專利名稱：光盤類型的判別裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光盤驅(qū)動(dòng)器件的盤判別裝置和方法，特別是利用不同光盤的軌道間距(track pitch)不同的特點(diǎn)來(lái)判別已裝載光盤的類型的裝置和方法。
本發(fā)明的光盤判別裝置和方法的基于韓國(guó)第33219/1995號(hào)申請(qǐng)，這里引入供參考之用。
通常，光盤重放裝置指高密度盤重放器、激光盤重放器等。例如，通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)再現(xiàn)盤上記錄的數(shù)據(jù)。這類盤指高密度盤和激光盤。根據(jù)實(shí)際需要來(lái)選擇合適的盤的大小。高密度盤分為直徑8cm和12cm的大小的盤，激光盤分為直徑20cm和30cm的大小的盤。
作為一種光盤的高密度盤的軌道間距為1.6μm。近來(lái)，隨著對(duì)大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)需求的不斷增長(zhǎng)，已經(jīng)開發(fā)了一種軌道間距為0.8μm或更小的高密度光盤，它的軌道間距為高密度盤軌道間距的一半或更小。
目前存在不同種類的盤。光盤重放裝置應(yīng)根據(jù)判別盤的類型后的已判別出的盤的類型采用一種適當(dāng)?shù)闹胤趴刂撇僮鳌?br>

圖1是一種一般光盤重放裝置的框圖。主軸電機(jī)4由伺服信號(hào)處理器8的控制來(lái)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)盤2。光學(xué)拾取器6利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在盤2上的數(shù)據(jù)并提供給RF(射頻)放大器10。伺服信號(hào)處理器8根據(jù)控制器16的控制和RF放大器10的輸出信號(hào)來(lái)處理光學(xué)拾取器6的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊(sled)伺服等的信號(hào)，并通過(guò)數(shù)字信號(hào)處理器12的輸出信號(hào)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4。RF放大器10將由光學(xué)拾取器6拾取的RF信號(hào)放大。數(shù)字信號(hào)處理器12將被RF放大器10放大的RF信號(hào)整形為一邏輯波形。另外，當(dāng)盤2從一停止?fàn)顟B(tài)加速到一第一CLV(恒定線速度)時(shí)，數(shù)字信號(hào)處理器12產(chǎn)生一CLV鎖定信號(hào)，而當(dāng)盤2從第一CLV的旋轉(zhuǎn)狀態(tài)減速到一第二CLV時(shí)，數(shù)字信號(hào)處理器12產(chǎn)生一阻尼信號(hào)。第一CLV代表能夠正常再現(xiàn)記錄在盤2上的數(shù)據(jù)的一CLV，而第二CLV代表能夠停止在減速旋轉(zhuǎn)狀態(tài)下的盤2的一CLV。數(shù)字信號(hào)處理器12產(chǎn)生作為一邏輯“低”的正常幀同步(GFS)信號(hào)的一CLV鎖定信號(hào)并且產(chǎn)生作為一邏輯“低”的信號(hào)PW64的阻尼信號(hào)。一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器14將由數(shù)字信號(hào)處理器12處理的一解調(diào)信號(hào)轉(zhuǎn)換成一模擬信號(hào)?？刂破?6控制伺服信號(hào)處理器8和數(shù)字信號(hào)處理器12的再現(xiàn)操作以便再現(xiàn)記錄在盤2上的數(shù)據(jù)。
圖1的結(jié)構(gòu)已在1988年九月1日韓國(guó)KANAM公司發(fā)布的“圖解高密盤”(“ILLUSTRATED COMPACT DISK”)的第240頁(yè)中示出。要了解高密度盤重放器的詳細(xì)結(jié)構(gòu)和操作過(guò)程，請(qǐng)參考上述“圖解高密盤”的文獻(xiàn)。
圖2為說(shuō)明盤類型判別過(guò)程的流程圖。在步驟31，控制器16檢查是否盤被裝載。如果是，在步驟32，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8執(zhí)行一聚焦操作。在步驟33，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4以旋轉(zhuǎn)盤2。在步驟34，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)執(zhí)行道跟蹤操作以便實(shí)現(xiàn)道跟蹤伺服。在步驟35，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8將光學(xué)拾取器6傳送至盤2的最內(nèi)周以便讀取盤2的TOC(目錄表)區(qū)域。在步驟36，控制器16檢查是否檢測(cè)到一滑塊停止信號(hào)。如果檢測(cè)到滑塊停止信號(hào)，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)停止移動(dòng)光學(xué)拾取器6并且通過(guò)讀取盤2的TOC的區(qū)域來(lái)判別盤的類型。
在現(xiàn)有技術(shù)中，光盤的類型是通過(guò)讀取TOC的區(qū)域來(lái)判別的。然而，由于高密度光盤在旋轉(zhuǎn)速度、各種伺服電路特性和TOC的區(qū)域格式上與普通光盤不同，所以很難準(zhǔn)確判定盤的類型。
本發(fā)明的一個(gè)目的是提供一種通過(guò)在拾取器歸位到盤的內(nèi)周區(qū)以讀取TOC的區(qū)域時(shí)對(duì)道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)來(lái)判別盤類型的裝置和方法。
本發(fā)明實(shí)施的判別光盤類型的裝置包括一主軸電機(jī)，用于根據(jù)設(shè)定的伺服控制來(lái)旋轉(zhuǎn)光盤；一光學(xué)拾取器，用于利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在盤上的數(shù)據(jù)；一伺服信號(hào)處理器，用于根據(jù)設(shè)定的控制信號(hào)來(lái)處理光學(xué)拾取器的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊伺服等信號(hào)并且根據(jù)一數(shù)字信號(hào)處理器的一輸出信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)；該數(shù)字信號(hào)處理器用于將由光學(xué)拾取器拾取的道過(guò)零信號(hào)整形為邏輯波形；一控制器，用于控制數(shù)字信號(hào)處理器的全部操作、儲(chǔ)存光盤類型判別基準(zhǔn)值、當(dāng)盤被裝載時(shí)產(chǎn)生一門脈沖和將道過(guò)零信號(hào)的計(jì)數(shù)值與光盤類型判別基準(zhǔn)值相比較來(lái)判別盤的類型；以及，一計(jì)數(shù)器，用于在勻速度周期中對(duì)經(jīng)數(shù)字信號(hào)處理器波形整形的道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)。
本發(fā)明實(shí)施的判別光盤類型的方法包括下列步驟在勻速度周期中對(duì)道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)，在此過(guò)程中，在光盤被裝載之后光學(xué)拾取器移向盤的最內(nèi)周區(qū)；通過(guò)將被計(jì)數(shù)的道過(guò)零信號(hào)與設(shè)置的盤類型判別基準(zhǔn)值相比較來(lái)判別盤的類型。
以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，其中圖1為一般光盤再現(xiàn)裝置的框圖；圖2為說(shuō)明一常規(guī)盤類型判別控制過(guò)程的流程圖；圖3為本發(fā)明的一實(shí)施例的光盤再現(xiàn)裝置的框圖；圖4為說(shuō)明本發(fā)明的一實(shí)施例的盤類型判別控制過(guò)程的流程圖；圖5A至5I為本發(fā)明的光盤再現(xiàn)裝置的每個(gè)部分的工作波形圖；圖6為本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的光盤再現(xiàn)裝置的框圖；圖7為說(shuō)明本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的盤類型判別控制過(guò)程的流程圖。
參考圖3，主軸電機(jī)4由伺服信號(hào)處理器8的控制來(lái)驅(qū)動(dòng)以轉(zhuǎn)動(dòng)盤2。光學(xué)拾取器6利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在盤2上的數(shù)據(jù)并提供給一RF(射頻)放大器10。伺服信號(hào)處理器8根據(jù)一控制器16的控制和RF放大器10的輸出信號(hào)來(lái)處理光學(xué)拾取器6的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊伺服等信號(hào)，并根據(jù)數(shù)字信號(hào)處理器12的輸出信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4。RF放大器10將由光學(xué)拾取器6拾取的RF信號(hào)放大。數(shù)字信號(hào)處理器12將被RF放大器10放大的RF信號(hào)之一的一道過(guò)零TZC信號(hào)整形為一邏輯波形。
控制器16控制伺服信號(hào)處理器8和數(shù)字信號(hào)處理器12的再現(xiàn)操作以再現(xiàn)記錄在盤2上的數(shù)據(jù)，并儲(chǔ)存用于判別盤類型的設(shè)置基準(zhǔn)值。當(dāng)盤2被裝載時(shí)，控制器16產(chǎn)生一門脈沖并根據(jù)盤類型判別控制信號(hào)來(lái)判別盤的類型。計(jì)數(shù)器18被控制器16產(chǎn)生的該門信號(hào)啟動(dòng)并在一勻速度周期中對(duì)由數(shù)字信號(hào)處理器12波形整形的道過(guò)零TZC信號(hào)計(jì)數(shù)。邏輯比較器20將由計(jì)數(shù)器18產(chǎn)生的計(jì)數(shù)值與儲(chǔ)存在控制器16中的設(shè)置基準(zhǔn)值相比較并產(chǎn)生盤類型判別控制信號(hào)。上升沿檢測(cè)器22檢測(cè)由控制器16產(chǎn)生的門脈沖的上升沿以產(chǎn)生一上升沿檢測(cè)信號(hào)。下降沿檢測(cè)器23檢測(cè)由控制器16產(chǎn)生的門脈沖的一下降沿以產(chǎn)生一下降沿檢測(cè)信號(hào)。觸發(fā)器26被該上升沿檢測(cè)信號(hào)置位并將由邏輯比較器20產(chǎn)生的盤類型判別控制信號(hào)保持為一恒定邏輯狀態(tài)。一鎖存器28根據(jù)由下降沿檢測(cè)器24產(chǎn)生的下降沿檢測(cè)信號(hào)來(lái)鎖存由觸發(fā)器26產(chǎn)生的盤類型判別控制信號(hào)并將其提供給控制器16。
圖4為說(shuō)明一盤類型判別控制過(guò)程的流程圖，圖5A至5I為光盤再現(xiàn)裝置的每個(gè)部分的工作波形圖。
現(xiàn)在將參考圖3、4和5A至5I詳細(xì)描述本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例。
參照?qǐng)D4，在步驟41，控制器16檢查是否盤被裝載。如果是，在步驟42，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8執(zhí)行一聚焦操作。在步驟43，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4以旋轉(zhuǎn)盤2。在步驟44，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)執(zhí)行道跟蹤操作以便實(shí)現(xiàn)道跟蹤伺服。在步驟45，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8將光學(xué)拾取器6傳送至盤2的最內(nèi)周以讀取盤2的TOC的區(qū)域。光學(xué)拾取器6根據(jù)當(dāng)光束點(diǎn)通過(guò)光盤2的軌道和鏡面部分時(shí)由一光電二極管接收的光量來(lái)產(chǎn)生一脈沖串信號(hào)。由于這兩部分在由光電二極管接收的光量上不同，所以，該脈沖串信號(hào)被提供給RF放大器10。RF放大器10將這個(gè)脈沖波形的道過(guò)零TZC信號(hào)放大并把它提供給數(shù)字信號(hào)處理器12。數(shù)字信號(hào)處理器12將該道過(guò)零TZC信號(hào)波形整形以產(chǎn)生如圖5F或5G所示的信號(hào)。
在步驟46，控制器16檢查是否從光學(xué)拾取器6的移動(dòng)起的一設(shè)置時(shí)間Td已到達(dá)。這就是說(shuō)，是否檢測(cè)到一滑塊電機(jī)到達(dá)一勻速度周期。如果該設(shè)置時(shí)間Td已過(guò)去，在步驟47，控制器16在一時(shí)間Tc的勻速度周期中產(chǎn)生圖5B所示的門脈沖并且把該門脈沖提供給計(jì)數(shù)器18。計(jì)數(shù)器18對(duì)由數(shù)字信號(hào)處理器12波形整形的道過(guò)零TZC信號(hào)計(jì)數(shù)。道過(guò)零TZC信號(hào)表示軌道間距之間的一個(gè)周期。如果在勻速周期中一常規(guī)盤的道過(guò)零TZC信號(hào)的計(jì)數(shù)值為n并且一高密度盤的道過(guò)零TZC信號(hào)的計(jì)數(shù)值為m，控制器16存儲(chǔ)該兩個(gè)計(jì)數(shù)值的一平均值m+n/2的一邏輯值?？刂破?6將該平均值作為基準(zhǔn)值提供給邏輯比較器20。邏輯比較器20將道過(guò)零TZC信號(hào)的計(jì)數(shù)值與該基準(zhǔn)值相比較。如果道過(guò)零信號(hào)TZC的計(jì)數(shù)值超過(guò)基準(zhǔn)值，則邏輯比較器20產(chǎn)生邏輯“高”的盤類型判別控制信號(hào)，而若沒有超過(guò)，則邏輯比較器20產(chǎn)生邏輯“低”的盤類型判別控制信號(hào)。
上升沿檢測(cè)器22接收?qǐng)D5B所示的門脈沖來(lái)檢測(cè)上升沿和將圖5C所示的上升沿檢測(cè)信號(hào)提供給觸發(fā)器26的一復(fù)位端。下降沿檢測(cè)器24接收?qǐng)D5B所示的門脈沖來(lái)檢測(cè)下降沿和將圖5D所示的下降沿檢測(cè)信號(hào)提供給鎖存器28的一時(shí)鐘端。觸發(fā)器26通過(guò)其時(shí)鐘端接收由邏輯比較器20產(chǎn)生的盤類型判別控制信號(hào)的邏輯值，并保持該接收的邏輯狀態(tài)值。當(dāng)下降沿檢測(cè)信號(hào)由下降沿檢測(cè)器24產(chǎn)生時(shí)，鎖存器28鎖存由觸發(fā)器26產(chǎn)生的盤類型判別控制信號(hào)并把它提供給控制器16。在步驟48，控制器16檢查是否勻速度周期完成。如果是，在步驟49，控制器16檢查是否鎖存器28的輸出邏輯值為邏輯“高”。如果鎖存器28的輸出邏輯值為邏輯“高”，則盤被判定為高密度盤，而若不是，盤被判定為常規(guī)盤。
圖6示出了光盤再現(xiàn)裝置的另一個(gè)例子。主軸電機(jī)4由伺服信號(hào)處理器8的控制來(lái)驅(qū)動(dòng)以轉(zhuǎn)動(dòng)盤2。光學(xué)拾取器6利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在盤2上的數(shù)據(jù)并提供給一RF(射頻)放大器10。伺服信號(hào)處理器8根據(jù)控制器16的控制和RF放大器10的輸出信號(hào)來(lái)處理光學(xué)拾取器6的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊伺服等信號(hào)，并根據(jù)數(shù)字信號(hào)處理器12的輸出信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4。RF放大器10將由光學(xué)拾取器6拾取的一RF信號(hào)放大。數(shù)字信號(hào)處理器12將被RF放大器10放大的RF信號(hào)之一的一道過(guò)零TZC信號(hào)整形為一邏輯波形?？刂破?6控制伺服信號(hào)處理器8和數(shù)字信號(hào)處理器12的再現(xiàn)操作以再現(xiàn)記錄在盤2上的數(shù)據(jù)，并儲(chǔ)存用于判別盤類型的設(shè)置基準(zhǔn)值。當(dāng)盤2被裝載時(shí)，控制器16產(chǎn)生一門脈沖并根據(jù)盤類型判別控制信號(hào)來(lái)判別盤的類型。計(jì)數(shù)器18被控制器16產(chǎn)生的該門脈沖啟動(dòng)并在一勻速度周期中對(duì)由數(shù)字信號(hào)處理器波形整形的道過(guò)零TZC信號(hào)計(jì)數(shù)。
圖7示出了另一個(gè)盤類型判別控制過(guò)程。在步驟61，控制器16檢查是否盤被裝載。如果是，在步驟62，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8執(zhí)行一聚焦操作。在步驟63，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)4以旋轉(zhuǎn)盤2。在步驟64，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8來(lái)執(zhí)行道跟蹤操作以實(shí)現(xiàn)道跟蹤伺服。在步驟65，控制器16通過(guò)控制伺服信號(hào)處理器8將光學(xué)拾取器6傳送至盤2的最內(nèi)周以便讀取盤2的TOC的區(qū)域。光學(xué)拾取器6根據(jù)當(dāng)光束點(diǎn)通過(guò)光盤2的軌道和鏡面部分時(shí)由一光電二極管接收的光量來(lái)產(chǎn)生一脈沖串信號(hào)。由于這兩部分在由光電二極管接收的光量上不同，所以，該脈沖串信號(hào)被提供給RF放大器10。RF放大器10將這個(gè)脈沖波形的道過(guò)零TZC信號(hào)放大并把它提供給數(shù)字信號(hào)處理器12。數(shù)字信號(hào)處理器12將該道過(guò)零TZC信號(hào)波形整形以產(chǎn)生圖5F或5G所示的信號(hào)。
在步驟66，控制器16檢查是否從光學(xué)拾取器6的移動(dòng)起的一設(shè)置時(shí)間Td已到達(dá)。這就是說(shuō)，是否檢測(cè)到滑塊電機(jī)到達(dá)一勻速度周期。如果該設(shè)置時(shí)間Td已過(guò)去，在步驟67，控制器16在一時(shí)間Tc的勻速度周期中產(chǎn)生圖5B所示的門脈沖并且把該門脈沖提供給計(jì)數(shù)器18。計(jì)數(shù)器18對(duì)由數(shù)字信號(hào)處理器12波形整形的道過(guò)零TZC信號(hào)計(jì)數(shù)。如果在勻速度周期中一常規(guī)盤的道過(guò)零TZC信號(hào)的計(jì)數(shù)值為n并且一高密度盤的道過(guò)零TZC信號(hào)的計(jì)數(shù)值為m，則控制器16存儲(chǔ)該兩個(gè)計(jì)數(shù)值的一平均值m+n/2的一邏輯值。在步驟69，控制器16檢查是否勻速度周期已結(jié)束。如果是，在步驟70，控制器16將道過(guò)零信號(hào)的計(jì)數(shù)值與該基準(zhǔn)值相比較。如果它超過(guò)基準(zhǔn)值，則該盤被判定為一高密度盤，若沒有超過(guò)，則該盤被判定為一常規(guī)盤。
如上所述，當(dāng)拾取器歸位于盤的內(nèi)周區(qū)以讀取TOC時(shí)，道過(guò)零信號(hào)被計(jì)數(shù)以判別該盤的類型。因此，光盤的類型能容易地被判定。
所以，應(yīng)明白本發(fā)明并不局限于這里所公開的意在作為實(shí)施本發(fā)明的最佳模式的特定實(shí)施例，但更確切地說(shuō)，除了所附權(quán)利要求所規(guī)定的以外，本發(fā)明不局限于本說(shuō)明書中描述的具體實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種用于判別光盤類型的裝置，包括一主軸電機(jī)，用于旋轉(zhuǎn)所述光盤，所述主軸電機(jī)由設(shè)定的伺服控制驅(qū)動(dòng)；一光學(xué)拾取器，用于利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在所述盤上的數(shù)據(jù)；一伺服信號(hào)處理器，用于根據(jù)一設(shè)定的控制信號(hào)來(lái)處理所述光學(xué)拾取器的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊伺服等信號(hào)，并且根據(jù)一數(shù)字信號(hào)處理器的一輸出信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)所述主軸電機(jī)；所述數(shù)字信號(hào)處理器，用于將由所述光學(xué)拾取器拾取的道過(guò)零信號(hào)整形為邏輯波形；控制裝置，用于控制所述數(shù)字信號(hào)處理器的全部操作、儲(chǔ)存一光盤類型判別基準(zhǔn)值、當(dāng)所述盤被裝載時(shí)產(chǎn)生一門脈沖和將所述道過(guò)零信號(hào)的計(jì)數(shù)值與所述光盤類型判別基準(zhǔn)值相比較來(lái)判別所述盤的類型；以及計(jì)數(shù)裝置，用于在一勻速度周期中對(duì)由所述數(shù)字信號(hào)處理器波形整形的所述道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)，所述計(jì)數(shù)裝置被由所述控制裝置產(chǎn)生的所述門脈沖啟動(dòng)。
2.如權(quán)利要求1所述的用于判別光盤類型的裝置，其中所述光盤被判別為高密度盤和常規(guī)盤。
3.如權(quán)利要求2所述的用于判別光盤類型的裝置，其中所述光盤類型判別基準(zhǔn)值由在所述勻速度周期中的所述常規(guī)盤和所述高密度盤的道過(guò)零計(jì)數(shù)值的平均值設(shè)定。
4.一種用于判別光盤類型的裝置，包括一主軸電機(jī)，用于旋轉(zhuǎn)所述光盤，所述主軸電機(jī)由一伺服信號(hào)處理器的控制驅(qū)動(dòng)；一光學(xué)拾取器，用于利用一光學(xué)系統(tǒng)拾取記錄在所述盤上的數(shù)據(jù)；一射頻(RF)放大裝置，用于放大由所述光學(xué)拾取器拾取的RF信號(hào)；所述伺服信號(hào)處理器，用于根據(jù)一設(shè)定的控制信號(hào)和所述RF放大裝置的一輸出信號(hào)來(lái)處理所述光學(xué)拾取器的道跟蹤伺服、聚焦伺服、滑塊伺服等等信號(hào)，并且根據(jù)一數(shù)字信號(hào)處理器的輸出信號(hào)來(lái)驅(qū)動(dòng)所述主軸電機(jī)；所述數(shù)字信號(hào)處理器，用于將由所述RF放大裝置放大的所述RF信號(hào)之一的一道過(guò)零信號(hào)整形為一邏輯波形；控制裝置，用于控制所述數(shù)字信號(hào)處理器的全部操作、儲(chǔ)存一盤類型判別基準(zhǔn)值、當(dāng)所述盤被裝載時(shí)產(chǎn)生一門脈沖和根據(jù)一盤類型判別控制信號(hào)來(lái)判別所述盤的類型；計(jì)數(shù)裝置，用于在一勻速度周期中對(duì)由所述數(shù)字信號(hào)處理器波形整形的所述道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)，所述計(jì)數(shù)裝置被由所述控制裝置產(chǎn)生的所述門脈沖啟動(dòng)。盤類型判別控制信號(hào)產(chǎn)生裝置，用于通過(guò)將所述計(jì)數(shù)裝置產(chǎn)生的一計(jì)數(shù)值與儲(chǔ)存在所述控制裝置中的所述盤類型判別基準(zhǔn)值相比較以產(chǎn)生所述盤類型判別控制信號(hào)。
5.如權(quán)利要求4所述的用于判別光盤類型的裝置，其中所述盤類型判別控制信號(hào)產(chǎn)生裝置包括上升沿檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)由所述控制裝置產(chǎn)生的所述門脈沖的一上升沿以產(chǎn)生一上升沿檢測(cè)信號(hào)；下降沿檢測(cè)裝置，用于檢測(cè)由所述控制裝置產(chǎn)生的所述門脈沖的一下降沿以產(chǎn)生一下降沿檢測(cè)信號(hào)；一觸發(fā)器，用于將由所述計(jì)數(shù)裝置產(chǎn)生的所述盤類型判別控制信號(hào)保持為一恒定邏輯狀態(tài)直到所述下降沿檢測(cè)信號(hào)產(chǎn)生為止，所述觸發(fā)器被所述上升沿檢測(cè)信號(hào)置位；以及鎖存裝置，用于根據(jù)由所述下降沿檢測(cè)裝置產(chǎn)生的所述下降沿檢測(cè)信號(hào)來(lái)鎖存由所述觸發(fā)器產(chǎn)生的所述盤類型判別控制信號(hào)，并將該盤類型判別控制信號(hào)提供給所述控制裝置。
6.一種用于判別光盤類型的方法，包括下列步驟在一勻速度周期中對(duì)一道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)，在此過(guò)程中，在所述盤被裝載之后光學(xué)拾取器移向所述盤的最內(nèi)周區(qū)；以及通過(guò)將被計(jì)數(shù)的道過(guò)零信號(hào)與一設(shè)置的盤類型判別基準(zhǔn)值相比較來(lái)判別所述盤的類型。
7.如權(quán)利要求6所述的用于判別光盤類型的方法，其中所述光盤被判別為高密度盤和常規(guī)盤。
8.如權(quán)利要求7所述的用于判別光盤類型的方法，其中所述盤類型判別基準(zhǔn)值由在所述勻速度周期中的所述常規(guī)盤和所述高密度盤的道計(jì)數(shù)值的平均值設(shè)定。
全文摘要
一種判別光盤類型的裝置和方法，包括主軸電機(jī)；拾取器；處理拾取器的道跟蹤、聚焦和滑塊伺服等信號(hào)并驅(qū)動(dòng)主軸電機(jī)的伺服信號(hào)處理器；將拾取器拾取的道過(guò)零信號(hào)整形的數(shù)字信號(hào)處理器；控制數(shù)字信號(hào)處理器并儲(chǔ)存光盤類型判別基準(zhǔn)值、當(dāng)盤被裝載時(shí)產(chǎn)生門脈沖和將道過(guò)零信號(hào)的計(jì)數(shù)值與基準(zhǔn)值相比較來(lái)判別盤類型的控制器；以及，對(duì)在勻速度周期中的道過(guò)零信號(hào)計(jì)數(shù)的計(jì)數(shù)器。
文檔編號(hào)G11B7/004GK1151075SQ9611190
公開日1997年6月4日 申請(qǐng)日期1996年8月21日 優(yōu)先權(quán)日1995年9月30日
發(fā)明者黃龍夏 申請(qǐng)人:三星電子株式會(huì)社