專利名稱：點膠機回授控制方法
技術領域：
本發(fā)明是有關一種發(fā)光二極管點膠控制系統(tǒng)，尤指一種可供即時發(fā)現(xiàn)不良品，并 立即對相關資訊回授至點膠單元，以供即時修正不良率的點膠機回授控制系統(tǒng)，以及與其 相關的回授控制方法。
背景技術：
隨著電子制造業(yè)技術的不斷進步，制造過程中各環(huán)節(jié)的相關設備的速度及精密度 需求逐漸提高，用來封裝電子元件的點膠設備亦隨之產(chǎn)生對應需求。例如，SMD型發(fā)光二 極管因為可以在制造過程當中，將金屬料片、鋁基板或載板沖壓成型具有復數(shù)個供做為SMD 型發(fā)光二極管導線架的“部件”，因此尤適合利用自動設備對料片上呈矩陣排列的部件進行 點膠、晶粒封裝等加工制程。在既有的技術領域當中，習用發(fā)光二極管元件自動點膠設備是經(jīng)由控制點膠頭位 移的方式，透過點膠頭的單一針筒或復數(shù)個排列針筒對每一個單位料片上的所有發(fā)光二極 管元件進行點膠動作。至于，點膠頭的移動方式及各針筒的點膠時機及點膠量則受控制單 元所設定的模式運作。因此在進行實際的點膠作業(yè)時，點膠機是依照預設的動作模式對料片上所有的發(fā) 光二極管元件點膠；每一次點膠動作，是讓同一點膠頭的所有針筒依照相同的點膠時間或 壓力控制其點膠量，但當點膠作業(yè)進行一段時間之后，針筒難免會因會受熱或其它因素而 變形，因此影響正常的出膠量；故，必須在完成點膠作業(yè)之后，逐一對每一個完成點膠封裝 的發(fā)光二極管元件進行檢測，習用的檢測方法是利用光譜儀讀取部件所產(chǎn)生的光源并進行 比對，例如發(fā)光二極管元件出光偏藍即判定點膠量太低、發(fā)光二極管元件出光偏黃即判定 點膠量太高的方式判別不良品。然而，一般發(fā)光二極管元件的點膠流程依序，如圖11所示包括有點膠、干燥、下 料(切割形成單顆發(fā)光二極管元件)、單顆測試、光學全檢(依測試情形子以分級)，及最后 的包裝等加工步驟，因此當檢出有不良品時，事實上距離先前的點膠動作已經(jīng)過冗長的干 燥步驟，跟本無法即時回授相關的修正動作、無法即時修正不良率，并造成膠料及半成品零 件的浪費。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明即在提供一種可供即時發(fā)現(xiàn)不良品，并立即對相關資訊回授至 點膠單元，以供即時修正不良率的點膠機回授控制系統(tǒng)，以及與其相關的回授控制方法，為 其主要目的。為達上述目的，本發(fā)明的點膠機回授控制系統(tǒng)是在點膠單元之后緊著設有一測 試比對單元，該測試比對單元是具有一供電組件及一出光特性比對組件，主要由供電組件 逐一或選擇性對各完成點膠動作的發(fā)光二極管元件供電，使各發(fā)光二極管元件達到出光效 果，并由出光特性比對組件就各發(fā)光二極管元件的出光特性與資料庫的參數(shù)進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元，供即時修正出膠量，以達到即時修正不良率的功效。本發(fā)明次一目的是在該測試比對單元之后依序設有一干燥單元分別對所有完成 點膠的發(fā)光二極管元件進行烘干流程，以及設有一下料單元對發(fā)光二極管元件進行下料流 程，該下料單元是可同時接收該測試比對單元的相關比對測試資訊，以直接將判定為不良 品的發(fā)光二極管元件保留或剔除，僅將判定為良品的發(fā)光二極管元件進入后續(xù)的包裝單元 進行包裝流程，大幅提升發(fā)光二極管元件的產(chǎn)能。


圖1是為本發(fā)明點膠機回授控制系統(tǒng)的基本組成架構方塊示意圖；圖2是為本發(fā)明中測試比對單元的外觀結(jié)構圖；圖3是為本發(fā)明第一實施例的供電組件對發(fā)光二極管元件供電的動作示意圖；圖4是為本發(fā)明第二實施例的供電組件對發(fā)光二極管元件供電的動作示意圖；圖5是為判定為良品的發(fā)光二極管元件光型影像示意圖；圖6是為判定為膠量不足的發(fā)光二極管元件光型影像示意圖；圖7是為判定為膠量超出預定范圍的發(fā)光二極管元件光型影像示意圖；圖8是為依照光型影像面積變化推算膠量進而推算出的點膠量曲線圖；圖9是為本發(fā)明點膠機回授控制方法的流程示意圖；圖10是為本發(fā)明測試比對單元進行比對測試的流程示意圖；圖11是為習有點膠機回授控制方法的流程示意圖。圖號說明
10點膠單元20測試比對單元21機臺22供電組件221電源接腳222接地接腳23出光特性比對組件231資料庫232擷取元件233比對元件24第一線性滑軌25第二線性滑軌26載盤27動力缸30干燥單元40下料單元50包裝單元60發(fā)光二極管元'
具體實施例方式如圖1及圖2所示，本發(fā)明的點膠機回授控制系統(tǒng)是包括有一點膠單元10、一測 試比對單元20、一干燥單元30，以及一下料單元40 ；其中該點膠單元10是以每次一預定數(shù)量的方式對料片上的所有發(fā)光二極管元件進行 點膠動作。該測試比對單元20是設于該點膠單元10之后，該測試比對單元20是具有一供 電組件22及一出光特性比對組件23，該供電組件22是設有一電源接腳221及一接地接腳 222，逐一對所有完成點膠動作的發(fā)光二極管元件60供電，使各發(fā)光二極管元件達到出光 效果，該出光特性比對組件23并設有一資料庫231、擷取元件232以及一比對元件233，并由該比對元件233就各發(fā)光二極管元件60的出光光型或出光色澤等出光特性與資料庫231 所存取的參數(shù)進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元10及下料單元40;當然該 測試比對單元可與該點膠單元設于同一機臺上，或者可設置于不同機臺上。于實施時，該擷取元件232是可以為一數(shù)字影像擷取元件(CXD)供擷取發(fā)光二極 管元件60的出光光型，或是為一光譜儀供分析發(fā)光二極管元件60的出光色澤；該測試比對 單元20是于一機臺21上設有一組左右延伸配置的第一線性滑軌24，于該第一線性滑軌24 上設有一第二線性軌25，于該第二線性滑軌25上設有一載盤沈供承載料片；該供電組件 22是相對設于該載盤沈上方或下方，由一動力缸27帶動供電組件22相對與載盤沈上下 位移，采用于發(fā)光二極管元件60上方(如圖3所示)或于發(fā)光二極管元件60下方(如圖 4所示)與發(fā)光二極管元件60預定的電極接點接觸的方式，逐一對所有完成點膠動作的發(fā) 光二極管元件60供電。至于，該干燥單元30是對所有完成點膠動作并完成測試比對的料片進行烘干，使 膠料完全凝固定型。至于，該下料單元40是用以將完成烘干流程的料片發(fā)光二極管元件60 進行下料流程，讓判定為良品的發(fā)光二極管元件60進入后續(xù)的包裝單元50進行最后的包 裝流程；或者，可進一步結(jié)合有一光學全檢單元，用以將完成烘干流程的料片發(fā)光二極管元 件進行分級。具體而言，本發(fā)明點膠機回授控制方法，如圖9，依序包括有下列步驟步驟a.由一點膠單元以每次一預定數(shù)量的方式對料片上的所有發(fā)光二極管元件 進行點膠。步驟b.由一測試比對單元進行測試，請同時參閱圖10所示，該供電組件可對完 成點膠動作的發(fā)光二極管元件供電，或者選擇性對某些完成點膠動作的發(fā)光二極管元件供 電，使各發(fā)光二極管元件達到出光效果，再藉由擷取元件擷取發(fā)光二極管元件的出光光型 或出光色澤，并利用比對元件就各發(fā)光二極管元件的出光光型或出光色澤等出光特性與資 料庫的參數(shù)進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元，可使該點膠單元依據(jù)該相 關比對測試資訊來即時修正出膠量。步驟c.由一干燥單元對所有完成點膠動作并完成測試比對的料片進行烘干。步驟d.由一下料單元對發(fā)光二極管元件進行下料流程，該下料單元是同時接收 該測試比對單元的相關比對測試資訊，以直接將判定為不良品的發(fā)光二極管元件保留或剔 除，僅將判定為良品的發(fā)光二極管元件進入后續(xù)的包裝單元進行包裝流程；亦或者可進一 步結(jié)合有一光學全檢步驟，是由一光學全檢單元可對發(fā)光二極管元件進行分級。以采用影像比對出光光型的實施方式為例，圖5所示為膠量符合預定范圍的良品 影像，圖6所示為膠量不足的不良品影像，圖7所示為膠量超出預定范圍的不良品影像，故 可將不同膠量所對應的光型影像面積存取于資料庫中，該出光特性比對組件可依光型影像 面積變化推算膠量，進而推算出如圖8所示的點膠量曲線，做為判定發(fā)光二極管元件為良 品或不良品的依據(jù)，亦可作為修正出膠量的依據(jù)。由于，本發(fā)明點膠機回授控制系統(tǒng)及回授控制方法是在發(fā)光二極管元件完成點膠 動作之后，立即逐一或選擇性對所有完成點膠動作的發(fā)光二極管元件的出光特性與資料庫 的參數(shù)進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元及一下料單元，供即時修正出膠 量，以及在下料流程中將判定為不良品的發(fā)光二極管元件保留或剔除，僅將判定為良品的發(fā)光二極管元件進入后續(xù)的包裝單元進行包裝流程，俾達到即時修正不良率，以及提升發(fā) 光二極管元件產(chǎn)能的功效。
權利要求
1.一種點膠機回授控制方法，其特征在于，是依序包括有下列步驟a.由一點膠單元以每次一預定數(shù)量的方式對料片上的所有發(fā)光二極管元件進行點膠；b.由一測試比對單元對完成點膠動作的發(fā)光二極管元件供電，使各發(fā)光二極管元件達 到出光效果，再就各發(fā)光二極管元件的出光特性進行比對，并將相關比對測試資訊回授至 點膠單元，可使該點膠單元依據(jù)該相關比對測試資訊來即時修正出膠量。
2.如權利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該測試比對單元具有一資 料庫，而該步驟b是就各發(fā)光二極管元件的出光光型與資料庫所存取的參數(shù)進行比對。
3.如權利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，依光型影像面積變化推算 膠量，進而推算出點膠量曲線。
4.如權利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該測試比對單元具有一資 料庫，而該步驟b是就各發(fā)光二極管元件的出光色澤與資料庫所存取的參數(shù)進行比對。
5.如權利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，進一步結(jié)合有一光學全檢 步驟，是由一光學全檢單元可對發(fā)光二極管元件進行分級。
6.如權利要求1所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該步驟b之后進一步結(jié)合有 一步驟c，該步驟c由一干燥單元對完成點膠動作并完成測試比對的料片進行烘干。
7.如權利要求6所述的點膠機回授控制方法，其特征在于，該步驟c之后進一步結(jié)合有 一步驟d，該步驟d是由一下料單元對發(fā)光二極管元件進行下料流程，該下料單元亦可接收 該測試比對單元的相關比對測試資訊，僅將判定為良品的發(fā)光二極管元件進入后續(xù)的包裝 單元進行包裝流程。
全文摘要
本發(fā)明的點膠機回授控制系統(tǒng)是在點膠單元之后緊著設有一測試比對單元，該測試比對單元是具有一供電組件及一出光特性比對組件，主要由供電組件對各完成點膠動作的發(fā)光二極管元件供電，使各發(fā)光二極管元件達到出光效果，并由出光特性出光特性比對組件就各發(fā)光二極管元件的出光特性與資料庫的參數(shù)進行比對，并將相關比對測試資訊回授至點膠單元，供即時修正出膠量，以達到即時修正不良率的功效。
文檔編號H01L33/52GK102064270SQ20091021098
公開日2011年5月18日 申請日期2009年11月13日 優(yōu)先權日2009年11月13日
發(fā)明者黃宏岳 申請人:黃宏岳