專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤裝置，特別是涉及下述光盤裝置，該光盤裝置具有下述補償機構(gòu)，該補償機構(gòu)按照使通過光拾取頭讀取的光盤記錄信息中所包含的跟蹤誤差(TE)信號中的殘留誤差量為最小的方式，對該殘留誤差量進行補償。
一般，對DVD-ROM等的光盤媒體上所記錄的記錄信息進行再生的現(xiàn)有光盤裝置，通過光拾取頭讀取光盤媒體上的記錄信息，信息再生機構(gòu)從所讀取的記錄信息，發(fā)生凹痕再生(RF)信號(時鐘信號與數(shù)據(jù)混合的信號)。另外，為了從凹痕RF信號中抽出數(shù)據(jù)，相位同步環(huán)路(PLL)發(fā)生其相位及頻率與凹痕RF信號保持同步的內(nèi)部基準時鐘信號，窗口(window)信號發(fā)生機構(gòu)從內(nèi)部基準時鐘信號形成窗口信號，從而采用窗口信號，抽出凹痕RF信號中的數(shù)據(jù)。
但是，現(xiàn)有的光盤裝置中所采用的光盤媒體以超細微凹凸體(凹痕)狀記錄信息，這些凹痕形成凹痕列(軌跡)，沿光盤媒體的圓周方向依次排列。另外，借助光拾取頭讀取記錄信息是這樣進行的，即通過聚光透鏡等，將從半導體激光等射出的激光束匯聚，之后將其作為光點投射在凹痕上，讀取每個凹痕所反射的反射光。
另外，在現(xiàn)有的光盤裝置中，進行下述跟蹤控制，該控制用于正確地使照射在光盤媒體上的光點的位置跟蹤規(guī)定的軌跡。該跟蹤控制一般是通過將跟蹤誤差(TE)信號供給伺服機構(gòu)而進行的。在此情況下，作為TE信號的形成機構(gòu)，人們知道有各種形式，但是其中的有代表性的一種為相位差方式(DPD方式)，其在比如日本專利公開第69654/1998號文獻、日本專利公開第97725/1998號文獻、日本專利公開第112042/1998號文獻等中被披露。該DPD方式由沿縱橫向?qū)⒐馐叭☆^對半分隔而形成的四個光敏器件形成，該四個光敏器件檢測從光盤媒體獲得的反射光，這四個光敏器件分別輸出電信號，將從位于所獲得的四個電信號中的相應對角位置的光敏器件輸出的電信號疊加，形成兩組電信號，由這兩組電信號的相位差，形成TE信號。
圖5為表示現(xiàn)有的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的一個實例，該圖是以只將該光盤裝置的主要結(jié)構(gòu)部分抽出的方式表示的。
如圖5所示，現(xiàn)有的光盤裝置包括放置于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動板(圖中未示出)上的光盤媒體51；光拾取頭52，其可在靠近光盤媒體51的盤面的狀態(tài)，移動到沿其徑向的規(guī)定位置；前置放大器53，其獲得由光拾取頭52讀取的光盤媒體51的記錄信息，發(fā)生凹痕RF信號和TE信號；數(shù)據(jù)分段器(slicer)54，其將模擬凹痕RF信號分段(slice)，將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字凹痕RF信號；PLL55，其發(fā)生頻率和相位與數(shù)字凹痕RF信號保持同步的內(nèi)部基準時鐘信號；數(shù)據(jù)抽出部56，其從數(shù)字凹痕RF信號中抽出數(shù)據(jù)；窗口信號發(fā)生部57，其將內(nèi)部基準時鐘信號轉(zhuǎn)換為窗口信號；微處理器58，其對光盤裝置的每個部分進行控制；伺服執(zhí)行機構(gòu)59，其接受TE信號，使光拾取頭52移動到規(guī)定位置；數(shù)據(jù)輸出端子60；內(nèi)部基準時鐘信號端子61。
在具有前述結(jié)構(gòu)的光盤裝置中，當旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光盤媒體51時，光拾取頭52讀取記錄于光盤媒體51上的記錄信息，發(fā)生與該讀取相對應的電信號，前置放大器53對該電信號進行處理，發(fā)生模擬凹痕RF信號和TE信號。數(shù)據(jù)分段器54將模擬凹痕RF信號分段，將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字凹痕RF信號，PLL55接收數(shù)字凹痕RF信號，發(fā)生其頻率和相位與數(shù)字凹痕RF信號保持同步的內(nèi)部基準時鐘信號。窗口信號發(fā)生器57接收內(nèi)部基準時鐘信號，發(fā)生窗口信號，數(shù)據(jù)抽出部56接收數(shù)據(jù)凹痕RF信號和窗口信號，采用窗口信號，抽出數(shù)字凹痕RF信號中的數(shù)據(jù)。另外，伺服執(zhí)行機構(gòu)59接收TE信號，根據(jù)微處理器58的控制，發(fā)生跟蹤驅(qū)動信號，通過該跟蹤驅(qū)動信號，對光拾取頭52的位置進行調(diào)節(jié)，進行規(guī)定的跟蹤控制。
現(xiàn)有的光盤裝置通過采用TE信號進行跟蹤控制的方式，使光點的位置正確地跟蹤規(guī)定的軌跡，但是由于放置于光盤裝置中的光盤媒體的傾斜、形成于光盤媒體上的許多凹痕的形狀或深度的變化、光盤媒體的雙折射、匯聚激光的物鏡的稍小的移動等的影響，會使TE信號發(fā)生殘留誤差變化，另外，該TE信號的殘留誤差變化可采用殘留誤差量調(diào)節(jié)信號來補償。
但是，本發(fā)明人等發(fā)現(xiàn)，凹痕RF信號的差錯率與凹痕RF信號的不穩(wěn)定信號量有關(guān)，僅僅通過對前述的TE信號中的殘留誤差變化進行補償，不能充分地降低凹痕RF信號的差錯率。
按照上述方式，由于現(xiàn)有的光盤裝置不能夠充分降低凹痕RF信號的差錯率，這樣必然會產(chǎn)生無法獲得良好狀態(tài)的凹痕RF信號的問題。
本發(fā)明是為解決上述問題而提出的，本發(fā)明的目的在于提供一種光盤裝置，其采用使凹痕再生信號中的不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，對跟蹤誤差信號中的殘留誤差量進行補償，從而獲得良好狀態(tài)的凹痕RF信號。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明的光盤裝置包括光拾取頭，該光拾取頭讀取光盤的記錄信息；再生信號發(fā)生機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)通過前述光拾取頭讀取的記錄信息，發(fā)生凹痕再生(RF)信號和跟蹤誤差(TE)信號；伺服機構(gòu)，該伺服機構(gòu)通過根據(jù)前述TE信號而發(fā)生的跟蹤驅(qū)動信號，對前述光拾取頭的位置進行控制；不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，該機構(gòu)檢測前述凹痕RF信號中的不穩(wěn)定信號量；殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)前述不穩(wěn)定信號量，對前述跟蹤誤差信號的殘留誤差量進行調(diào)節(jié)，另外前述光盤裝置具有下述機構(gòu)，該機構(gòu)使前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)發(fā)生使從不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)供給的不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，使伺服機構(gòu)發(fā)生根據(jù)殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，對TE信號中的殘留誤差量進行補償?shù)母欜?qū)動信號。
按照前述方案，由于設(shè)置檢測凹痕RF信號中的不穩(wěn)定信號量的不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，另外設(shè)置發(fā)生使不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號的殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，從而使殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)發(fā)生使不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，使伺服機構(gòu)發(fā)生根據(jù)該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號對TE信號的殘留誤差量進行補償?shù)母欜?qū)動信號，進行規(guī)定的跟蹤補償，這樣可按照使從再生信號形成機構(gòu)輸出的TE信號的殘留誤差量為最適合值的方式對該殘留誤差量進行調(diào)節(jié)，在平時可使凹痕RF信號的狀態(tài)保持良好。
在本發(fā)明的實施例中，前述光盤裝置包括光拾取頭，其在裝入的光盤旋轉(zhuǎn)時讀取該光盤的記錄信息；再生信號發(fā)生機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)通過光拾取頭讀取的記錄信息，發(fā)生凹痕再生信號和跟蹤誤差信號；伺服機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)跟蹤誤差信號，發(fā)生跟蹤驅(qū)動信號，根據(jù)該跟蹤驅(qū)動信號，對光拾取頭的位置進行控制；不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，該機構(gòu)對凹痕再生信號中的不穩(wěn)定信號量進行檢測；殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)不穩(wěn)定信號量，對跟蹤誤差信號的殘留誤差量進行調(diào)節(jié)，這樣按照使不穩(wěn)定信號量為最小的方式對殘留誤差量進行調(diào)節(jié)。
在本發(fā)明的實施例中的一個具體實例中，光盤裝置中的殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)對在按照規(guī)定量，使殘留誤差量相對不穩(wěn)定信號量的測定點增加減少時所獲得的兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB進行比較，在前述兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB相等時，判定測定點的不穩(wěn)定信號量為最小的不穩(wěn)定信號量。
在本發(fā)明的實施例中的另一具體實例中，前述光盤裝置中的不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)采用相位同步環(huán)路(PLL)，該相位同步環(huán)路使其內(nèi)部基準時針信號的頻率與前述凹痕再生信號的頻率保持同步，前述不穩(wěn)定信號量由前述相位同步環(huán)路的相位比較機構(gòu)的比較輸出形成。
在本發(fā)明的實施例中的再一具體實例中，前述光盤裝置中的殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)每次在從新裝入的光盤讀取記錄信息時，更新使前述不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，之后，在裝入該光盤期間，從前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)連續(xù)輸出相同的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號。
按照這些本發(fā)明的實施例，由于在光盤裝置中設(shè)置有檢測凹痕RF信號中的不穩(wěn)定信號量的不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，以及發(fā)生使通過該不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)檢測的不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號的殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，使殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)發(fā)生使不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，以及使伺服機構(gòu)根據(jù)該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，發(fā)生對TE信號的殘留誤差量進行補償?shù)母欜?qū)動信號，由此，可進行規(guī)定的跟蹤補償，這樣按照使從再生信號發(fā)生機構(gòu)輸出的TE信號中的不穩(wěn)定信號量為最適合值的方式對該不穩(wěn)定信號量進行調(diào)節(jié)，在平時，可使凹痕RF信號的狀態(tài)保持良好。
在此情況下，在殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)中，當按照每次一點兒的方式沿一定方向改變不穩(wěn)定信號量的測定點時，對使所供給的不穩(wěn)定信號量按照微小量增加減少時所獲得的兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB進行比較，判定前述兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB相等時的不穩(wěn)定信號量為最小的不穩(wěn)定信號量，由此，可快速地對TE信號的殘留誤差量進行補償，并且可減小差錯率。
另外，如果不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)采用PLL，并且不穩(wěn)定信號量檢測信號采用PLL的相位比較機構(gòu)的比較輸出，則不必新設(shè)置不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，與新設(shè)置不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)的情況相比較，其結(jié)構(gòu)簡化。
下面參照附圖對本發(fā)明的實施例進行說明。


圖1為表示本發(fā)明的光盤裝置的一個實施例的基本結(jié)構(gòu)的方框圖；圖2為表示在圖1所示的實施例中，在通過殘留誤差量調(diào)節(jié)部實現(xiàn)的不穩(wěn)定信號量為最小時的判斷步驟的流程圖；圖3(a)和圖3(b)為表示跟蹤殘留誤差量與不穩(wěn)定信號量之間的關(guān)系的特性圖；圖3(a)表示不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB相等時的狀態(tài)，圖3(b)表示不穩(wěn)定信號量JB大于不穩(wěn)定信號量JA時的狀態(tài)；圖4為本實施例的光盤裝置中的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率狀態(tài)的特性圖；圖5為表示現(xiàn)有的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的一個實例的方框圖。
在圖1中，本實施例的光盤裝置是這樣的，即按照將下述光盤媒體1放置于轉(zhuǎn)盤上的方式，使該光盤媒體1驅(qū)動旋轉(zhuǎn)，該光盤媒體1上按照多個凹痕的方式形成有記錄信息，并且這些凹痕沿軌跡設(shè)置，該光盤裝置包括光拾取頭2，該光拾取頭2在靠近光盤媒體1的盤面的狀態(tài)下，可在沿其徑向的規(guī)定位置處移動，讀取光盤媒體1的記錄信息，將該讀取信息作為電信號輸出；前置放大器(再生信號發(fā)生機構(gòu))3，其對從光拾取頭2輸出的電信號進行處理，發(fā)生模擬凹痕再生(RF)信號(混合有時鐘信號與數(shù)據(jù)的信號)和跟蹤誤差(TE)信號；數(shù)據(jù)分段器4，其按照規(guī)定電平，對從前置放大器3輸出的模擬凹痕RF信號進行分段，發(fā)生數(shù)字凹痕RF信號；同時用作相位同步環(huán)路(PLL)的不穩(wěn)定信號量檢測部(不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu))5，其接收從數(shù)據(jù)分段器4輸出的數(shù)字凹痕RF信號，發(fā)生其相位和頻率與前述數(shù)字凹痕RF信號保持同步的內(nèi)部基準時鐘信號，并且對前述數(shù)字凹痕RF信號中的不穩(wěn)定信號量進行檢測；數(shù)據(jù)抽出部6，其接收相同的數(shù)字凹痕RF信號，采用后面將要說明的窗口信號發(fā)生器7提供的窗口信號，從數(shù)字凹痕RF信號中僅僅抽出數(shù)據(jù)；窗口信號發(fā)生器7，其接收從同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5輸出的內(nèi)部基準時鐘信號，在數(shù)據(jù)到達數(shù)據(jù)抽出部6的時刻，發(fā)生將數(shù)據(jù)抽出部6設(shè)定在傳送狀態(tài)的窗口信號；殘留誤差量調(diào)節(jié)部(殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu))8，其接收從同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5輸出的不穩(wěn)定信號量，輸出不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號；微處理器9，其根據(jù)規(guī)定程序?qū)獗P裝置的每個部分進行控制；伺服執(zhí)行機構(gòu)(伺服機構(gòu))10，其接收TE信號和殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，使光拾取頭移動到規(guī)定位置；數(shù)據(jù)輸出端子11，其與利用電路(圖中未示出)連接，輸出通過數(shù)據(jù)抽出部6抽出的數(shù)據(jù)；時鐘信號輸出端子12，其與利用電路(圖中未示出)連接，輸出通過同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5獲得的內(nèi)部基準時鐘信號。
在此情況下，光拾取頭2具有分別沿縱橫向兩次分隔的四個光敏器件，這四個光敏器件對由光盤媒體1所獲得的反射光進行檢測，從這四個光敏器件分別輸出電信號。前置放大器3將下述電信號疊加，發(fā)生兩組電信號，該下述電信號是從位于由光拾取頭2中的四個光敏器件獲得的四個電信號中的相應對角位置的光敏器件輸出的，從這兩組電信號的相位差發(fā)生TE信號。另外，同時用作PLL的不穩(wěn)定信號檢測部5由電壓控制振蕩器、相位比較器、環(huán)路濾波器等構(gòu)成，其將從相位比較器取出的相位比較信號作為不穩(wěn)定信號量進行檢測。
前述結(jié)構(gòu)的本實施例的光盤裝置基本上按照下述方式動作。
在該光盤裝置中設(shè)置有光盤媒體1，當旋轉(zhuǎn)驅(qū)動該光盤媒體1時，光拾取頭2讀取記錄于該光盤媒體1上的記錄信息，發(fā)生與所讀取的記錄信息相對應的四個電信號。前置放大器3對從光拾取頭3輸出的四個電信號進行處理，發(fā)生模擬凹痕RF信號和TE信號。數(shù)據(jù)分段器4按照規(guī)定電平對從前置放大器3輸出的模擬凹痕RF信號進行分段，將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字凹痕RF信號。同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5接收從數(shù)據(jù)分段器4輸出的數(shù)字凹痕RF信號，發(fā)生其頻率和相位與該數(shù)字凹痕RF信號保持同步的內(nèi)部基準時鐘信號。窗口信號發(fā)生器7接收從同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5輸出的內(nèi)部基準時鐘信號，在規(guī)定的期間發(fā)生保持高電平或低電平的窗口信號。在該窗口信號發(fā)生期間，按照與到達期間保持一致的方式，選擇到達數(shù)據(jù)抽出部6的數(shù)字凹痕RF信號中的數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)抽出部6接收從數(shù)據(jù)分段器4輸出的數(shù)字凹痕RF信號與從窗口信號發(fā)生器7輸出的窗口信號，采用窗口信號，抽出數(shù)字凹痕RF信號中的數(shù)據(jù)，將所獲得的數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)輸出端子11。
殘留誤差量調(diào)節(jié)部8接收通過同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5獲得的不穩(wěn)定信號量(相位比較信號)，發(fā)生使所供給的不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，將該信號供給伺服執(zhí)行機構(gòu)10。該伺服執(zhí)行機構(gòu)10通過微處理器9的控制，接收從前置放大器3輸出的TE信號，以及從殘留誤差量調(diào)節(jié)部8輸出的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，發(fā)生與這些信號相對應的跟蹤驅(qū)動信號。該跟蹤驅(qū)動信號供給光拾取頭2，對光拾取頭2相對光盤媒體1的位置進行調(diào)節(jié)，進行規(guī)定的跟蹤控制。
下面通過圖2、圖3(a)和圖3(b)，對不穩(wěn)定信號量為最小時的判斷過程進行說明。
首先，在步驟S1中，微處理器9設(shè)定形成TE信號中的振幅中點的跟蹤殘留誤差值。
此時，在步驟S1’中，微處理器9獲得在步驟S1中設(shè)定的跟蹤殘留誤差值Tc，將其存儲于內(nèi)置存儲器(圖中未示出)中。
接著，在步驟S2中，如圖3(a)或圖3(b)所示，微處理器9準備兩個跟蹤殘留誤差值TbA、TbB，這兩個跟蹤殘留誤差值TbA、TbB相對跟蹤殘留誤差值Tc只相差±微小值D。
然后，在步驟S3中，微處理器9將跟蹤殘留誤差值設(shè)定為TbA。
之后，在步驟S4中，微處理器9對在將跟蹤殘留誤差值設(shè)定為TbA時，從同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5輸出的不穩(wěn)定信號量JA進行檢測。
此時，在步驟S4’中，微處理器9獲得在步驟S4中所檢測出的不穩(wěn)定信號量JA，將其存儲于內(nèi)置的存儲器中。
接著，在步驟S5中，微處理器9將跟蹤殘留誤差值設(shè)定為TbB。
然后，在步驟S6中，微處理器9對在將跟蹤殘留誤差值設(shè)定為TbB時，從同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5輸出的不穩(wěn)定信號量JB進行檢測。
此時，在步驟S6’中，微處理器9獲得在步驟S6中所檢測出的不穩(wěn)定信號量JB，將其存儲于內(nèi)置的存儲器中。
此后，在步驟S7中，微處理器9判斷在已獲得的兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB之間，是否不穩(wěn)定信號量JA大于不穩(wěn)定信號量JB。接著，在判定不穩(wěn)定信號量JA大于不穩(wěn)定信號量JB(是)時，進行下面的步驟S8，在判定不穩(wěn)定信號量JA不大于不穩(wěn)定信號量JB(否)時，進行另一步驟S9。
接著，在步驟S8中，微處理器9以一個測定單位沿正方向使測定點移動(符號＝+1)。
另外，在步驟S9中，微處理器9以一個測定單位沿負方向使測定點移動(符號＝-1)。
然后，在步驟S10中，微處理器9對不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB是否相等進行判斷。當判定不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB相等(是)時，跟蹤殘留誤差量與不穩(wěn)定信號量的關(guān)系為圖3(a)所示的狀態(tài)，此時，進行下一步驟S11，當判定不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB不相等(否)時，跟蹤殘留誤差量與不穩(wěn)定信號量的關(guān)系為圖3(b)所示的狀態(tài)，此時，進行另一步驟S12。
然后，在步驟S11中，微處理器9在形成跟蹤殘留誤差量TBAL，不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB相等時，即判定不穩(wěn)定信號量為最小時，形成TBAL＝(TbA+TbB)/2，將其存儲于內(nèi)置的存儲器中，結(jié)束前述整個流程。
另外，在步驟S12中，微處理器9按照沿步驟S8或步驟S9中的符號方向，以殘留誤差調(diào)節(jié)用常數(shù)值S移動的值TbA(TbA＝TbA+符號*S)或TbB(TbB＝TbB+符號*S)，將TE信號中的振幅中點作為下一測定點，之后，返回前面的步驟S3，再次進行步驟S3～S12的動作。
但是，前述一整套連續(xù)的動作是在光盤裝置中裝入有光盤時進行的，如果獲得平均不穩(wěn)定信號量TBAL，則將該平均不穩(wěn)定信號量TBAL存儲于內(nèi)置存儲器中，此后，在殘留誤差量調(diào)節(jié)部8根據(jù)平均不穩(wěn)定信號量TBAL發(fā)生殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，直至裝入新的光盤媒體1后，伺服執(zhí)行機構(gòu)10采用該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，形成跟蹤驅(qū)動信號。
另外，由于如果在光盤裝置中裝入新的光盤媒體，再次通過前述的動作，獲得新的平均不穩(wěn)定信號量TBAL，將其存儲于內(nèi)置存儲器中，這樣在此后，便根據(jù)該新的平均不穩(wěn)定信號量TBAL發(fā)生殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，以及采用該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號形成跟蹤驅(qū)動信號。
按照前述方式，本實施例在不穩(wěn)定信號量JA與不穩(wěn)定信號量JB相等的情況下，將這些不穩(wěn)定信號量JA、JB的平均不穩(wěn)定信號量TBAL存儲于內(nèi)置存儲器中，此后，采用所存儲的平均不穩(wěn)定信號量TBAL，形成殘留誤差量調(diào)節(jié)信號和跟蹤驅(qū)動信號，由此，可根據(jù)平均不穩(wěn)定信號量TBAL計算最小不穩(wěn)定信號量，與現(xiàn)有的這種裝置的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率相比較，可大大改善數(shù)字凹痕RF信號的差錯率。
即，在裝入的光盤媒體1產(chǎn)生微小傾斜，或形成于光盤媒體1中的各個凹痕形狀或深度有一定程度的不同，或因設(shè)置于光盤媒體1的表面上的絕緣覆膜而產(chǎn)生雙折射，或物鏡產(chǎn)生一定程度的移動等情況下，即使在本身的跟蹤殘留誤差值發(fā)生變化的情況下，本實施例的光盤裝置通過將前述的平均不穩(wěn)定信號量設(shè)定為TBAL，根據(jù)該平均不穩(wěn)定信號量TBAL形成殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，采用該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號形成跟蹤驅(qū)動信號，則可降低數(shù)字凹痕RF信號的差錯率，由此，可獲得信號質(zhì)量沒有損壞的數(shù)字凹痕RF信號。
圖4為本實施例的光盤裝置中的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率狀態(tài)的特性圖，為了進行比較，該圖同時表示了現(xiàn)有的光盤裝置中的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率狀態(tài)。
在圖4中，縱軸表示差錯率，橫軸表示相對地址，曲線a表示本實施例的特性，曲線b表示現(xiàn)有實例的特性。
在此情況下，表示差錯率的數(shù)值的含義為，從裝入光盤裝置中的光盤媒體讀取100位時，在其中的一個位是差錯的情況下，為1.0E-02。另外，對于字節(jié)差錯率，在從光盤媒體讀取的1字節(jié)(8位)數(shù)據(jù)中，如果即使1位中具有差錯，則視為字節(jié)差錯，比如，在100字節(jié)的數(shù)據(jù)中，如果具有1字節(jié)的差錯，則字節(jié)差錯率為1.0E-02。
如圖4中的曲線a所示，與圖4中的曲線b所示的現(xiàn)有的光盤裝置中的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率相比較，判定本實施例的光盤裝置中的數(shù)字凹痕RF信號的差錯率從整體上減少，差錯率得以大幅度改善。
另外，在前述實施例中，在檢測不穩(wěn)定信號量的情況下，采用同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5，并且采用相位比較器的輸出，但是本發(fā)明的不穩(wěn)定信號量檢測部不限于采用前述的同時用作PLL的不穩(wěn)定信號量檢測部5的形式，本發(fā)明也可設(shè)置光盤裝置的結(jié)構(gòu)稍稍復雜的，其它的不穩(wěn)定信號量檢測部。
此外，在前述實施例中，在裝入光盤媒體1時，將通過讀取光盤媒體1的記錄信息而獲得的平均不穩(wěn)定信號量TBAL存儲于內(nèi)置存儲器中，之后，伺服執(zhí)行機構(gòu)10根據(jù)平均不穩(wěn)定信號量，形成殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，采用該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，形成跟蹤驅(qū)動信號，直至裝入新的光盤媒體1，即相對平均不穩(wěn)定信號量TBAL，伺服執(zhí)行機構(gòu)10具有學習功能，但是本發(fā)明的伺服執(zhí)行機構(gòu)10不必限于具有這樣的學習功能的形式，其也可按照下述方式形成，該方式為平時，獲得平均不穩(wěn)定信號量TBAL，根據(jù)此時所獲得的平均不穩(wěn)定信號量TBAL，形成殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，采用該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，形成跟蹤驅(qū)動信號。
如上所述，采用本發(fā)明，通過下述方式進行規(guī)定的跟蹤補償，該方式為設(shè)置不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)與殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，該不穩(wěn)定機構(gòu)檢測凹痕RF信號中的不穩(wěn)定信號量，該殘留誤差量檢測機構(gòu)發(fā)生使通過不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)所檢測出的不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，在殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)中，發(fā)生使不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，在伺服機構(gòu)中，發(fā)生根據(jù)該殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，對TE信號的殘留誤差量進行補償?shù)母欜?qū)動信號，這樣從再生信號發(fā)生機構(gòu)輸出的TE信號按照殘留誤差量為最適合的值的方式接受調(diào)節(jié)，具有可在平時，使凹痕RF信號的狀態(tài)保持良好的效果。
在此情況下，通過下述方式，具有下述效果，即可迅速地對TE信號的殘留誤差量進行補償，并且可使差錯率減小，該方式為使不穩(wěn)定信號量的測定點，相對測定點按照規(guī)定量增加減少，對此時所獲得的兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB進行比較，判定兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB相等時的不穩(wěn)定信號量為最小的不穩(wěn)定信號量。
另外，如果不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)可采用PLL，并且不穩(wěn)定信號量檢測采用PLL的相位比較機構(gòu)的比較輸出，則具有下述效果，即不必新設(shè)置不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，與新設(shè)置不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)的情況相比較，可使結(jié)構(gòu)簡化。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，其特征在于包括光拾取頭，該光拾取頭在所裝入的光盤旋轉(zhuǎn)時讀取該光盤的記錄信息；再生信號發(fā)生機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)通過前述光拾取頭讀取的記錄信息，發(fā)生凹痕再生信號和跟蹤誤差信號；伺服機構(gòu)，該伺服機構(gòu)根據(jù)前述跟蹤誤差信號，發(fā)生跟蹤驅(qū)動信號，根據(jù)該跟蹤驅(qū)動信號對前述光拾取頭的位置進行控制；不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)，該機構(gòu)檢測前述凹痕再生信號中的不穩(wěn)定信號量；殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)，該機構(gòu)根據(jù)前述不穩(wěn)定信號量，對前述跟蹤誤差信號的殘留誤差量進行調(diào)節(jié)，按照使不穩(wěn)定信號量為最小的方式對殘留誤差量進行調(diào)節(jié)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)對在按照規(guī)定量，使殘留誤差量相對不穩(wěn)定信號量的測定點增加減少時所獲得的兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB進行比較，在前述兩個不穩(wěn)定信號量JA、JB相等時，判定測定點的不穩(wěn)定信號量為最小的不穩(wěn)定信號量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于前述不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu)采用相位同步環(huán)路(PLL)，該相位同步環(huán)路使其內(nèi)部基準時針信號的頻率與前述凹痕再生信號的頻率保持同步，前述不穩(wěn)定信號量為前述相位同步環(huán)路的相位比較機構(gòu)的比較輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)每次在從新裝入的光盤讀取記錄信息時，更新使前述不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號，之后，在裝入該光盤期間，從前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)連續(xù)輸出相同的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號。
全文摘要
本發(fā)明的光盤裝置包括讀取光盤的記錄信息的光拾取頭;發(fā)生RF信號與TE信號的再生信號發(fā)生機構(gòu);伺服機構(gòu),其根據(jù)TE信號發(fā)生跟蹤驅(qū)動信號,根據(jù)跟蹤驅(qū)動信號對光拾取頭的位置進行控制;檢測RF信號中的不穩(wěn)定信號量的不穩(wěn)定信號量檢測機構(gòu);對TE信號的殘留誤差量進行調(diào)節(jié)的殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu),前述殘留誤差量調(diào)節(jié)機構(gòu)發(fā)生使不穩(wěn)定信號量為最小的殘留誤差量調(diào)節(jié)信號,前述伺服機構(gòu)發(fā)生對殘留誤差量進行補償?shù)母欜?qū)動信號。
文檔編號G11B7/09GK1254158SQ9912204
公開日2000年5月24日 申請日期1999年10月26日 優(yōu)先權(quán)日1998年11月12日
發(fā)明者新井優(yōu), 龜山泰明, 坂下光則 申請人:阿爾卑斯電氣株式會社