專利名稱:基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)及制備方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明提出了一種基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)及其制 備方法,屬于微電子機械系統(tǒng)的技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù):
可變電容在射頻和微波電路中具有廣泛的應(yīng)用,它可以構(gòu)成濾波和相移網(wǎng)絡(luò)以及混頻器、放大器和壓控振蕩器等RF電路。和傳統(tǒng)的半導(dǎo)體變?nèi)荻O管相 比,微電子機械(MEMS)可變電容在插入損耗、直流功耗、溫度特性以及噪聲 等方面都具有優(yōu)異的性能。此外,MEMS可變電容的表面微加工工藝和常規(guī)的IC 平面工藝相兼容,易于實現(xiàn)片上集成。通過對現(xiàn)有技術(shù)文獻的檢索發(fā)現(xiàn),目前MEMS可變電容的實現(xiàn)類似于文獻 Darrin J" Young,Bernhard E Boser, A Micromachine based RF Low—Noise Voltage-Controlled Oscillator, IEEE 1997 Accustom Intergrated Circuits Conference, 1997, 431 - 434 (基于微加工的射頻低噪聲壓控可變電容)中采用 的利用靜電力改變電容上下極板間距從而改變電容量的方法。這種電容的可調(diào) 范圍不大,而且很難精確的控制的電容的變化,增加了應(yīng)用的難度。發(fā)明內(nèi)容技術(shù)問題本發(fā)明的目的是提供一種基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉 指電容網(wǎng)絡(luò)及其制備方法,通過簡單的控制與叉指電容連接的微機械開關(guān)的通 斷來確定接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容的個數(shù)從而改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值。技術(shù)方案本發(fā)明提出的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò) 包括一系列的叉指電容(C0 Cn)和微電子機械開關(guān)(kl kn),整個系統(tǒng)的示 意圖如圖l所示。本發(fā)明的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)包括一系列相并
聯(lián)的電容支路組成,每一個電容支路由一個叉指電容和一個微機械電容式串聯(lián) 開關(guān)串聯(lián)組成;通過控制與叉指電容連接的微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的通斷來確 定接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容的個數(shù),從而改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值。叉指電容以GaAs襯底為襯底,在GaAs襯底的上表面的中部設(shè)有叉指結(jié)構(gòu), 兩邊分別設(shè)有第一段傳輸線、第二段傳輸線。微機械電容式串聯(lián)開關(guān)以GaAs襯底為襯底,在GaAs襯底的上表面的中部 設(shè)有下拉電極,兩端設(shè)有第三段傳輸線和第四段傳輸線,在第四傳輸線的內(nèi)側(cè) 上部設(shè)有第二 SiN介質(zhì)層在下拉電極上設(shè)有第一 SiN介質(zhì)層,在第三段傳輸線 上有錨區(qū),錨區(qū)與開關(guān)梁的一端相連,開關(guān)梁懸空在第一SiN介質(zhì)層和第二SiN 介質(zhì)層的上方?;谖C械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的制備方法具體包括以下 步驟第一步.準備襯底選用未摻雜的半絕緣砷化鎵作為GaAs襯底(1);第二步.在GaAs襯底(1)上光刻傳輸線及下拉電極涂光刻膠(9)并光 刻刻蝕出第一段傳輸線(2-1)、第二段傳輸線(2-2)、第三段傳輸線(4-1)、 第四段傳輸線(4-2),及下拉電極(7)的形狀;第三步.在襯底(1)和光刻膠(9)上濺射AuGeNi/Au層(11):濺射 800/300/2200A厚的AuGeNi/Au層;第四步.光刻AuGeNi/Au層光刻AuGeNi/Au層(11),剝離不需要的光刻 膠(9),形成第一段傳輸線(2-1)、第二段傳輸線(2-2)、第三段傳輸線(4-1)、 第四段傳輸線(4-2)和下拉電極(7);第五步.在下拉電極(7)和第四段傳輸線(4-2)上光刻、淀積第一 SiN 介質(zhì)層(8-1)和第二SiN介質(zhì)層(8-2):用PECVD工藝生長1000A的SiN介質(zhì) 層;第六步.在部分第一段傳輸線(2-1)、和SiN介質(zhì)層(8)上淀積聚酰亞胺 犧牲層(12):淀積1.6微米厚的聚酰亞胺犧牲層;第七步.在整個加工平面上濺射Ti/Au/Ti層(10):在聚酰亞胺層(12) 上濺射用于電鍍的底金Ti/Au/Ti-500/1500/300A,形成用于電鍍開關(guān)梁(6), 在其他區(qū)域濺射形成叉指結(jié)構(gòu)(3)的底金種子層;第八步.光刻Ti/Au/Ti層(10):光刻鈦/金/鈦層,保留不需要電鍍的地
方的光刻膠(9);第九步.在Ti/Au/Ti層(10)上電鍍金層(13):在55°氰基溶液中電鍍 金,電鍍金層的厚度為2微米,有Ti/Au/Ti層(10)覆蓋的區(qū)域才能電鍍形成 Au層(13);第十步.釋放聚酰亞胺犧牲層(12)并腐蝕底金種子層丙酮去除殘留的光刻膠,然后用顯影液融解開關(guān)梁下的聚酰亞胺犧牲層,并用無水乙醇脫水,形成懸空的開關(guān)梁(6)結(jié)構(gòu)。叉指電容和微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的結(jié)構(gòu)示意圖分別如圖2、圖3所示。通 過控制與叉指電容連接的微機械開關(guān)的通斷來確定接入網(wǎng)絡(luò)的叉 指電容的個數(shù)從而可以改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值,實現(xiàn)該基于微機械電容式串聯(lián) 開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的工藝與傳統(tǒng)麗IC工藝兼容。如圖2所示的叉指電容以砷化鎵為襯底,傳輸線和叉指結(jié)構(gòu)均采用金制作。 它具有平面結(jié)構(gòu)的特征,制備工藝簡單,容易與微波電路集成。與平行板結(jié)構(gòu) 的MIM電容相比,叉指電容占用面積較大,可實現(xiàn)的電容值較小,比較適合制備 pF以下的電容。如圖3所示的微機械電容式串聯(lián)開關(guān)以砷化鎵為襯底,與開關(guān)連接的兩段傳 輸線、錨區(qū)、開關(guān)梁和驅(qū)動電極采用金制作,此外還包含覆蓋在驅(qū)動電極和部 分傳輸線上的氮化硅介質(zhì)層。如果沒有施加驅(qū)動電壓(注驅(qū)動電壓由連接至 開關(guān)梁和驅(qū)動電極的金屬線或電阻偏置線施加,圖3中沒有畫出),開關(guān)梁懸浮 于傳輸線上,微波信號不能通過,此時微機械開關(guān)"關(guān)斷",如圖3 (b)。當施 加驅(qū)動電壓后,驅(qū)動電極和開關(guān)梁之間由于電壓差產(chǎn)生靜電力吸引,使開關(guān)梁 下拉,直至開關(guān)梁的末端與氮化硅介質(zhì)層接觸,如圖3 (c)。此時,開關(guān)梁末端、 傳輸線和氮化硅介質(zhì)層構(gòu)成一個MIM電容,該電容值比較大, 一般為幾到幾十個 pF,微波信號可以通過此M頂電容傳播,微機械開關(guān)"導(dǎo)通"。此時相當于在兩 段傳輸線間串聯(lián)了一個MIM電容,故稱為微機械電容式串聯(lián)開關(guān)。減少開關(guān)梁與 傳輸線的交疊面積可以使開關(guān)梁的末端與氮化硅介質(zhì)層更好接觸;將驅(qū)動電極 的位置靠近錨區(qū)可以減少驅(qū)動電壓的值;這些都能增加該微機械電容式串聯(lián)開 關(guān)的可靠性。當微機械開關(guān)(kl kn)全都關(guān)斷時,可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)等效為圖4 (a) 所示的電路,整個網(wǎng)絡(luò)的電容值為CO;當施加驅(qū)動電壓使任意一個微機械開關(guān)
(比如kl)導(dǎo)通后,此時開關(guān)電容為Ckl,可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)等效為圖4 (b)所 示的電路,整個網(wǎng)絡(luò)的電容值為C0+^^",由之前的討論知道可以通過合理設(shè)計微電子機械開關(guān)和叉指電容的尺寸使oum ci,則此時整個網(wǎng)絡(luò)的電容值為C0 + C1;當任意兩個微機械開關(guān)(比如kl和k2)導(dǎo)通的等效電路如圖4 (c), 整個網(wǎng)絡(luò)的電容值為C0 + C1 + C2。其他的情況也類似。通過以上的分析可以著出,本發(fā)明提出的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可 變叉指電容網(wǎng)絡(luò)只需要簡單的控制與叉指電容連接的微機械開關(guān)的通斷來確定 接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容的個數(shù)從而可以改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值。有益效果本發(fā)明只需要簡單的控制與叉指電容連接的微機械電容式串聯(lián) 開關(guān)的通斷來確定接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容的個數(shù)從而可以改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容 值,不僅操作方便,而且效果明顯;整個網(wǎng)絡(luò)的電感量只與接入網(wǎng)絡(luò)中的叉指 電容有關(guān),故可實現(xiàn)的電容變化范圍大;實現(xiàn)該基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的 可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的工藝與傳統(tǒng)MMIC工藝兼容,增加了本發(fā)明的實用性;另外 本發(fā)明的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)由于使用損耗較小的金和砷化鎵襯底,射頻和微波 條件下的損耗很小,滿足高性能的微波集成電路的應(yīng)用要求。
圖1是基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的系統(tǒng)示意圖; 圖2 (a)是叉指電容的俯視圖;圖2 (b)是叉指電容的A-A面剖視圖; 圖3 (a)是微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的俯視圖;圖3 (b)是微機械電容式串 聯(lián)開關(guān)的A-A面剖視圖;圖3 (c)是該微機械開關(guān)導(dǎo)通時的A-A面剖視圖; 圖4 (a)是微機械電容式串聯(lián)開關(guān)全都關(guān)斷時可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的等效電路圖;圖4(b)是微機械開關(guān)kl導(dǎo)通時可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的等效電路圖;圖4(c)是微機械開關(guān)kl、 k2導(dǎo)通時可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)的等效電路圖; 圖5是一組微機械電容式串聯(lián)開關(guān)和叉指電容的工藝步驟; 以上圖中有GaAs襯底l,第一段傳輸線2-l、第二段傳輸線2-2、第三段傳輸線4-l、第四段傳輸線4-2,叉指結(jié)構(gòu)3,錨區(qū)5,開關(guān)梁6,下拉電極7,氮化硅SiN介質(zhì)層8。
具體實施例方式
以下結(jié)合附圖對本發(fā)明步驟的實際應(yīng)用進行詳細說明。如圖2和圖3所示為本發(fā)明方法制備出的叉指電容的示意圖,包括砷化鎵 (GaAs)襯底1,傳輸線2,叉指結(jié)構(gòu)3。該叉指電容以GaAs襯底1為襯底,在 GaAs襯底1的上表面有傳輸線2,叉指結(jié)構(gòu)3。圖3所示為本發(fā)明方法制備出的 微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的示意圖,包括砷化鎵(GaAs)襯底l,傳輸線4,錨區(qū) 5,開關(guān)梁6,下拉電極7孕氮化硅(SiN)介質(zhì)層8。該微機械開關(guān)以GaAs襯 底1為襯底,在GaAs襯底1的上表面有傳輸線4和下拉電極7,在傳輸線4-2 的一部分和下拉電極7上有一層SiN介質(zhì)層8,在傳輸線4-l上有錨區(qū)5,錨區(qū) 5與開關(guān)梁6的一端相連,使開關(guān)梁6懸空在SiN介質(zhì)層8的上方。如圖5所示,本發(fā)明具體的應(yīng)現(xiàn)工藝包括以下步驟(圖5包括一組微機械 電容式串聯(lián)開關(guān)和叉指電容的工藝步驟)第一步.準備襯底選用未摻雜的半絕緣砷化鎵(GaAs, 400微米厚)作為 襯底1;第二步.光刻傳輸線及下拉電極涂光刻膠9并光刻刻蝕出傳輸線2、 4、及下拉電極7的形狀;第三步.濺射AuGeNi/Au層11:濺射800/300/2200A厚的AuGeNi/Au層; 第四步.光刻AuGeNi/Au層ll:剝離不需要的光刻膠(9),形成第一段傳輸線(2-1)、第二段傳輸線(2-2)、第三段傳輸線(4-1)、第四段傳輸線(4-2)和下拉電極(7);第五步.光刻、淀積SiN介質(zhì)層3:用PECVD工藝生長1000A的SiN介質(zhì)層 并光刻;第六步.淀積聚酰亞胺犧牲層12:淀積1.6微米厚的聚酰亞胺犧牲層; 第七步.濺射Ti/Au/Ti層10:在聚酰亞胺層上濺射用于電鍍的底金Ti/Au/Ti層,厚度為500/1500/300A,形成用于電鍍開關(guān)梁6和叉指結(jié)構(gòu)3的底金種子層;第八步.光刻Ti/Au/Ti層10:光刻鈦/金/鈦(Ti/Au/Ti)層,保留不需要 電鍍的地方的光刻膠;第九步.電鍍Au層13:在55°氰基溶液中電鍍金,電鍍金層的厚度為2 微米;第十步.釋放聚酰亞胺犧牲層12并腐蝕底金種子層10:丙酮去除殘留的光 刻膠,然后用顯影液融解開關(guān)梁下的聚酰亞胺犧牲層,并用無水乙醇脫水,形 成懸空的開關(guān)梁(6)結(jié)構(gòu)。
權(quán)利要求
1.一種基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò),其特征在于該網(wǎng)絡(luò)包括一系列相并聯(lián)的電容支路組成,每一個電容支路由一個叉指電容(Cn)和一個微機械電容式串聯(lián)開關(guān)(Kn)串聯(lián)組成;通過控制與叉指電容(Cn)連接的微機械電容式串聯(lián)開關(guān)(Kn)的通斷來確定接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容(Cn)的個數(shù),從而改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng) 絡(luò),其特征在于叉指電容(Cn)以GaAs襯底(1)為襯底,在GaAs襯底(1) 的上表面的中部設(shè)有叉指結(jié)構(gòu)(3),兩邊分別設(shè)有第一段傳輸線(2-1)、第二 段傳輸線(2-2)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng) 絡(luò),其特征在于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)(Kn)以GaAs襯底(1)為襯底,在GaAs 襯底(1)的上表面的中部設(shè)有下拉電極(7),兩端設(shè)有第三段傳輸線(4-1) 和第四段傳輸線(4-2),在第四傳輸線(4-2)的內(nèi)側(cè)上部設(shè)有第二SiN介質(zhì)層(8-2)在下拉電極(7)上設(shè)有第一SiN介質(zhì)層(8-1),在第三段傳輸線(4-1) 上有錨區(qū)(5),錨區(qū)(5)與開關(guān)梁(6)的一端相連,開關(guān)梁(6)懸空在第一 SiN介質(zhì)層(8-1)和第二SiN介質(zhì)層(8-2)的上方。
4. 一種如權(quán)利要求1所述的基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng) 絡(luò)的制備方法,其特征在于該方法具體包括以下步驟第一步.準備襯底選用未摻雜的半絕緣砷化鎵作為GaAs襯底(1);第二步.在GaAs襯底(1)上光刻傳輸線及下拉電極涂光刻膠(9)并光 刻刻蝕出第一段傳輸線(2-1)、第二段傳輸線(2-2)、第三段傳輸線(4-1)、 第四段傳輸線(4-2),及下拉電極(7)的形狀;第三步.在襯底(1)和光刻膠(9)上濺射AuGeNi/Au層(11):濺射 800/300/2200A厚的AuGeNi/Au層;第四步.光刻AuGeNi/Au層光刻AuGeNi/Au層(11),剝離不需要的光刻 膠(9),形成第一段傳輸線(2-1)、第二段傳輸線(2-2)、第三段傳輸線(4-1)、 第四段傳輸線(4-2)和下拉電極(7);第五步.在下拉電極(7)和第四段傳輸線(4-2)上光刻、淀積第一SiN 介質(zhì)層(8-1)和第二 SiN介質(zhì)層(8-2):用PECVD工藝生長IOOOA的SiN介質(zhì) 層;第六步.在部分第一段傳輸線(2-1)、和SiN介質(zhì)層(8)上淀積聚酰亞胺 犧牲層(12):淀積1.6微米厚的聚酰亞胺犧牲層;第七步.在整個加工平面上濺射Ti/Au/Ti層(10):在聚酰亞胺層(12) 上濺射用于電鍍的底金Ti/Au/Ti-500/1500/300A,形成用于電鍍開關(guān)梁(6), 在其他區(qū)域濺射形成叉指結(jié)構(gòu)(3)的底金種子層;第八步.光刻Ti/Au/Ti層(10):光刻鈦/金/鈦層,保留不需要電鍍的地 方的光刻膠(9);第九步.在Ti/Au/Ti層(10)上電鍍金層(13):在55°氰基溶液中電鍍 金,電鍍金層的厚度為2微米,有Ti/Au/Ti層(10)覆蓋的區(qū)域才能電鍍形成 Au層(13);第十步.釋放聚酰亞胺犧牲層(12)并腐蝕底金種子層丙酮去除殘留的光刻膠,然后用顯影液融解開關(guān)梁下的聚酰亞胺犧牲層,并用無水乙醇脫水,形成懸空的開關(guān)梁(6)結(jié)構(gòu)。
全文摘要
基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò)包括一系列的叉指電容和微電子機械開關(guān),通過控制與叉指電容連接的微機械開關(guān)的通斷來確定接入網(wǎng)絡(luò)的叉指電容的個數(shù)從而可以改變整個網(wǎng)絡(luò)的電容值。一種基于微機械電容式串聯(lián)開關(guān)的可變叉指電容網(wǎng)絡(luò),其特征在于叉指電容以GaAs襯底1為襯底,在GaAs襯底1的上表面有傳輸線2,叉指結(jié)構(gòu)3;微機械電容式串聯(lián)開關(guān)以GaAs襯底1為襯底,在GaAs襯底1的上表面有傳輸線4和下拉電極7,在傳輸線4-2的一部分和下拉電極7上有一層SiN介質(zhì)層8,在傳輸線4-1上有錨區(qū)5,錨區(qū)5與開關(guān)梁6的一端相連,使開關(guān)梁6懸空在SiN介質(zhì)層8的上方。
文檔編號H01G5/38GK101127513SQ20071013094
公開日2008年2月20日 申請日期2007年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月24日
發(fā)明者廖小平, 銳 武 申請人:東南大學(xué)