專利名稱：重放記錄在盤形記錄價(jià)質(zhì)上的信息信號(hào)的盤裝置及重放的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通過向光盤發(fā)射光束從光盤重放信息信號(hào)的方法和裝置。更具體地說，涉及的方法和裝置對(duì)由于光盤的傾斜而使重放的信號(hào)的質(zhì)量下降采取了補(bǔ)償。
光盤是具有極為廣泛應(yīng)用領(lǐng)域的記錄介質(zhì)，例如用作信息信號(hào)的裝載媒體。在光盤上記錄有用S預(yù)置調(diào)制系統(tǒng)，例如8-14調(diào)制(EFM)調(diào)制的數(shù)據(jù)串。


圖1示出了只放光盤61的一部分。
在只放光盤61上，記錄的數(shù)據(jù)串以凹痕64的形式沿著螺旋的信息軌跡62延伸。為了重放作為信息信號(hào)記錄在光盤61上的數(shù)據(jù)串，從光源，最好是激光二極管(半導(dǎo)體激光器)，發(fā)射光束，檢測(cè)從光盤反射光的強(qiáng)度變化。具體地說，當(dāng)光束射在信息軌跡62上，大量的光由沒有凹痕的鏡面部分63所反射。而凹痕部分64所反射的光僅是很小的一部分。在光盤重放裝置中，諸如小型光盤重放機(jī)或視盤重放機(jī)，采用光量度上的變化的優(yōu)點(diǎn)來重放信息信號(hào)。
光盤重放裝置包括由激光二極管作為光源的光拾取器，用于檢測(cè)反射光的數(shù)量的光測(cè)器，和由準(zhǔn)直透鏡、物鏡和分束器所構(gòu)成的光學(xué)系統(tǒng)。該系統(tǒng)用以收集在光盤61上的信息軌跡62上的發(fā)自激光二極管的光束，并且確是從光盤61到光測(cè)器的反射光?？梢杂每臻g頻率的術(shù)語定義光拾取器的頻率特性。一般用公知的調(diào)制變換函數(shù)(MTF)表示頻率特性。MTF的光的截止頻率fc首先由下面的方程表示fc＝2NA/λ(1)這里的λ表示光源的光的波長，NA表示用于光抬取器中的物鏡的數(shù)字光圈。
如果凹痕64和鏡面63以不少于方程1所示的截止頻率fc頻率交替地記錄，就完全不可能讀出這些信息信號(hào)。
另外，MTF增益特性直到截止頻率fc都不是平坦的，而是單調(diào)地下降。這就導(dǎo)致了有限帶寬重放波形。
由于光盤是記錄介質(zhì)，如果更多的信息信號(hào)能記錄在相同尺寸的盤上，這將是很方便的。然而，由于MTF在空間頻率上產(chǎn)生的限制能夠光學(xué)地讀出，于是在相同系統(tǒng)中增加記錄密度是不易的。
為了實(shí)現(xiàn)更高的記錄密度，要么增加光拾取器的光學(xué)透鏡的數(shù)字光圈NA，要么減小光源的光的波長λ。鑒于必須使激光器單元保持較小的尺寸，所以減小光源的光的波長在技術(shù)上是極為困難的。因此，為了增加光盤的記錄密度而加大物鏡的數(shù)字光圈的技術(shù)正在調(diào)研之中。
從MTF的截止特性來判斷，可以觀察到，物鏡的數(shù)字光圈NA越大，光束的光束點(diǎn)就變得更小，從而可以導(dǎo)致改進(jìn)分解度和較高的記錄密度。然而，雖然通過增加數(shù)字光圈NA可以實(shí)現(xiàn)更高的記錄密度，但是裝置的工作穩(wěn)定性卻惡化了。最不方便的在于因數(shù)字光圈NA的增大而使光盤傾斜的容差急劇地下降。當(dāng)在制造過程中盤可能被扭曲變形，光盤表面不可能加工成為滿意的幾何的平面。另一方面，光盤當(dāng)安放在光盤重放裝置時(shí)，不能置于理想的水平位置。因此，盤的傾斜不可能完全地消除，因此，數(shù)字光圈不可能無限制增加。
更具體地說，如果光盤相對(duì)物鏡的光軸傾斜，產(chǎn)生的彗形象差近似地與數(shù)字光圈NA的3次冪成比例，以及與傾斜θ的數(shù)量的1次冪成比例。如果用“Seitel”象差系統(tǒng)公式表示，彗形象差近似地為t·(n2-1)/2n3·NA3(2)這時(shí)傾斜數(shù)量θ是足夠地小。
在上面公式中，t表示光盤基片的厚度，n表示光盤基片的折射系數(shù)。例如在使用該數(shù)字光圈為0.6的物鏡時(shí)，該數(shù)字光圈0.6是例如小型光盤播放機(jī)的光拾取器的物鏡的數(shù)字光圈0.45的1.33倍，盡管與小型光盤的傾斜數(shù)量處在相同的數(shù)量級(jí)，彗形象差是小型光盤的2.37倍。由于反射表面的傾斜，這是波前扭曲畸變，在光盤上形成的光點(diǎn)變得不對(duì)稱，以致提取足夠的信號(hào)變得很困難。
因此已注意到要檢測(cè)扭斜并且根據(jù)檢測(cè)到的信號(hào)由扭斜校正裝置進(jìn)行扭斜校正。
首先，參照?qǐng)D2解釋用于檢測(cè)傾斜的扭斜傳感器。
扭斜傳感器是由光發(fā)射二極管(LED)71，二分裂塊測(cè)光器72和透鏡73構(gòu)成。透鏡73與LED71和二分裂塊測(cè)光器72樹脂模鑄成為一體。從LED71發(fā)射的光束在光盤61上反射，因此在二分裂塊測(cè)光器72上形成光點(diǎn)74。
如果光盤61傾斜，光點(diǎn)74在二分裂塊測(cè)光器72上移動(dòng)，這種移動(dòng)是按圖2中箭頭LR所表示的分離段方向進(jìn)行的，由加法結(jié)點(diǎn)75輸出二分裂塊測(cè)光器72的差分輸出。該差分輸出作為扭斜誤差信號(hào)提供給扭斜校正裝置。
在圖2中所示的扭斜傳感器的輸出信號(hào)示于圖3中。圖2中的扭斜傳感器利用了圖3所示的輸出信號(hào)波形的線性區(qū)域。
扭斜校正裝置利用以上傾斜傳感器的輸出信號(hào)適應(yīng)控制光盤的扭斜，象這樣的扭斜校正裝置，使用兩個(gè)校正板的裝置是已知的。
為了使光盤重放裝置強(qiáng)有力的克服高達(dá)一定數(shù)值的扭斜，扭斜校正裝置使用由扭斜傳感器輸出的扭斜誤差信號(hào)驅(qū)動(dòng)兩個(gè)校正板到一種最佳狀態(tài)。這就是用光盤重放裝置加大物鏡的數(shù)字光圈NA在一定程度上是可能的。
同時(shí)，如前所述，為了使用光盤重放裝置重放光盤，扭斜傳感器用以產(chǎn)生光盤傾斜程度的信息。然而，扭斜傳感器的精度不高，當(dāng)扭斜傳感器偏移可以產(chǎn)生誤差以及溫度的變化也能產(chǎn)生誤差。除非扭斜傳感器在安裝精度上有顯著的改進(jìn)，由于來自光源光的光軸和扭斜傳感器LED的光軸僅在偶然重合，因此就有產(chǎn)生測(cè)量誤差的趨勢(shì)。由于這些因素，用該扭斜傳感器，很可能獲得傾斜的校正程度。
為了得到用光點(diǎn)照射的光盤部分的傾斜，扭斜傳感器需要安裝在相對(duì)光拾取器光盤的對(duì)面。然而在這種情況下，與減小裝置的尺寸和重量相反，光盤重放裝置在大小上增加了。
另外，用光盤重放裝置重放信息信號(hào)而引入光盤托架，包括在主托架體上裝有一個(gè)光盤，或者光盤重放裝置目的在于減小尺寸，扭斜傳感器必須放置在相對(duì)光拾取器的光盤的相同的一側(cè)。在這種情況下，獲得由光束點(diǎn)照射光盤部分的附近的表面的傾斜是可能的，而不可能獲得光盤部分本身的傾斜。因此，在光盤自身表面，有任何變形用光束點(diǎn)照射的光盤部分和由扭斜傳感器測(cè)量的光盤部分變?yōu)椴煌膬A斜，以致可能發(fā)生校正傾斜大小不能被識(shí)別。
鑒于前面所述，本發(fā)明的目的在于提供重放光盤的方法和裝置，由此可以準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)光盤的傾斜，并且可以高精確度地光盤的傾斜量給以校正。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種尺寸和數(shù)量減小的光盤重放的裝置。
一方面，本發(fā)明提供了一種對(duì)記錄在盤形記錄介質(zhì)上的信息信號(hào)進(jìn)行重放的盤裝置，該盤裝置包括從盤形記錄介質(zhì)上讀出信息信號(hào)的信息讀出裝置；通過計(jì)算從盤形記錄介質(zhì)讀出的信息信號(hào)和偏移信息信號(hào)以一個(gè)預(yù)定時(shí)間而得到的信號(hào)之間的相關(guān)性來計(jì)算出盤形記錄介質(zhì)的扭斜的數(shù)量的計(jì)算裝置；和根據(jù)扭斜計(jì)算裝置獲得的扭斜量校正盤形記錄介質(zhì)的扭斜的校正裝置。
扭斜計(jì)算裝置包含第1延時(shí)裝置，用于延時(shí)信息信號(hào)一預(yù)定的時(shí)間；第2延時(shí)裝置，進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出以一個(gè)預(yù)定時(shí)間；用于轉(zhuǎn)變第1延時(shí)裝置的輸出成為雙電平信號(hào)和輸出該雙電平信號(hào)的裝置；第1相關(guān)計(jì)算裝置，用于計(jì)算信息信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性；第2相關(guān)計(jì)算裝置，用于計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性；和差分裝置，用于計(jì)算由第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與由第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差。
另一方面，本發(fā)明提供重放記錄在盤形記錄介質(zhì)上的信息信號(hào)的方法包括第1步從盤形記錄介質(zhì)上讀出信息信號(hào)；通過計(jì)算從盤形記錄介質(zhì)讀出的信息信號(hào)與偏移該信息信號(hào)預(yù)定時(shí)間得到的信號(hào)之間的相關(guān)性來計(jì)算盤形記錄介質(zhì)的扭斜量的第1延時(shí)步驟；第3步驟是根據(jù)扭斜計(jì)算裝置得到的扭斜量校正盤形記錄介質(zhì)的扭斜。
前面的第2步驟可以包括第1延時(shí)步驟，用于延時(shí)信息信號(hào)預(yù)定的時(shí)間；第2延時(shí)步驟，用于進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出以預(yù)定的時(shí)間；雙電平步驟，用于轉(zhuǎn)變第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)和輸出該雙電平信號(hào)；第1相關(guān)計(jì)算步驟，用于計(jì)算信息信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性；第2相關(guān)計(jì)算步驟，用于計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性；和差分計(jì)算步驟，用于計(jì)算由第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值之間的差。
圖1示出了光盤的結(jié)構(gòu)。
圖2示出了扭斜傳感器的布置圖。
圖3示出了扭斜傳感器的輸出信號(hào)和光盤的傾斜間的關(guān)系曲線。
圖4是本發(fā)明的光盤重放裝置的方框圖。
圖5是圖4所示實(shí)施例中的光拾取器中的扭斜校正布置示意圖。
圖6是圖4所示實(shí)施例中的光拾取器中的扭斜量計(jì)算電路的方框圖。
圖7至圖7D是雙電平電路的工作過程圖。
圖8是當(dāng)光盤扭斜時(shí)重放RF信號(hào)的波形圖。
圖9是光盤不扭斜時(shí)重放RF信號(hào)的波形圖。
圖10是根據(jù)本發(fā)明的光盤重放方法和裝置的另一實(shí)施例的方案的方框圖。
圖11是圖10所示實(shí)施例的波形均衡器38的方案的方框圖。
圖12是根據(jù)本發(fā)明的光盤重放方法和裝置的另一個(gè)實(shí)施例的方案的方框圖。
圖13是記錄在光盤上的信號(hào)的幀結(jié)構(gòu)圖。
圖14是圖13所示的光盤幀結(jié)構(gòu)的參考凹痕圖形圖。
圖15是圖13所示光盤幀結(jié)構(gòu)的另一個(gè)參考凹痕圖形圖。
參照附圖結(jié)合本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例進(jìn)行詳盡的解釋。本發(fā)明的實(shí)施例涉及重放有記錄在光盤上的數(shù)據(jù)串的光盤的光盤裝置，所說的數(shù)據(jù)串包括用預(yù)置的調(diào)制系統(tǒng)，如EFM，調(diào)制的數(shù)字音頻信號(hào)或數(shù)字視頻信號(hào)。光盤1可以是以凹痕形式記錄的數(shù)據(jù)串的任何一種只重放(replay-only)光盤，在其上有記錄以有或沒有反射層或以反射率變形或變化的形式記錄的數(shù)據(jù)串的一次寫入(write-once)光盤，有通過磁化轉(zhuǎn)換在其上記錄數(shù)據(jù)串的重寫光盤，或者相位轉(zhuǎn)變光盤。雖然只重放光盤作為一種光盤來說明，在上面敘述過的其他光盤也可以使用。
通過光拾取器2讀出記錄在光盤1上的信息。光拾取器工具有諸如半導(dǎo)體激光器作為光源的激光二極管，用于檢測(cè)反射的激光量的檢測(cè)器，和用于在光盤1上的信息軌跡上傳導(dǎo)來自激光二極管的激光束和傳導(dǎo)來自光盤1的反射的激光到光檢測(cè)器，由準(zhǔn)直透鏡，物鏡和分束器構(gòu)成的光學(xué)系統(tǒng)。光拾取器2有用于校正光盤1扭斜的扭斜校正裝置。
光拾取器2的輸出饋送給波形均衡器3以及扭斜量計(jì)算電路4，以便檢測(cè)光盤1的扭斜量。波形均衡器3的輸出饋送給調(diào)電路。通過極性反轉(zhuǎn)電路5將扭斜量計(jì)算電路4的輸出極性反轉(zhuǎn)，然后由此饋送給積分電路6，電路6的輸出饋送給控制電路7，以控制光盤扭斜校正裝置?？刂乒獗P扭斜校正裝置的電路7驅(qū)動(dòng)在光拾取器2中提供的扭斜校正裝置8，這種驅(qū)動(dòng)在光盤1的軌跡的正切方向上在數(shù)量上正比于在校正扭斜的方向上的輸入信號(hào)電平。光盤扭斜校正裝置8可以是彗形象差校正旋轉(zhuǎn)板、彗形象差校正操作板或電光裝置。參照?qǐng)D5使用了一對(duì)校正板的圖示的光盤扭斜校正裝置8的結(jié)構(gòu)將結(jié)合圖5予以描述。
扭斜校正裝置8的結(jié)構(gòu)包含一對(duì)校正板21a，21b，位置傳感器(未示出)，它用于位置控制校正板21a和21b，和電光驅(qū)動(dòng)裝置22。
用(未示出的)分束器和準(zhǔn)直儀透鏡24將作為光拾取器的光源從激光二極管23發(fā)射的激光束準(zhǔn)直，從而通過物鏡將其會(huì)聚。這樣會(huì)聚的激光由光盤1反射回來，從而再入射到物鏡25上。通過未示出的光檢測(cè)器得到的重放RF信號(hào)被送給波形均衡器3和扭斜量計(jì)算電路4。由扭斜量計(jì)算電路4得到的扭斜量通過極性反轉(zhuǎn)電路5和積分電路提供給光盤扭斜校正裝置的控制電路7。光盤扭斜校正裝置的控制電路7控制光盤扭斜校正裝置8，以便在正比于輸入信號(hào)電平總數(shù)的光盤上的軌跡的正切方向上校正扭斜，這如前所述。
校正板22a，22b是非球形的，也就是分別地朝上和朝下凸起和凹下。
通過電光驅(qū)動(dòng)裝置22在與光軸垂直的平面內(nèi)的光軸上校正板21a，21b相互對(duì)稱地被激勵(lì)。通過校正板21a，21b對(duì)稱地運(yùn)動(dòng)，類似光盤1的盤扭斜產(chǎn)生彗形象差可能在物鏡25的光孔面上產(chǎn)生。
可以假定，對(duì)于本實(shí)施例由正極性信號(hào)饋送和激勵(lì)光盤扭斜校正裝置8，正極性信號(hào)是從扭斜量計(jì)算電路4輸出的。
至于校正板21a、21b，保證校正板21b和僅激勵(lì)校正板21a是可能的，因此校正板21a和21b間的相對(duì)位移的距離是一個(gè)預(yù)定的距離。
該系統(tǒng)包括扭斜量計(jì)算電路4、極性反轉(zhuǎn)電路5、積分電路6、光盤扭斜校正裝置的控制電路7和構(gòu)成一階次負(fù)反饋通道積分的光盤扭斜校正裝置8，這也就是說由光盤扭斜裝置8和扭斜量計(jì)算電路4使用來自由光拾取器2用光點(diǎn)重放的信號(hào)的計(jì)算結(jié)果校正光盤1上的光點(diǎn)扭斜之后得到的扭斜是表示由光盤扭斜校正裝置8完成的校正的殘余。作為殘余的反向信號(hào)可以在抵消殘余的方向上激勵(lì)光盤扭斜校正裝置8。另外，來自極性反向電路5的反向殘余信號(hào)由積分電路6積分以消除扭斜量計(jì)算電路4的輸出中的噪聲成分或者消除執(zhí)行穩(wěn)定扭斜校正中的高頻范圍內(nèi)的扭斜波動(dòng)起伏。這就是由于包含積分電路的一階次負(fù)反饋電路等效于一階次高通濾波器。由于噪聲成分是較高的頻率，這些成份可以由高通濾波器除去。
由光拾取器2從光盤1讀出的重放RF信息信號(hào)提供給極性轉(zhuǎn)換電路11和延時(shí)電路12。延時(shí)電路延時(shí)重放RF信號(hào)時(shí)間τ，并提供該延時(shí)信號(hào)給雙電平電路15和延時(shí)電路13。該延時(shí)電路13進(jìn)一步延時(shí)來自延時(shí)電路12的RF信號(hào)時(shí)間τ，并提供該進(jìn)一步的延時(shí)信號(hào)給另一個(gè)極性轉(zhuǎn)換電路14。該雙電平電路15轉(zhuǎn)換來自延時(shí)電路12的RF信號(hào)成為對(duì)應(yīng)的雙電平信號(hào)。雙電平重放RF信號(hào)作為控制信號(hào)饋送給極性變換電路11和14作為控制信號(hào)。當(dāng)完成雙電平轉(zhuǎn)換，必須設(shè)定閾值，以致僅有主光點(diǎn)超過該閾值。
極性轉(zhuǎn)換電路11選擇輸出的重放RF信號(hào)是以非反向方式還是反向方式取決于從雙電平電路15接收的控制信號(hào)。例如，如果從雙電平電路15接收的信號(hào)是“1”或“0”，則重放視頻(RF)信號(hào)分別以非反相或者反相的形式輸出。
假定，從延時(shí)電路12輸出的RF重放信號(hào)是X(t)，而且表示雙電平轉(zhuǎn)換的函數(shù)是f(x)，這里的函數(shù)f(x)對(duì)于x≥0和x<0，分別定義為f(x)-1和f(x)＝-1極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出為x(t－τ)·f[x(t)］ (3)作為前面處理的結(jié)果，極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出提供給低通濾波器(LPF)16。
LPF16接收極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出信號(hào)，并且僅提取該信號(hào)的低頻范圍的分量，并傳輸該提取的信號(hào)給差分電路18。由于這種處理，極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出信號(hào)變成經(jīng)過一段時(shí)間間隔的平均值。因此，計(jì)算出方程(3)的x(t－τ)信號(hào)和信號(hào)f[x(t)］間的相關(guān)性。因此，極性轉(zhuǎn)換電路11和LPF16表示了用于計(jì)算由光拾取器2讀出的重放RF信號(hào)和由延時(shí)電路12延時(shí)了時(shí)間τ的重放RF信號(hào)轉(zhuǎn)換的雙電平信號(hào)間的相關(guān)的裝置。這時(shí)，可以通過公式找到相關(guān)G(τ)的公式G(τ)=∫-∞∞f(t)·g(τ-t)dt]]>LPF需要用設(shè)定的截止頻率去設(shè)計(jì)，以便覆蓋相關(guān)性存在的這段時(shí)間。
極性變換電路14選擇由延時(shí)電路13接收的重放RF信號(hào)是以非反相方式輸出的還是以反相方式輸出的取決于由雙電平電路15接收的控制信號(hào)。例如，由雙電平電路15接收的信號(hào)是“1”或“0”重放RF信號(hào)輸出分別是以非反相形式或以反相形式輸出。
假定來自延時(shí)電路12的輸出的重放RF信號(hào)是x(t)以及表示雙電平轉(zhuǎn)換的函數(shù)是f(x)，對(duì)于x≥0和x＜0，函數(shù)f(x)分別為f(x)-1和f(x)＝-1，極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出變?yōu)閤(t＋τ)·f[x(t)］(4)作為前面處理的結(jié)果。極性變換電路14的輸出提供給低通濾波器LPF17。
低通濾波器17接收極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出信號(hào)，并僅提取信號(hào)的低頻分量和傳輸該提取的信號(hào)給差分電路18。這樣的處理，極性轉(zhuǎn)換電路11的輸出信號(hào)是經(jīng)過一段時(shí)間間隔的平均值。因此，計(jì)算出信號(hào)x(t)與方程(4)的信號(hào)x(t＋τ)間的相關(guān)性。因此，極性變換電路14和LPF17表示為計(jì)算由延時(shí)電路12延時(shí)時(shí)間τ的重放信號(hào)轉(zhuǎn)換成雙電平信號(hào)和由延時(shí)電路13進(jìn)一步延時(shí)時(shí)間τ的重放RF信號(hào)間的相關(guān)性的裝置。
差分電路18接收來自LPF16和LPF17的平均信號(hào)，并且計(jì)算輸出給低通濾波器LPF19的差值。LPF19接收差分電路18的輸出信號(hào)，并且僅提取該信號(hào)的低頻分量。該分量提供給圖4中的反相電路5。
要求這樣雙電平的原因現(xiàn)在要仔細(xì)研究。
如果雙電平轉(zhuǎn)換沒有實(shí)現(xiàn)，可以出現(xiàn)這種情況的原因首先要考慮。
如果沒有完成雙電平轉(zhuǎn)換，對(duì)應(yīng)圖6的方案的電路的輸出變?yōu)槿缦?amp;Integral;-∞∞f(t)·f(τ-t)dt-∫-∞∞f(t)·f(-τ-t)dt]]>如果設(shè)定∫-∞∞f(t)·f(τ-t)=F(τ)]]>上述公式變?yōu)镕(τ)－F(-τ)。這是一種判定，在這里自相關(guān)函數(shù)是偶函數(shù)。因此，F(xiàn)(τ)＝F(- τ)，以致該電路輸出總是為零。
現(xiàn)在解釋F(τ)變?yōu)榕己瘮?shù)的原因。自相關(guān)函數(shù)表示在圖7A中延遲時(shí)間τ的峰b受到另一個(gè)峰a影響的程度。
另一方面，假定經(jīng)過了時(shí)間τ，如圖7B所示，自相關(guān)表示超前時(shí)間τ的峰a′受到峰b′影響的程度。由于計(jì)算公式由兩個(gè)峰的積表示，這種“影響程度”是相等的值，以致函數(shù)變?yōu)榕己瘮?shù)。
如果完成雙電平轉(zhuǎn)換，相關(guān)函數(shù)表示在圖7c中峰d滯后時(shí)間τ受到峰c的影響程度。還表示峰c′超前時(shí)間τ受到峰d′的影響程度。由于由雙電平轉(zhuǎn)換峰d′是“0”，圖7D的相關(guān)值是“0”。
這就是通過雙電平轉(zhuǎn)換可以看到目標(biāo)峰(旁瓣)d受峰(主光點(diǎn))c影響的程度。這以上表明了雙電平轉(zhuǎn)換的完成。乘法電路變?yōu)槎嘤嗟牧耍矣布诮Y(jié)構(gòu)上變得更簡單了。
結(jié)合圖8解釋光盤扭斜的狀態(tài)。
如果在光盤1存在傾斜或扭斜，在重放波形中，離主光點(diǎn)的中心位置31一個(gè)預(yù)先固定的距離的位置32上，如圖8所示由對(duì)應(yīng)扭斜量的大小的光點(diǎn)的旁瓣產(chǎn)生相應(yīng)波形。如圖8所示的狀況，在信息軌跡上先于主光點(diǎn)的位置32上由旁瓣產(chǎn)生響應(yīng)波形。如果光盤1的傾斜方向與由圖8中所示狀況反相，在信息軌跡上的主光點(diǎn)向后的位置33上由光點(diǎn)的旁瓣產(chǎn)生響應(yīng)波形。為了比較的緣故，圖9示出光盤不扭斜的狀態(tài)。
在實(shí)際的波形中，輸入波形基本上是這些圖形的疊加。因此，如果相關(guān)性是在重放RF信號(hào)從轉(zhuǎn)換成雙電平信號(hào)的RF信號(hào)的波形的移動(dòng)，在主光點(diǎn)與旁瓣間的距離等于計(jì)算的，則該相關(guān)值的變化正比于旁瓣的大小。因此，扭斜量計(jì)算電路具有由極性轉(zhuǎn)換電路11和LPF16構(gòu)成的相關(guān)檢測(cè)裝置以及由極性轉(zhuǎn)換電路14和LPF17構(gòu)成的另一個(gè)相關(guān)檢測(cè)裝置。
從主光點(diǎn)產(chǎn)生旁瓣的位移距離是由光學(xué)系統(tǒng)的常數(shù)所決定。因此，如果數(shù)值τ是由旁瓣產(chǎn)生的位置和主光點(diǎn)間的距離以及光盤旋轉(zhuǎn)的線性速度計(jì)算出來，而且延時(shí)電路11和12相應(yīng)地計(jì)算，LPF19的輸出信號(hào)表明旁瓣產(chǎn)生于主光源的LPF19的一側(cè)，旁瓣的大小這也就是光盤的扭斜的量。
同時(shí)，下面的方程適于以上的觀察τ＝(旁瓣產(chǎn)生的位置和主光點(diǎn)間的距離)/(光盤旋轉(zhuǎn)的線性速度)另一方面，由于用上面的方程確定數(shù)量τ，而與扭斜的量無關(guān)，這也就是光盤的傾斜可以預(yù)先設(shè)定一個(gè)合乎需要的值。
對(duì)于使用扭斜量計(jì)算電路4的前述光盤重放裝置，光盤的傾斜不必使用通常的扭斜傳感器就能從重放RF信號(hào)精確計(jì)算出來。由扭斜量計(jì)算電路4所發(fā)現(xiàn)的扭斜量表示如前所述的由光盤扭斜校正裝置8所執(zhí)行的校正的殘余。殘余的反相信號(hào)可以用以在消除殘余的方向上激勵(lì)光盤扭斜校正電路裝置8。由于扭斜量計(jì)算電路4的輸出噪聲分量和高頻范圍的扭斜的起伏可以用積分電路6對(duì)來自極性反相電路5的反相殘余信號(hào)積分將其消除。因此，本發(fā)明的光學(xué)重放裝置實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的扭斜校正是可能的。此外，由于先前使用的扭斜傳感器可以省去，光盤重放裝置可以減小尺寸和重量。
同時(shí)，對(duì)于本光盤重放裝置，用于檢測(cè)扭斜量的旁瓣大小的絕對(duì)值不必需要了。如果在峰的前面和后面出現(xiàn)了非對(duì)稱性，校正光盤的正切扭斜變?yōu)榭赡芰?。因此，如果?duì)延時(shí)電路12、13引入的延遲時(shí)間和光盤旋轉(zhuǎn)的線性速度計(jì)算得到的距離小于主光點(diǎn)的峰點(diǎn)與旁瓣峰的寬度間的距離，就不會(huì)出現(xiàn)問題。因此就不必總?cè)ピO(shè)定延時(shí)電路12、13的延時(shí)，以致使其嚴(yán)格地等于前述的τ值。雖然，必須設(shè)定由延時(shí)電路12引入的延時(shí)，以便為了檢測(cè)該峰點(diǎn)的前后的非對(duì)稱性使其等于延時(shí)電路13引入的延時(shí)。甚至延時(shí)的絕對(duì)值稍微偏離τ值，也可以檢測(cè)光盤1的正切方向上的扭斜。
圖10示出了本發(fā)明的重放光盤的方法和裝置的改進(jìn)。
圖10中所示的涉及光盤重放裝置的改進(jìn)，在該裝置中記錄在光盤1上的信息信號(hào)在使用在光盤1上的重放信號(hào)校正扭斜數(shù)量的同時(shí)被重放。與本發(fā)明不相干的組成元件從附圖中略去，而與圖4中所示的那些元件相類似的元件標(biāo)以相同的標(biāo)識(shí)數(shù)字，而且相應(yīng)的描述也由于為了簡練而省略了。
由光拾取器2讀出記錄在光盤1上的信息信號(hào)。光拾取器2的輸出送到波形均衡器35以及扭斜量計(jì)算電路4。雖然扭斜量計(jì)算電路4在結(jié)構(gòu)上類似圖5所示，計(jì)算電路4的輸出信號(hào)加到波形均衡器35的抽頭系數(shù)控制電路。均衡器35隨后將解釋。
波形均衡器35的結(jié)構(gòu)示于圖11中。
波形均衡器35是具有N個(gè)抽頭的有限脈沖響應(yīng)濾波器(F1R.filter)。來自光盤1的輸入RF信號(hào)傳輸通過N級(jí)延時(shí)元件，這也就是級(jí)連的N個(gè)延時(shí)元件401、402、403……40N-1，40N。延時(shí)元件401、402、403……40N-1，40N的輸出加到下一個(gè)延時(shí)單元，同時(shí)加到乘法器411，412，413……41N-1，41N。在乘法器411，412，413……41N-1，41N中，延時(shí)元件401，402，403……40N-1，40N的輸出與來自抽頭系數(shù)控制電路42所施加的抽頭系數(shù)K1，K2，K3……KN-1，KN相乘。乘法器411，412，413……41N-1，41N的輸出信號(hào)加到加法的節(jié)點(diǎn)43。該輸出信號(hào)的總和表示重放RF信號(hào)輸出(RF)。
適當(dāng)?shù)剡x擇它的抽頭系數(shù)，可以使F1R濾波器實(shí)現(xiàn)各種不同的特性。光盤1用以重放事先加入的不同的扭斜數(shù)量，而且抽頭系數(shù)的最佳值是事先知道的，它是用以產(chǎn)生重放信號(hào)的。這些已知內(nèi)容(Learning)可以借助于最小均方(LMS)算法用公知的方法完成。這些系數(shù)與由扭斜量計(jì)算電路4得到的扭斜量信號(hào)相結(jié)合存儲(chǔ)在抽頭系數(shù)控制電路42中，而且抽頭系K1，K2，K3，……KN-1，KN加給乘法器411，412，413……41N-1，41N的預(yù)先定下的一個(gè)之中。因此，在由扭斜產(chǎn)生的重放RF信號(hào)中校正波形的失真成為可能。
圖12示出了本發(fā)明的重放光盤的方法和裝置的進(jìn)一步的改進(jìn)。
圖12中示出的改進(jìn)直接關(guān)于光盤重放裝置，在重放裝置中記錄在光盤1上的信息信號(hào)在使用光盤1的重放信號(hào)校正扭斜量的同時(shí)被重放。在附圖中與本發(fā)明不相干的組成元件省略了。而類似圖4中的元件用相同的標(biāo)識(shí)數(shù)字表示，為了簡練起見，有關(guān)對(duì)應(yīng)的描述就省略了。
用光拾取器2讀出記錄在光盤1上的信息信號(hào)，光拾取器2的輸出提供給波形均衡器35。波形均衡器35的輸出只加給未示出的解調(diào)電路，而且還加給扭斜量計(jì)算電路4。扭斜量計(jì)算電路4的輸出經(jīng)過積分電路5，加到波形均衡器35的抽頭系數(shù)控制電路。波形均衡器35可能和示于圖10中的實(shí)施例中的一樣的圖11所示的FIR濾波器的結(jié)構(gòu)相同。和圖10所示抽頭系數(shù)控制電路類似，本實(shí)施例的抽頭系數(shù)控制電路把先前已知的抽頭系數(shù)存儲(chǔ)在這里，以便存儲(chǔ)在這里的抽頭系數(shù)提供給相應(yīng)于輸入的扭斜量輸入信號(hào)的乘法器。
本系統(tǒng)包含波形均衡器35，扭斜量計(jì)算電路4和由一級(jí)次積分負(fù)反饋通道構(gòu)成的積分電路5。也就是校正由扭斜引起的重放RF信號(hào)的波形失真以后獲得的扭斜的量表示由扭斜量計(jì)算裝置8完成校正的殘余。表示殘余的信號(hào)加到抽頭系數(shù)控制電路以便控制抽頭系數(shù)，以致波形均衡器35的特性在消除產(chǎn)生的殘余的方向上變化。另外，殘余信號(hào)由積分電路5積分以消除扭斜計(jì)算電路4的輸出中的噪聲分量或者高頻范圍內(nèi)的扭斜起伏，以進(jìn)行穩(wěn)定的扭斜校正。
根據(jù)本發(fā)明從光盤重放信息信號(hào)的方法和裝置可以設(shè)計(jì)成為象以后解釋的重放信息信號(hào)的從光盤檢測(cè)扭斜的量。
在光盤上記錄的數(shù)據(jù)串包括用預(yù)定的諸如非歸零的反相(NRZI)的調(diào)制系統(tǒng)調(diào)制的數(shù)字音頻和數(shù)字信號(hào)。即8位信息轉(zhuǎn)變成包含邊緣位的17位信息，而且“1”和“0”間的過濾出現(xiàn)在調(diào)制的位串中的每個(gè)時(shí)間“1”。由EFM和NRZI得到的數(shù)據(jù)或數(shù)據(jù)串在此分別稱為通道位或通道位串。
通道位串是沿著圖1所示的螺旋方向延伸的信息軌跡62。作為光可讀凹痕記錄下來的。其中，分別與“1”和“0”相關(guān)的，凹痕和鏡面通道位即非記錄區(qū)域。
在光盤上的信息被劃分成公知的幀的預(yù)定的長度單位。在每幀的前沿段記錄有同步圖形SP，SP在EFM表中不存在，而且是由較長的凹痕形成的。所以它可以穩(wěn)定地檢測(cè)到。因此同步圖形SP可用作各種處理操作的定時(shí)參考。
鄰接同步圖形SP其后形成了由預(yù)定長度的凹痕區(qū)域55以及預(yù)定長度的反射區(qū)域或鏡面區(qū)域構(gòu)成的參考凹痕圖形RP，如圖14所示。凹痕區(qū)域55衍射照在光盤上的光，而鏡面區(qū)域直接反射照射的光。參考凹痕圖形RP可以設(shè)計(jì)成為如圖14所示的在兩個(gè)凹痕區(qū)域55間形成鏡面區(qū)域56，或者如圖15所示，在兩個(gè)鏡面區(qū)域55間形成凹痕區(qū)域56。當(dāng)使用圖14所示的參考凹痕圖形RP重放光盤時(shí)，現(xiàn)在說明扭斜量的檢測(cè)。
對(duì)于圖14中示出的參考凹痕圖形RP，兩個(gè)預(yù)定了長度的凹痕區(qū)域55時(shí)，55設(shè)定為15T或更長些，而夾在兩個(gè)凹痕區(qū)域55間的鏡面區(qū)域56時(shí)，55設(shè)定為3T。在參考凹痕圖形RP中，在較長的凹痕區(qū)域時(shí)間的鏡面區(qū)域16被認(rèn)為是一個(gè)單獨(dú)的圖形。
參考凹痕圖形RP的一個(gè)和其它的區(qū)域的預(yù)定長度的設(shè)定為15T更長些和3T的理由如下已知的空氣環(huán)(airy ring)的衍射圖象的強(qiáng)度分布等于0次級(jí)光束的光點(diǎn)的半徑dm可以表示如下dm＝1.22·λ/(2·NA) (5)如果在重放期間光盤扭斜，表明在光點(diǎn)中產(chǎn)生的一次級(jí)衍射的旁瓣產(chǎn)生的位置由如下方程表示dp＝1.64·λ/(2·NA) (6)
其中，dp表示從光點(diǎn)中心的距離。
另一方面，從光點(diǎn)中心的一次級(jí)衍射光的外側(cè)的暗點(diǎn)的距離dn由下面的方程表示dn＝2.23·λ/(1·NA) (7)如果當(dāng)由兩個(gè)凹痕55，55以及鏡面區(qū)域56構(gòu)成的兩上參考凹痕圖形RP的每個(gè)記錄在具有預(yù)定的間隔距離的光盤上時(shí)，在重放期間光盤受到扭斜，在重放RF信號(hào)中產(chǎn)生與旁瓣相關(guān)的響應(yīng)波形作為零次衍射光的主光點(diǎn)的響應(yīng)前的第一次級(jí)衍射光。如果用方程(7)dn表示兩個(gè)圖形的距離是2·d或者更大些，這里不存在響應(yīng)零次級(jí)衍射光的主光點(diǎn)以前的第一次級(jí)衍射光的響應(yīng)波形的重疊的可能性。為了在嚴(yán)格意義上實(shí)現(xiàn)單獨(dú)的圖形，就是必須由另一個(gè)圖形形成一個(gè)圖形的長度。這了就是在圖形的前與后之間的距離是4.46·λ/(2·NA)然而，如果兩個(gè)圖形間的距離大于2dp＝3.28·λ/(2·NA) (8)該第一次級(jí)衍射光的旁瓣的響應(yīng)是不重疊的，而且可以在可以與單獨(dú)的旁瓣相比較的狀態(tài)中檢測(cè)到。
雖然，參考凹痕圖形RP應(yīng)用于在其上記錄有EFM調(diào)制的信息的光盤，記錄的通道位串的轉(zhuǎn)移最小距離是3T。為了重放該光盤，一般來說用足夠輻度重放，轉(zhuǎn)移的最小距離的重復(fù)的信號(hào)是需要的。
注意觀察調(diào)制變換函數(shù)(MTF)，該函數(shù)是光學(xué)變換函數(shù)，當(dāng)?shù)扔谵D(zhuǎn)移間的最小距離的兩倍記錄的波長變?yōu)榈扔讦?(2/NA)時(shí)，重放RF信號(hào)的幅度完全變?yōu)榱?。因此，光學(xué)常量與通道位串間的關(guān)系一般滿足2.3T＞λ/(2·NA) (9)或2.3T＝1.5·λ/(2·NA) (10)這些是從實(shí)際的適用性中看到的。
因此，表示信號(hào)提取間隔的窗口的寬度是由下列公式給出，T＝0.25·λ/(2·NA) (11)兩個(gè)凹痕區(qū)域55中的每一個(gè)的長度如前面所述是15T或者更長些，并且在它們之間安排3T間隙的鏡面區(qū)域56。如果從方程(11)可以發(fā)現(xiàn)15T或更長的長度，我們得到15T＝3.75·λ(2·NA) (12)因此滿足方程(8)。
如果重放這樣的光盤，因此光盤重放裝置正確地檢測(cè)光盤傾斜的扭斜量成為可能。因此能正確地讀出記錄在光盤上的信息。
權(quán)利要求
1.重放記錄在盤形記錄介質(zhì)上的信息信號(hào)的盤裝置包括從盤形記錄介質(zhì)上讀出信息信號(hào)的信息讀出裝置；通過計(jì)算從盤形記錄介質(zhì)讀出的信息信號(hào)上偏移所說的信息信號(hào)預(yù)定的時(shí)間所獲得的信號(hào)間的相關(guān)性來計(jì)算盤形記錄介質(zhì)的扭斜量的裝置；根據(jù)由所說的扭斜計(jì)算裝置得到的扭斜量校正所說的盤形記錄介質(zhì)的扭斜的裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的盤裝置，其特征是包括用以延時(shí)所說信息信號(hào)預(yù)定的時(shí)間的第1延時(shí)裝置；用以進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置輸出以預(yù)定的時(shí)間的第2延時(shí)裝置；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)并輸出該雙電平信號(hào)的裝置；計(jì)算信息信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算裝置；計(jì)算第2延時(shí)裝置輸出信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算裝置；和用于計(jì)算的第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差的差分裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的盤裝置，其特征是所說的預(yù)定時(shí)間是通過重放波形的主光點(diǎn)與扭斜引起的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)線速度而得到的量。
4.根據(jù)權(quán)利要求3的盤裝置，其特征是還包括用于反轉(zhuǎn)由扭斜計(jì)算裝置得到的扭斜量的極性的極性反轉(zhuǎn)裝置；所說的盤形記錄介質(zhì)是光盤，和扭斜校正裝置，它在消除光盤傾斜的方向上產(chǎn)生光軸的傾斜。
5.根據(jù)權(quán)利要求3的盤裝置，其特征是還包括積分裝置，它對(duì)由極性反轉(zhuǎn)裝置對(duì)極性反轉(zhuǎn)的信號(hào)進(jìn)行積分。
6.根據(jù)權(quán)利要求2的盤裝置，其特征是扭斜校正裝置包含由光盤反射光的光路上的一個(gè)光學(xué)校正元件，所說的光學(xué)校正裝置校正光盤傾斜產(chǎn)生的彗形象差產(chǎn)生反相彗形的象差。
7.根據(jù)權(quán)利要求2的盤裝置，其特征是所說的校正裝置包括用于消除所說信息信號(hào)的波形失真的波形均衡裝置；和抽頭系數(shù)控制裝置，它用于存儲(chǔ)預(yù)定的抽頭系數(shù)和根據(jù)所說的扭斜量提供抽頭系數(shù)給波形均衡裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的盤裝置，其特征是波形均衡裝置包括用于延遲信息信號(hào)的N個(gè)延時(shí)元件，饋以所說的抽頭系數(shù)的N個(gè)乘法器，和一個(gè)加法結(jié)點(diǎn)用于將N個(gè)乘法器的輸出信號(hào)加在一起。
9.根據(jù)權(quán)利要求8的盤裝置，其特征是所說的抽頭系數(shù)控制裝置尋找最佳抽頭系數(shù)以便用LMS方法預(yù)扭斜盤形記錄介質(zhì)，并將該最佳系數(shù)存儲(chǔ)在其中。
10.根據(jù)權(quán)利要求9的盤裝置，其特征是所說的扭斜計(jì)算裝置包括延遲信息信號(hào)預(yù)定時(shí)間的第1延時(shí)裝置；進(jìn)一步延遲第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)預(yù)定時(shí)間的第2延時(shí)裝置；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平輸出信號(hào)的雙電平裝置；用于計(jì)算所說的信息信號(hào)與所說的雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算裝置；用于計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)與所說的雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算裝置；和計(jì)算由第1相關(guān)裝置獲得的相關(guān)性與雙電平信號(hào)間的差的差分裝置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10的盤裝置，其特征是所說的預(yù)定時(shí)間是將重放波形中的主光點(diǎn)與扭斜產(chǎn)生的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)線速度而得到的量。
12.根據(jù)權(quán)利要求8的盤裝置，其特征是所說的扭斜量計(jì)算裝置是從由波形均衡裝置波形均衡的信息信號(hào)計(jì)算扭斜量，和由積分裝置對(duì)產(chǎn)生的扭斜量進(jìn)行積分。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的盤裝置，其特征是抽頭系數(shù)控制裝置尋找最佳抽頭系數(shù)以便用LMS的方法預(yù)扭斜盤形記錄介質(zhì)，并將該最佳系數(shù)存儲(chǔ)在其中。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的盤裝置，其特征是所說的扭斜計(jì)算裝置包括延時(shí)所說的信息信號(hào)以預(yù)定時(shí)間的第1延時(shí)裝置；進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出以預(yù)定時(shí)間的第2延時(shí)裝置；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)并輸出所說的雙電平信號(hào)的裝置；計(jì)算信息信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算裝置；計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算裝置；和計(jì)算由第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差的差分裝置。
15.根據(jù)權(quán)利要求14的盤裝置，其特征是所說的預(yù)定時(shí)間是將重放波形的主光點(diǎn)與由于扭斜產(chǎn)生的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)的線速度而得到的量。
16.重放記錄在盤形記錄介質(zhì)上的信息信號(hào)的方法包括從盤形記錄介質(zhì)上讀出信息信號(hào)的第1步驟；通過計(jì)算從盤形記錄介質(zhì)上讀出的信息信號(hào)和偏移所說信息信號(hào)以預(yù)定時(shí)間得到的信號(hào)之間的相關(guān)性計(jì)算盤形記錄介質(zhì)的扭斜量的第2步驟；和根據(jù)在第2步驟中得到的扭斜量校正盤形記錄介質(zhì)的扭斜的第3步驟。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征是所說的第2步驟包括延時(shí)所說的信息信號(hào)預(yù)定的時(shí)間的第1延時(shí)步驟；進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出以預(yù)定的時(shí)間的第2延時(shí)步驟；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)和輸出該雙電平信號(hào)的雙電平步驟；計(jì)算信息信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算步驟；計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算步驟；和計(jì)算第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差的差分計(jì)算步驟。
18.根據(jù)權(quán)利要求17的方法，其特征是所說預(yù)定時(shí)間是通過將重放波形中的主光點(diǎn)與由扭斜產(chǎn)生的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)的線速度而得到的量。
19.根據(jù)權(quán)利要求18的方法，其特征是還包括轉(zhuǎn)換由第3步驟得到的扭斜量的極性的第4步驟；所說的盤形記錄介質(zhì)是光盤，和在第3步驟中在消除扭斜的方向上光軸是傾斜的。
20.根據(jù)權(quán)利要求19的方法，其特征是還包括對(duì)第4步驟的極性反轉(zhuǎn)信號(hào)積分。
21.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征是第3步驟包括除去所說信息信號(hào)中的波形失真的波形均衡步驟；和根據(jù)扭斜的數(shù)量存儲(chǔ)預(yù)定的抽頭系數(shù)和提供該抽頭系數(shù)給波形均衡裝置的抽頭系數(shù)控制步驟。
22.根據(jù)權(quán)利要求21的方法，其特征是所說的波形均衡步驟包括延時(shí)信息信號(hào)以N級(jí)的N級(jí)延時(shí)步驟；用延時(shí)的信息信號(hào)乘以抽頭系數(shù)的乘法步驟；和將乘得的信息信號(hào)加在一起的加法步驟；
23.根據(jù)權(quán)利要求22的方法，其特征是用LMS方法尋找抽頭系數(shù)用于預(yù)扭斜盤形記錄介質(zhì)。
24.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征是所說的第2步驟包括延時(shí)所說的信息信號(hào)一個(gè)預(yù)定時(shí)間的第1延時(shí)步驟；進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出一個(gè)預(yù)定時(shí)間的第2延時(shí)步驟；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)，并輸出該雙電平信號(hào)的雙電平步驟；計(jì)算信息信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算步驟；計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算步驟；和計(jì)算第1相關(guān)裝置得到的相當(dāng)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差的差分計(jì)算步驟。
25.根據(jù)權(quán)利要求24的方法，其特征是所說的預(yù)定時(shí)間是通過將重放波形中的主光點(diǎn)與由于扭斜產(chǎn)生的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)的線速度而得到的量。
26.根據(jù)權(quán)利要求24的方法，其特征是所說的第2步驟是由波形均衡步驟波形均衡的信息信號(hào)計(jì)算扭斜的量，其中產(chǎn)生的扭斜的量在所說的第4步驟積分。
27.根據(jù)權(quán)利要求26的方法，其特征是所說的抽頭系數(shù)由LMS方法事先找尋到以便預(yù)先扭斜盤形記錄介質(zhì)。
28.根據(jù)權(quán)利要求16的方法，其特征是所說的第2步驟包括延時(shí)所說的信息信號(hào)預(yù)定時(shí)間的第1延時(shí)步驟進(jìn)一步延時(shí)第1延時(shí)裝置的輸出一個(gè)預(yù)定時(shí)間的第2延時(shí)步驟；轉(zhuǎn)換第1延時(shí)裝置的輸出信號(hào)成為雙電平信號(hào)并輸出該雙電平信號(hào)的雙電平步驟；計(jì)算信息信號(hào)與雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第1相關(guān)計(jì)算步驟；計(jì)算第2延時(shí)裝置的輸出信號(hào)和雙電平信號(hào)間的相關(guān)性的第2相關(guān)計(jì)算步驟；和計(jì)算第1相關(guān)裝置得到的相關(guān)值與第2相關(guān)裝置得到的相關(guān)值間的差的差分計(jì)算步驟。
29.根據(jù)權(quán)利要求28的方法，其特征是預(yù)定的時(shí)間是將重放波形中的主光點(diǎn)與由于扭斜產(chǎn)生的旁瓣間的距離除以盤旋轉(zhuǎn)的線速度而得到的量。
全文摘要
一種重放光盤裝置，光拾取器中，光源光輻射到光盤上，光檢測(cè)器檢測(cè)光盤返回的光，重放光盤信息信號(hào)。檢測(cè)時(shí)返回光的檢測(cè)輸出提供給波形均衡器和扭斜量計(jì)算電路來檢測(cè)光盤的扭斜的量。波形均衡器的輸出還送給解調(diào)電路。極性反轉(zhuǎn)電路對(duì)扭斜量計(jì)算電路的輸出反轉(zhuǎn)極性后，經(jīng)積分電路提供給校正盤扭斜的控制電路控制校正裝置。控制電路在校正光盤軌跡的正切扭斜的方向上驅(qū)動(dòng)光拾取器中的盤扭斜校正電路。
文檔編號(hào)G11B7/24GK1146040SQ9510177
公開日1997年3月26日 申請(qǐng)日期1995年1月10日 優(yōu)先權(quán)日1994年1月10日
發(fā)明者吉村俊司, 岡崎透 申請(qǐng)人:索尼公司