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一種倒裝led芯片及其制造方法

文檔序號:6788623閱讀:133來源:國知局
專利名稱:一種倒裝led芯片及其制造方法
技術領域
本發(fā)明涉及LED制造技術領域,尤其涉及一種倒裝LED芯片及其制造方法。
背景技術
在LED制造技術工藝中,傳統(tǒng)的正裝LED芯片結構,P型GaN摻雜困難導致空穴載流子濃度低下且厚度受到限制,從而導致電流不易擴散。因而通常采用在P型GaN表面制備電流擴散層以使電流均勻擴散。然而電流擴散層也具有缺點,一方面電流擴散層會吸收部分光降低光析出率,如果減薄其厚度又限制電流擴散層在P型GaN層表面實現(xiàn)均勻和可靠的電流擴散的效果,因而,在透光率和電流擴散效果二者之間要給以適當?shù)恼壑?,然而,折衷設計的結果必定使其功率轉換的提高受到了限制。并且,這種結構的電極和引線在發(fā)光區(qū)同一側,工作時會擋住部分光線。因此,這種結構制約了 LED的工作效率。另一方面,這種結構的PN結熱量通過藍寶石襯底導出,藍寶石的導熱系數(shù)很低,對大尺寸的功率型芯片來說導熱路徑太長,因而LED芯片的熱阻較大,工作電流也受到限制。為了克服正裝LED芯片的這些不足,Lumileds公司于1998年發(fā)明了倒裝LED芯片(Flip chip)結構。倒裝LED芯片結構制作方法如下:制備LED芯片;同時制備對應芯片尺寸的散熱基板,并在散熱基板上制作電極的導電層和引出導電層(超聲波金絲球焊點);將LED芯片與散熱基板焊接在一起。在這種結構中,在PN結與P電極之間增加了一個金屬反射鏡層,消除了電極和引線的擋光,使得光從藍寶石襯底射出。由于光不從電流擴散層出射,能將電流擴散層的厚度設置的更厚,使倒裝LED芯片的電流密度均勻分布。同時這種結構還可以將PN結的熱量直接通過導電層或金屬焊點導給熱導系數(shù)比藍寶石高3飛倍的散熱基板,散熱效果更優(yōu)。因此這種結構具有電、光、熱等方面較優(yōu)的特性?,F(xiàn)有的金屬反射鏡層的形成方法是在反射率較高的金屬鍍到P型GaN的表面,這樣,從有源層發(fā)出的光,就會在倒裝芯片的底部發(fā)生反射,減少了光在芯片底部被吸收量,從而提高光析出率。但是這樣的結構使部分的光被限制在LED各層結構形成的波導結構中,經過多次反射后,衰減或者被吸收無法射出,影響其光析出率。

發(fā)明內容
本發(fā)明提供一種提高倒裝LED芯片光析出率的方法,所述提高倒裝LED芯片光析出率的方法先在P型氮化鎵層上形成第一金屬層,通過退火工藝使第一金屬層自組裝,以自組裝后的金屬層為掩膜刻蝕P型氮化鎵,再最后形成凹凸不平的金屬反射鏡層,使多量子阱有源層發(fā)出的光在金屬反射鏡層上散射,而不被LED各層結構形成的波導結構限制,最終射出,提高LED的光析出率。本發(fā)明提供一種提高倒裝LED芯片光析出率的方法,包括:提供襯底,在襯底上沉積外延層,所述外延層包括N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層;刻蝕所述外延層,形成臺階陣列,所述臺階陣列暴露出N型氮化鎵層;
在所述P型氮化鎵層上形成第一金屬層;對所述第一金屬層進行退火自組裝;以第一金屬層為掩膜刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列;在坑洞陣列中沉積第二金屬層,所述第一金屬層和第二金屬層組成金屬反射鏡層??蛇x的,所述金屬反射鏡層由多層金屬組成??蛇x的,組成所述金屬反射鏡層的多層金屬為Ni / Ag/Ti / Pt / Au、Ni / Al/Ti / Pt / Au、Ni / Ag / Ni / Au 或 Ni / Al/Ti / Au??蛇x的,所述金屬反射鏡層的厚度為0.lnnTlOnm??蛇x的,干法刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列。可選的,在形成金屬反射鏡層之后還包括:在所述N型氮化鎵層上形成N電極,在金屬反射鏡層上形成P電極;將N電極和P電極倒裝焊接到一散熱基板上??蛇x的,所述電極的材質為Au、Au/Sn薄膜或Sn焊膏??蛇x的,所述襯底為藍寶石襯底。本發(fā)明還公開上述倒裝LED芯片的制造方法制造的倒裝LED芯片結構,包括:襯底;形成在所述襯底上的外延層,所述外延層包括依次形成的N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層,所述P型氮化鎵層中形成有坑洞陣列;金屬反射鏡層,形成在所述P型氮化鎵層上??蛇x的,組成金屬反射鏡層的多層金屬為Ni / Ag/Ti / Pt / Au、Ni / Al/Ti /Pt / Au、Ni / Ag / Ni / Au 或 Ni / Al/Ti / Au??蛇x的,所述金屬反射鏡層的厚度為0.lnnTlOnm??蛇x的,所述LED芯片還包括:形成在所述金屬反射鏡層上的P電極、形成于所述N型氮化鎵層上的N電極、與所述N電極和P電極焊接的散熱基板??蛇x的,所述電極的材質為Au、Au/Sn薄膜或Sn焊膏。本發(fā)明提供一種倒裝LED芯片的結構及其制造方法,所述倒裝LED芯片的制造方法先形成第一金屬層,利用退火工藝自組裝第一金屬層,利用第一金屬層為掩膜刻蝕P型氮化鎵層,再形成第二金屬層,由第一金屬層和第二金屬層組成凹凸不平的金屬反射鏡層,提高光析出率。


圖1為本發(fā)明實施例的倒裝LED芯片的制造方法的流程圖;圖2A 2G為本發(fā)明實施例的倒裝LED芯片的制造方法的各步驟的示意圖。
具體實施例方式在背景技術中已經提及,現(xiàn)有的金屬反射鏡層,仍會影響倒裝LED的光析出率。本發(fā)明提供一種倒裝LED芯片的結構及其制造方法,所述倒裝LED芯片的制造方法先形成第一金屬層,利用退火工藝自組裝第一金屬層,利用第一金屬層為掩膜刻蝕P型氮化鎵層,再形成第二金屬層,由第一金屬層和第二金屬層組成凹凸不平的金屬反射鏡層,提高光析出率。下面將結合附圖對本發(fā)明進行更詳細的描述,其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實施例,應所述理解本領域技術人員可以修改在此描述的本發(fā)明,而仍然實現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。因此,下列描述應當被理解為對于本領域技術人員的廣泛知道,而并不作為對本發(fā)明的限制。為了清楚,不描述實際實施例的全部特征。在下列描述中,不詳細描述公知的功能和結構,因為它們會使本發(fā)明由于不必要的細節(jié)而混亂。應當認為在任何實際實施例的開發(fā)中,必須做出大量實施細節(jié)以實現(xiàn)開發(fā)者的特定目標,例如按照有關系統(tǒng)或有關商業(yè)的限制,由一個實施例改變?yōu)榱硪粋€實施例。另外,應當認為這種開發(fā)工作可能是復雜和耗費時間的,但是對于本領域技術人員來說僅僅是常規(guī)工作。在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。根據(jù)下面說明和權利要求書,本發(fā)明的優(yōu)點和特征將更清楚。需說明的是,附圖均采用非常簡化的形式且均使用非精準的比例,僅用以方便、明晰地輔助說明本發(fā)明實施例的目的。請參考圖1,其為本發(fā)明實施例的倒裝LED芯片的制造方法的流程圖,所述方法包括如下步驟:步驟S021,提供襯底,在襯底上沉積外延層,所述外延層包括N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層;步驟S022,刻蝕所述外延層,形成臺階陣列,所述臺階陣列暴露出N型氮化鎵層;步驟S023,在所述P型氮化鎵層上形成第一金屬層;步驟S024,對所述第一金屬層進行退火自組裝; 步驟S025,以第一金屬層為掩膜刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列;步驟S026,在坑洞陣列中沉積第二金屬層,所述第一金屬層和第二金屬層組成金屬反射鏡層。該方法的核心思想在于,先在P型氮化鎵層上形成第一金屬層,通過退火工藝使第一金屬層自組裝,以自組裝后的金屬層為掩膜刻蝕P型氮化鎵,再最后形成凹凸不平的金屬反射鏡層,使有源層發(fā)出的光在金屬反射鏡層上散射,而不被LED各層結構形成的波導結構限制,最終射出,提高LED的光析出率。參照圖2A,執(zhí)行步驟S021,提供襯底101,在襯底101上沉積外延層131。本實施例中,所述襯底101為藍寶石襯底,優(yōu)選的所述藍寶石襯底表面經過圖形化處理。所述外延層131包括N型氮化鎵層102、多量子阱有源層103和P型氮化鎵層104。參考圖2B,執(zhí)行步驟S022,刻蝕所述外延層131,形成臺階陣列105,所述臺階陣列105暴露出N型氮化鎵層102。參考圖2C,執(zhí)行步驟S023,在所述P型氮化鎵層104上形成第一金屬層106。優(yōu)選的,所述第一金屬層106為多層金屬組成以兼顧反射鏡、電流擴散及散熱性能,例如可使用Ni / Ag/Ti / Pt / Au、Ni / Al/Ti / Pt / Au、Ni / Ag / Ni / Au 或 Ni / Al/Ti / Au等組合。所述第一金屬層106的厚度為0.lnnTlOnm。可以利用電鍍、沉積等方法在臺階陣列105和P型氮化鎵層104上形成所述第一金屬層106,然后選擇性去除臺階陣列105中的第一金屬層106,例如,可以先在第一金屬層106上形成光阻層,利用光刻工藝選擇暴露出臺階陣列105表面的第一金屬層,然后利用刻蝕工藝去除N型氮化鎵層102表面的第一金屬層。參考圖2D,執(zhí)行步驟S024,對所述第一金屬層106進行退火自組裝。第一金屬層106在退火工藝的作用下結晶,并發(fā)生Oswald ripening效應(奧斯瓦爾德熟化效應),小的晶體顆粒消失,大的晶體顆粒長大,從而自組裝成不連續(xù)的第一金屬層,在第一金屬層106中形成陣列分布的孔洞106’,部分暴露出P型氮化鎵層104。退火溫度為200°C、00°C,可以根據(jù)第一金屬層106的具體材質來選擇不同的退火溫度。參考圖2E,執(zhí)行步驟S025,以第一金屬層106為掩膜刻蝕所述P型氮化鎵層104,在所述P型氮化鎵層104中形成坑洞陣列104’。優(yōu)選的,利用干法刻蝕來刻蝕所述P型氮化鎵層104,并且,不暴露出其下的多量子阱有源層103。參考圖2F,執(zhí)行步驟S026,在坑洞陣列中沉積第二金屬層,所述第二金屬層為多層金屬組成例如可使用 Ni / Ag/Ti / Pt / Au、Ni / Al/Ti / Pt/Au、Ni / Ag / Ni / Au或Ni / Al/Ti / Au等組合。所述第一金屬層和第二金屬層共同組成金屬反射鏡層107,金屬反射鏡層的多層金屬以兼顧反射鏡、電流擴散及散熱性能。這樣從多量子阱有源層發(fā)出的光,經過凹凸不平的金屬反射層的散射作用,不會被LED的各層結構形成的波導結構所限制,從襯底端射出,提高了 LED器件的光析出率。當然,在形成金屬反射鏡層107之后還包括常規(guī)的后續(xù)倒裝LED芯片制造步驟,考圖2G,例如之后可以包括在所述N型氮化鎵層102上形成N電極的步驟和在金屬反射鏡層107上形成P電極109步驟,以及將N電極108和P電極109倒裝焊接到散熱基板110上的步驟和裂片封裝的步驟等,本領域技術人員可以根據(jù)公知常識將這些步驟加入本發(fā)明中。根據(jù)本發(fā)明的另一面,還提供一種利用上述實施例所述倒裝LED芯片的制造方法制造的LED芯片,參考圖2G,包括:襯底101、形成在所述襯底101上的外延層和形成在所述P型氮化鎵層上的金屬反射鏡層。所述外延層包括N型氮化鎵層102、多量子阱有源層103和P型氮化鎵層104,所述P型氮化鎵層104中形成有坑洞陣列,所述金屬反射鏡層107為凹凸不平的結構。由于金屬反射鏡層107為凹凸不平的結構,使得多量子阱有源層發(fā)出的光在金屬反射鏡層上散射,而不被LED各層結構形成的波導結構限制,能經過多次反射后最終射出,提高LED的光析出率。綜上所述,本發(fā)明提供一種倒裝LED芯片的結構及其制造方法,所述提高倒裝LED芯片光析出率的方法先在P型氮化鎵層上形成第一金屬層,通過退火工藝使第一金屬層自組裝,以自組裝后的金屬層為掩膜刻蝕P型氮化鎵,再最后形成凹凸不平的金屬反射鏡層,使多量子阱有源層發(fā)出的光在金屬反射鏡層上散射,而不被LED各層結構形成的波導結構限制,最終射出,以提高LED的光析出率。顯然,本領域的技術人員可以對本發(fā)明進行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍。這樣,倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權利要求及其等同技術的范圍之內,則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內。
權利要求
1.一種倒裝LED芯片的制造方法,包括: 提供襯底,在襯 底上沉積外延層,所述外延層包括N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層; 刻蝕所述外延層,形成臺階陣列,所述臺階陣列暴露出N型氮化鎵層; 在所述P型氮化鎵層上形成第一金屬層; 對所述第一金屬層進行退火自組裝; 以第一金屬層為掩膜刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列; 在坑洞陣列中沉積第二金屬層,所述第一金屬層和第二金屬層組成金屬反射鏡層。
2.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于:所述金屬反射鏡層由多層金屬組成。
3.如權利要求2所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于:組成所述金屬反射鏡層的多層金屬為 Ni / Ag/Ti / Pt / Au、Ni / Al/Ti / Pt / Au、Ni / Ag / Ni / Au 或Ni / Al/Ti / Au。
4.如權利要求3所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于:所述金屬反射鏡層的厚度為 0.lnM~lOnm。
5.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于:干法刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列。
6.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于:所述襯底為藍寶石襯底。
7.一種利用權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法制造的倒裝LED芯片,其特征在于,包括: 襯底; 形成在所述襯底上的外延層,所述外延層包括依次形成的N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層,所述P型氮化鎵層中形成有坑洞陣列; 金屬反射鏡層,形成在所述P型氮化鎵層上。
8.如權利要求7所述的倒裝LED芯片,其特征在于:組成金屬反射鏡層的多層金屬為Ni / Ag/Ti / Pt / Au,Ni / Al/Ti / Pt / Au,Ni / Ag / Ni / Au 或 Ni / Al/Ti / Au。
9.如權利要求8所述的倒裝LED芯片,其特征在于:所述金屬反射鏡層的厚度為.0.lnm 10nm
全文摘要
本發(fā)明提供一種倒裝LED芯片及其制造方法,包括提供襯底,在襯底上沉積外延層,所述外延層包括N型氮化鎵層、多量子阱有源層和P型氮化鎵層;刻蝕所述外延層,形成臺階陣列,所述臺階陣列暴露出N型氮化鎵層;在所述P型氮化鎵層上形成第一金屬層;對所述第一金屬層進行退火自組裝;以第一金屬層為掩膜刻蝕所述P型氮化鎵層,在所述P型氮化鎵層中形成坑洞陣列;在坑洞陣列中沉積第二金屬層,所述第一金屬層和第二金屬層組成金屬反射鏡層。這樣,使多量子阱有源層發(fā)出的光在金屬反射鏡層上散射,而不被LED各層結構形成的波導結構限制,最終射出,提高LED的光析出率。
文檔編號H01L33/60GK103078050SQ20131004187
公開日2013年5月1日 申請日期2013年2月1日 優(yōu)先權日2013年2月1日
發(fā)明者于洪波 申請人:映瑞光電科技(上海)有限公司
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