專(zhuān)利名稱(chēng)：讀卡器及讀卡器的控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀卡器及其控制方法。
背景技術(shù)：
例如，關(guān)于具有檢測(cè)有無(wú)磁條的預(yù)讀磁頭的讀卡器，如下所述。一直以來(lái)，作為在銀行等金融機(jī)構(gòu)所使用的、用來(lái)實(shí)現(xiàn)無(wú)現(xiàn)金服務(wù)和個(gè)人認(rèn)證等的卡片，有在塑料基板表面形成磁條的磁卡。利用成為讀卡器(包括卡片讀寫(xiě)器)的裝置，對(duì)該磁卡進(jìn)行磁數(shù)據(jù)的記錄重放。具體而言，讀卡器將磁卡從插卡口取入傳送路徑內(nèi)，一邊利用驅(qū)動(dòng)輥將磁卡傳送至傳送路徑內(nèi)的規(guī)定位置，一邊對(duì)磁信息進(jìn)行記錄重放。另外，在讀卡器之中，存在具有對(duì)磁卡插入插卡口的情況進(jìn)行檢測(cè)的預(yù)讀磁頭的讀卡器。預(yù)讀磁頭對(duì)磁條的存在進(jìn)行檢測(cè)，將基于記錄在磁條中的磁信息的輸出信號(hào)發(fā)送至CPU。接收到該輸出信號(hào)的CPU打開(kāi)通向傳送路徑的閘門(mén)，并對(duì)驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)進(jìn)行驅(qū)動(dòng)(例如參照專(zhuān)利文獻(xiàn)1)。這里，預(yù)讀磁頭和對(duì)預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的電路基板(含有CPU)大多配置在物理上相互隔開(kāi)的位置上，兩者一般以電纜等相連接。另外，以往，讀取記錄于卡片上的磁數(shù)據(jù)的讀卡器得以廣泛應(yīng)用。在這種讀卡器中，例如，利用配置于傳送卡片的卡片傳送路徑上的磁頭，來(lái)讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)。 另外，在利用讀卡器行業(yè)中，以往，犯罪分子將信號(hào)線安裝于磁頭上、以非法獲取卡片的磁信息的、所謂的盜卡(skimming)成為一個(gè)很大的問(wèn)題。因此，提出了具有用于防止該盜卡的結(jié)構(gòu)的讀卡器(例如，參照專(zhuān)利文獻(xiàn)2)。在專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器中，在磁頭的殼體之中，除了磁頭的主體部以外，還收納有解調(diào)電路和加密電路，所述解調(diào)電路基于來(lái)自構(gòu)成磁頭的線圈的輸出信號(hào)，對(duì)記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)，所述加密電路利用規(guī)定的加密函數(shù)和密鑰數(shù)據(jù)，對(duì)由解調(diào)電路解調(diào)出的磁信息進(jìn)行加密。因此，在該讀卡器中，從磁頭輸出經(jīng)加密的磁信息。因而，在該讀卡器中，能防止從安裝于磁頭上的信號(hào)線非法獲取卡片的磁信息的盜卡。專(zhuān)利文獻(xiàn)1 日本專(zhuān)利特開(kāi)2002-74607號(hào)公報(bào)專(zhuān)利文獻(xiàn)2 日本專(zhuān)利特開(kāi)2002-189987號(hào)公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
然而，在專(zhuān)利文獻(xiàn)1所記載的讀卡器中，在將引線非法安裝于預(yù)讀磁頭的輸出端子上、或連接預(yù)讀磁頭和電路基板的電纜上等情況下，通過(guò)對(duì)來(lái)自預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)進(jìn)行分析，可能會(huì)泄露記錄于磁條中的磁信息。本發(fā)明是鑒于上述問(wèn)題而完成的，其第一目的在于，提供一種能防止基于來(lái)自預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)而非法獲取記錄于磁條中的磁信息的讀卡器。 另外，如上所述，在專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器中，能防止盜卡。然而，在該讀卡器中，由于將解調(diào)電路和加密電路收納于磁頭的殼體之中，因此，會(huì)使磁頭大型化。因而，在專(zhuān)
5利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器中，難以使讀卡器小型化。另外，由于將解調(diào)電路和加密電路收納于殼體之中的磁頭價(jià)格較高，因此，在專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器中，讀卡器的成本較高。因此，本發(fā)明的問(wèn)題(第二目的)在于，提供一種能防止非法獲取卡片的磁信息、 并能實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化的讀卡器。另外，本發(fā)明的問(wèn)題(其他目的)在于，提供一種能防止非法獲取卡片的磁信息、并能實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化的讀卡器的控制方法。為了解決上述問(wèn)題(第一目的)，本發(fā)明提供以下技術(shù)方案。(1) 一種讀卡器，包括插卡口，該插卡口將具有磁條的磁卡導(dǎo)入傳送路徑；以及預(yù)讀磁頭，該預(yù)讀磁頭配置于所述插卡口的附近，對(duì)有無(wú)所述磁條進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于， 所述預(yù)讀磁頭包括頭部，該頭部具有隔著磁隙而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯、及卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈，從所述預(yù)讀磁頭輸出與記錄于所述磁條中的磁信息不同的信號(hào)。根據(jù)本發(fā)明，由于在包括插卡口和預(yù)讀磁頭的讀卡器中，對(duì)該預(yù)讀磁頭設(shè)置有具有隔著磁隙而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯、及卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈的頭部，從該預(yù)讀磁頭輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，因此，能防止非法獲取磁信息。S卩，若從預(yù)讀磁頭輸出表示記錄于磁條中的磁信息的信號(hào)，則通過(guò)分析輸出信號(hào)， 可能會(huì)泄露磁信息，但若像本發(fā)明這樣，輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，則即使通過(guò)分析輸出信號(hào)也無(wú)法獲取磁信息。因此，即使在將引線非法安裝于預(yù)讀磁頭的輸出端子上、或連接預(yù)讀磁頭和電路基板的電纜上等情況下，也能防止記錄于磁條中的磁信息泄露，從而能防止非法獲取磁信息。此外，關(guān)于“與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)”，只要不是表示磁信息的信號(hào)即可，可以是任何信號(hào)，可以是階躍信號(hào)、正弦波信號(hào)，也可以是脈沖信號(hào)。(2) 一種讀卡器，其特征在于，所述預(yù)讀磁頭包括信號(hào)轉(zhuǎn)換單元，該信號(hào)轉(zhuǎn)換單元將來(lái)自所述頭部的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)。根據(jù)本發(fā)明，由于在上述預(yù)讀磁頭中，設(shè)置有將來(lái)自頭部的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)的信號(hào)轉(zhuǎn)換單元，因此，即使例如非法獲取到信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的輸出，即使對(duì)該輸出進(jìn)行解調(diào)或解讀，但由于也無(wú)法獲取到磁信息，因此，能防止非法獲取磁信息。另外，設(shè)置有信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的預(yù)讀磁頭的輸出與未設(shè)置信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的預(yù)讀磁頭的輸出不同。因而，若面向設(shè)置有信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的預(yù)讀磁頭而制成電路基板等，則能防止在進(jìn)行維護(hù)時(shí)將預(yù)讀磁頭非法更換成仿制品(未設(shè)置信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的預(yù)讀磁頭)。(3) 一種讀卡器，其特征在于，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元包括檢測(cè)電路，該檢測(cè)電路對(duì)來(lái)自所述頭部的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)；以及輸出電路，該輸出電路輸出與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)。根據(jù)本發(fā)明，由于在上述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元中，包括對(duì)來(lái)自頭部的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)電路、以及輸出與輸出信號(hào)不同的信號(hào)的輸出電路，因此，無(wú)需在含有對(duì)讀卡器內(nèi)的各部分進(jìn)行驅(qū)動(dòng)控制的CPU等的電路基板一側(cè)設(shè)置檢測(cè)電路。因而，既能防止在進(jìn)行維護(hù)時(shí)將預(yù)讀磁頭非法更換成仿制品，又能防止非法獲取磁信息。(4) 一種讀卡器，其特征在于，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元收納于殼體內(nèi)，所述殼體覆蓋所述一對(duì)磁芯和所述線圈。根據(jù)本發(fā)明，由于上述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元收納于覆蓋一對(duì)磁芯和線圈的殼體內(nèi)，因此， 無(wú)法實(shí)施對(duì)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元連接引線等行為，從而能防止磁信息從信號(hào)轉(zhuǎn)換單元泄露，進(jìn)而
6能防止非法獲取磁信息。(5) 一種讀卡器，其特征在于，所述預(yù)讀磁頭是設(shè)置有多個(gè)與多根數(shù)據(jù)磁道相對(duì)應(yīng)的所述頭部的多通道磁頭，在多個(gè)所述磁芯上，安裝有卷繞了線圈的公用線圈架。根據(jù)本發(fā)明，由于上述預(yù)讀磁頭是設(shè)置有多個(gè)與多根數(shù)據(jù)磁道相對(duì)應(yīng)的頭部的多通道磁頭，在多個(gè)磁芯上，安裝有作為信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的、卷繞了線圈的公用線圈架，因此，從預(yù)讀磁頭輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)。S卩，在多通道磁頭的情況下，通常包括多個(gè)線圈架和線圈，從這些多個(gè)線圈能獲得多個(gè)通道信號(hào)。然而，在本發(fā)明中，線圈架對(duì)多個(gè)磁芯安裝有公用線圈架。由此，輸出的不是多個(gè)通道信號(hào)，而是多個(gè)通道信號(hào)經(jīng)合成后所形成的通道信號(hào)，從而無(wú)論對(duì)該輸出信號(hào)怎樣進(jìn)行分析，都難以獲取磁信息。因而，即使在將引線非法安裝于預(yù)讀磁頭的輸出端子上、或連接預(yù)讀磁頭和電路基板的電纜上等情況下，也能防止記錄于磁條中的磁信息泄露， 從而能防止非法獲取磁信息。為了解決上述問(wèn)題(第二目的)，本發(fā)明的讀卡器的特征在于，在讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀卡器中，包括磁頭，該磁頭具有用于讀取磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈；以及非讀取電流產(chǎn)生單元，該非讀取電流產(chǎn)生單元用于使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流。本發(fā)明的讀卡器包括非讀取電流產(chǎn)生單元，該非讀取電流產(chǎn)生單元用于使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流。因此，若在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，則即使犯罪分子將信號(hào)線安裝在磁頭上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流的波形，也能使犯罪分子在對(duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷時(shí)難以進(jìn)行操作。因而，對(duì)于犯罪分子來(lái)說(shuō)，難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。另外，若在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，則即使犯罪分子將信號(hào)線安裝在磁頭上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流的波形，但對(duì)于犯罪分子來(lái)說(shuō)，也難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。其結(jié)果是，在本發(fā)明中，能防止非法獲取卡片的磁信肩、ο另外，在本發(fā)明中，由于即使不在磁頭之中配置解調(diào)電路或加密電路，也能防止非法獲取卡片的磁信息，因此，與專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器相比，能使磁頭實(shí)現(xiàn)小型化，并能降低磁頭的成本。因而，在本發(fā)明中，能使讀卡器實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。在本發(fā)明中，非讀取電流產(chǎn)生單元例如與讀取側(cè)信號(hào)線相連接，所述讀取側(cè)信號(hào)線與讀取側(cè)線圈相連接。在本發(fā)明中，磁頭例如包括用于向卡片寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入磁芯、和卷繞于寫(xiě)入磁芯上的寫(xiě)入側(cè)線圈，并且是將讀取磁芯和寫(xiě)入磁芯形成一體化的讀寫(xiě)一體型磁頭，非讀取電流產(chǎn)生單元與寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線相連接，所述寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線與寫(xiě)入側(cè)線圈相連接，非讀取電流的波形的振幅小于用于向卡片寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入電流的波形的振幅。在這種情況下，非讀取電流產(chǎn)生單元優(yōu)選為是使寫(xiě)入電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈的寫(xiě)入電流產(chǎn)生單元。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，由于除了寫(xiě)入電流產(chǎn)生單元以外，無(wú)需重新設(shè)置非讀取電流產(chǎn)生單元，因此，能簡(jiǎn)化讀卡器的結(jié)構(gòu)。在本發(fā)明中，非讀取電流的波形的振幅優(yōu)選為與讀取電流的波形的振幅基本相等。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，若在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，則更難以對(duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷。因而，對(duì)于犯罪分子來(lái)說(shuō)，更難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息，從而能有效地防止非法獲取卡片的磁信息。在本發(fā)明中，優(yōu)選為根據(jù)記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片在讀卡器內(nèi)的移動(dòng)速度，來(lái)決定非讀取電流的波形的周期。另外，在這種情況下，非讀取電流的波形的周期優(yōu)選為在根據(jù)磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片在讀卡器內(nèi)的移動(dòng)速度來(lái)決定的周期的范圍內(nèi)， 不定期地發(fā)生變化。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，若在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，則更難以對(duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷。因而，對(duì)于犯罪分子來(lái)說(shuō)，更難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息，從而能有效地防止非法獲取卡片的磁信肩、ο在本發(fā)明中，在非讀取電流流過(guò)讀取側(cè)線圈時(shí)磁頭所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度優(yōu)選為弱于形成于卡片上的磁條的矯頑磁力。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，即使磁頭在非讀取電流流過(guò)讀取側(cè)線圈的狀態(tài)下與卡片相接觸，也能防止記錄于磁條中的磁數(shù)據(jù)因非讀取電流的影響而被破壞。在本發(fā)明中，讀卡器優(yōu)選為包括讀取狀態(tài)檢測(cè)單元，該讀取狀態(tài)檢測(cè)單元用于對(duì)由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)，非讀取電流產(chǎn)生單元優(yōu)選為基于讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止，在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流。即，優(yōu)選為基于讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，能使犯罪分子在對(duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷時(shí)難以進(jìn)行操作。另一方面，由于在讀卡器一側(cè)，基于讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，能適當(dāng)?shù)貙?duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷，因此，讀卡器能獲取適當(dāng)?shù)拇判畔?。在本發(fā)明中，讀卡器優(yōu)選為包括電路基板，該電路基板上安裝有非讀取電流產(chǎn)生單元，在電路基板上，優(yōu)選為安裝有非讀取電流分量消除單元，該非讀取電流分量消除單元用于消除流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流之中的非讀取電流的分量。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流的情況下，讀卡器能消除所重疊的非讀取電流的分量，并基于讀取電流，獲取到正確的磁信息。另一方面，當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流的情況下，或者即使始終使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，但由于利用非讀取電流分量消除單元來(lái)消除非讀取電流的分量，因此，讀卡器在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間也不獲取任何信息，并且能在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)，基于讀取電流，獲取到正確的磁信息。此外，當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，犯罪分子即使將信號(hào)線安裝于磁頭上，也難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。在本發(fā)明中，讀卡器優(yōu)選為包括讀取狀態(tài)檢測(cè)單元，該讀取狀態(tài)檢測(cè)單元用于對(duì)由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)；以及電路基板，該電路基板上安裝有非讀取電流產(chǎn)生單元，在電路基板上，優(yōu)選為安裝有非讀取電流分量消除單元，該非讀取電流分量消除單元用于消除流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流之中的非讀取電流的分量，非讀取電流產(chǎn)生單元優(yōu)選為基于讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后，使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止。即，優(yōu)選為基于讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，由于讀取電流與非讀取電流相重疊，因此，即使犯罪分子將信號(hào)線安裝在磁頭上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流的波形，也無(wú)法基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。另一方面，讀卡器能消除所重疊的非讀取電流的分量，從而基于讀取電流，獲取到正確的磁信息。另外，當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，由于在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，讀取側(cè)線圈中不流過(guò)電流，因此，犯罪分子難以識(shí)別對(duì)讀卡器實(shí)施了用于防止非法獲取卡片的磁信息的措施的情況。因而，能提高讀卡器的安全性。另外，當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)， 由于在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，電流不流過(guò)讀取側(cè)線圈，因此，能力圖使讀卡器實(shí)現(xiàn)省電。在本發(fā)明中，讀卡器優(yōu)選為包括非讀取電流檢測(cè)單元，該非讀取電流檢測(cè)單元用于對(duì)在讀取側(cè)線圈中產(chǎn)生非讀取電流的情況進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，能對(duì)實(shí)施了例如將非讀取電流產(chǎn)生單元與讀取側(cè)信號(hào)線之間進(jìn)行切斷等的犯罪的情況進(jìn)行檢測(cè)。因而，通過(guò)例如基于由非讀取電流檢測(cè)單元所得到的檢測(cè)結(jié)果，使讀卡器變得無(wú)法使用，從而能可靠地防止非法獲取卡片的磁信息。另外，當(dāng)采用這樣的結(jié)構(gòu)時(shí)，例如能對(duì)讀取側(cè)線圈的斷路等進(jìn)行檢測(cè)。因而，基于由非讀取電流檢測(cè)單元所得到的檢測(cè)結(jié)果，能對(duì)磁頭的更換時(shí)間進(jìn)行檢測(cè)，從而能提高讀卡器的可靠性。另外，為了解決上述問(wèn)題(其他目的)，本發(fā)明的讀卡器的控制方法的特征在于， 磁頭具有用于讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈，在包括所述磁頭的讀卡器的控制方法中，包括非讀取電流產(chǎn)生步驟，該非讀取電流產(chǎn)生步驟從將卡片插入讀卡器之前起，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流；非讀取電流停止步驟，該非讀取電流停止步驟在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止；以及非讀取電流再產(chǎn)生步驟，該非讀取電流再產(chǎn)生步驟在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流。在本發(fā)明的讀卡器的控制方法中，在非讀取電流產(chǎn)生步驟中，從將卡片插入讀卡器之前起，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流，在非讀取電流停止步驟中，在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止，在非讀取電流再產(chǎn)生步驟中，在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生非讀取電流。因此，即使犯罪分子將信號(hào)線安裝在磁頭上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流的波形，也能使犯罪分子在對(duì)讀取電流和非讀取電流進(jìn)行判斷時(shí)難以進(jìn)行操作。因而，對(duì)于犯罪分子來(lái)說(shuō)，難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。其結(jié)果是，在本發(fā)明中，能防止非法獲取卡片的磁信息。另外，若使用本發(fā)明的控制方法，則由于即使不在磁頭之中配置解調(diào)電路或加密電路，也能防止非法獲取卡片的磁信息，因此，與專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器相比，能使磁頭實(shí)現(xiàn)小型化，并能降低磁頭的成本。因而，在本發(fā)明中，能使讀卡器實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。此外，為了解決上述問(wèn)題(其他目的)，本發(fā)明的讀卡器的控制方法的特征在于， 磁頭具有用于讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈，在包括所述磁頭的讀卡器的控制方法中，包括非讀取電流產(chǎn)生步驟，該非讀取電流產(chǎn)生步驟在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流；以及非讀取電流停止步驟，該非讀取電流停止步驟在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后，使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止，在非讀取電流產(chǎn)生步驟中，在讀卡器的電路基板內(nèi)，消除流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流之中的非讀取電流的分量。在本發(fā)明的讀卡器的控制方法中，在非讀取電流產(chǎn)生步驟中，在開(kāi)始由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之前，產(chǎn)生非讀取電流，在非讀取電流停止步驟中，在結(jié)束由磁頭讀取磁數(shù)據(jù)之后， 使讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的非讀取電流停止。因而，即使犯罪分子將信號(hào)線安裝在磁頭上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流的波形，但由于讀取電流與非讀取電流相重疊，因此，對(duì)犯罪分子來(lái)說(shuō)，也難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。其結(jié)果是，在本發(fā)明中，能防止非法獲取卡片的磁信息。另外，若使用本發(fā)明的控制方法，則由于即使不在磁頭之中配置解調(diào)電路或加密電路，也能防止非法獲取卡片的磁信息，因此，與專(zhuān)利文獻(xiàn)2所記載的讀卡器相比，能使磁頭實(shí)現(xiàn)小型化，并能降低磁頭的成本。因而，在本發(fā)明中，能使讀卡器實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。此外，在本發(fā)明中，由于在非讀取電流產(chǎn)生步驟中，在讀卡器的電路基板內(nèi)，消除流過(guò)讀取側(cè)線圈的電流之中的非讀取電流的分量，因此，讀卡器能基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。本發(fā)明所涉及的讀卡器從預(yù)讀磁頭輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，從而能防止通過(guò)預(yù)讀磁頭非法獲取磁信息。另外，在本發(fā)明所涉及的讀卡器中，能防止非法獲取卡片的磁信息，并能實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。此外，若使用本發(fā)明的讀卡器的控制方法，則能防止非法獲取卡片的磁信息，并能使讀卡器實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的讀卡器的結(jié)構(gòu)的縱向剖視圖。圖2是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的讀卡器的電結(jié)構(gòu)的框圖。圖3是用于對(duì)來(lái)自預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)進(jìn)行說(shuō)明的框圖。圖4是表示來(lái)自預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)的具體例子的圖。圖5是表示預(yù)讀磁頭的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)的立體圖。圖6是表示預(yù)讀磁頭的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)的縱向剖視圖。圖7是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1的變形例1所涉及的預(yù)讀磁頭的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)的縱向剖視圖。圖8是用于對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式2所涉及的讀卡器的主要部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的俯視圖。圖9是用于對(duì)圖8所示的磁頭的內(nèi)部的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的圖，圖9(A)是俯視圖，圖9(B)是圖9(A)的E-E截面的剖視圖。圖10是用于對(duì)圖8所示的預(yù)讀磁頭的內(nèi)部的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的圖，圖10(A)是俯視圖，圖10(B)是側(cè)視圖。圖11是表示圖8所示的讀卡器的控制部及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。圖12是表示流過(guò)圖8所示的預(yù)讀磁頭的電流的波形的一個(gè)例子的圖。圖13是表示圖8所示的預(yù)讀磁頭的簡(jiǎn)要控制的一個(gè)例子的流程圖。圖14是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例1所涉及的控制部及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。圖15是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例2所涉及的控制部及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)構(gòu)的框圖。
圖16是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例3所涉及的控制部及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)構(gòu)的框圖。
圖17是表示圖8所示的預(yù)讀磁頭的簡(jiǎn)要控制的其他例子的流程圖。 標(biāo)號(hào)說(shuō)明 1、101讀卡器
2卡片
2a磁條 9、107磁頭
10光電傳感器(讀取狀態(tài)檢測(cè)單元)
15卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)(讀取狀態(tài)檢測(cè)單元) 17,104,40預(yù)讀磁頭(磁頭) 25、31讀取磁芯
26寫(xiě)入磁芯 27、32讀取側(cè)線圈
28寫(xiě)入側(cè)線圈
42,52讀取控制電路(非讀取電流檢測(cè)單元) 43,53放大電路(非讀取電流分量消除單元) 44,54磁性檢測(cè)電路(非讀取電流檢測(cè)單元)
45連接電纜(讀取側(cè)信號(hào)線) 46,56模擬電流產(chǎn)生電路(非讀取電流檢測(cè)單元)
47電路圖案(讀取側(cè)信號(hào)線)
51寫(xiě)入控制電路(寫(xiě)入電流產(chǎn)生單元、非讀取電流產(chǎn)生單元)
55連接電纜(寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線)
58電路圖案(寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線)
102傳送路徑
103插卡口 105閘門(mén) 108驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī) Illd Illf 驅(qū)動(dòng)輥
300電路基板
301CPU
302編碼器
303檢測(cè)電路
304驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)控制單元
305閘門(mén)開(kāi)閉控制單元
Sl非讀取電流產(chǎn)生步驟、非讀取電流再產(chǎn)生步驟
S3非讀取電流停止步驟
S12 非讀取電流產(chǎn)生步驟S14 非讀取電流停止步驟
具體實(shí)施例方式以下，參照附圖，對(duì)用于實(shí)施本發(fā)明的最佳方式進(jìn)行說(shuō)明。[實(shí)施方式1]圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101的結(jié)構(gòu)的縱向剖視圖。圖2 是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101的電結(jié)構(gòu)的框圖。在圖1中，本發(fā)明的實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101包括插卡口 103，該插卡口 103將磁卡導(dǎo)入傳送路徑102 ；預(yù)讀磁頭104，該預(yù)讀磁頭104發(fā)送成為后述驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī) 108進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的觸發(fā)的信號(hào)、及成為開(kāi)閉通向傳送路徑102的閘門(mén)105的觸發(fā)的信號(hào)；磁頭 107，該磁頭107在所插入的卡片是磁卡的情況下，與該磁卡進(jìn)行磁數(shù)據(jù)收發(fā)；驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī) 108，該驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108經(jīng)由傳送帶或驅(qū)動(dòng)軸，對(duì)驅(qū)動(dòng)輥Illd Illf進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)；從動(dòng)輥 11 Ia 11 lc，該從動(dòng)輥11 Ia 11 Ic用于與驅(qū)動(dòng)輥11 Id 11 If成對(duì)地夾持所插入的卡片； 電路基板300 ；以及其他各種機(jī)械零部件/電氣元器件。如圖2所示，在電路基板300上，裝載有對(duì)各個(gè)部分進(jìn)行動(dòng)作控制的CPU301等， 并形成有編碼器302、對(duì)磁頭107的磁信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)電路303、驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)控制單元 304、以及閘門(mén)開(kāi)閉控制單元305等。將預(yù)讀磁頭104配置在插卡口 103的附近的、磁卡的磁條所通過(guò)的位置，若從插卡口 103取入磁卡，則預(yù)讀磁頭104會(huì)檢測(cè)有無(wú)磁條。然后，對(duì)讀卡器101內(nèi)的電路基板300 輸出成為對(duì)驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108進(jìn)行驅(qū)動(dòng)的觸發(fā)的信號(hào)。CPU301在對(duì)有無(wú)來(lái)自預(yù)讀磁頭104的輸出信號(hào)進(jìn)行識(shí)別之后，經(jīng)由驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)控制單元304，對(duì)驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108發(fā)送驅(qū)動(dòng)信號(hào)， 從而將磁卡進(jìn)行引入。另外，經(jīng)由閘門(mén)開(kāi)閉控制單元305，對(duì)閘門(mén)105發(fā)送打開(kāi)信號(hào)(例如使致動(dòng)器動(dòng)作)，從而允許向傳送路徑102內(nèi)進(jìn)行取入。此外，對(duì)驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108的旋轉(zhuǎn)進(jìn)行檢測(cè)、并對(duì)卡片傳送進(jìn)行控制的編碼器302與CPU301相連接。另外，在實(shí)施方式1中，預(yù)讀磁頭104具有使驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108和閘門(mén)105這兩者動(dòng)作的功能，但也可以只具有使任意一個(gè)動(dòng)作的功能。磁頭107通過(guò)與磁卡表面上的磁條相接觸并在磁條上滑動(dòng)，來(lái)對(duì)磁數(shù)據(jù)進(jìn)行讀寫(xiě)。更具體而言，磁頭107具備頭部，該頭部具有隔著磁隙(間隙隔片)而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯和卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈，能讀取(重放)記錄于磁條中的磁信息，或?qū)Υ趴▽?xiě)入(記錄)新的磁信息。在讀取磁信息時(shí)，通過(guò)檢測(cè)電路303，將進(jìn)行了轉(zhuǎn)換的數(shù)字信號(hào)輸入CPU301。此外，關(guān)于應(yīng)該與預(yù)讀磁頭104相連接的檢測(cè)電路303，在實(shí)施方式1中，由于不需要該檢測(cè)電路303而對(duì)其進(jìn)行了省略，但如后述的“實(shí)施方式1的變形例”那樣，在改變了預(yù)讀磁頭104的結(jié)構(gòu)等情況下，根據(jù)需要，也可以設(shè)置該檢測(cè)電路303。在實(shí)施方式1中，預(yù)讀磁頭104也具備與磁頭107相同的頭部。即，預(yù)讀磁頭104 具備頭部，該頭部具有隔著磁隙而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯和卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈。 使兩者具有相同的結(jié)構(gòu)，從而能因元器件通用化而力圖實(shí)現(xiàn)成本降低。另外，雖未圖示，但對(duì)預(yù)讀磁頭104和磁頭107進(jìn)行如下設(shè)置即，將上述頭部容納于磁屏蔽用的金屬制殼體內(nèi)，用露出在該殼體表面的磁芯的間隙部分來(lái)檢測(cè)磁卡的磁條的
12磁性變化，從而由線圈輸出與該磁性變化相對(duì)應(yīng)的信號(hào)。此外，將從磁頭107的線圈輸出的信號(hào)輸入至CPU301內(nèi)的解調(diào)單元(未圖示)。解調(diào)單元從磁頭107的線圈所輸出的信號(hào)解調(diào)出磁記錄于磁卡中的卡片數(shù)據(jù)。這里，在實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101中，從預(yù)讀磁頭104輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)。使用圖3進(jìn)行具體說(shuō)明。圖3是用于對(duì)來(lái)自預(yù)讀磁頭104的輸出信號(hào)進(jìn)行說(shuō)明的框圖。圖3(a)表示現(xiàn)有的讀卡器的框圖，圖3(b)表示實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101的框圖。如圖3(a)所示，在現(xiàn)有的讀卡器中，由于預(yù)讀磁頭104也與磁頭107相同，通過(guò)檢測(cè)電路303而將數(shù)字信號(hào)輸入CPU301，因此，在預(yù)讀磁頭104的頭部141與檢測(cè)電路303之間，所發(fā)送的是記錄于磁條中的磁信息本身(例如圖4(a)所示的數(shù)據(jù))。而且，在通過(guò)檢測(cè)電路303之后，上述數(shù)字信號(hào)(例如圖4(b)所示的數(shù)據(jù))被輸入CPU301。但是，若采用這樣的結(jié)構(gòu)，則在將引線非法安裝于連接預(yù)讀磁頭104與檢測(cè)電路 303的電纜等上的情況下，記錄于磁條中的磁信息有可能會(huì)發(fā)生泄露。因此，在實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101中，如上所述，對(duì)于預(yù)讀磁頭104，雖然將上述頭部容納于磁條用的金屬制殼體內(nèi)，但如圖3 (b)所示，在該預(yù)讀磁頭104的殼體內(nèi)，設(shè)置有對(duì)來(lái)自頭部141的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)電路142、以及輸出與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)的偽信號(hào)輸出電路143。作為偽信號(hào)輸出電路143的一個(gè)例子，可以采用多諧振蕩器或施密特反相器振蕩電路等產(chǎn)生周期性脈沖的脈沖發(fā)生器(例如圖4(c)所示的輸出)，也可以采用若檢測(cè)到信號(hào)輸入、則輸出一定的保持信號(hào)的邏輯電路(例如圖4(d)所示的輸出)。另外，將檢測(cè)有無(wú)磁條的時(shí)刻設(shè)為輸出這些與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)的時(shí)刻，但除此以外，例如也可以在閘門(mén)105動(dòng)作之后再進(jìn)行輸出。此外，該時(shí)刻可以是在預(yù)讀磁頭104與磁條相接觸并在磁條上滑動(dòng)的整個(gè)期間內(nèi)、也可以是只在預(yù)讀磁頭104與磁條相接觸并在磁條上滑動(dòng)的一部分的期間內(nèi)。這樣，若例如圖4(c)或圖4(d)所示的信號(hào)從預(yù)讀磁頭104通過(guò)檢測(cè)電路142和偽信號(hào)輸出電路143輸出，則由于是與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，因此，無(wú)論是解調(diào)還是解讀都較為困難。因而，能防止泄露和非法利用磁信息。此外，關(guān)于檢測(cè)電路142，也可以是與現(xiàn)有的檢測(cè)電路303相同的檢測(cè)電路，但可以采用進(jìn)一步追加有刪除(去除單噪音)電路或檢測(cè)靈敏度的變更電路等的電路。由此， 能提高對(duì)外來(lái)噪音的抗噪性。另外，通過(guò)將檢測(cè)電路142設(shè)置于預(yù)讀磁頭104內(nèi)，能簡(jiǎn)化電路基板300側(cè)的電路結(jié)構(gòu)。由此，上述檢測(cè)電路142和偽信號(hào)輸出電路143具有作為將來(lái)自頭部141的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)的“信號(hào)轉(zhuǎn)換單元”的一個(gè)例子的功能。另一方面，為了實(shí)現(xiàn)從預(yù)讀磁頭104輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)的目的，在實(shí)施方式1所涉及的讀卡器101中，如上所述，將作為“信號(hào)轉(zhuǎn)換單元”的偽信號(hào)輸出電路等容納于預(yù)讀磁頭104的殼體內(nèi)，但作為“信號(hào)轉(zhuǎn)換單元”，利用其他方法也能實(shí)現(xiàn)該目的。利用圖5 圖7來(lái)進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。[實(shí)施方式1的變形例]圖5是表示多通道用預(yù)讀磁頭140的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)的立體圖。圖6是表示預(yù)讀磁頭140的主要機(jī)械結(jié)構(gòu)的縱向剖視圖。此外，圖5和圖6所示的預(yù)讀磁頭140成為與兩根數(shù)據(jù)磁道相對(duì)應(yīng)地設(shè)置有兩個(gè)頭部141(頭部141a和頭部141b)的雙通道用磁頭。此外， 在實(shí)施方式1中，所說(shuō)明的是具有隔著磁隙(間隙隔片)而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯和一對(duì)卷繞于磁芯上的線圈的頭部，并且是包含單通道用磁頭進(jìn)行說(shuō)明的，但由于該多通道用預(yù)讀磁頭是兩個(gè)通道以上，因此，將其標(biāo)注為預(yù)讀磁頭140。在圖5和圖6中，利用樹(shù)脂來(lái)形成分別卷繞有線圈411、412的兩個(gè)線圈架413、 414，這些線圈架413,414經(jīng)由它們之間的連接部415而相連接。另外，在線圈架413,414 的中央，貫穿上下方向而形成有中心孔416、417。而且，在線圈架413、414的上下端部突出設(shè)置有端子板418。對(duì)磁芯419的繞組芯部420同時(shí)插入像這樣地卷繞有線圈411、412的線圈架413、 414。然后，如圖6所示，將成為上半部分的、磁芯421的繞組芯部422插入線圈架413、414 的中心孔416、417。此外，在兩個(gè)磁芯419和421的前端側(cè)夾設(shè)未圖示的幾微米厚的隔片 (間隙)，并使兩者相對(duì)接，在這種狀態(tài)下，將它們安裝于磁屏蔽用的金屬制殼體423中。之后，向屏蔽殼體423內(nèi)填充規(guī)定的樹(shù)脂，從而完成雙通道用磁頭(預(yù)讀磁頭140)。這里，在圖5和圖6所示的預(yù)讀磁頭140中，由于對(duì)于線圈411、412分別存在線圈架413、414，因此，能從與兩根數(shù)據(jù)磁道相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)(頭部141a和頭部141b)獲取記錄于磁條中的磁信息，從而有泄露或非法利用磁信息的危險(xiǎn)性。因此，如圖7所示，可以考慮將線圈架413、414形成一體化，具體而言，設(shè)置卷繞有線圈的公用線圈架。在圖7所示的預(yù)讀磁頭140中，使用形成有能插入兩個(gè)繞組芯部420 (磁芯419的繞組芯部420和磁芯421的繞組芯部420)的中心孔424的一個(gè)線圈架425。S卩，在兩個(gè)磁芯419、421上，安裝有卷繞有線圈426的公用線圈架425。由此，由于將從磁芯419所獲得的信號(hào)與從磁芯421所獲得的信號(hào)進(jìn)行合成，因此，無(wú)法分別單獨(dú)獲取數(shù)據(jù)。其結(jié)果是，能防止泄露和非法利用磁信息。此外，預(yù)讀磁頭140只要具有檢測(cè)有無(wú)磁條的功能就足夠了， 即使是線圈架425也能起到使驅(qū)動(dòng)電動(dòng)機(jī)108或閘門(mén)105動(dòng)作的作用。此外，在本實(shí)施方式中，與實(shí)施方式1相同，可以如圖4(b)所示，在預(yù)讀磁頭140 內(nèi)設(shè)置檢測(cè)電路，也可以如圖4(a)所示，在電路基板側(cè)設(shè)置檢測(cè)電路。[實(shí)施方式1的主要效果]如以上所說(shuō)明的那樣，使用在實(shí)施方式1中所說(shuō)明的檢測(cè)電路142和偽信號(hào)輸出電路143等、或在實(shí)施方式1的變形例中所說(shuō)明的公用線圈架425作為信號(hào)轉(zhuǎn)換單元。由此，從預(yù)讀磁頭104、140輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，從而能防止泄露或非法利用磁信息。此外，在本說(shuō)明書(shū)中，分別對(duì)作為信號(hào)轉(zhuǎn)換單元的偽信號(hào)輸出電路143等和公用線圈架425進(jìn)行了說(shuō)明，但毋庸置疑，也可以想到同時(shí)具有這兩者的預(yù)讀磁頭104、140。另外，作為信號(hào)轉(zhuǎn)換單元，關(guān)于實(shí)施方式1中所說(shuō)明的檢測(cè)電路142和偽信號(hào)輸出電路143 等，也可以將它們收納于覆蓋一對(duì)磁芯419、421和線圈似6的屏蔽殼體423內(nèi)。由此，能防止發(fā)生將引線等安裝于預(yù)讀磁頭104上、從而泄露磁信息的情況。另外，通過(guò)從預(yù)讀磁頭104輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)，從而在對(duì)讀卡器101進(jìn)行維護(hù)時(shí)，難以將預(yù)讀磁頭104更換成其他的仿制品。S卩，由于現(xiàn)有的預(yù)讀磁頭104(參照?qǐng)D3(a))是從頭部141進(jìn)行模擬輸出，因此，能將其更換成其他的仿制品。然而，由于實(shí)施方式1中的預(yù)讀磁頭104(參照?qǐng)D3(b))是通過(guò)檢測(cè)電路142和偽信號(hào)輸出電路143輸出數(shù)字信號(hào)，因此，無(wú)法將其與進(jìn)行模擬輸出的仿制品進(jìn)行交換，其結(jié)果是，難以將其與其他的仿制品進(jìn)行交換。由此，能提高對(duì)于與仿制品進(jìn)行交換的安全性。另外，在實(shí)施方式1中，在使用公用線圈架425的情況下，由于能將線圈架的個(gè)數(shù)從現(xiàn)有的兩個(gè)(圖5和圖6中的線圈架413、414)減少至一個(gè)(圖7中的線圈架425)，并且還能將線圈的繞組減少至一個(gè)(圖7中的線圈426)，因此，能降低制造成本。此外，在圖5 圖7中，考慮了雙通道的磁頭，但也可以應(yīng)用于三通道的磁頭。下面，參照附圖，對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式2進(jìn)行說(shuō)明。[實(shí)施方式2](讀卡器的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu))圖8是用于對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式2所涉及的讀卡器1的主要部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的俯視圖。實(shí)施方式2的讀卡器1是用于讀取記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)、和向卡片2寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)的裝置。如圖8所示，該讀卡器1包括卡片處理部3，該卡片處理部3讀取記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)，并向卡片2寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)；以及卡片插入部5，該卡片插入部5形成有插入、 排出卡片2的插卡口 4。另外，在讀卡器1的內(nèi)部，形成有對(duì)從插卡口 4插入的卡片2進(jìn)行傳送的卡片傳送路徑6。在實(shí)施方式2中，沿圖8的X方向(左右方向)傳送卡片2。即，X方向是卡片2 的傳送方向。另外，圖8的Z方向(紙面垂直方向)是卡片2的厚度方向，與X方向和Z方向正交的、圖8的Y方向(上下方向)是卡片2的寬度方向(短邊寬度方向)?？ㄆ?例如是厚度為0. 7 0. 8mm左右的矩形的氯乙烯制卡片。在該卡片2上， 形成有磁條加。此外，在卡片2中，可以固定有IC芯片，也可以?xún)?nèi)置通信用的天線。另外， 卡片2可以是厚度為0. 18 0. 36mm左右的PET(聚對(duì)苯二甲酸乙二醇酯)卡片，也可以是具有規(guī)定厚度的紙卡片等?？ㄆ幚聿?包括卡片傳送機(jī)構(gòu)8，該卡片傳送機(jī)構(gòu)8用于在卡片傳送路徑6上傳送卡片2 ；磁頭9，該磁頭9對(duì)磁數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取和寫(xiě)入；以及光電傳感器10，該光電傳感器 10用于對(duì)卡片傳送路徑6內(nèi)有無(wú)卡片2進(jìn)行檢測(cè)?？ㄆ瑐魉蜋C(jī)構(gòu)8包括三個(gè)傳送輥11 ；驅(qū)動(dòng)用電動(dòng)機(jī)12，該驅(qū)動(dòng)用電動(dòng)機(jī)12對(duì)傳送輥11進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)；以及動(dòng)力傳遞機(jī)構(gòu)13，該動(dòng)力傳遞機(jī)構(gòu)13將驅(qū)動(dòng)用電動(dòng)機(jī)12的動(dòng)力傳遞至傳送輥11。另外，卡片傳送機(jī)構(gòu)8包括襯墊輥(未圖示)，該襯墊輥與傳送輥11 相對(duì)配置，并向傳送輥11施加作用力。三個(gè)傳送輥11以在卡片2的傳送方向上隔開(kāi)規(guī)定間隔的狀態(tài)進(jìn)行配置。如圖8所示，在卡片2的傳送方向上，配置有磁頭9，使得配置于卡片處理部3的中央部的傳送輥11的旋轉(zhuǎn)中心與磁頭9的中心在X方向上基本一致。另外，與磁頭9相對(duì)地配置有用于對(duì)通過(guò)卡片傳送路徑6的卡片2施加朝向磁頭9的作用力的相對(duì)輥14。磁頭9 的詳細(xì)結(jié)構(gòu)將在后文中進(jìn)行闡述。光電傳感器10是具有發(fā)光元件和受光元件的光學(xué)式傳感器。如圖8所示，在卡片 2的傳送方向上，配置有該光電傳感器10，使得磁頭9的中心與光電傳感器10的中心在X 方向上基本一致。在本實(shí)施方式中，磁頭9在由光電傳感器10檢測(cè)到卡片2的前端之后， 立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)，并在由光電傳感器10檢測(cè)不到卡片2之前，結(jié)束磁數(shù)據(jù)的讀取。即，在實(shí)施方式2中，能利用光電傳感器10，對(duì)是否正用磁頭9讀取磁數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)。卡片插入部5包括卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15，該卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15用于對(duì)是否從插卡口 4插入卡片2進(jìn)行檢測(cè)；閘門(mén)構(gòu)件16，該閘門(mén)構(gòu)件16對(duì)卡片傳送路徑6進(jìn)行開(kāi)閉； 以及預(yù)讀磁頭(磁頭)17，該預(yù)讀磁頭(磁頭)17讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)?？ㄆ迦霗z測(cè)機(jī)構(gòu)15包括傳感器探測(cè)桿20，該傳感器探測(cè)桿20能與卡片2的寬度方向的一側(cè)的端部相接觸；以及卡片寬度傳感器21，該卡片寬度傳感器21對(duì)傳感器探測(cè)桿20是否正與卡片2相接觸進(jìn)行檢測(cè)。傳感器探測(cè)桿20能以規(guī)定的轉(zhuǎn)動(dòng)軸為中心進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)，并能進(jìn)出卡片傳送路徑6。 卡片寬度傳感器21是包括桿狀構(gòu)件和被桿狀構(gòu)件所按壓的觸點(diǎn)的觸點(diǎn)開(kāi)關(guān)。在實(shí)施方式2 中，若從插卡口 4插入的卡片2的寬度方向的端部與傳感器探測(cè)桿20相接觸，則傳感器探測(cè)桿20發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)，與卡片寬度傳感器21的桿狀構(gòu)件相接觸，從而由桿狀構(gòu)件對(duì)觸點(diǎn)進(jìn)行按壓。即，實(shí)施方式2的卡片寬度傳感器21通過(guò)對(duì)從插卡口 4插入的卡片2與傳感器探測(cè)桿 20相接觸的情況進(jìn)行檢測(cè)，來(lái)對(duì)從插卡口 4插入卡片2的情況進(jìn)行檢測(cè)。此外，卡片寬度傳感器21也可以是具有發(fā)光元件和受光元件的光學(xué)式的傳感器。 另外，卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15也可以是具有直接與卡片2的寬度方向的端部相接觸的觸點(diǎn)的、機(jī)械式的檢測(cè)機(jī)構(gòu)。在卡片2的傳送方向上，預(yù)讀磁頭17配置于插卡口 4的附近。具體而言，預(yù)讀磁頭17配置于傳感器探測(cè)桿20的、與卡片2相抵接的部分的附近。在實(shí)施方式2中，預(yù)讀磁頭17在由卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15檢測(cè)到卡片2的前端之后，立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)，并在由卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15檢測(cè)不到卡片2之前，結(jié)束磁數(shù)據(jù)的讀取。即，在實(shí)施方式2中，能利用卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15，對(duì)是否正用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)。實(shí)施方式2的卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15是用于對(duì)用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)的讀取狀態(tài)檢測(cè)單元。關(guān)于預(yù)讀磁頭17的詳細(xì)結(jié)構(gòu)，將在后文中進(jìn)行闡述。(磁頭和預(yù)讀磁頭的結(jié)構(gòu))圖9是用于對(duì)圖8所示的磁頭9的內(nèi)部的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的圖，圖9(A)是俯視圖，圖9(B)是圖9(A)的E-E截面的剖視圖。圖10是用于對(duì)圖8所示的預(yù)讀磁頭17的內(nèi)部的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)進(jìn)行說(shuō)明的圖，圖10(A)是俯視圖，圖10(B)是側(cè)視圖。如圖9所示，磁頭9包括讀取磁芯25，該讀取磁芯25用于讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)；寫(xiě)入磁芯沈，該寫(xiě)入磁芯沈用于向磁條加寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)；讀取側(cè)線圈27，該讀取側(cè)線圈27卷繞于讀取磁芯25上；以及寫(xiě)入側(cè)線圈28，該寫(xiě)入側(cè)線圈28卷繞于寫(xiě)入磁芯沈上。另外，磁頭9例如包括虛設(shè)磁芯30，該虛設(shè)磁芯30隔著隔片四而配置于圖9(A)的讀取磁芯25的上下方向的兩側(cè)。讀取磁芯25、寫(xiě)入磁芯沈、讀取側(cè)線圈27、寫(xiě)入側(cè)線圈28、 以及虛設(shè)磁芯30收納于省略圖示的殼體之中。實(shí)施方式2的磁頭9是將讀取磁芯25和寫(xiě)入磁芯沈形成一體化的讀寫(xiě)一體型磁頭，在其前端(圖9(B)的上端)形成有間隙G1。此外，在實(shí)施方式2中，在磁條加中可以記錄三根磁道量的磁數(shù)據(jù)，實(shí)際上，磁頭9具有三組讀取磁芯25、寫(xiě)入磁芯沈、讀取側(cè)線圈 27、寫(xiě)入側(cè)線圈28、以及虛設(shè)磁芯30。如圖10所示，預(yù)讀磁頭17包括讀取磁芯31，該讀取磁芯31用于讀取記錄于磁條
16加中的磁數(shù)據(jù)；以及讀取側(cè)線圈32，該讀取側(cè)線圈32卷繞于讀取磁芯31上。另外，預(yù)讀磁頭17例如包括虛設(shè)磁芯33。讀取磁芯31、讀取側(cè)線圈32、以及虛設(shè)磁芯33收納于省略圖示的殼體之中。另外，在預(yù)讀磁頭17的前端(圖10(B)的上端)形成有間隙G2。此外，本實(shí)施方式的預(yù)讀磁頭17能讀取記錄于磁條加中的三根磁道量的磁數(shù)據(jù)之中的兩根磁道量的磁數(shù)據(jù)，實(shí)際上，預(yù)讀磁頭17具有兩組讀取磁芯31、讀取側(cè)線圈32、以及虛設(shè)磁芯33。(讀卡器的控制部的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu))圖11是表示圖8所示的讀卡器1的控制部40及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。 圖12是表示流過(guò)圖8所示的預(yù)讀磁頭17的電流的波形的一個(gè)例子的圖。此外，在圖11中， 只圖示出了與預(yù)讀磁頭17的控制相關(guān)的控制部40的結(jié)構(gòu)。進(jìn)行讀卡器1的各種控制的控制部40的各個(gè)結(jié)構(gòu)都安裝于電路基板(圖示省略) 上。即，以下所說(shuō)明的讀取控制電路42、放大電路43、磁性檢測(cè)電路44、以及模擬電流產(chǎn)生電路46都安裝于電路基板上。另外，控制部40與對(duì)裝載有讀卡器1的ATM等上位裝置進(jìn)行控制的上位控制部41相連接。作為與預(yù)讀磁頭17的控制相關(guān)的結(jié)構(gòu)，控制部40具有讀取控制電路42。讀取控制電路42例如是CPU。讀取控制電路42經(jīng)由放大電路43和磁性檢測(cè)電路44，與預(yù)讀磁頭 17的讀取側(cè)線圈32相連接。即，將流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流用放大電路43進(jìn)行放大，并經(jīng)由磁性檢測(cè)電路44而輸入至讀取控制電路42。另外，讀取控制電路42與卡片寬度傳感器21相連接。此外，預(yù)讀磁頭17的讀取側(cè)線圈32通過(guò)柔性印刷基板(FPC)或引線等連接電纜45，與電路基板相連接。另外，放大電路43例如是運(yùn)算放大器，讀取側(cè)線圈32的兩端分別與放大電路43的同相輸入端子和反相輸入端子相連接。另外，作為與預(yù)讀磁頭17的控制相關(guān)的結(jié)構(gòu)，控制部40具有模擬電流產(chǎn)生電路 46，該模擬電流產(chǎn)生電路46用于使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生與讀取記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈32的讀取電流相似的模擬電流。實(shí)施方式2的模擬電流是除讀取電流以外的非讀取電流，模擬電流產(chǎn)生電路46成為產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的非讀取電流產(chǎn)生單元。模擬電流產(chǎn)生電路46與讀取控制電路42相連接，將讀取控制電路42的控制信號(hào)輸入至模擬電流產(chǎn)生電路46。另外，模擬電流產(chǎn)生電路46與將連接電纜45和放大電路43 相連接的電路圖案47的一側(cè)相連接，向電路圖案47的一側(cè)輸出信號(hào)。若模擬電流產(chǎn)生電路46向電路圖案47的一側(cè)輸出信號(hào)，則在讀取側(cè)線圈32中會(huì)產(chǎn)生模擬電流。此外，在本方式中，電路圖案47形成于電路基板上，該電路圖案47的一側(cè)與模擬電流產(chǎn)生電路46相連接，但模擬電流產(chǎn)生電路46也可以經(jīng)由規(guī)定的連接電纜而與連接電纜45相連接。實(shí)施方式2的連接電纜45和電路圖案47是與讀取側(cè)線圈32相連接的讀取側(cè)信號(hào)線。在實(shí)施方式2中，如圖12所示，在除了利用預(yù)讀磁頭17來(lái)讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間(即，在除了讀取電流正流過(guò)讀取側(cè)線圈32時(shí)以外的時(shí)間)，模擬電流產(chǎn)生電路 46都使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。此外，在圖12中，縱軸表示流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流波形的大小(振幅)，橫軸表示時(shí)間。另外，在實(shí)施方式2中，如圖12所示，模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生由振幅與讀取電流(即，讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流)波形的振幅基本相等的波形所形成的模擬電流。即，模擬電流波形的振幅與讀取電流波形的振幅基本相等。
這里，預(yù)讀磁頭17的讀取電流的振幅遠(yuǎn)小于磁頭9將磁數(shù)據(jù)記錄于卡片2時(shí)流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28的寫(xiě)入電流的振幅。即，讀取電流遠(yuǎn)小于寫(xiě)入電流，從而模擬電流也遠(yuǎn)小于寫(xiě)入電流。例如，模擬電流的振幅的大小是寫(xiě)入電流振幅的約1000分之1左右。S卩，在本方式中，在模擬電流流過(guò)讀取側(cè)線圈32時(shí)，預(yù)讀磁頭17所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度遠(yuǎn)弱于磁條加的矯頑磁力。另外，在實(shí)施方式2中，模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流，所述模擬電流由周期與記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度相對(duì)應(yīng)的波形所形成。即，模擬電流的波形的周期成為與磁數(shù)據(jù)的記錄密度相對(duì)應(yīng)的周期。更具體而言，模擬電流的波形的周期成為根據(jù)磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片2的傳送速度(即，卡片2在讀卡器1內(nèi)的移動(dòng)速度)來(lái)決定的周期。例如，在磁數(shù)據(jù)的記錄方式為F2F方式的情況下，如圖12所示，模擬電流產(chǎn)生電路 46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生由周期Tl的波形、及周期為周期Tl的兩倍的周期T2的波形所組合而成的模擬電流，所述周期Tl根據(jù)磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片2的傳送速度來(lái)決定。另外， 如圖12所示，在根據(jù)磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片2的傳送速度來(lái)決定的周期的范圍內(nèi)，模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生周期會(huì)不定期地發(fā)生變化的模擬電流。即，模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生自身的周期在周期Tl與周期T2之間不規(guī)則地發(fā)生變化的模擬電流。(預(yù)讀磁頭的簡(jiǎn)要控制)圖13是表示圖8所示的預(yù)讀磁頭17的簡(jiǎn)要控制的一個(gè)例子的流程圖。在實(shí)施方式2的讀卡器1中，例如如下述那樣對(duì)預(yù)讀磁頭17進(jìn)行控制。S卩，如上所述，在除了讀取記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間(即，在除了讀取電流正流過(guò)讀取側(cè)線圈32時(shí)以外的時(shí)間)，控制部40 (具體而言，是模擬電流產(chǎn)生電路46)都使讀取側(cè)線圈 32產(chǎn)生模擬電流，即使在未將卡片2插入讀卡器1的待機(jī)狀態(tài)下，也使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流(步驟Si)。在該狀態(tài)下，控制部40對(duì)卡片寬度傳感器21是否成為接通(ON)進(jìn)行判斷(步驟 S2)。即，控制部40基于來(lái)自卡片寬度傳感器21的輸出信號(hào)，對(duì)是否將卡片2從插卡口 4插入進(jìn)行判斷。若將卡片2從插卡口 4插入，卡片寬度傳感器21成為接通(即，若在步驟S2 中成為“是”)，則由于在此之后，預(yù)讀磁頭17立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)，因此，控制部40 (具體而言，是模擬電流產(chǎn)生電路46)使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止(步馬聚S3) ο在該狀態(tài)下，控制部40對(duì)卡片寬度傳感器21是否成為斷開(kāi)(OFF)進(jìn)行判斷(步驟S4)。S卩，控制部40基于來(lái)自卡片寬度傳感器21的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的后端是否已通過(guò)傳感器探測(cè)桿20進(jìn)行判斷。若卡片2的后端已通過(guò)傳感器探測(cè)桿20，卡片寬度傳感器 21成為斷開(kāi)(即，若步驟S4中成為“是”)，則由于在此之前，預(yù)讀磁頭17已結(jié)束讀取磁數(shù)據(jù)，因此，返回步驟Si，控制部40使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。這樣，在實(shí)施方式2中，基于卡片寬度傳感器21的檢測(cè)結(jié)果(S卩，基于卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15的檢測(cè)結(jié)果)，在開(kāi)始利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止。另外，基于卡片寬度傳感器21的檢測(cè)結(jié)果，在結(jié)束利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之后，立即使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。因此，在讀取側(cè)線圈32中，會(huì)流過(guò)如圖5所示的電流。此外，讀取控制電路42基于從接通卡片寬度傳感器21到斷開(kāi)卡片寬度傳感器21的期間所輸入的信號(hào)，對(duì)磁數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)。因此，在讀卡器1中，即使在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間、在讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生模擬電流，也能獲取到正確的磁信息。這里，在步驟Sl中，讀取控制電路42和磁性檢測(cè)電路44始終對(duì)在讀取側(cè)線圈32 中是否產(chǎn)生模擬電流進(jìn)行監(jiān)視。在步驟Sl中，當(dāng)在讀取側(cè)線圈32中未產(chǎn)生模擬電流的情況下，有可能已經(jīng)實(shí)施了將模擬電流產(chǎn)生電路46與電路圖案47之間進(jìn)行切斷等的某種犯罪。因此，在步驟Sl中，當(dāng)檢測(cè)到在讀取側(cè)線圈32中未產(chǎn)生模擬電流的情況下，控制部40 將讀卡器1設(shè)成無(wú)法插入卡片2的狀態(tài)。另外，在這種情況下，控制部40向上位控制部41 輸出通知發(fā)生異常的情況的信號(hào)，上位控制部41向上位裝置發(fā)出報(bào)警。另外，通過(guò)發(fā)出報(bào)警來(lái)通知用戶(hù)需要進(jìn)行檢查，以促使用戶(hù)進(jìn)行檢查。本方式的讀取控制電路42和磁性檢測(cè)電路44是用于對(duì)在讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的情況進(jìn)行檢測(cè)的非讀取電流產(chǎn)生單元。此外，在實(shí)施方式2中，步驟Sl是從將卡片2插入讀卡器1之前起、使讀取側(cè)線圈 32產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的非讀取電流產(chǎn)生步驟。另外，步驟S3是在開(kāi)始利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)前、使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止的非讀取電流停止步驟。此外，經(jīng)過(guò)步驟S4之后的步驟Sl是在結(jié)束利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)后、使讀取側(cè)線圈32 產(chǎn)生模擬電流的非讀取電流再產(chǎn)生步驟。(實(shí)施方式2的主要效果)如以上所說(shuō)明的那樣，實(shí)施方式2的讀卡器1包括用于使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流的模擬電流產(chǎn)生電路46。另外，在實(shí)施方式2中，基于卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止，在結(jié)束利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之后，立即使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。S卩，在實(shí)施方式2中，在除了利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，都使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。因此，如上所述，在讀取側(cè)線圈32中，會(huì)流過(guò)如圖12所示的電流。因此，犯罪分子即使將信號(hào)線安裝在預(yù)讀磁頭17上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流的波形，也難以對(duì)讀取電流和模擬電流進(jìn)行判斷。特別是在實(shí)施方式2中，模擬電流的波形的振幅與讀取電流的波形的振幅大致相等。另外，在實(shí)施方式2中，模擬電流的波形的周期成為根據(jù)記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片2的傳送速度來(lái)決定的周期。而且，在實(shí)施方式2中， 在根據(jù)磁數(shù)據(jù)的記錄密度和卡片2的傳送速度來(lái)決定的周期的范圍內(nèi)，模擬電流的波形的周期不定期地發(fā)生變化。因此，犯罪分子即使獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流的波形，也很難對(duì)讀取電流和模擬電流進(jìn)行判斷。即，犯罪分子很難基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。其結(jié)果是，在實(shí)施方式2中，能防止非法獲取卡片2的磁信息。此外，在實(shí)施方式2中，如上所述，由于讀取控制電路42基于從接通卡片寬度傳感器21到斷開(kāi)卡片寬度傳感器21的期間所輸入的信號(hào)，對(duì)磁數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)，因此，即使在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間、在讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生模擬電流，讀卡器1也能適當(dāng)?shù)貙?duì)讀取電流和模擬電流進(jìn)行判斷，從而能獲取到正確的磁信息。另外，在實(shí)施方式2中，由于即使不在預(yù)讀磁頭17中配置解調(diào)電路和加密電路，也能防止非法獲取卡片2的磁信息，因此，能使預(yù)讀磁頭17實(shí)現(xiàn)小型化，并能降低預(yù)讀磁頭17的成本。因而，在實(shí)施方式2中，能使讀卡器1實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。在實(shí)施方式2中，在模擬電流流過(guò)讀取側(cè)線圈32時(shí)，預(yù)讀磁頭17所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度遠(yuǎn)弱于磁條加的矯頑磁力。因此，即使例如插入不規(guī)則的卡片2，從而利用卡片插入檢測(cè)機(jī)構(gòu)15未檢測(cè)到卡片2，但處于讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生有模擬電流的狀態(tài)的預(yù)讀磁頭17 與卡片2相接觸，這時(shí)也能防止記錄于所插入的卡片2的磁條加中的磁數(shù)據(jù)因模擬電流的影響而被破壞。在實(shí)施方式2中，在步驟Sl中，讀取控制電路42和磁性檢測(cè)電路44始終對(duì)在讀取側(cè)線圈32中是否產(chǎn)生有模擬電流進(jìn)行監(jiān)視。因此，如上所述，能檢測(cè)出實(shí)施了某種犯罪的情況，并能進(jìn)行使上位裝置發(fā)出報(bào)警等規(guī)定的處理。因而，在實(shí)施方式2中，能更可靠地防止非法獲取卡片2的磁信息。另外，在實(shí)施方式2中，基于由讀取控制電路42和磁性檢測(cè)電路44所得到的檢測(cè)結(jié)果，例如能對(duì)讀取側(cè)線圈32的斷路等進(jìn)行檢測(cè)。因而，基于由讀取控制電路42和磁性檢測(cè)電路44所得到的檢測(cè)結(jié)果，能對(duì)預(yù)讀磁頭17的更換時(shí)間進(jìn)行檢測(cè)，從而能提高讀卡器1的可靠性。(變形例1)圖14是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例1所涉及的控制部40及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。此外，在圖14中，只圖示出了與磁頭9的控制相關(guān)的控制部40的結(jié)構(gòu)。在上述實(shí)施方式2中，在除了利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，都使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。除此以夕卜，例如，在由磁頭9讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，也可以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。下面，對(duì)這種情況下的控制部40的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)和磁頭9的簡(jiǎn)要控制的一個(gè)例子進(jìn)行說(shuō)明。作為與磁頭9的控制相關(guān)的結(jié)構(gòu)，控制部40包括寫(xiě)入控制電路51和讀取控制電路52。寫(xiě)入控制電路51和讀取控制電路52例如是CPU。寫(xiě)入控制電路51與磁頭9的寫(xiě)入側(cè)線圈觀相連接，基于來(lái)自寫(xiě)入控制電路51的輸出信號(hào)，在寫(xiě)入側(cè)線圈觀中產(chǎn)生用于向卡片2寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入電流。即，寫(xiě)入控制電路51是使得用于寫(xiě)入磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀的寫(xiě)入電流產(chǎn)生單元。讀取控制電路52經(jīng)由放大電路53和磁性檢測(cè)電路54，與磁頭9的讀取側(cè)線圈27 相連接，用放大電路53將流過(guò)讀取側(cè)線圈27的電流進(jìn)行放大，并將其經(jīng)由磁性檢測(cè)電路M 輸入至讀取控制電路52。另外，讀取控制電路52與光電傳感器10相連接。此外，磁頭9的讀取側(cè)線圈27和寫(xiě)入側(cè)線圈觀通過(guò)柔性印刷基板(FPC)或引線等連接電纜55，與電路基板相連接。另外，作為與磁頭9的控制相關(guān)的結(jié)構(gòu)，控制部40具有模擬電流產(chǎn)生電路56，該模擬電流產(chǎn)生電路56用于使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生與讀取記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)讀取側(cè)線圈27的讀取電流相似的模擬電流。這種情況下的模擬電流是除讀取電流以外的非讀取電流，模擬電流產(chǎn)生電路56是產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的非讀取電流產(chǎn)生單元。模擬電流產(chǎn)生電路56與讀取控制電路52相連接，將讀取控制電路52的控制信號(hào)輸入至模擬電流產(chǎn)生電路56。另外，模擬電流產(chǎn)生電路56與將連接電纜55和放大電路53 相連接的電路圖案57的一側(cè)相連接，向電路圖案57的一側(cè)輸出信號(hào)。若模擬電流產(chǎn)生電路56向電路圖案57的一側(cè)輸出信號(hào)，則在讀取側(cè)線圈27中會(huì)產(chǎn)生模擬電流。此外，在實(shí)施方式2中，電路圖案57形成于電路基板上，該電路圖案57的一側(cè)與模擬電流產(chǎn)生電路56相連接，但模擬電流產(chǎn)生電路56也可以經(jīng)由規(guī)定的連接電纜而與連接電纜55相連接。連接電纜55和電路圖案57是與讀取側(cè)線圈27相連接的讀取側(cè)信號(hào)線。與模擬電流產(chǎn)生電路46相同，在除了由磁頭9讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，模擬電流產(chǎn)生電路56都使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。另外，模擬電流產(chǎn)生電路56使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生由振幅與讀取電流的波形的振幅基本相等的波形所形成的模擬電流。 此外，模擬電流產(chǎn)生電路56使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流，所述模擬電流由周期與記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度相對(duì)應(yīng)的波形所形成。另外，模擬電流產(chǎn)生電路56使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生周期會(huì)不定期地發(fā)生變化的模擬電流。此外，寫(xiě)入控制電路51、讀取控制電路52、放大電路53、磁性檢測(cè)電路54、以及模擬電流產(chǎn)生電路56都安裝于電路基板上。與預(yù)讀磁頭17相同地對(duì)磁頭9進(jìn)行控制。例如，如下述那樣對(duì)磁頭9進(jìn)行控制。 即，即使在未將卡片2插入讀卡器1的待機(jī)狀態(tài)下，模擬電流產(chǎn)生電路56也使讀取側(cè)線圈 27產(chǎn)生模擬電流。另外，控制部40基于來(lái)自光電傳感器10的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的前端是否已到達(dá)光電傳感器10進(jìn)行判斷。若卡片2的前端已到達(dá)光電傳感器10，光電傳感器10 成為接通，則在此之后，由于磁頭9立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)，因此，若光電傳感器10成為接通，則模擬電流產(chǎn)生電路56立即使讀取側(cè)線圈27中產(chǎn)生的模擬電流停止。之后，控制部40基于來(lái)自光電傳感器10的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的后端是否已通過(guò)光電傳感器10進(jìn)行判斷。若卡片2的后端已通過(guò)光電傳感器10，光電傳感器10成為斷開(kāi)， 則在此之前，由于磁頭9已結(jié)束讀取磁數(shù)據(jù)，因此，模擬電流產(chǎn)生電路56使讀取側(cè)線圈32 產(chǎn)生模擬電流。這樣，在除了由磁頭9讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流， 即使在這種情況下，也與上述實(shí)施方式相同，能防止非法獲取卡片2的磁信息。另外，能使讀卡器1實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。此外，在這種情況下，光電傳感器10是用于對(duì)用磁頭9 來(lái)讀取磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)的讀取狀態(tài)檢測(cè)單元。(變形例2)圖15是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例2所涉及的控制部40及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。此外，在圖15中，只圖示出了與磁頭9的控制相關(guān)的控制部40的結(jié)構(gòu)。在上述變形例1中，模擬電流產(chǎn)生電路56與電路圖案57的一側(cè)相連接，若模擬電流產(chǎn)生電路56向電路圖案57的一側(cè)輸出信號(hào)，則在讀取側(cè)線圈27中會(huì)產(chǎn)生模擬電流。艮口， 在上述變形例1中，對(duì)讀取用線圈27提供信號(hào)，以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。除此以外，例如也可以對(duì)寫(xiě)入側(cè)線圈觀提供信號(hào)，使電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀，從而利用電磁感應(yīng)， 使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。在這種情況下，可以將連接寫(xiě)入控制電路51和連接電纜55的電路圖案與模擬電流產(chǎn)生電路56相連接，也可以利用寫(xiě)入控制電路51，使電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，從而使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。即，也可以使寫(xiě)入控制電路51具有模擬電流產(chǎn)生電路56的功能。即，用于產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的非讀取電流產(chǎn)生單元也可以是寫(xiě)入控制電路 51。在非讀取電流產(chǎn)生單元是寫(xiě)入控制電路51的情況下，如圖15所示，無(wú)需模擬電流產(chǎn)生電路56。另外，在這種情況下，寫(xiě)入控制電路51與光電傳感器10相連接。另外，寫(xiě)入控制電路51包括衰減電路(圖示省略)，該衰減電路用于在使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流時(shí)使流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀的感應(yīng)電流小于寫(xiě)入電流。另外，寫(xiě)入控制電路51經(jīng)由形成于電路基板上的電路圖案58和連接電纜55，與寫(xiě)入側(cè)線圈28相連接。連接電纜55和電路圖案 58是與寫(xiě)入側(cè)線圈觀相連接的寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線。另外，在除了由磁頭9讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流。此時(shí)，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流，所述模擬電流由振幅與讀取電流的波形的振幅基本相等的波形所形成。另外，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流，所述模擬電流由周期與記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度相對(duì)應(yīng)的波形所形成。另外，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈 28，以使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生周期會(huì)不定期地發(fā)生變化的模擬電流。此外，在感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀時(shí)，磁頭9所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度遠(yuǎn)弱于磁條加的矯頑磁力。在這種情況下，例如，如下述那樣對(duì)磁頭9進(jìn)行控制。S卩，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀，使得即使在未將卡片2插入讀卡器1的待機(jī)狀態(tài)下，在讀取側(cè)線圈 27中也產(chǎn)生模擬電流。另外，控制部40基于來(lái)自光電傳感器10的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的前端是否已到達(dá)光電傳感器10進(jìn)行判斷。若卡片2的前端已到達(dá)光電傳感器10，光電傳感器 10成為接通，則在此之后，由于磁頭9立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)，因此，若光電傳感器10成為接通，則寫(xiě)入控制電路51立即使流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28的感應(yīng)電流停止，從而使讀取側(cè)線圈27中產(chǎn)生的模擬電流停止。之后，控制部40基于來(lái)自光電傳感器10的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的后端是否已通過(guò)光電傳感器10進(jìn)行判斷。若卡片2的后端已通過(guò)光電傳感器10，光電傳感器10成為斷開(kāi)， 則在此之前，由于磁頭9已結(jié)束讀取磁數(shù)據(jù)，因此，寫(xiě)入控制電路51使感應(yīng)電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈觀，從而使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。這樣，通過(guò)使電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，利用電磁感應(yīng)，使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流，即使在這種情況下，也能獲得與上述實(shí)施方式相同的效果。另外，由于利用寫(xiě)入控制電路51，使電流流過(guò)寫(xiě)入側(cè)線圈28，從而在使讀取側(cè)線圈27產(chǎn)生模擬電流的情況下，無(wú)需模擬電流產(chǎn)生電路56，因此，能簡(jiǎn)化控制部40的結(jié)構(gòu)。(變形例3)圖16是表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的變形例3所涉及的控制部40及其相關(guān)部分的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)的框圖。圖17是表示圖8所示的預(yù)讀磁頭17的簡(jiǎn)要控制的其他例子的流程圖。 此外，在圖16中，只圖示出了與預(yù)讀磁頭17的控制相關(guān)的控制部40的結(jié)構(gòu)。在上述實(shí)施方式2中，在除了利用預(yù)讀磁頭17讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，模擬電流產(chǎn)生電路46都使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。除此以外，例如，當(dāng)在電路基板上安裝有用于消除流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量的電路的情況下，在利用預(yù)讀磁頭17讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)，也可以使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。下面，對(duì)這種情況下的控制部40的簡(jiǎn)要結(jié)構(gòu)和預(yù)讀磁頭17的簡(jiǎn)要控制的一個(gè)例子進(jìn)行說(shuō)明。在這種情況下，如圖16所示，讀取側(cè)線圈32的一端經(jīng)由連接電纜45和電路圖案 47，與放大電路43的同相輸入端子相連接，讀取側(cè)線圈32的另一端經(jīng)由連接電纜45等進(jìn)行接地。另外，與模擬電流產(chǎn)生電路46的輸出側(cè)相連接的電路圖案48分岔成兩根電路圖案，其中一根電路圖案與電路圖案47相連接，另一根電路圖案與放大電路43的反相輸入端子相連接。因此，在這種情況下，在放大電路43中，流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量被消除。即，實(shí)施方式2的放大電路43是用于消除流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的非讀取電流、即模擬電流分量的非讀取電流分量消除單元。另外，在這種情況下，例如，如下述那樣對(duì)預(yù)讀磁頭17進(jìn)行控制。即，在未將卡片2 插入讀卡器1的待機(jī)狀態(tài)下，控制部40對(duì)卡片寬度傳感器21是否成為接通進(jìn)行判斷(步驟Sll)。即，控制部40基于來(lái)自卡片寬度傳感器21的輸出信號(hào)，對(duì)是否將卡片2從插卡口 4插入進(jìn)行判斷。若將卡片2從插卡口 4插入，卡片寬度傳感器21成為接通(即，若在步驟Sll中成為“是”)，則由于在此之后，預(yù)讀磁頭17立即讀取記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)， 因此，模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流(步驟Si》。此外，在步驟S12 中，如上所述，利用安裝于電路基板上的放大電路43，來(lái)消除流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量。在該狀態(tài)下，控制部40對(duì)卡片寬度傳感器21是否成為斷開(kāi)進(jìn)行判斷(步驟S13)。 即，控制部40基于來(lái)自卡片寬度傳感器21的輸出信號(hào)，對(duì)卡片2的后端是否已通過(guò)傳感器探測(cè)桿20進(jìn)行判斷。若卡片2的后端已通過(guò)傳感器探測(cè)桿20，卡片寬度傳感器21成為斷開(kāi)(即，若步驟S13中成為“是”)，則由于在此之前，預(yù)讀磁頭17已結(jié)束讀取磁數(shù)據(jù)，因此， 模擬電流產(chǎn)生電路46使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止(步驟S14)，之后，返回步驟 S11。這樣，基于卡片寬度傳感器21的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之前，使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。另外，基于卡片寬度傳感器21的檢測(cè)結(jié)果，在結(jié)束利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)之后，立即使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止。這里，如上所述，在放大電路43中，由于消除了流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量，因此， 即使在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)在讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生模擬電流，讀取控制電路42也能適當(dāng)?shù)貙?duì)磁數(shù)據(jù)進(jìn)行解調(diào)，從而讀卡器1能獲取到正確的磁信息。另外，由于在模擬電流流過(guò)讀取側(cè)線圈32時(shí)，預(yù)讀磁頭17所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度遠(yuǎn)弱于磁條加的矯頑磁力，因此，能防止記錄于磁條加中的磁數(shù)據(jù)因模擬電流的影響而被破壞。此外，在這種情況下，步驟S12是在開(kāi)始利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)前、使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生非讀取電流、即模擬電流的非讀取電流產(chǎn)生步驟。另外，步驟S14是在結(jié)束利用預(yù)讀磁頭17讀取磁數(shù)據(jù)后、使讀取側(cè)線圈32中產(chǎn)生的模擬電流停止的非讀取電流停止步驟。這樣，在利用預(yù)讀磁頭17讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)，在使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流的情況下，犯罪分子即使將信號(hào)線安裝在預(yù)讀磁頭17上并獲取到流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流的波形，但由于讀取電流與模擬電流相重疊，因此，對(duì)犯罪分子來(lái)說(shuō)，也難以基于讀取電流而獲取到正確的磁信息。因而，與上述實(shí)施方式2相同，能防止非法獲取卡片2的磁信息。另外，在這種情況下，由于只要在讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)，使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流即可， 因此，能力圖使讀卡器1實(shí)現(xiàn)省電。而且，在這種情況下，由于在除了讀取磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，讀取側(cè)線圈32中不流過(guò)電流，因此，犯罪分子難以識(shí)別對(duì)讀卡器1實(shí)施了用于防止非法獲取卡片2的磁信息的措施的情況。因而，能提高讀卡器1的安全性。
23
以外，即使在放大電路43中，在消除流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量的情況下，在利用預(yù)讀磁頭17讀取卡片2的磁數(shù)據(jù)時(shí)以外的時(shí)間，也可以使讀取側(cè)線圈 32產(chǎn)生模擬電流。另外，在放大電路43中，在消除流過(guò)讀取側(cè)線圈32的電流之中的模擬電流分量的情況下，也可以始終使讀取側(cè)線圈32產(chǎn)生模擬電流。另外，同樣地，控制部40也可以采用以下結(jié)構(gòu)即，在放大電路53中，消除流過(guò)讀取側(cè)線圈27的電流之中的模擬電流分量。(其他實(shí)施方式)上述實(shí)施方式2和變形例是本發(fā)明優(yōu)選的實(shí)施方式2的一個(gè)例子，但不限于此，在不變更本發(fā)明的要點(diǎn)的范圍內(nèi)，可以進(jìn)行各種變形來(lái)實(shí)施。在上述實(shí)施方式2和變形例中，使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生與讀取電流相似的模擬電流。即，使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生模擬電流，所述模擬電流是由振幅與讀取電流的波形的振幅基本相等的波形所形成的模擬電流，并且由周期與記錄于卡片2中的磁數(shù)據(jù)的記錄密度相對(duì)應(yīng)的波形所形成。除此以外，例如，也可以使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生與讀取電流不相似的非讀取電流，以代替模擬電流。即，可以使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生由振幅與讀取電流的波形的振幅不同的波形所形成的非讀取電流，也可以使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生由周期與磁數(shù)據(jù)的記錄密度不相對(duì)應(yīng)的波形所形成的非讀取電流。另外，在上述實(shí)施方式2和變形例中，如圖12所示，使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生周期會(huì)不定期地發(fā)生變化的模擬電流，但也可以使讀取側(cè)線圈27、32產(chǎn)生周期會(huì)定期地發(fā)生變化的模擬電流、或周期固定的模擬電流。在上述實(shí)施方式2和變形例中，讀卡器1是具有卡片傳送機(jī)構(gòu)8的卡片傳送式讀卡器，但適用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)的讀卡器也可以是一邊由用戶(hù)手動(dòng)地使卡片移動(dòng)、一邊讀取記錄于卡片上的磁數(shù)據(jù)的手動(dòng)式的讀卡器。例如，適用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)的讀卡器可以是一邊使卡片沿形成得比卡片的短邊寬度要淺的槽狀的卡片通路移動(dòng)、一邊讀取卡片的磁數(shù)據(jù)的、 所謂的手刷式讀卡器，也可以是在將卡片插入讀卡器內(nèi)部時(shí)、或在從讀卡器拔出卡片時(shí)讀取磁數(shù)據(jù)的、所謂的浸漬式讀卡器。工業(yè)上的實(shí)用性本發(fā)明所涉及的讀卡器能用于防止通過(guò)預(yù)讀磁頭非法獲取磁信息。而且，本發(fā)明所涉及的讀卡器能用于防止非法獲取卡片的磁信息，并能使讀卡器實(shí)現(xiàn)小型化和低成本化。
2權(quán)利要求
1.一種讀卡器，包括插卡口，該插卡口將具有磁條的磁卡導(dǎo)入傳送路徑；以及預(yù)讀磁頭，該預(yù)讀磁頭配置于所述插卡口的附近，對(duì)有無(wú)所述磁條進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，所述預(yù)讀磁頭包括頭部，該頭部具有隔著磁隙而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯、及卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈，從所述預(yù)讀磁頭輸出與記錄于所述磁條中的磁信息不同的信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的讀卡器，其特征在于，所述預(yù)讀磁頭包括信號(hào)轉(zhuǎn)換單元，該信號(hào)轉(zhuǎn)換單元將來(lái)自所述頭部的輸出信號(hào)轉(zhuǎn)換成與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的讀卡器，其特征在于，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元包括檢測(cè)電路，該檢測(cè)電路對(duì)來(lái)自所述頭部的輸出信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)； 以及輸出電路，該輸出電路輸出與該輸出信號(hào)不同的信號(hào)。
4.如權(quán)利要求2或3所述的讀卡器，其特征在于，所述信號(hào)轉(zhuǎn)換單元收納于殼體內(nèi)，所述殼體覆蓋所述一對(duì)磁芯和所述線圈。
5.如權(quán)利要求1至4的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述預(yù)讀磁頭是設(shè)置有多個(gè)與多根數(shù)據(jù)磁道相對(duì)應(yīng)的所述頭部的多通道磁頭， 在多個(gè)所述磁芯上，安裝有卷繞了線圈的公用線圈架。
6.一種讀卡器，讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)，其特征在于， 在所述讀卡器中，包括磁頭，該磁頭具有用于讀取所述磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于所述讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈；以及非讀取電流產(chǎn)生單元，該非讀取電流產(chǎn)生單元用于使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取所述磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流。
7.如權(quán)利要求6所述的讀卡器，其特征在于，所述非讀取電流產(chǎn)生單元與讀取側(cè)信號(hào)線相連接，所述讀取側(cè)信號(hào)線與所述讀取側(cè)線圈相連接。
8.如權(quán)利要求6所述的讀卡器，其特征在于，所述磁頭包括用于向所述卡片寫(xiě)入所述磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入磁芯、和卷繞于所述寫(xiě)入磁芯上的寫(xiě)入側(cè)線圈，并且是將所述讀取磁芯和所述寫(xiě)入磁芯形成一體化的讀寫(xiě)一體型磁頭，所述非讀取電流產(chǎn)生單元與寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線相連接，所述寫(xiě)入側(cè)信號(hào)線與所述寫(xiě)入側(cè)線圈相連接，所述非讀取電流的波形的振幅小于用于向所述卡片寫(xiě)入所述磁數(shù)據(jù)的寫(xiě)入電流的波形的振幅。
9.如權(quán)利要求8所述的讀卡器，其特征在于，所述非讀取電流產(chǎn)生單元是使所述寫(xiě)入電流流過(guò)所述寫(xiě)入側(cè)線圈的寫(xiě)入電流產(chǎn)生單兀。
10.如權(quán)利要求6至9的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述非讀取電流的波形的振幅與所述讀取電流的波形的振幅基本相等。
11.如權(quán)利要求6至10的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述非讀取電流的波形的周期是根據(jù)記錄于所述卡片中的所述磁數(shù)據(jù)的記錄密度和所述卡片在所述讀卡器內(nèi)的移動(dòng)速度來(lái)決定的周期。
12.如權(quán)利要求11所述的讀卡器，其特征在于，所述非讀取電流的波形的周期在根據(jù)所述磁數(shù)據(jù)的記錄密度和所述卡片在所述讀卡器內(nèi)的移動(dòng)速度來(lái)決定的周期的范圍內(nèi)，不定期地發(fā)生變化。
13.如權(quán)利要求6至12的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，在所述非讀取電流流過(guò)所述讀取側(cè)線圈時(shí)所述磁頭所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的強(qiáng)度弱于形成于所述卡片上的磁條的矯頑磁力。
14.如權(quán)利要求6至13的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述讀卡器包括讀取狀態(tài)檢測(cè)單元，該讀取狀態(tài)檢測(cè)單元用于對(duì)由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)，所述非讀取電流產(chǎn)生單元基于所述讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之前，使所述讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的所述非讀取電流停止，在結(jié)束由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之后，使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生所述非讀取電流。
15.如權(quán)利要求6至14的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述讀卡器包括電路基板，該電路基板上安裝有所述非讀取電流產(chǎn)生單元，在所述電路基板上，安裝有非讀取電流分量消除單元，該非讀取電流分量消除單元用于消除流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的電流之中的所述非讀取電流的分量。
16.如權(quán)利要求6至13的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述讀卡器包括讀取狀態(tài)檢測(cè)單元，該讀取狀態(tài)檢測(cè)單元用于對(duì)由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)的情況進(jìn)行檢測(cè)；以及電路基板，該電路基板上安裝有所述非讀取電流產(chǎn)生單元，在所述電路基板上，安裝有非讀取電流分量消除單元，該非讀取電流分量消除單元用于消除流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的電流之中的所述非讀取電流的分量，所述非讀取電流產(chǎn)生單元基于所述讀取狀態(tài)檢測(cè)單元的檢測(cè)結(jié)果，在開(kāi)始由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之前，使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生所述非讀取電流，在結(jié)束由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之后，使所述讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的所述非讀取電流停止。
17.如權(quán)利要求6至15的任一項(xiàng)所述的讀卡器，其特征在于，所述讀卡器包括非讀取電流檢測(cè)單元，該非讀取電流檢測(cè)單元用于對(duì)在所述讀取側(cè)線圈中產(chǎn)生所述非讀取電流的情況進(jìn)行檢測(cè)。
18.一種讀卡器的控制方法，所述讀卡器包括磁頭，所述磁頭具有用于讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于所述讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈，其特征在于，在所述讀卡器的控制方法中，包括非讀取電流產(chǎn)生步驟，該非讀取電流產(chǎn)生步驟從將所述卡片插入所述讀卡器之前起， 使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取所述磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流；非讀取電流停止步驟，該非讀取電流停止步驟在開(kāi)始由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之前，使所述讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的所述非讀取電流停止；以及非讀取電流再產(chǎn)生步驟，該非讀取電流再產(chǎn)生步驟在結(jié)束由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之后，使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生所述非讀取電流。
19.一種讀卡器的控制方法，所述讀卡器包括磁頭，所述磁頭具有用于讀取記錄于卡片中的磁數(shù)據(jù)的讀取磁芯、和卷繞于所述讀取磁芯上的讀取側(cè)線圈，其特征在于，在所述讀卡器的控制方法中，包括非讀取電流產(chǎn)生步驟，該非讀取電流產(chǎn)生步驟在開(kāi)始由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之前，使所述讀取側(cè)線圈產(chǎn)生除了在讀取所述磁數(shù)據(jù)時(shí)流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的讀取電流以外的非讀取電流；以及非讀取電流停止步驟，該非讀取電流停止步驟在結(jié)束由所述磁頭讀取所述磁數(shù)據(jù)之后，使所述讀取側(cè)線圈中所產(chǎn)生的所述非讀取電流停止，在所述非讀取電流產(chǎn)生步驟中，在所述讀卡器的電路基板內(nèi)，消除流過(guò)所述讀取側(cè)線圈的電流之中的所述非讀取電流的分量。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能防止基于來(lái)自預(yù)讀磁頭的輸出信號(hào)而非法獲取記錄于磁條中的磁信息的讀卡器。具體而言，讀卡器(101)包括插卡口(103)，該插卡口(103)將具有磁條的磁卡導(dǎo)入傳送路徑(102)；以及預(yù)讀磁頭(104)，該預(yù)讀磁頭(104)配置于插卡口(103)的附近，對(duì)有無(wú)磁條進(jìn)行檢測(cè)，預(yù)讀磁頭(104)包括頭部(141)，該頭部(141)具有隔著磁隙而相對(duì)配置的至少一對(duì)磁芯、及卷繞于一對(duì)磁芯上的線圈，從預(yù)讀磁頭(104)輸出與記錄于磁條中的磁信息不同的信號(hào)。
文檔編號(hào)G11B5/09GK102341854SQ20108001083
公開(kāi)日2012年2月1日 申請(qǐng)日期2010年3月3日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月5日
發(fā)明者東賀津久, 宮部高明, 小松善仁, 石川和壽 申請(qǐng)人:日本電產(chǎn)三協(xié)株式會(huì)社