果是則結(jié)束，如果否則返回至步驟b32。
[0031] 依照本發(fā)明的存儲器錯誤檢測方法及裝置，對在頁緩沖器和IO緩沖器之間構(gòu)建的 內(nèi)部錯誤檢測單元W及檢測流程進(jìn)行優(yōu)化，采用預(yù)加載參考數(shù)據(jù)技術(shù)結(jié)合頁面緩沖器內(nèi)部 比較機(jī)制，簡化錯誤檢測單元設(shè)計(jì)，縮短測試時間，提高測試效率。
【附圖說明】
[0032] W下參照附圖來詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案，其中：
[0033] 圖1為一種存儲器錯誤檢測結(jié)構(gòu)示意圖；
[0034] 圖2為圖1所示的錯誤檢測方法的流程圖；
[0035] 圖3為一種改進(jìn)的存儲器錯誤檢測架構(gòu)示意圖；
[0036] 圖4為圖3所示的錯誤檢測方法的整體流程圖；
[0037] 圖5為本發(fā)明的改進(jìn)型存儲器錯誤檢測方法的整體流程圖；
[0038] 圖6為圖5所使用的頁緩沖器的分段示意圖；
[0039] 圖7為圖5所使用的寄存器的示意圖；
[0040]圖8為圖5所示整體流程圖對應(yīng)的具體各個步驟；
[0041 ]圖9為圖5所示檢測方法工作時的時序圖；
[0042] 圖10為本發(fā)明的改進(jìn)型存儲器錯誤檢測裝置的具體電路結(jié)構(gòu)。
【具體實(shí)施方式】
[0043] W下參照附圖并結(jié)合示意性的實(shí)施例來詳細(xì)說明本發(fā)明技術(shù)方案的特征及其技 術(shù)效果，公開了能夠簡易、快速進(jìn)行錯誤檢測的存儲器錯誤檢測方法及裝置。需要指出的 是，類似的附圖標(biāo)記表示類似的結(jié)構(gòu)，本申請中所用的術(shù)語"第一"、"第二"、"上"、"下"等等 可用于修飾各種器件結(jié)構(gòu)或制造工序。運(yùn)些修飾除非特別說明并非暗示所修飾器件結(jié)構(gòu)或 制造工序的空間、次序或?qū)蛹夑P(guān)系。
[0044] 本發(fā)明的存儲器錯誤檢測裝置的整體基本架構(gòu)如圖3所示，包括電壓發(fā)生器、解碼 器、存儲器單元陣列、控制器、頁緩沖器、輸入/輸出（I/O)緩沖器、W及本發(fā)明特有的錯誤檢 巧峰元化DU)，其中控制器包括抓U寄存器和指令/巧聯(lián)接口。I/O緩沖器從裝置外獲取測試 指令并輸送至指令/測試接口，在控制器向電壓發(fā)生器發(fā)送的控制信號VG_signal、W及向 解碼器發(fā)送的控制信號DEC_signal的控制下，電壓發(fā)生器發(fā)出的電信號經(jīng)過解碼器變?yōu)樽?線(WL)控制信號并輸送至存儲器單元陣列，同時控制器向頁緩沖器發(fā)送頁選擇信號PB_ signal,頁緩沖器向存儲器單元陣列發(fā)送位線(BL)信號W與WL結(jié)合而獲取陣列中某個行列 的具體單元數(shù)值，并返回至頁緩沖器中，EDU在控制器發(fā)送的抓ILsignal控制信號的控制下 對頁緩沖器進(jìn)行錯誤檢測并將檢測是否通過W及哪些數(shù)據(jù)位有錯誤等結(jié)果W信號EDU_ fee化ack (可包含對應(yīng)不同信息的多個數(shù)值)返回至控制器，如果檢測通過，控制器中邸U寄 存器數(shù)據(jù)可通過I/O緩沖器輸出結(jié)果。
[0045] 圖5為依照本發(fā)明的利用圖3所示架構(gòu)對于圖4所示流程的具體改進(jìn)的示意圖。首 先裝載測試數(shù)據(jù)并編程到待測存儲單元，例如經(jīng)由IO緩沖器、頁緩沖器將測試數(shù)據(jù)編程到 存儲器單元陣列中。然后采用圖3所示架構(gòu)的忍片進(jìn)行片上錯誤檢測，具體包括W下步驟： (1)可選的，從輸入/輸出緩沖器(IO)向頁面緩沖器(PB)預(yù)加載標(biāo)準(zhǔn)參考數(shù)據(jù)；（2)從存儲單 元讀取數(shù)據(jù)至PB; (3)在PB中比較每位數(shù)據(jù)是否一致，并在邸U中對結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)。最后讀取 EDU寄存器，也即通過讀取控制器中相關(guān)寄存器(例如通過/故障狀態(tài)寄存器）的數(shù)值，直接 獲取錯誤檢測結(jié)果。
[0046] W上流程適用于通用測試情況，對于已經(jīng)預(yù)加載過標(biāo)準(zhǔn)參考數(shù)據(jù)的忍片，采用相 同的數(shù)據(jù)圖樣測試其他頁時，可W跳過加載參考數(shù)據(jù)步驟，從而縮短時間，提高測試效率。 切換測試數(shù)據(jù)圖樣時，只需將預(yù)加載標(biāo)記寄存器清零，即可加載新的參考數(shù)據(jù)執(zhí)行檢測流 程D
[0047] 由于采用預(yù)加載參考數(shù)據(jù)技術(shù)^及口8內(nèi)部比較機(jī)制，因此本方法具有較明顯的優(yōu) 占. y ?、、?
[0048] 1)預(yù)加載參考數(shù)據(jù)技術(shù)，即在首次測試忍片某頁時加載參考數(shù)據(jù)，采用相同的數(shù) 據(jù)圖樣測試其他頁時，可W復(fù)用已經(jīng)加載過的標(biāo)準(zhǔn)參考數(shù)據(jù)。因此測試其他頁時可W跳過 加載流程，從而縮短操作時間，提高測試效率。
[0049] 2)對于已經(jīng)預(yù)加載過參考數(shù)據(jù)的忍片，切換測試數(shù)據(jù)圖樣時，只需要進(jìn)行一定設(shè) 置，即可加載新的參考數(shù)據(jù)執(zhí)行檢測流程。
[0050] 3)由于采用預(yù)加載參考數(shù)據(jù)技術(shù)，加載和讀取過程分別進(jìn)行，無需采用寫時鐘驅(qū) 動讀取操作，降低錯誤檢測單元設(shè)計(jì)復(fù)雜度。
[0051] 4)由于利用PB內(nèi)部比較功能，無需在錯誤檢測單元中設(shè)計(jì)比較邏輯，進(jìn)一步簡化 錯誤檢測單元。
[0052] 5)錯誤檢測單元是獨(dú)立于忍片讀寫通路的設(shè)計(jì)，不會對忍片的其他讀寫操作帶來 影響。
[0053] 圖6示出了根據(jù)ECC糾錯及篩選具體需求，將圖3中頁緩存器分為了區(qū)段0至區(qū)段 S--I共S個區(qū)段(例如8 = 32,64,128,256-0。對應(yīng)的，圖7示出了圖3中EDU寄存器的具體結(jié) 構(gòu)，包括多個錯誤位計(jì)數(shù)寄存器，由至少一個故障闊值寄存器、至少一個通過/故障狀態(tài)寄 存器、至少一個通過/故障標(biāo)記寄存器共同構(gòu)成的檢測狀態(tài)寄存器，W及其他錯誤信息寄存 器。其中，錯誤位計(jì)數(shù)寄存器總數(shù)目與圖6所示的頁緩沖器的分段數(shù)目相同均為S，并且每個 錯誤位計(jì)數(shù)寄存器與區(qū)段依次對應(yīng)。例如，第M個寄存器對應(yīng)區(qū)段M頁緩沖器出錯位數(shù)的統(tǒng) 計(jì)結(jié)果。故障闊值寄存器用于存儲各個頁緩沖器各個區(qū)段可接受的出錯位數(shù)的上/下限值 (闊值），W便稍后用于比較確定是否發(fā)生故障。通過/故障狀態(tài)寄存器、通過/故障標(biāo)記寄存 器記錄了該區(qū)段、該頁是否通過檢測。例如第M個區(qū)段的錯誤位數(shù)統(tǒng)計(jì)完成后，與故障闊值 的值比較，結(jié)果存儲到通過/故障狀態(tài)寄存器的第M位。其他錯誤信息寄存器至少包含錯誤 位地址的信息等。值得注意的是，本申請?jiān)诩拇嫫麝嚵兄蓄~外地增添了預(yù)加載標(biāo)志（標(biāo)志 位)寄存器(PreLoad Flag,PLF)，用于記錄忍片是否已經(jīng)加載過參考數(shù)據(jù)。
[0054] 圖8示出了依照本發(fā)明一個優(yōu)選實(shí)施例的、用于執(zhí)行圖5所示整體流程的具體步 驟。
[0055] 首先，等待接收或判斷是否接收到錯誤檢測指令。如果否，進(jìn)入空閑循環(huán)等待，直 至(通過圖3所示的I/O緩沖器和指令/現(xiàn)聯(lián)接口）接收到錯誤檢測指令。
[0056] 如果是，則進(jìn)一步檢測預(yù)加載標(biāo)記(PreLoad Flag)是否為真。如果為真，則跳過預(yù) 加載參考數(shù)據(jù)的步驟而執(zhí)行從單元向PB讀取測試數(shù)據(jù)等后續(xù)步驟。如果為假，則執(zhí)行預(yù)加 載參考數(shù)據(jù)的步驟，從IO向PB加載標(biāo)準(zhǔn)參考數(shù)據(jù)，然后將預(yù)加載標(biāo)記(寄存器)置位。
[0057] 接著從存儲單元向頁緩沖器讀取測試數(shù)據(jù)。例如在控制器向電壓發(fā)生器發(fā)送的控 制信號VG_signal、W及向解碼器發(fā)送的控制信號DEC_signal的控制下，電壓發(fā)生器發(fā)出的 電信號經(jīng)過解碼器變?yōu)樽志€(WL)控制信號并輸送至存儲器單元陣列，同時控制器向頁緩沖 器發(fā)送頁選擇信號PB_signal，頁緩沖器向存儲器單元陣列發(fā)送位線(BL)信號W與WL結(jié)合 而獲取陣列中某個行列的具體單元數(shù)值，并返回至頁緩沖器中。
[0058] 然后，在頁緩沖器(PB)中執(zhí)行比較步驟，也即將所讀取的測試數(shù)據(jù)與預(yù)加載的參 考數(shù)據(jù)進(jìn)行諸位比對，判定每位數(shù)據(jù)是否一致。
[0059] 接著，從頁緩沖器向錯誤檢測單元化DU)讀取上述比較的結(jié)果數(shù)據(jù)。
[0060] 隨后，對結(jié)果進(jìn)行計(jì)數(shù)處理，例如錯誤位計(jì)數(shù)。此后，列地址遞增，并判斷是否超過 了當(dāng)前區(qū)段，如果沒有，則返回至比較結(jié)果數(shù)據(jù)步驟，循環(huán)直至列地址超過了當(dāng)前區(qū)段。也 即，上述步驟W內(nèi)部時鐘為周期，每次完成m位結(jié)果數(shù)據(jù)的錯誤位數(shù)求和和累計(jì)。通過循環(huán) 執(zhí)行，直到完成每個區(qū)段中所有數(shù)據(jù)的比較。
[0061] 判定超過當(dāng)前區(qū)段、也即完成了當(dāng)前區(qū)段中所有數(shù)據(jù)的比較之后，判定錯誤是否 大于(故障闊值寄存器中所存儲的）闊值，如果是則設(shè)置故障狀態(tài)，如果否則設(shè)置通過狀態(tài)， 也即改寫通過/故障狀態(tài)寄存器。隨后，存儲故障信息、計(jì)數(shù)器復(fù)位、區(qū)段編號遞增。判定是 否超過最后區(qū)段(S--I)，如果是則流程結(jié)束，如果否則返回至讀取/加載步驟W循環(huán)執(zhí)行， 直至所有區(qū)段中所有數(shù)據(jù)均比較完成。
[0062] 圖9示出了圖8所示流程中各個信號對應(yīng)的時序圖，其中WEB為寫使能信號，ALE地 址鎖存使能信號，CLE指令鎖存使能信號，I/O表示輸入/輸出緩沖器的信號，R/B表示存儲器 是否空閑的狀態(tài)信號。本時序圖所示過程默認(rèn)Preload Flag未置位，即首次測試忍片，因此 包含預(yù)加載參考數(shù)據(jù)操作；在測試該忍片其他頁時，除了無需預(yù)加載操作外，其余操作類 似。切換測試數(shù)據(jù)圖樣時，只需將預(yù)加載標(biāo)記寄存器清零，即可加載新的參考數(shù)據(jù)執(zhí)行檢測 流程。
[0063] 圖10示出了本發(fā)明的錯誤檢測裝置的具體架構(gòu)的示意性電路圖。其中，核屯、單元 對應(yīng)于圖3中存儲器陣列中的各個單元，頁緩沖器包括PBi、PB2……PBiW等多個子