個(gè)具有全鏡面結(jié)構(gòu)的LED結(jié)構(gòu),其利用外延預(yù)先成長(zhǎng)DBR層,在芯片工藝中去除透光區(qū)的DBR層,僅保留歐姆接觸電極區(qū)的DBR,使歐姆接觸電極區(qū)域既可形成歐姆接觸亦具有反射層的效果。下面結(jié)合附圖和優(yōu)選的具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步說(shuō)明。

請(qǐng)參看圖2,根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的一種具有全反射結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管,從下到上依次包括:導(dǎo)電基板202、金屬鍵合層280、金屬反射層270、透光層260、發(fā)光外延疊層240和P型電極290。

具體的,導(dǎo)電基板202可采用Si基板、金屬基板或半導(dǎo)體材料等;金屬鍵合層280用于接合發(fā)光外延疊層240和導(dǎo)電基板202;金屬反射層270采用高反射率金屬材料,并與其上方的透光層260構(gòu)成ODR反射鏡;透光層260劃分為透光區(qū)260a和歐姆接觸區(qū)260b,透光區(qū)260a和歐姆接觸區(qū)260b之間無(wú)縫隙連接,其中透光區(qū)260a由透光性介電材料組成,其厚度為n×λ/4(λ為發(fā)光外延疊層的發(fā)光波長(zhǎng)),歐姆接觸區(qū)260b作為電流導(dǎo)通之用,從下到上依次包括金屬電極層250、歐姆接觸層220和DBR層230,DBR層230為半導(dǎo)體材料,晶格常數(shù)與發(fā)光外延疊層240的晶格常匹配,至少由一第一半導(dǎo)體層和一第二半導(dǎo)體層交替堆疊而成,一方面具有導(dǎo)電功能,另一方面用于反射發(fā)光外延疊層射向所述歐姆接觸層220的光線,避免歐姆接觸層220及其下方的金屬電極層250的吸光;發(fā)光外延疊層240至少包括N型半導(dǎo)體層241、有源層242和P型半導(dǎo)體層243。

在一個(gè)具體實(shí)施例中,發(fā)光外延疊層240采用AlGaInP系材料,可在N型半導(dǎo)體層與有源層之間、P型半導(dǎo)體層與有源層分別增加緩沖層、在P型半導(dǎo)體層上方形成電流擴(kuò)展層、窗口層等,透光層260的透光區(qū)260b的材料可選自由二氧化硅(SiO2)、氟化鑭(LaF3)、氟化鎂(MgF2)、氟化鈉(NaF)、氟化鈉鋁(Na3AlF6)、氟化鈣(CaF2)與上述材料的組合所構(gòu)成的群組,DBR層230為AlGaAs/AlAs交替結(jié)構(gòu)。

在上述發(fā)光二極管結(jié)構(gòu)中,由透光層的透光區(qū)直接與金屬反射層形成ODR反射鏡,并與歐姆接觸區(qū)的DBR層形成一不間斷的全鏡面反射結(jié)構(gòu),達(dá)到無(wú)反射鏡面面積損失,進(jìn)而提升光取出效率。

下面結(jié)合附圖4~11及制作方法對(duì)上述LED進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

首先,提供一外延片,其結(jié)構(gòu)如圖4所示,該外延片從下到上可包括:生長(zhǎng)襯底200、蝕刻截止層210、歐姆接觸層220、DBR層230、N型半導(dǎo)體層241、有源層242和P型半導(dǎo)體層243。在本實(shí)施例中,N型半導(dǎo)體層241為Si摻雜的AlGaInP材料層,Si濃度為7×1017~1×1018,P型半導(dǎo)體層243為摻Mg的GaP材料層,摻雜濃度為1.5×1018以上,歐姆接觸層220為高摻雜N-GaAs材料層,DBR層為AlGaAs/AlAs 材料層,每層均為5~20nm,共有20~100對(duì)。

接著,在P型半導(dǎo)體層的表面上制作P型電極290,并進(jìn)行退火處理,再與一臨時(shí)基板201接合,如圖5所示。

接著,去除生長(zhǎng)襯底200,裸露出歐姆接觸層220的表面,如圖6所示。在本實(shí)施例中,采用濕法蝕刻去除,具體為層分別以NH4OH:H2O2以及HCl:H3PO3移除生長(zhǎng)襯底200和蝕刻截止層210。

接著,將裸露出的歐姆接觸層220的表面劃分為歐姆接觸區(qū)和透光區(qū),并在歐姆接觸區(qū)上形成金屬電極層250,如圖7所示。該金屬電極層250與歐姆接觸層220進(jìn)行高溫熔合后形成歐姆接觸。

接著,以金屬電極層250作為掩膜層,蝕刻去除透光區(qū)的歐姆接觸層220和DBR層230,裸露出發(fā)光外延疊層的表面,如圖8所示。

接著,在裸露出的發(fā)光外延疊層表面上沉積透光性介電材料作為透光層260,其與歐姆接觸區(qū)的金屬電極層250和DBR層之間均無(wú)縫隙。在本實(shí)施例中透光性介電材料選用SiOX ,先沉積一定厚度的SiOX層260,其在透光區(qū)的上表面至少與歐姆接觸區(qū)的金屬電極層250的上表面齊平,具體可以采用CVD沉積400~1000nm的SiOX層260,如圖9所示,然后使用CMP將SiOX層260拋光至符合nλ/4 厚度,并使金屬電極層250露出作為電流導(dǎo)通,如圖10所示。經(jīng)CMP拋光的透光層表面的平整度RMS為10nm以?xún)?nèi),較佳的為~1nm,如此對(duì)于后續(xù)金屬鏡面蒸鍍具有較佳平整度以及階梯覆蓋性。

接著,在透光層260上沉積金屬反射層270,如圖11所示,至此在發(fā)光外延結(jié)構(gòu)的非出光面形成全鏡面反射結(jié)構(gòu),其中透光區(qū)具有通過(guò)透光性介電材料260與金屬反射層270構(gòu)成的ODR鏡面,歐姆接觸區(qū)有DBR層230,形成完整、連續(xù)、不間斷反射鏡面結(jié)構(gòu)。在本實(shí)施例中,金屬反射層270可以為Au、Ag、 Al等,厚度為0.2微米以上,較佳值為0.25微米。

接著,提供一導(dǎo)電基板202,并在導(dǎo)電基板202和金屬反射層260的表面上形成金屬鍵合層280,進(jìn)行高溫鍵合,從而將導(dǎo)電基板202與發(fā)光外延疊層240接合,如圖12所示。

最后,去除臨時(shí)基板201,形成圖2所示具有全鏡面結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管。

在上述制作方法中,預(yù)先采用外延生長(zhǎng)工藝在外延片的發(fā)光外延疊層與歐姆接觸層之間形成DBR層,然后在芯片制作工藝中在歐姆接觸層的歐姆接觸區(qū)上形成金屬電極層,以該金屬電極層作為掩膜層,蝕刻去除歐姆接觸區(qū)以外(在本實(shí)施例中即為透光區(qū))的歐姆接觸層及DBR層,在此過(guò)程中無(wú)需進(jìn)行黃光對(duì)位,避免了圖1所示LED結(jié)構(gòu)在制作ODR過(guò)程中需要進(jìn)行對(duì)位的問(wèn)題,簡(jiǎn)化了芯片工藝,可大大提高良率。

圖13顯示了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施的另一種發(fā)光二極管結(jié)構(gòu),其與圖2所示發(fā)光二極管的區(qū)別在于:DBR層具有傾斜的側(cè)壁,其傾斜角為45~60°。在本實(shí)施例中,傾斜的DBR層230與透光區(qū)的ODR鏡面形成了三維反射鏡面系統(tǒng),使得反射鏡面面積更為增加。

相較于圖1所示的發(fā)光二極管,使用此鏡面系統(tǒng)的發(fā)光二極管的亮度可提升8~10%。

盡管上面各實(shí)施例均為P側(cè)出光的發(fā)光二極管為例,但是應(yīng)該清楚的是,本發(fā)明同樣適用于N側(cè)出光的發(fā)光二極管。當(dāng)以N側(cè)為出光面時(shí),可采用圖14所示的外延片結(jié)構(gòu)進(jìn)行制備。

盡管已經(jīng)描述本發(fā)明的示例性實(shí)施例,但是理解的是,本發(fā)明不應(yīng)限于這些示例性實(shí)施例而是本領(lǐng)域的技術(shù)人員能夠在如下文的權(quán)利要求所要求的本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)進(jìn)行各種變化和修改。

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