專利名稱：微帶線或smd線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及微波通信設(shè)備的測試領(lǐng)域，具體涉及一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭。
背景技術(shù)：
在微波通信領(lǐng)域中，出廠的微波通信設(shè)備需要進(jìn)行各種性能的測試，在測試微波通信設(shè)備的集成線路板時(shí)，由于集成線路板不帶有與各種測試儀器相匹配的接頭，導(dǎo)致測試儀器無法與集成線路板連接，增加了測試的難度?，F(xiàn)有的測試裝置有兩種(1)、在微帶線或集成線路板上設(shè)置引出接頭，然后將測試儀器的電纜接頭與引出接頭對接，但是，這樣會(huì)使得整個(gè)測試裝置的結(jié)構(gòu)復(fù)雜化；(2)、 將成型的探頭埋入接頭，通過探針與微帶線或集成線路板上的金屬線路接觸，然后將測試儀器的電纜接頭與接頭對接，但是，這種測試裝置的往往會(huì)具有金屬外殼，會(huì)對測試結(jié)果形成干擾，從而影響了測試的精準(zhǔn)度，且結(jié)構(gòu)復(fù)雜，難以選擇到合適的探針和接頭。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，來方便測試儀器與集成線路板或微帶線的連接，降低測試難度。本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，包括有內(nèi)、外導(dǎo)體，所述的內(nèi)、外導(dǎo)體之間具有介質(zhì)，其特征在于所述內(nèi)導(dǎo)體的端部設(shè)有沉孔，沉孔內(nèi)設(shè)有探針，所述的探針與內(nèi)導(dǎo)體之間設(shè)有導(dǎo)套，探針的端部向上穿過導(dǎo)套并伸出，探針的底部向下穿過導(dǎo)套且具有限位臺(tái)階，探針的底端與沉孔的內(nèi)底面之間連接有游絲；所述內(nèi)導(dǎo)體與導(dǎo)套以及導(dǎo)套與探針之間分別緊密接觸，所述內(nèi)、外導(dǎo)體的底部具有一體連接的微波接頭。所述的微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，其特征在于所述探針的前端頂靠在微帶線上或SMD線路板的金屬線上。所述的微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，其特征在于所述的微波接頭連接測試儀器的電纜。本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、合理，測試探針與標(biāo)準(zhǔn)接頭為一體化設(shè)計(jì)，極大地方便了測試儀器與集成線路板或微帶線的連接，有效地降低了測試難度，提高了測試效率和測試的準(zhǔn)確性。

圖1為本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式

3[0012]參見圖1，一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，包括有內(nèi)、外導(dǎo)體1、2，內(nèi)、外導(dǎo)體1、2之間具有介質(zhì)3，內(nèi)導(dǎo)體1的端部設(shè)有沉孔4，沉孔4內(nèi)設(shè)有探針5，探針5與內(nèi)導(dǎo)體1之間設(shè)有導(dǎo)套6，探針5的端部向上穿過導(dǎo)套6并伸出，探針5的底部向下穿過導(dǎo)套6 且具有限位臺(tái)階7，探針5的底端與沉孔4的內(nèi)底面之間連接有游絲8 ；內(nèi)導(dǎo)體1與導(dǎo)套6 以及導(dǎo)套6與探針5之間分別緊密接觸，內(nèi)、外導(dǎo)體1、2的底部具有一體連接的微波接頭9。在本實(shí)用新型中，探針5的前端頂靠在微帶線上或SMD線路板的金屬線上，微波接頭9連接測試儀器的電纜，這樣就能夠方便地將需要測試的SMD線路板與測試儀器連接起來，且探針5具有很好的彈性，與SMD線路板接觸時(shí)更加方便、可靠。
權(quán)利要求1.一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，包括有內(nèi)、外導(dǎo)體，所述的內(nèi)、外導(dǎo)體之間具有介質(zhì)，其特征在于所述內(nèi)導(dǎo)體的端部設(shè)有沉孔，沉孔內(nèi)設(shè)有探針，所述的探針與內(nèi)導(dǎo)體之間設(shè)有導(dǎo)套，探針的端部向上穿過導(dǎo)套并伸出，探針的底部向下穿過導(dǎo)套且具有限位臺(tái)階，探針的底端與沉孔的內(nèi)底面之間連接有游絲；所述內(nèi)導(dǎo)體與導(dǎo)套以及導(dǎo)套與探針之間分別緊密接觸，所述內(nèi)、外導(dǎo)體的底部具有一體連接的微波接頭。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，其特征在于所述探針的前端頂靠在微帶線或SMD線路板的金屬線上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，其特征在于所述的微波接頭連接測試儀器的電纜。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種微帶線或SMD線路板微波測試轉(zhuǎn)接頭，包括有內(nèi)、外導(dǎo)體，內(nèi)、外導(dǎo)體之間具有介質(zhì)，內(nèi)導(dǎo)體的端部設(shè)有沉孔，沉孔內(nèi)設(shè)有探針，探針與內(nèi)導(dǎo)體之間設(shè)有導(dǎo)套，探針的端部向上穿過導(dǎo)套并伸出，探針的底部向下穿過導(dǎo)套且具有限位臺(tái)階，探針的底端與沉孔的內(nèi)底面之間連接有游絲；內(nèi)導(dǎo)體與導(dǎo)套以及導(dǎo)套與探針之間分別緊密接觸，內(nèi)、外導(dǎo)體的底部具有一體連接的微波接頭。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡單、合理，測試探針與標(biāo)準(zhǔn)接頭為一體化設(shè)計(jì)，極大地方便了測試儀器與集成線路板或微帶線的連接，有效地降低了測試難度，提高了測試效率和測試的準(zhǔn)確性。
文檔編號(hào)H01R13/24GK202333379SQ201120455570
公開日2012年7月11日 申請日期2011年11月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月17日
發(fā)明者劉印, 孫中 申請人:合肥博侖微波器件有限公司