專利名稱：：光拾取器和光信息記錄再現(xiàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及光拾取器和光信息記錄再現(xiàn)裝置，例如涉及進(jìn)行具有多個(gè)記錄層的多層光盤的記錄或再現(xiàn)的光拾取器和搭載有該光拾取器的光信息記錄再現(xiàn)裝置。
背景技術(shù)：
：光信息記錄再現(xiàn)裝置，具有對光盤記錄音樂、影像、各種數(shù)據(jù)等信息和對信息進(jìn)行再現(xiàn)的功能。近年來，光盤實(shí)現(xiàn)了使用藍(lán)色半導(dǎo)體激光和高NA物鏡的Blu-rayDiSC(BD，藍(lán)光光盤)的商品化，但光學(xué)系統(tǒng)的分辨率已幾乎達(dá)到了極限。因此，為了進(jìn)一步大容量化，實(shí)現(xiàn)光盤中的信息記錄層的多層化得到了重視。但是，存在下述層間串?dāng)_的問題，即，多層光盤中來自記錄再現(xiàn)的對象層以外的非對象層的反射雜散光會漏入檢測器，對伺服信號造成影響。光盤裝置將來自光盤的反射光用例如全息光學(xué)元件(HOE^olographicOpticalElements)等衍射光學(xué)元件分割·衍射為多個(gè)光束，用光檢測器受光，根據(jù)與受光量相應(yīng)的檢測信號生成再現(xiàn)RF信號(RFS:EadioFrequencySignal，射頻信號)、聚焦誤差信號(FES=FocusErrorSignal)、跟蹤誤差信號(TESJrackingErrorSignal)在TES檢測中，BD-R(Blu-ray2isc_Eecordable，可記錄藍(lán)光光盤)和BD-RE(EEwritable，可重寫)等記錄型盤片用推挽(PP=Push-Pull)法，BD-ROM(ReadOnlyMemory，只讀存儲器)用DifferentialPhaseDetection(DPD，差分相位檢測)法，根據(jù)記錄介質(zhì)的種類切換信號檢測或信號處理。例如，專利文獻(xiàn)1中，雙層光盤的聚焦誤差信號檢測采用刀刃法，按照來自非對象層的反射雜散光不會入射到檢測伺服信號的光檢測器的方式配置光檢測器。此時(shí)作為主要生成RFS的衍射光，因?yàn)槭箒碜苑菍ο髮拥姆瓷潆s散光盡量不漏入伺服信號用光檢測器，所以檢測的是衍射級數(shù)為1級或-1級衍射的光。此外，例如，專利文獻(xiàn)2中，公開了除去漏入光檢測器的雜散光成分的方法。專利文獻(xiàn)2中，檢測來自光盤的反射光，在生成RFS、TES、FES的主光檢測器的旁邊，僅檢測來自非對象層的反射雜散光的光檢測器配置在主光檢測器的旁邊，計(jì)算與主檢測器接收的反射雜散光相同程度的雜散光信號，從檢測信號求取差值。由此，檢測出不包含雜散光信號成分的來自對象層的穩(wěn)定的TES。專利文獻(xiàn)2中，聚焦誤差信號檢測采用光斑尺寸檢測法(SSDSpotSizedetection)，SSD用的光檢測器按照來自非對象層的反射雜散光不會漏入的方式離開RFS、TES用光檢測器配置。但是，專利文獻(xiàn)1中記載的方法中，因?yàn)闄z測不到透過HOE的O級光的光，所以存在光拾取器的初始組裝時(shí)HOE與光檢測器的對位較為困難這一問題點(diǎn)。這樣，因?yàn)楣鈾z測器的配置調(diào)整比較困難，所以用專利文獻(xiàn)1的方法不能應(yīng)對比雙層更多層的光盤。此外，專利文獻(xiàn)2中，因?yàn)橹饕蒖FS的光檢測器中來自對象層的信號反射光和來自非對象層的反射雜散光在相同光軸上傳播，所以存在RFS內(nèi)包含雜散光成分這一問題。另外，專利文獻(xiàn)2中記載的方法中，需要另外準(zhǔn)備HOE用于SSD。因?yàn)镾SD用的HOE造成光路長度變長，所以也存在光拾取器變得大型這一問題點(diǎn)。專利文獻(xiàn)1日本特愿2006-283248號公報(bào)=日本特開2008-102998=US2008/0094948專利文獻(xiàn)2日本特愿2007-289894號公報(bào)=日本特開2008-287851=US無
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明鑒于這樣的狀況完成，提供一種例如即使在對3層以上的多層光盤進(jìn)行信息記錄再現(xiàn)的情況下也適合的光拾取器和具備它的光信息記錄再現(xiàn)裝置。(1)為了解決上述課題，本發(fā)明中提供一種光拾取器，其具有調(diào)整·記錄再現(xiàn)兼用HOE或者按組裝調(diào)整用和記錄再現(xiàn)用、因TES檢測中的DPD法/推挽法而不同的Η0Ε，在具有多個(gè)HOE的情況下具備切換功能。光拾取器具備主(RFS/TES檢測用)光檢測器和虛擬(dummy)(組裝調(diào)整用)光檢測器。該主光檢測器，相對于來自光盤的反射光中透過HOE中生成RFS的一部分的區(qū)域的第一反射光成分，配置在生成RFS的一部分的衍射級數(shù)為0級以外的第一衍射光所到達(dá)的位置。此外，虛擬光檢測器配置在具有與第一衍射光不同的衍射級數(shù)的第二衍射光所到達(dá)的位置。光信息記錄再現(xiàn)裝置通過使用與主光檢測器和虛擬光檢測器的光檢測量相應(yīng)的主檢測信號和虛擬檢測信號，進(jìn)行對于HOE和光檢測器的位置關(guān)系的反饋控制。(2)此外，本發(fā)明的光拾取器，在主要生成RFS的RF用主光檢測器的附近具備用于檢測來自非對象層的反射雜散光的副光檢測器。光信息記錄再現(xiàn)裝置，對該副光檢測器檢測出的雜散光信號乘以對應(yīng)于RF用主光檢測器與該副光檢測器的面積比和位置關(guān)系的適當(dāng)?shù)南禂?shù)，計(jì)算出RF用主光檢測器檢測出的雜散光成分，將其從RF用主光檢測器檢測出的檢測信號中減去，從而檢測出對象層的再現(xiàn)RFS。(3)換言之，一方式(圖4和圖5)的光信息記錄再現(xiàn)裝置中，光拾取器的光檢測器，具備第一(主)和第二(虛擬)光檢測部。第一光檢測部檢測由衍射光學(xué)元件生成的衍射光中、作為反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光的第一衍射光。第二檢測部檢測反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中級數(shù)與第一衍射光不同的第二衍射光。光檢測器輸出與第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成組裝調(diào)整用的信號的第一檢測信號，和與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號的第二檢測信號。另一方面，信號處理電路基于第一檢測信號生成用于調(diào)整衍射光學(xué)元件與光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于第二檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號。而且，驅(qū)動(dòng)控制部基于位置調(diào)整用控制信號和伺服信號調(diào)整光拾取器內(nèi)的衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置，基于伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。另外，也可以在光檢測器中設(shè)置檢測來自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)的非對象層的反射雜散光的第三(副)光檢測部。通過該第三光檢測部檢測用于計(jì)算雜散光成分的第三檢測信號。另一方面，信號處理電路基于第三檢測信號計(jì)算雜散光成分，從信息記錄再現(xiàn)信號中減去雜散光成分，由此生成僅起因于光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號。其他方式(圖9)也可以如以下所述，在光拾取器中，衍射光學(xué)元件具有第一功能9(組裝調(diào)整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，具備用于在衍射光學(xué)元件的第一和第二功能之間切換功能的切換元件。在選擇了第一功能的情況下，光檢測器輸出與第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成組裝調(diào)整用的信號的第一檢測信號，在選擇了第二功能的情況下，光檢測器輸出與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號的第二檢測信號。信號處理電路和驅(qū)動(dòng)控制部執(zhí)行與上述相同的動(dòng)作。此外，其他方式(圖10和11)如以下所述，在光拾取器中，衍射光學(xué)元件具有第一功能(組裝調(diào)整用/DPD用Η0Ε)和第二功能(PP用Η0Ε)，設(shè)置有用于在衍射光學(xué)元件的第一和第二功能之間切換功能的切換元件，光檢測器具備檢測由衍射光學(xué)元件生成的衍射光中、作為反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光的第一衍射光(+1級)的第一(主)光檢測部，和檢測反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中與第一衍射光級數(shù)不同的第二衍射光(0級)的第二(虛擬)光檢測部。在選擇了第一功能的情況下，光檢測器輸出與第一和第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成組裝調(diào)整用的信號的信號的第一檢測信號，或者與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)用的第二檢測信號。在選擇了第二功能的情況下，光檢測器輸出與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號的第三檢測信號。另一方面，信號處理電路基于第一檢測信號生成用于調(diào)整衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于第二或第三檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號。驅(qū)動(dòng)控制部基于位置調(diào)整用控制信號和伺服信號調(diào)整光拾取器內(nèi)的衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置，基于伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。另外，其他方式(圖14和圖15)中，衍射光學(xué)元件在作為第一功能(組裝調(diào)整用/DPD用Η0Ε)起作用的情況下，將光信息記錄介質(zhì)(光盤)的反射光分割為多個(gè)光束使其衍射，在作為第二功能(PP用Η0Ε)起作用的情況下，使反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射。該情況下，光檢測器包括第一(虛擬)光檢測部，其檢測作為第一功能起作用的情況下的衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二(主)光檢測部，其檢測作為第二功能起作用的情況下的衍射光學(xué)元件的反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；和第三(主)光檢測部，其檢測作為第一功能起作用的衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)、和作為第二功能起作用的衍射光學(xué)元件的衍射光中衍射角與第二衍射光不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)。在選擇了第一功能的情況下，光檢測器輸出與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成組裝調(diào)整用的信號的信號的第一檢測信號，或者與第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號。在選擇了第二功能的情況下，光檢測器輸出與第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號的第三檢測信號。另一方面，信號處理電路基于第一檢測信號生成用于調(diào)整衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于第二或第三檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號。驅(qū)動(dòng)控制部基于位置調(diào)整用控制信號和伺服信號調(diào)整光拾取器內(nèi)的衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置，基于伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。此外，其他方式(圖18)中，使用具有與圖14相同的結(jié)構(gòu)的光衍射元件，但與圖15不同，不使用虛擬光檢測部。即，該情況下，衍射光學(xué)元件在作為第一功能(組裝調(diào)整用/DPD用Η0Ε)起作用的情況下，將反射光分割為多個(gè)光束使其衍射，在作為第二功能(PP用Η0Ε)起作用的情況下，使反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射。另外，光檢測器包括第一(主)光檢測部，其檢測作為第一功能起作用的情況下的上述衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二(主)光檢測部，其檢測作為第二功能起作用的情況下的衍射光學(xué)元件的上述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；第三(主)光檢測部，其檢測作為第一功能起作用的衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)、和作為第二功能起作用的衍射光學(xué)元件的衍射光中衍射角與第二衍射光不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)；和第四光檢測部，其檢測來自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層的反射雜散光，輸出用于計(jì)算雜散光成分的雜散光成分檢測信號。在選擇了第一功能的情況下，光檢測器輸出與第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成組裝調(diào)整用的信號的信號的第一檢測信號，或者與第一和第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號。在選擇了第二功能的情況下，光檢測器輸出與上述第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號即用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號的第三檢測信號。另一方面，信號處理電路基于第一檢測信號生成用于調(diào)整衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于第二或第三檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號，進(jìn)而，基于雜散光成分檢測信號計(jì)算出雜散光成分，從信息記錄再現(xiàn)信號中減去雜散光成分，由此生成僅起因于光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號。驅(qū)動(dòng)控制部基于位置調(diào)整用控制信號調(diào)整光拾取器內(nèi)的衍射光學(xué)元件和光檢測器的位置，基于伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。本發(fā)明的進(jìn)一步的特征，將通過以下本發(fā)明的實(shí)施方式和變得明確。根據(jù)本發(fā)明，能夠?qū)崿F(xiàn)一種光拾取器和光信息記錄再現(xiàn)裝置，其對于用于多層光盤記錄再現(xiàn)的光拾取器，特別在初始的組裝調(diào)整時(shí)提高Η0Ε、光檢測器的位置精度，并得到穩(wěn)定的再現(xiàn)RF信號、伺服信號。此外，實(shí)現(xiàn)一種光拾取器和光信息記錄再現(xiàn)裝置，其能夠得到充分降低了來自非對象層的反射雜散光的影響的RFS、FES、TES。圖1是表示本發(fā)明的光信息記錄再現(xiàn)裝置整體的概略結(jié)構(gòu)的框圖。圖2是表示本發(fā)明的光拾取器的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖3是表示本發(fā)明中使用的集成光學(xué)元件的結(jié)構(gòu)的圖。圖4是表示第一實(shí)施方式的衍射光學(xué)元件的結(jié)構(gòu)的圖。圖5是表示第一實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)和反射光的聚光位置的圖。圖6是表示第一實(shí)施方式的散焦時(shí)的對象層反射光的光檢測器上的照射位置的圖。圖7是表示第一實(shí)施方式的來自非對象層Layer(層)0的反射雜散光的光檢測器上的照射位置的圖。圖8是表示第一實(shí)施方式的來自非對象層Layerf的反射雜散光的光檢測器上的照射位置的圖。圖9是表示第一實(shí)施方式的組裝調(diào)整用的衍射光學(xué)元件和光檢測器的結(jié)構(gòu)、聚光位置的圖。圖10是表示第二實(shí)施方式的衍射光學(xué)元件的結(jié)構(gòu)的圖。圖11是表示第二實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)和反射光的聚光位置的圖。圖12是表示第二實(shí)施方式的散焦時(shí)的對象層反射光的光檢測器上的照射位置的圖。圖13是表示第二實(shí)施方式的來自非對象層的反射雜散光的光檢測器上的照射位置的圖。圖14是表示第三實(shí)施方式的衍射光學(xué)元件的結(jié)構(gòu)的圖。圖15是表示第三實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)和反射光的聚光位置的圖。圖16是表示第三實(shí)施方式的散焦時(shí)的對象層反射光的光檢測器上的照射位置的圖。圖17是表示第三實(shí)施方式的來自非對象層的反射雜散光的光檢測器上的照射位置的圖。圖18是表示第四實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)和反射光的聚光位置的圖。附圖標(biāo)記說明1…光信息記錄再現(xiàn)裝置，100…光盤，101···激光器驅(qū)動(dòng)器，102…光拾取器，103···信號處理電路，104…解調(diào)電路，105…解碼電路，106…地址檢測電路，107…伺服電路，108···驅(qū)動(dòng)控制電路，109…系統(tǒng)控制器，110…致動(dòng)器，11L···主軸電動(dòng)機(jī)，201…半導(dǎo)體激光器，202…偏振分束器，203…準(zhǔn)直透鏡，204···1/4波片，205…物鏡，206…集成光學(xué)元件，206A…衍射光學(xué)元件，206B…偏振變換元件，2060··偏振衍射光學(xué)元件，207…光檢測器，L300…來自光盤的反射光，0100、0200、0300…光檢測器中心，AlOD10,ElOH10、E12H12、I12、M12、N12、P12R12、A20、D20、E20、G20、H20、E22、G22、H22、122、M22、N22、P22、R22、A30、C32、E30、G30、H30、132、M32、N32、P32、R32、141…主光檢測器受光部，110、111、121、131…組裝調(diào)整用虛擬光檢測器受光部，S10、SlUS20、S21、S30、S31、S40、S41…雜散光用副檢測器，IOaIOi…衍射光柵，Ilalld、lli、20a20i、21a21i、30a30d、31a、31c、31e31i…偏振衍射光柵具體實(shí)施例方式以下參照本發(fā)明的實(shí)施方式。但是，要注意本實(shí)施方式只是用于實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的一個(gè)例子，并不限定本發(fā)明的技術(shù)范圍。此外，各圖中對共同的結(jié)構(gòu)附加相同的參照編號。(1)第一實(shí)施方式來自光盤100的反射光L300的中央附近包含相對光的傳播方向的光軸中心，是光強(qiáng)度最強(qiáng)的區(qū)域，主要用于生成再現(xiàn)RF信號。在第一實(shí)施方式中，檢測作為反射光L300中央附近的再現(xiàn)RF信號成分檢測出的某種程度上強(qiáng)度較強(qiáng)的2個(gè)光，例如1級衍射光、和從相同區(qū)域衍射并具有不同級數(shù)的衍射光的非0級光的衍射光例如-1級衍射光等，根據(jù)檢測信號進(jìn)行使集成光學(xué)元件206與光檢測器207的位置關(guān)系對準(zhǔn)的反饋控制(例如參照圖3)。第一實(shí)施方式中，特別是因?yàn)闆]有利用0級衍射光，所以具有能夠減少反射光L300中包含的來自非對象層的反射雜散光的影響的優(yōu)點(diǎn)。<光信息記錄再現(xiàn)裝置的結(jié)構(gòu)>圖1是表示本發(fā)明的光信息記錄再現(xiàn)裝置的概略結(jié)構(gòu)的圖。光信息記錄再現(xiàn)裝置1，是對光盤100記錄或再現(xiàn)信息的裝置，具備激光器驅(qū)動(dòng)器101、出射激光，檢測來自光盤100的反射光的光拾取器102、多個(gè)信號處理部103108、用于對光盤100上的規(guī)定的軌道進(jìn)行記錄再現(xiàn)的致動(dòng)器110、使光盤100旋轉(zhuǎn)的主軸電動(dòng)機(jī)111、和控制光信息記錄再現(xiàn)裝置1整體的系統(tǒng)控制器109。光拾取器102所包含的半導(dǎo)體激光器201由激光器驅(qū)動(dòng)器101控制。從半導(dǎo)體激光器201出射的光束，通過光拾取器102所包含的物鏡205照射到具有多個(gè)信息記錄層的光盤100。這樣，其反射光由光拾取器102所包含的光檢測器207檢測。信號處理電路103基于檢測信號，生成再現(xiàn)RF信號RFS、聚焦誤差信號FES和跟蹤誤差信號TES。RFS經(jīng)過解調(diào)電路104和解碼電路105，向系統(tǒng)控制器109送出。FES和TES經(jīng)過地址電路106和伺服電路107送到驅(qū)動(dòng)控制部108。驅(qū)動(dòng)控制部108基于來自系統(tǒng)控制器109的命令控制主軸電動(dòng)機(jī)111，使光盤100以規(guī)定的旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)。致動(dòng)器110從驅(qū)動(dòng)控制部108接收伺服信號、地址信號，基于它們控制光拾取器102。光拾取器102和信號處理電路103，根據(jù)因BD-R/RE和BD-ROM等光盤的種類引起的信號檢測的不同和其他的狀況，基于來自系統(tǒng)控制器109的命令，進(jìn)行必要的控制和信號處理。〈光拾取器的結(jié)構(gòu)〉圖2是表示本發(fā)明的光拾取器102的概略結(jié)構(gòu)的圖，表示在3層光盤中對從光的入射側(cè)起第二層(Layerl)進(jìn)行記錄再現(xiàn)的狀況。從半導(dǎo)體激光器201出射的S偏振的光束，相對于入射方向，被偏振分束器(PBSPolarizationBeamSplitter)202向存在光盤100的垂直方向反射，由準(zhǔn)直透鏡203變換為準(zhǔn)直平行光。準(zhǔn)直化的入射光之后被1/4波片204從直線偏振光變換為圓偏振光。圓偏振的光被物鏡205聚光，照射到光盤100。來自光盤100的反射光再次被物鏡205變換為平行光，被1/4波片204從圓偏振光變換為直線P偏振光。P偏振的光被準(zhǔn)直透鏡203變換為匯聚光。并且，P偏振的反射光透過PBS202，被集成光學(xué)元件206分割、衍射，入射到光檢測器207。<集成光學(xué)元件>圖3是表示本發(fā)明的第一實(shí)施方式中使用的集成光學(xué)元件206的結(jié)構(gòu)的圖。集成光學(xué)元件206具有作為衍射光柵的功能。反射光L300被集成光學(xué)元件206分割，對其分別檢測，由此能夠生成RFS、FES、TES。因此，集成光學(xué)元件206優(yōu)選的是，由具有多個(gè)區(qū)域、分別將光向不同的方向衍射的例如全息光學(xué)元件(HOE^olographicOpticalElements)等構(gòu)成的光學(xué)元件。圖3(a)是集成光學(xué)元件206由具有衍射光柵按區(qū)域而不同的1種衍射光學(xué)元件206A構(gòu)成的例子的圖，來自光盤100的反射光L300被衍射光學(xué)元件206A衍射。該情況下，組裝調(diào)整時(shí)和記錄再現(xiàn)時(shí)使用相同的Η0Ε。此外，如圖3(b)所示，也可以使集成光學(xué)元件206由2種以上不同的衍射方式的衍射光學(xué)元件構(gòu)成。圖3(b)表示使用多個(gè)衍射方式的例子，是在例如組裝調(diào)整用和記錄再現(xiàn)用所使用的檢測器不同的情況、或因BD-R/RE和BD-ROM等進(jìn)行記錄再現(xiàn)的光盤100的不同而造成伺服信號的運(yùn)算處理不同的情況下，通過切換使用2種以上的衍射光學(xué)元件來改變反射光L300的衍射方向，實(shí)現(xiàn)信號檢測的多功能化和運(yùn)算處理的簡化的情況的結(jié)構(gòu)例。為了改變衍射方向，例如可以使光的波長/偏振/方向性等發(fā)生變化，通過光的狀態(tài)來選擇進(jìn)行作用的衍射光學(xué)元件/不進(jìn)行作用的衍射光學(xué)元件，或者利用衍射因光的狀態(tài)變化而不同這一點(diǎn)。因此，集成光學(xué)元件206如圖3(b)所示，由使光的狀態(tài)變化的元件206B、和具有多個(gè)衍射方式的復(fù)合衍射光學(xué)元件206C構(gòu)成。例如，如果利用偏振特性，則準(zhǔn)備可變1/2波片作為元件206B，準(zhǔn)備偏振性HOE作為H0E206C，選擇根據(jù)L300的偏振方向進(jìn)行作用的衍射方式。反射光L300的偏振狀態(tài)能夠通過使可變1/2波片206B的結(jié)晶軸旋轉(zhuǎn)而切換?？勺?/2波片206B能夠由液晶元件和雙折射結(jié)晶等表現(xiàn)出雙折射的材料構(gòu)成。下面，以利用可變1/2波片作為使光的狀態(tài)變化的元件206B、使用偏振性HOE作為復(fù)合衍射光學(xué)元件206C為前提進(jìn)行說明。其中，雖然未圖示，但也可以在2種以上的衍射光學(xué)元件選擇時(shí)不利用光的性質(zhì)變化，而是在集成光學(xué)元件206中重疊多個(gè)衍射光學(xué)元件，機(jī)械上切換具有目標(biāo)衍射方式的衍射光學(xué)元件。此外，衍射光學(xué)元件也可以由衍射方式隨輸入信號而變化的可變材料構(gòu)成，該情況下集成光學(xué)元件206由一個(gè)光學(xué)元件206A構(gòu)成?！醇晒鈱W(xué)元件的形狀〉圖4是表示第一實(shí)施方式中使用的集成光學(xué)元件，即與圖3(a)206A對應(yīng)的HOE的形狀的圖。第一實(shí)施方式中，H0E206A被分割為不產(chǎn)生0級光的多個(gè)區(qū)域，圖中的實(shí)線表示區(qū)域的邊界。此處，HOE的上下方向在光學(xué)上與光盤100的跟蹤方向(Tan方向)一致，左右方向在光學(xué)上與半徑方向(Rad方向)一致。此外，這里設(shè)RacUTan方向?yàn)榫哂姓募墧?shù)的衍射方向，-RacU-Tan方向?yàn)榫哂胸?fù)的級數(shù)的衍射方向。另外，圖中的虛線表示反射光L300，反射光L300左右的縱條紋圖案表示因光盤100的軌道而產(chǎn)生的推挽圖案。推挽圖案是由于光盤100上的槽作為衍射光柵作用而出現(xiàn)的反射光L300中的干涉圖案。因?yàn)橥仆靾D案跟隨物鏡205與槽的位置關(guān)系的變動(dòng)而變化，所以推挽圖案成為TES的AC成分。此外，反射光L300中的干涉圖案以外的區(qū)域不受物鏡205與槽的位置關(guān)系的影響，所以成為TES的DC成分。其中，TES的AC、DC成分都受到物鏡205的透鏡移位(lensshift)的影響。圖4中，區(qū)域IOaIOd位于H0E206A的除中央附近外的左右位置，使透過該區(qū)域的光在Tan方向上衍射為士1級衍射光，使來自各區(qū)域的衍射光在Tan方向上排列。區(qū)域IOa和IObUOc和10d，按照包含物鏡205在Rad方向上位移的情況下反射光L300中的推挽圖案都全部透過的方式，分割區(qū)域而構(gòu)成。而且，區(qū)域IOa與IOb的邊界和IOc與IOd的邊界，按照反射光L300與H0E206A的中心一致時(shí)所分割的反射光L300為大致一半的方式設(shè)定。其中，區(qū)域IOaIOd中的+1級衍射光用于使用雙刀刃法的FES檢測，"I級衍射光用作使用推挽法的TES的AC成分。區(qū)域IOeIOh位于H0E206A的除中心附近和區(qū)域IOaIOd外的區(qū)域。各區(qū)域使透過該區(qū)域的光在Tan方向上衍射為士1級衍射光，使來自各區(qū)域的衍射光在Rad方向上排列。區(qū)域IOh與IOe的邊界和IOf與IOg的邊界，按照反射光L300與H0E206A的中心一致時(shí)所分割的反射光L300為大致一半的方式設(shè)定。區(qū)域IOeIOh中的士1級衍射光用作使用推挽法的TES檢測的DC成分。區(qū)域IOi位于H0E206A的包含中心的中央?yún)^(qū)域，以其他區(qū)域中的來自非對象層的反射雜散光不會入射的方式使光束向Rad方向衍射。區(qū)域IOi中的士1級衍射光的分光比，按照在+1級衍射光用于RFS、-1級衍射光用于集成光元件206和光檢測器組207的位置控制的情況下RFS的光量不變少的方式，設(shè)定為+1級光強(qiáng)度大于-1級光強(qiáng)度，例如+1級光強(qiáng)度-I級光強(qiáng)度=955。在除區(qū)域IOi外的所有區(qū)域中，來自各區(qū)域的衍射光的衍射角，按照來自對象層的反射光聚光在光檢測器207的各受光部的大致中央的方式設(shè)定，但另一方面，光檢測器207的各受光部，按照不會接收到來自非對象層的反射雜散光的方式配置。此外，來自除區(qū)域IOi外的所有區(qū)域的衍射光的衍射角，按照以散焦?fàn)顟B(tài)照射光檢測器207的來自非對象層的反射雜散光向不存在受光部的方向擴(kuò)散的方式設(shè)定。另外，+1級光和-1級光的使用用途也可以相反，該情況下適當(dāng)變更分光比即可。<光檢測器的受光部組的結(jié)構(gòu)和信號生成>圖5是表示與第一實(shí)施方式的集成光學(xué)元件206A(圖3(a)和圖4)對應(yīng)的光檢測器207的受光部的配置結(jié)構(gòu)、和反射光L300中來自記錄再現(xiàn)時(shí)的對象層的反射光的聚光位置的圖。但是，圖5中沒有圖示來自非對象層的反射雜散光。光檢測器207由多個(gè)受光部構(gòu)成，在被集成光學(xué)元件206分割/衍射的來自記錄再現(xiàn)的對象層的反射光所聚光的位置配置有主光檢測器的受光部，在組裝調(diào)整用的光束所聚光的位置配置有虛擬光檢測器的受光部，在包含反射光L300的光軸中心的來自非對象層的反射光所照射的位置配置有雜散光用副檢測器。圖5中，受光部AlOHlO和E12I12、M12、N12、P12、Q12、R12是主光檢測器的受光部，受光部IlO是虛擬光檢測器的受光部，S10、Sll是雜散光用副檢測器的受光部?；谑芄獠緼lOHlO和E12H12的檢測信號生成TES，基于受光部M12、N12,P12、Q12、R12的檢測信號生成FES。其中，所有光檢測器受光部的大小都是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位士數(shù)百μm等的程度的大小。當(dāng)反射光L300的光軸、集成光學(xué)元件206、光檢測器207的光軸中心0100全部一致時(shí)，來自區(qū)域IOaIOd的-1級衍射光分別在受光部AlODlO的中心聚光，+1級光分別在受光部N12與P12的中間點(diǎn)、M12與N12的中間點(diǎn)、P12與Q12的中間點(diǎn)、Q12與R12的中間點(diǎn)聚光，在散焦?fàn)顟B(tài)時(shí)會被檢測出來。同樣的，來自區(qū)域IOeIOh的1級衍射光分別在受光部E12H12的中心聚光，-1級衍射光分別在受光部ElOHlO的中心聚光，并被檢測。受光部112和IlO以位置0100為中心配置在Rad方向上，透過區(qū)域IOi的光束的+1級衍射光和-1級衍射光分別聚光，并被檢測。虛擬光檢測器的受光部IlO僅在組裝調(diào)整時(shí)使用，受光部112和受光部IlO的檢測信號用于組裝調(diào)整用的反饋控制。使用受光部112和IlO的檢測信號生成誤差信號，通過進(jìn)行反饋控制將集成光學(xué)元件206和光檢測器207的中心位置調(diào)整到同軸上，使集成光學(xué)元件206與光檢測器207的位置關(guān)系對準(zhǔn)。虛擬光檢測器的受光部IlO的受光面積設(shè)定為比主光檢測器112小，能夠提高位置調(diào)整精度。<聚焦誤差信號生成>15圖6(a)是表示物鏡205向比記錄再現(xiàn)的對象層Layerl距離入射側(cè)更遠(yuǎn)的LayerO的方向散焦的情況下來自對象層的反射光的圖。圖6(b)是表示向比對象層Layerl距離入射側(cè)更近的Layerf的方向散焦的情況下來自對象層的反射光的圖。來自區(qū)域IOaIOd的衍射光，與散焦相應(yīng)地在Rad方向移動(dòng)并模糊。來自區(qū)域IOeIOh的衍射光，與散焦相應(yīng)地在Tan方向移動(dòng)并模糊。此外，來自區(qū)域IOi的衍射光，與散焦相應(yīng)地在原來的位置上光斑變得模糊。在物鏡恰好聚焦在對象層的情況下，F(xiàn)ES用光檢測器M12R12的檢測信號都為0，結(jié)果FES為0。此外，當(dāng)物鏡向LayerO方向散焦的情況下，在受光部N12和Q12檢測出與受光量相應(yīng)的信號，在向Layerf方向散焦的情況下，在受光部M12、P12、R12檢測出與受光量相應(yīng)的信號。由此，F(xiàn)ESl根據(jù)受光部M12、m2、P12、Q12、R12的檢測信號利用式(1-1)求得。FESl=M12+P12+R12-(N12+Q12)(1-1)此外，受光部E12H12和ElOH10，位于從位置0100看來在Tan方向上比A10、BIO、CIO、DlO和M12、N12、P12、Q12、R12離得更遠(yuǎn)的位置，在Rad方向排列配置。<DPD法跟蹤誤差信號生成>基于受光部AlOHlO的檢測信號，利用式(1-2)求得DPD法的TES和DPDl。DPDl=(A10+E10+C10+G10)-(B10+F10+D10+H10)—(1-2)<推挽法跟蹤誤差信號生成>基于受光部E12H12和ElOHlO的檢測信號、受光部AlODlO的檢測信號，利用式(1-3)求得推挽法的TES和PPSl。PPSl=(A10+B10+E10+F10)-(C10+D10+G10+H10)-ktlX{(E12+F12)-(G12+H12)}—(1-3)此處，ktl是按照在物鏡205因跟蹤動(dòng)作而在Rad方向上移動(dòng)的情況下PPSl不會產(chǎn)生偏移的方式設(shè)定的常數(shù)。圖7和8表示在光盤100具有3層信息記錄層且記錄再現(xiàn)的對象層為Layerl的情況下，分別來自LayerO和Layer2的反射雜散光，圖7(a)和8(a)是光拾取器102內(nèi)的狀況，圖7(b)和8(b)是H0E206A的狀況，圖7(c)和8(c)是檢測器207的狀況。圖7(b)和圖8(b)中的虛線表示H0E206A中來自對象層的反射光束的大小。如圖7(a)和圖8(a)所示，來自非對象層LayerO、Layer2的反射雜散光相對于傳播方向在比光檢測器207更近或更遠(yuǎn)處聚光，在光檢測器207上成為散焦?fàn)顟B(tài)。對于反射雜散光，來自區(qū)域IOaIOd的衍射光在散焦時(shí)在Rad方向上移動(dòng)。而另一方面，受光部A12D12和FES用受光部在Tan方向上排列。同樣的，對于反射雜散光，來自區(qū)域IOeIOh的衍射光在散焦時(shí)在Tan方向上移動(dòng)。而另一方面，受光部E12H12和ElOHlO在Tan方向上排列。因此，只要主光檢測器受光部的大小是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位的最小的大小，則來自非對象層的反射雜散光就不會入射到受光部。由此，本實(shí)施方式中，來自非對象層的反射雜散光較少被伺服用受光部檢測出，能生成穩(wěn)定的伺服信號。<記錄再現(xiàn)RF信號生成>受光部112與伺服信號用檢測器不同，也從非對象層接收散焦?fàn)顟B(tài)的反射雜散光。因此，與112鄰接地配置檢測雜散光的雜散光檢測器的受光部S10、S11，檢測與受光部112檢測出的雜散光相同程度的雜散光。為使物鏡移位時(shí)也能夠適當(dāng)?shù)貦z測反射雜散光，雜散光受光部SlO和Sll以與物鏡205的跟蹤動(dòng)作方向垂直的位置關(guān)系配置，該受光部(檢測器)的跟蹤動(dòng)作方向的大小得以設(shè)定。另外，雖然圖7和圖8中未圖示，但雜散光受光部也可以按照包圍受光部112的周圍的方式配置多個(gè)，也可以在與跟蹤動(dòng)作方向垂直的位置上僅配置1個(gè)。再現(xiàn)RF信號RFSl使用受光部AlOH10、I12、S10、S11的檢測信號按照式(1_4)求得。RFSl=A10+B10+C10+D10+E10+F10+G10+H10+I12-kslX(S10+S11)—(1-4)此處，ksl是與受光部112和S10、Sll的面積比以及位置關(guān)系相應(yīng)的系數(shù)。如式(1-4)所示，通過概算受光部112檢測出的反射雜散光成分并將其從實(shí)際的檢測信號減去，能夠提取對象層的再現(xiàn)RF信號。〈組裝調(diào)整用Η0Ε>此處，說明使用組裝調(diào)整專用HOE的情況。圖9是表示上述第一實(shí)施方式中使用的光檢測器中，使用衍射方式在組裝調(diào)整用時(shí)和記錄再現(xiàn)用時(shí)不同的HOE的情況的圖。該情況下，作為集成光學(xué)元件206采用圖3(b)的結(jié)構(gòu)。具有圖9(a)所示形狀的組裝調(diào)整用HOE作為圖3(b)的206C使用。此外，圖9(b)表示檢測器207上的聚光位置。從區(qū)域IlaIld衍射+1級光，通過雙刀刃法作為聚焦誤差信號FES檢測。此外，從區(qū)域Iii衍射多個(gè)衍射光，作為組裝調(diào)整信號檢測。在組裝調(diào)整時(shí)，為了不產(chǎn)生妨礙伺服信號檢測的來自非對象層的反射雜散光，使用單層光盤即可。這樣，反射雜散光不會照射受光部，來自區(qū)域Ili的衍射光中也允許有0級光。在檢測0級光的情況下，圖9(b)中，只要如中央附近的虛線所示設(shè)置虛擬光檢測器111即可。然后，記錄再現(xiàn)時(shí)通過用可變1/2波片206B進(jìn)行切換，能夠?qū)崿F(xiàn)圖4所示的衍射方式。該情況下與上述情況不同，從區(qū)域Ili(相當(dāng)于圖4的IOi)只存在記錄再現(xiàn)時(shí)的RF信號光用的衍射光，不存在組裝調(diào)整用的虛擬光檢測器所接收的衍射光。此外，作為組裝調(diào)整用HOE的其他方式，也可以使用下述Η0Ε，S卩，準(zhǔn)備與圖4所示的HOE大致相同方式的Η0Ε，僅對于區(qū)域Ili(相當(dāng)于圖4的IOi)，透過的光束中主光檢測器接收的RFS成分和用于組裝調(diào)整用的+1級衍射光與虛擬光檢測器接收的組裝調(diào)整用的衍射光的分光比不同。例如組裝調(diào)整時(shí)使用5050的Η0Ε，記錄再現(xiàn)時(shí)使用1000的Η0Ε。該情況下，可以使HOE整體為偏振Η0Ε，也可以僅使區(qū)域Ili(相當(dāng)于圖4的IOi)具有偏振特性。(2)第二實(shí)施方式第二實(shí)施方式通過在組裝調(diào)整時(shí)和記錄再現(xiàn)時(shí)使不同的衍射方式起作用，在集成光學(xué)元件206與光檢測器207的組裝位置調(diào)節(jié)中除了-1級光之外還使用0級光。在使用0級光的情況下，HOE的工作精度的影響較少，能夠以較高的精度實(shí)現(xiàn)組裝位置調(diào)節(jié)。此外，在進(jìn)行利用DPD法的跟蹤控制的情況下，對于包含反射光L300的光軸中心的衍射光而言，難以避免來自非對象層的反射雜散光。因此，并用組裝調(diào)整時(shí)的對策和利用DPD法進(jìn)行跟蹤控制的Η0Ε，但在利用推挽法進(jìn)行跟蹤控制的情況下使具有不同的衍射方式的HOE起作用。由此，能夠?qū)崿F(xiàn)具有精度較高的組裝位置、反射雜散光的影響較少的光拾取器。另外，通過用一個(gè)受光部接收來自HOE中多個(gè)不同區(qū)域的衍射光，使光檢測器207的結(jié)構(gòu)和信號運(yùn)算更加簡化。圖10至13涉及第二實(shí)施方式，與圖1至9所示的第一實(shí)施方式對應(yīng)的部分用同一符號表示。其中，光信息記錄裝置1和光拾取器102的結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式相同，所以省略說明?！囱苌涔鈻诺慕Y(jié)構(gòu)〉圖10是表示本發(fā)明的第二實(shí)施方式的偏振HOE的結(jié)構(gòu)的圖。圖10(a)是組裝調(diào)整用和BD-ROM記錄再現(xiàn)時(shí)所必需的利用DPD法的跟蹤控制(記錄再現(xiàn)時(shí))用(組裝調(diào)整用/DPD用)的HOE的結(jié)構(gòu)圖，圖10(b)是BD-R/RE記錄再現(xiàn)時(shí)所必需的利用推挽法的跟蹤控制(記錄再現(xiàn)時(shí))用(PP用)的HOE的結(jié)構(gòu)圖。圖10(a)中，區(qū)域20a20d按照反射光L300中的因ROM的坑引起的干涉圖案全部透過的方式分割元件而生成。具體而言，區(qū)域20a與20b、20c與20d、20e與20h、20f與20g的邊界，按照在反射光L300與HOE的中心一致時(shí)所分割的反射光L300為大致一半的方式設(shè)定。透過圖10(a)的區(qū)域20a20d的光，成為Tan方向的+1級衍射光或_1級衍射光，來自各區(qū)域的衍射光在Tan方向上排列。此時(shí)區(qū)域20a與20c、區(qū)域20b與20d在相同位置聚光，被作為再現(xiàn)RFS和DPD法的TES—起檢測出來。其中，雖然未圖示，但也可以采用在區(qū)域20a與20c的聚光位置、和區(qū)域20b與20d的聚光位置之間存在中心位置0200的方式。透過區(qū)域20e20h的光，成為Tan方向的+1級衍射光，來自各區(qū)域的衍射光在Rad方向排列。來自區(qū)域20e20h的+1級衍射光被作為FES檢測。此外，透過區(qū)域20i的光成為0級光和Rad方向的+1級衍射光，0級光被作為組裝調(diào)整用信號檢測，+1級光被作為組裝調(diào)整信號和再現(xiàn)RFS檢測。當(dāng)使用來自區(qū)域20i的+1級衍射光作為再現(xiàn)RFS用的情況下，組裝調(diào)整用時(shí)只要使用+1級衍射光以外的光即可，本實(shí)施方式中使用0級光，但也可以使用-1級光。圖10(b)與第一實(shí)施方式結(jié)構(gòu)相同，所以省略詳細(xì)說明。如上所述，圖10(a)的HOE用于組裝調(diào)整用和DPD用。另一方面，圖10(b)的HOE用于PP用，不用于組裝調(diào)整。此夕卜，圖10(b)的HOE與圖10(a)的HOE的記錄再現(xiàn)對象的記錄介質(zhì)不同。另外，哪一種結(jié)構(gòu)的HOE都能夠作為圖3(b)中的206C使用，使用哪一個(gè)例如通過元件206B根據(jù)作為對象的記錄介質(zhì)來切換。〈光檢測器的結(jié)構(gòu)〉圖11是第二實(shí)施方式中的光檢測器的結(jié)構(gòu)圖。受光部A20、D20、E20、G20、H20、122和M22、N22、P22、Q22是主光檢測器的受光部，受光部121是虛擬光檢測器的受光部，S20、S21是雜散光用副檢測器的受光部?；谑芄獠緼20、D20、E20、G20、H20的檢測信號生成TES，基于受光部M22、N22、P22、Q22的檢測信號生成FES。其中，與第一實(shí)施方式同樣地，主光檢測器受光部的大小只18要是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位士數(shù)百μm等的最小的大小即可。當(dāng)反射光L300的光軸、集成光學(xué)元件206、光檢測器207的中心0200全部一致時(shí)，來自區(qū)域20a、20c、21a、21b的-1級衍射光在受光部A20的中心聚光，來自區(qū)域20b、20d、21c、21d的-1級衍射光在受光部D20的中心聚光，來自區(qū)域21e、21f的-1級衍射光在受光部E20的在跟蹤方向上延伸的中心線上聚光，來自區(qū)域21g的-1級衍射光在受光部G20的中心聚光，來自區(qū)域21h的-1級衍射光在受光部H20的中心聚光，分別被檢測。其中，受光部E20以一個(gè)受光部接收來自HOE的多個(gè)不同區(qū)域的衍射光。由此實(shí)現(xiàn)光檢測器207的結(jié)構(gòu)和信號運(yùn)算的簡化。另一方面，為了使受光部E20的響應(yīng)特性與受光部G20和H20相同，如圖11中虛線所示，將與受光部G20和H20相同大小的受光部，在與受光部G20和H20相同軸線上的Rad方向的正的位置作為受光部(E20)設(shè)置，或在負(fù)的位置作為受光部(F20)設(shè)置。這樣，可以分別使受光部(E20)和(F20)接收來自HOE的區(qū)域20e和21e、區(qū)域20f和21f的-1級光。來自區(qū)域20e、21e、20h和21h的+1級衍射光，在受光部P22與Q22的恰好中間在Rad方向上排列，從中心0200看來，來自區(qū)域20e和21e的光在內(nèi)側(cè)聚光，來自區(qū)域20h和2Ih的光在外側(cè)聚光。來自區(qū)域20f、21f、20g和21g的+1級衍射光，在受光部M22與N22的恰好中間在Rad方向上排列，從中心0200看來，來自區(qū)域20f和21f的光在內(nèi)側(cè)聚光，來自區(qū)域20g和21g的光在外側(cè)聚光。這樣，區(qū)域20e20h、21e21h的+1級衍射光，在散焦?fàn)顟B(tài)時(shí)被受光部M22、N22、P22、Q22檢測到。FES檢測用受光部M22、N22、P22和Q22，配置在比區(qū)域20/2Iad的聚光位置離中心位置0200更遠(yuǎn)的位置。由此，來自非對象層的反射雜散光難以進(jìn)入受光部，能夠檢測出穩(wěn)定的FES。區(qū)域20i和21i的+1級衍射光在受光部122的中心聚光，區(qū)域20i的0級衍射光在受光部121的中心聚光，分別被檢測出。將-1級衍射光用于組裝調(diào)整用的情況下，在-1級衍射光聚光的位置設(shè)置受光部120(相當(dāng)于第一實(shí)施方式中的受光部110)以代替受光部121。此外，虛擬光檢測器(受光部)121僅在組裝調(diào)整時(shí)使用，受光部122和虛擬光檢測器121的檢測信號用于組裝調(diào)整用的反饋控制。使用受光部122和121的檢測信號生成誤差信號，進(jìn)行反饋控制，由此使集成光學(xué)元件206和光檢測器207的中心位置在同軸上對準(zhǔn)，從而能夠使集成光學(xué)元件206與光檢測器207的位置關(guān)系對準(zhǔn)。此外，通過使虛擬光檢測器121的受光面積小于主光檢測器122，能夠提高位置調(diào)整精度?！淳劢拐`差信號生成〉圖12是表示在本實(shí)施方式中散焦時(shí)的來自對象層的反射光圖案的圖。圖12中，表示了物鏡205向比記錄再現(xiàn)的對象層Layerl距離入射側(cè)更遠(yuǎn)的LayerO的方向散焦的情況下的來自對象層的反射光(L0側(cè))，和向比對象層Layerl距離入射側(cè)更近的Layerf的方向散焦的情況下的來自對象層的反射光(L2側(cè))。圖12(a)表示組裝調(diào)整/DPD用HOE起作用的情況，圖10(b)表示PP用HOE起作用的情況。來自區(qū)域20a20d和區(qū)域21a21d的衍射光，與散焦相應(yīng)地在Rad方向移動(dòng)19且光斑變得模糊。此外，來自區(qū)域20e20h和區(qū)域21e21h的衍射光，在Tan方向移動(dòng)且光斑變得模糊。另外，來自區(qū)域20i、21i的衍射光在原來的位置上光斑變得模糊。如圖12(a)和(b)所示，來自區(qū)域20a20d、20i、21i的衍射光，不論在向LayerO方向和Layer2方向的哪一側(cè)散焦的情況下，聚光光斑都同樣地變得模糊。受光部M22、N22、P22和Q22對用于生成利用雙刀刃法的聚焦誤差信號FES的信號進(jìn)行檢測。當(dāng)物鏡恰好在對象層聚焦時(shí)，F(xiàn)ES用光檢測器M12R12的檢測信號全部成為0，結(jié)果FES成為0。當(dāng)物鏡向LayerO方向散焦時(shí)，在受光部N22和Q22中檢測出與受光量相應(yīng)的信號。此外，當(dāng)向Layerf方向散焦時(shí)，在受光部M22、P22中檢測出與受光量相應(yīng)的信號。由此，根據(jù)受光部M22、N22、P22、Q22的檢測信號使用式(2_1)求得FES2。FES2=M22+P22-(N22+Q22)…(2-1)<DPD法跟蹤誤差信號生成>在組裝調(diào)整/DPD用HOE起作用的情況下，根據(jù)受光部A20、D20的檢測信號用式(2-2)求得DPD法的TES、DPD22。其中，來自區(qū)域20a和20c的衍射光由受光部A20—齊檢測，來自區(qū)域20b和20d的衍射光由受光部D20—齊檢測。由此，信號運(yùn)算得以簡化。DPD2=A20-D20...(2-2)<推挽法跟蹤誤差信號生成>推挽信號的AC成分由受光部A20和D20檢測。此外，推挽信號的DC成分由受光部E20、G20和H20檢測?；谶@些檢測信號，按照式(2_3)求得利用推挽法的TES、PPS2。其中，來自區(qū)域21a和21b的衍射光由受光部A20—齊檢測，來自區(qū)域21c和2Id的衍射光由受光部D20—齊檢測，區(qū)域21e、21f由受光部E20—齊檢測。由此，信號運(yùn)算得以簡化。PPS2=(A20+E20)-(D20+G20+H20)-kt2X{E20-(G20+H20)}—(2-3)此處，kt2是按照在物鏡205因跟蹤動(dòng)作而在Rad方向上移動(dòng)的情況下PPS不會產(chǎn)生偏移(offset)的方式設(shè)定的常數(shù)。圖13是表示在光盤100具有3層信息記錄層且記錄再現(xiàn)的對象層為Layerl的情況下的反射雜散光的狀況的圖。圖13中，表示了來自LayerO(LO)和Layerf(L2)的反射雜散光。圖13(a)表示組裝調(diào)整/ROM記錄再現(xiàn)時(shí)的HOE起作用的情況，圖13(b)表示RE記錄再現(xiàn)時(shí)的HOE起作用的情況。來自區(qū)域20a20d和21a21d的衍射光，在散焦時(shí)在Rad方向上移動(dòng)。而另一方面，受光部A20和D20在Tan方向上排列。此外，來自區(qū)域20e20h和21e21h的衍射光，在散焦時(shí)在Tan方向上移動(dòng)。而另一方面，受光部E20H20和FES用受光部在Rad方向上排列。因此，主光檢測器受光部的大小只要是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位的最小的大小，來自非對象層的反射雜散光就不會入射到各受光部。由此，本實(shí)施方式中來自非對象層的反射雜散光較少被伺服用受光部檢測出來，能生成穩(wěn)定的伺服信號。<記錄再現(xiàn)RF信號生成>受光部122接收來自區(qū)域20i和21i的1級衍射光。然后，基于與其受光量相應(yīng)的檢測信號生成記錄再現(xiàn)RF信號。但是，受光部122與伺服信號用檢測器不同，也會從非對象層接收散焦?fàn)顟B(tài)的反射雜散光，所以與122鄰接地配置檢測雜散光的副檢測器的受光部S20和S21，使其檢測與受光部122檢測的雜散光相同程度的雜散光。雜散光用副檢測器的受光部S20和S21，為了在物鏡移位時(shí)也同樣檢測雜散光，按照與物鏡205的跟蹤動(dòng)作方向垂直的位置關(guān)系配置，設(shè)定該檢測器在跟蹤動(dòng)作(Rad)方向上的大小。即，因?yàn)殡s散光不是平行光，所以雜散光也隨物鏡的運(yùn)動(dòng)而運(yùn)動(dòng)，所以即使在物鏡運(yùn)動(dòng)的情況下也必須能夠適當(dāng)?shù)慕邮针s散光。因此，需要將雜散光用副檢測器的受光部S20和S21的Rad方向的大小，按照即使在雜散光運(yùn)動(dòng)的情況下也能夠檢測出的方式設(shè)定。另外，雖然沒有圖示，但雜散光受光部可以圍著受光部122的周圍配置多個(gè)，或者在相對于跟蹤動(dòng)作方向垂直的位置僅配置1個(gè)。由此，基于受光部A20H20、122、S20、S21的與受光量相應(yīng)的檢測信號，根據(jù)式(2-4-1)或(2-4-2)求得再現(xiàn)RF信號RFS2。(使組裝調(diào)整/DPD用HOE作用的情況)RFS2=A20+D20+I22-ks2X(S20+S21)...(2-4-1)(使PP用HOE作用的情況)RFS2=A20+D20+E20+G20+H20+I22-ks2X(S20+S21)...(2-4—2)此處，ks2是與受光部122和S20、S21的面積比以及位置關(guān)系相應(yīng)的系數(shù)。如上所述，通過概算受光部122檢測出的反射雜散光成分并將其從實(shí)際檢測信號中減去，能夠提取對象層的記錄再現(xiàn)信號。(3)第三實(shí)施方式第三實(shí)施方式是與第二實(shí)施方式大致相同的內(nèi)容，但涉及通過進(jìn)一步簡化組裝調(diào)整/DPD用HOE來提高HOE的制造精度、且用于進(jìn)一步穩(wěn)定利用刀刃法的FES檢測的結(jié)構(gòu)。圖14至17是涉及第三實(shí)施方式的圖，與第一實(shí)施方式對應(yīng)的部分用同一符號表示。另外，光信息記錄裝置1和光拾取器102的結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施方式相同，因而省略說明?！囱苌涔鈻诺慕Y(jié)構(gòu)〉圖14是表示本發(fā)明的第三實(shí)施方式的偏振HOE的結(jié)構(gòu)的圖。具體而言，圖14(a)表示組裝調(diào)整用和BD-ROM記錄再現(xiàn)時(shí)所必需的DPD法的跟蹤控制用(組裝調(diào)整/DPD用)HOE的結(jié)構(gòu)，圖14(b)表示BD-RE記錄再現(xiàn)時(shí)所必需的推挽法的跟蹤控制用(PP用)Η0Ε的結(jié)構(gòu)。圖14中，區(qū)域30a30d的邊界，按照在反射光L300的中心與HOE的中心一致時(shí)所分割的反射光L300為大致一半的方式設(shè)定。區(qū)域31a和31c，按照包含物鏡205在Rad方向上位移的情況下反射光L300中的推挽圖案都全部透過的方式，分割區(qū)域而構(gòu)成。此外，區(qū)域31e與31h、31f與31g的邊界，按照在反射光L300的中心與H0E206A的中心一致時(shí)所分割的反射光L300為大致一半的方式設(shè)定。透過圖14(a)的區(qū)域30a30d的光成為Tan方向的0、士1級衍射光，來自各區(qū)域的衍射光在士Rad方向上排列。此外，透過圖14(b)的區(qū)域31a和31c的光成為Tan方向的+1級或-1級衍射光中的某一個(gè)。另外，以下以透過區(qū)域31a的光成為Tan方向的-1級衍射光、透過區(qū)域31c的光成為Tan方向的+1級衍射光的情況為例進(jìn)行說明。此外，圖14(b)中采用下述結(jié)構(gòu)，即，通過使從中心0300到來自區(qū)域31a和31c的衍射光的聚光位置的距離不同，使得因HOE的制造精度而引起的本來不需要的級數(shù)的衍射光不進(jìn)入受光部。此外，透過區(qū)域31e31h的光成為Tan方向的士1級衍射光，來自各區(qū)域的衍射光在Rad方向上排列。來自區(qū)域30a30d和區(qū)域31e31h的+1級衍射光，作為用于生成FES的信號檢測。另外，透過組裝調(diào)整/DPD用HOE的光的0級光用作組裝調(diào)整信號，-1級光用作組裝調(diào)整信號和再現(xiàn)RFS。此時(shí)0級光的強(qiáng)度只要是用虛擬光檢測器能夠檢測的最小的光強(qiáng)度即可，例如設(shè)定為+1級光強(qiáng)度0級光強(qiáng)度-1級光強(qiáng)度=30565?！垂鈾z測器的結(jié)構(gòu)〉圖15是表示本發(fā)明的第三實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)的圖。此處，受光部A30、C32、E30、G30、H30、132和M32、N32、P32、Q32是主光檢測器的受光部。受光部131是虛擬光檢測器的受光部。此外，S30和S31是雜散光用副檢測器的受光部。該檢測器中，各受光部的配置結(jié)構(gòu)在使HOE作為組裝調(diào)整用/DPD用HOE作用的情況和作為PP用HOE作用的情況下相同。TES基于與受光部A30、C32、E30、G30、H30的受光量相應(yīng)的檢測信號生成，F(xiàn)ES基于與受光部M32、N32、P32、Q32的受光量相應(yīng)的檢測信號生成。另外，主光檢測器受光部的大小，與第一和第二實(shí)施方式同樣地，只要是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位士數(shù)百ym等的最小的大小即可。當(dāng)反射光L300的光軸、集成光學(xué)元件206、光檢測器207的中心0300全部一致時(shí)，來自區(qū)域30a、30c、31e和31f的-1級衍射光在受光部E30上聚光，來自區(qū)域30a和30c、區(qū)域31e和31f的衍射光分別被一齊檢測出。其中，受光部E30以一個(gè)受光部接收來自HOE中多個(gè)不同區(qū)域的衍射光。由此，能夠簡化光檢測器207的結(jié)構(gòu)和信號運(yùn)算。但是，為了使受光部E30的響應(yīng)特性與G30和H30相同，如圖15中虛線所示，將與受光部G30和H30相同大小的受光部，在與受光部G30和H30相同軸線上的Rad方向的正的位置作為受光部(E30)設(shè)置，或在負(fù)的位置作為受光部(F30)設(shè)置。這樣，可以分別使區(qū)域(E30)和(F30)接收來自HOE的區(qū)域30a和31e、區(qū)域30c和31f的-1級衍射光。來自區(qū)域30b和31g的-1級衍射光在受光部G30的中心聚光，來自區(qū)域30d和3Ih的-1級衍射光在受光部H30的中心聚光，來自區(qū)域31a的-1級衍射光在受光部A30的中心聚光，來自31c的-1級衍射光在受光部C32的中心聚光，分別被檢測。來自區(qū)域30a、31e、30d和31h的+1級光，在受光部P32與Q32的恰好中間在Rad方向上排列，從中心0300看來，來自區(qū)域30a和3Ie的衍射光在內(nèi)側(cè)聚光，來自區(qū)域30d和31h的衍射光在外側(cè)聚光。此外，來自區(qū)域30b、31f、30c和31g的+1級衍射光，在受光部M22與N22的恰好中間在Rad方向上排列，從中心0300看來，來自區(qū)域30b和31f的光在內(nèi)側(cè)聚光，來自區(qū)域30c和31g的光在外側(cè)聚光。此外，區(qū)域30a30d、31e3Ih的+1級衍射光，在散焦?fàn)顟B(tài)時(shí)被受光部M32、N32、P32、Q32檢測到。當(dāng)HOE作為PP用HOE作用時(shí)，F(xiàn)ES檢測用受光部M32、N32、P32和Q32配置在比區(qū)域31a31d的聚光位置離中心位置0300更遠(yuǎn)的位置即可。由此，來自非對象層的反射雜散光難以進(jìn)入各受光部，能夠檢測出穩(wěn)定的FES。另一方面，當(dāng)HOE作為組裝調(diào)整/DPD用HOE作用時(shí)，透過該HOE的光的0級衍射光在虛擬光檢測器的受光部131的中心聚光，來自區(qū)域31i的+1級衍射光在受光部132的中心聚光，并被檢測。該虛擬光檢測器僅在組裝調(diào)整時(shí)使用，受光部132和虛擬光檢測器的22受光部131的檢測信號用于組裝調(diào)整用的反饋控制。其方式與第一和第二實(shí)施方式相同。〈聚焦誤差信號生成〉圖16是表示第三實(shí)施方式中來自散焦時(shí)的對象層的反射光的狀況的圖。圖16中，表示了物鏡205向比記錄再現(xiàn)的對象層Layerl距離入射側(cè)更遠(yuǎn)的LayerO的方向散焦的情況下的來自對象層的反射光(L0側(cè))，和向比對象層Layerl距離入射側(cè)更近的Layerf的方向散焦的情況下的來自對象層的反射光(L2側(cè))。圖16(a)表示組裝調(diào)整用/DPD記錄再現(xiàn)用的HOE起作用的情況下的反射光的狀況，圖16(b)表示PP記錄再現(xiàn)用的HOE起作用的情況下的反射光的狀況。對于來自區(qū)域30a30d的衍射光，以物鏡205與對象層的焦點(diǎn)相合時(shí)的聚光位置為中心，光斑變得模糊。此外，來自區(qū)域31a、31c的衍射光，與散焦相應(yīng)地在Rad方向上移動(dòng)且光斑變得模糊。另外，來自區(qū)域31e31h的衍射光，在Tan方向上移動(dòng)且光斑變得模糊。此外，來自組裝調(diào)整/ROM用HOE的0級光和來自區(qū)域31i的衍射光，在原來的位置上光斑變得模糊。如圖16(a)和(b)所示，來自組裝調(diào)整/ROM用HOE的0級光和來自區(qū)域31i的衍射光，不論在向LayerO方向和Layerf方向的哪一側(cè)散焦的情況下，聚光光斑都同樣地模糊。受光部M32、N32、P32和Q32檢測用于生成利用雙刀刃法的聚焦誤差信號FES的信號。當(dāng)物鏡恰好聚焦在對象層上的情況下，F(xiàn)ES用光檢測器M32Q32的檢測信號全部為0，結(jié)果FES為0。在物鏡向LayerO方向散焦的情況下，受光部N32和Q32中檢測出與受光量相應(yīng)的信號。此外，在向Layerf方向散焦的情況下，受光部M32、P32中檢測出與受光量相應(yīng)的信號。從而，F(xiàn)ES3根據(jù)與受光部M32、N32、P32、Q32的受光量相應(yīng)的檢測信號按照式(3-1)求得。FES3=M32+P32-(N32+Q32)...(3-1)<DPD法跟蹤誤差信號生成>在HOE作為組裝調(diào)整用/DPD用HOE作用的情況下，基于與受光部E30、G30和H30的受光量相應(yīng)的檢測信號，按照式(3-2)求得DPD法的TES和DPD3。其中，因?yàn)閬碜詤^(qū)域30a和30c的衍射光由受光部E30—齊檢測，所以信號運(yùn)算得以簡化。DPD3=E30-(G30+H30)—(3-2)<推挽法跟蹤誤差信號生成>受光部A30和C32檢測用于生成推挽信號的AC成分的信號。受光部E30、G30和H30檢測用于生成推挽信號的DC成分的信號?；谶@些檢測信號，按照式(3-3)求得推挽法的TES和PPS3。其中，因?yàn)閬碜詤^(qū)域31e和31f的衍射光由受光部E30—齊檢測，所以信號運(yùn)算得以簡化。PPS3=(A30+E30)-(C32+G30+H30)-kt3X{E30-(G30+H30)}—(3-3)此處，kt3是按照在物鏡205因跟蹤動(dòng)作而在Rad方向上移動(dòng)的情況下PPS3不會產(chǎn)生偏移的方式設(shè)定的常數(shù)。圖17是表示光盤100具有3層信息記錄層且記錄再現(xiàn)的對象層為Layerl的情況23下的來自LayerO(L0側(cè))和Layerf(L2側(cè))的反射雜散光的圖。圖17(a)表示在組裝調(diào)整用/DPD記錄再現(xiàn)用的HOE作用的情況下的反射雜散光，圖17(b)表示在PP記錄再現(xiàn)用的HOE作用的情況下的反射雜散光。在PP用HOE作用的情況下(圖17(b))，來自區(qū)域31a和31c的衍射光在散焦時(shí)在Rad方向上移動(dòng)，來自區(qū)域3Ie3Ih的衍射光在散焦時(shí)在Tan方向上移動(dòng)。但是，因?yàn)槭芄獠縀30H30和FES用受光部在Rad方向上排列，所以只要主光檢測器受光部的大小是能夠應(yīng)對物鏡205的透鏡移位的最小的大小，來自非對象層的反射雜散光就不會入射到各受光部。由此，來自非對象層的反射雜散光較少被伺服用受光部檢測到，能生成穩(wěn)定的伺服信號。另一方面，在組裝調(diào)整/DPD用HOE起作用、并進(jìn)行記錄再現(xiàn)的情況下(圖17(a))，來自非對象層的反射雜散光也會入射到受光部E30H30和FES用受光部。但是，來自對象層的光的光強(qiáng)度較強(qiáng)，或者干涉引起的強(qiáng)度變動(dòng)足夠慢，因此可以認(rèn)為影響比R/RE記錄再現(xiàn)時(shí)要少。<記錄再現(xiàn)RF信號生成>受光部132接收來自區(qū)域31i的1級衍射光，與其受光量相應(yīng)地生成記錄再現(xiàn)RF信號。但是，受光部132與伺服信號用衍射光不同，也會從非對象層接收散焦?fàn)顟B(tài)的反射雜散光。于是，與受光部132鄰接地配置檢測雜散光的副檢測器的受光部S30和S31，用它們檢測與受光部132檢測的雜散光相同程度的雜散光。雜散光用副檢測器的受光部S30和S31的方式與第一和第二實(shí)施方式相同。從而，根據(jù)與受光部430丄32』30!130、132、530、531的受光量相應(yīng)的檢測信號按照式(3-4-1)或(3-4-2)求得再現(xiàn)RF信號RFS3。(組裝調(diào)整用/ROM用HOE的情況)RF3=E30+G30+H30…(3-4-1)(RE用HOE的情況)RF3=A30+C32+E30+G30+H30+I32-ks3X(S30+S31)...(3-4—2)此處，ks3是與受光部132和S30、S31的面積比以及位置關(guān)系相應(yīng)的系數(shù)。如上所述，通過概算受光部132檢測出的反射雜散光成分并將其從實(shí)際的檢測信號中減去，能夠在PP用HOE作用的情況下提取對象層的記錄再現(xiàn)信號(因?yàn)?32僅在PP用HOE作用的情況下使用)。(4)第四實(shí)施方式第四實(shí)施方式是與第三實(shí)施方式大致相同的內(nèi)容，但設(shè)置主光檢測器和副光檢測器用于接收來自組裝調(diào)整/DPD用HOE的0級光。由此，能夠?qū)⒐鈴?qiáng)度較強(qiáng)的0級光用于RFS檢測，并且能夠降低非對象層反射雜散光的影響。此外，由于0級光強(qiáng)度提高，衍射光柵的制造變得容易，能夠提高HOE制造精度?！囱苌涔鈻诺慕Y(jié)構(gòu)〉本發(fā)明的第四實(shí)施方式的HOE的結(jié)構(gòu)，與第三實(shí)施方式相同，如圖14所示。因此，省略其詳細(xì)說明。另外，第四實(shí)施方式中，透過組裝調(diào)整/DPD用HOE的光中，來自區(qū)域30a30d的+1級衍射光作為FES檢測，0級衍射光作為組裝調(diào)整信號和RFS檢測，另外-1級衍射光作為組裝調(diào)整信號檢測。0級光的強(qiáng)度與第三實(shí)施方式不同，因?yàn)橐灿糜赗FS，所以優(yōu)選為某種程度上較強(qiáng)的強(qiáng)度。另一方面，因?yàn)?1級衍射光僅用作組裝調(diào)整用，所以為最小的光強(qiáng)度即可。由此，分光比按照0級光強(qiáng)度較高的方式設(shè)定，例如設(shè)定為+1級光強(qiáng)度0級光強(qiáng)度-1級光強(qiáng)度=25705。<光檢測器的結(jié)構(gòu)>圖18是表示本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光檢測器的結(jié)構(gòu)的圖。與第三實(shí)施方式不同之處在于，受光部141是主光檢測器的受光部，受光部S40和S41是雜散光用副受光部，不存在虛擬光檢測器。在HOE作為PP用HOE作用的情況下，因?yàn)榕c第三實(shí)施方式相同，所以省略說明。另一方面，在HOE作為組裝調(diào)整用/DPD用HOE作用的情況下，透過它的光的0級衍射光在主光檢測器的受光部141的中心聚光。此外，來自非對象層的反射雜散光被副光檢測器的受光部S40和S41檢測。<記錄再現(xiàn)RF信號生成>在HOE作為組裝調(diào)整/DPD用HOE作用的情況下，因?yàn)椴皇褂檬芄獠緼30和C30的檢測信號，所以0級衍射光中的來自非對象層的反射雜散光僅影響受光部141的檢測信號。從而，使用雜散光用副光檢測器的受光部S40和S41的檢測信號。由此，能夠減少受光部141中的來自非對象層的反射雜散光的影響。另外，雜散光用副檢測器的受光部S40和S41的方式與第一至第三實(shí)施方式相同。由此，再現(xiàn)RF信號RFS4基于受光部A30、C32、E30H30、132、S30、S31和140、S40、S41的檢測信號，根據(jù)式(4-1-1)或(4-1-2)求得。(組裝調(diào)整用/ROM(DPD)用HOE的情況)RFS4=I41_ks4X(S40+S41)…(4-1-1)(RE(PP)用HOE的情況)RFS4=A30+C32+E30+G30+H30+I32-ks4X(S30+S31)…(4—1—2)此處，ks4是與受光部132和S30、S31以及受光部141和S40、S41的面積比及位置關(guān)系相應(yīng)的系數(shù)。如上所述，通過概算受光部141檢測出的反射雜散光成分，并從實(shí)際的檢測信號中將其減去，能夠在組裝調(diào)整用/DPD(ROM)用HOE作用的情況下提取對象層的記錄再現(xiàn)信號。另外，PP用HOE作用的情況下的RFS檢測和兩個(gè)HOE作用時(shí)的FES、TES檢測與第三實(shí)施方式相同，所以省略說明。權(quán)利要求一種光拾取器，其特征在于，包括物鏡，其用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，其將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射；和光檢測器，其接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束，所述光檢測器具備第一光檢測部，其檢測由所述衍射光學(xué)元件生成的衍射光中、作為所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光的第一衍射光；和第二光檢測部，其檢測所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中、級數(shù)與所述第一衍射光不同的第二衍射光，所述光檢測器輸出第一檢測信號和第二檢測信號，其中，該第一檢測信號是與所述第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，該第二檢測信號是與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。2.如權(quán)利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光學(xué)元件具備第一區(qū)域，該第一區(qū)域使來自所述光記錄介質(zhì)的反射光的中央?yún)^(qū)域的光在所述光記錄介質(zhì)的半徑方向(Rad方向)上衍射，按照所述第一衍射光的光強(qiáng)度大于所述第二衍射光的光強(qiáng)度的方式生成所述第一和第二衍射光。3.如權(quán)利要求2所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光學(xué)元件，具有使所述反射光中包含的推挽圖案全部透過的第二區(qū)域，使透過該第二區(qū)域的光在所述光記錄介質(zhì)的跟蹤方向(Tan方向)上衍射，生成用于生成聚焦誤差信號的第三衍射光和用于生成跟蹤誤差信號的AC成分的第四衍射光。4.如權(quán)利要求3所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二區(qū)域以外的第三區(qū)域，使所述反射光在所述Tan方向上衍射，生成用于生成跟蹤誤差信號的DC成分的第五和第六衍射光。5.如權(quán)利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述光檢測器，還具備對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測的第三光檢測部，并輸出用于計(jì)算雜散光成分的第三檢測信號。6.如權(quán)利要求4所述的光拾取器，其特征在于所述光檢測器，還具備分別檢測所述第三至第六衍射光的第四至第七光檢測部，所述第四至第七光檢測部，按照不接收來自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層的反射雜散光、僅接收來自對象層的反射光的方式加以配置。7.如權(quán)利要求1所述的光拾取器，其特征在于所述衍射光學(xué)元件，具有第一和第二功能，所述光拾取器，還具備用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能的切換元件，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號，該第一檢測信號作為與所述第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第二檢測信號，該第二檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信8.一種光拾取器，其特征在于，包括物鏡，其用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，其將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切換元件，其用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，其接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一和第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。9.如權(quán)利要求8所述的光拾取器，其特征在于所述光檢測器，還具備對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測的第三光檢測部，并輸出用于計(jì)算雜散光成分的第四檢測信號。10.一種光拾取器，其特征在于，包括物鏡，其用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，其將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切換元件，其用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，其接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束，所述衍射光學(xué)元件，在作為所述第一功能起作用的情況下，將所述反射光分割衍射為多個(gè)光束，在作為所述第二功能起作用的情況下，使所述反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射，所述光檢測器具備第一光檢測部，其檢測在作為所述第一功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二光檢測部，其檢測在作為所述第二功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光檢測部，其檢測作為所述第一功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)，和作為所述第二功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的衍射光中與所述第二衍射光的級數(shù)不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。11.一種光拾取器，其特征在于，包括物鏡，其用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，其將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，具有第一和第二功能；切換元件，其用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，其接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束，所述衍射光學(xué)元件，在作為所述第一功能起作用的情況下，將所述反射光分割衍射為多個(gè)光束，在作為所述第二功能起作用的情況下，使所述反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射，所述光檢測器具備第一光檢測部，其檢測在作為所述第一功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二光檢測部，其檢測在作為所述第二功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光檢測部，其檢測作為所述第一功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)，和作為所述第二功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的衍射光中衍射角與所述第二衍射光不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第一和第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。12.—種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物鏡，用于使來自光源的光束照射到光盤的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，將來自所述光盤的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射；和光檢測器，接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束；信號處理電路，其基于來自所述光檢測器的檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和控制信號；和驅(qū)動(dòng)控制部，其基于所述控制信號對所述光拾取器進(jìn)行反饋控制，所述光拾取器的所述光檢測器包括第一光檢測部，檢測由所述衍射光學(xué)元件生成的衍射光中、作為所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光的第一衍射光；和第二光檢測部，檢測所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中、級數(shù)與所述第一衍射光不同的第二衍射光，所述光檢測器輸出第一檢測信號和第二檢測信號，其中，該第一檢測信號是與所述第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，該第二檢測信號是與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號，所述信號處理電路，基于所述第一檢測信號生成用于調(diào)整所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于所述第二檢測信號生成所述信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號，所述驅(qū)動(dòng)控制部，基于所述位置調(diào)整用控制信號和所述伺服信號調(diào)整所述光拾取器內(nèi)的所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置，基于所述伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。13.如權(quán)利要求12所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述光檢測器，還具備對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測的第三光檢測部，并輸出用于計(jì)算雜散光成分的第三檢測信號，所述信號處理電路，基于所述第三檢測信號計(jì)算所述雜散光成分，并從所述信息記錄再現(xiàn)信號減去所述雜散光成分，由此生成僅起因于所述光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號。14.如權(quán)利要求12所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述衍射光學(xué)元件，具有第一和第二功能，所述光拾取器，還具備用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能的切換元件，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號，該第一檢測信號作為與所述第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第二檢測信號，該第二檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。15.一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物鏡，用于使來自光源的光束照射到光盤的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，將來自所述光盤的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切換元件，用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束；信號處理電路，其基于來自所述光檢測器的檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和控制信號；和驅(qū)動(dòng)控制部，其基于所述控制信號對所述光拾取器進(jìn)行反饋控制，所述光拾取器的所述光檢測器包括第一光檢測部，檢測由所述衍射光學(xué)元件生成的衍射光中、作為所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光的第一衍射光；和第二光檢測部，檢測所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中、級數(shù)與所述第一衍射光不同的第二衍射光，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一和第二衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號。所述信號處理電路，基于所述第一檢測信號生成用于調(diào)整所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于所述第二或第三檢測信號生成所述信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號，所述驅(qū)動(dòng)控制部，基于所述位置調(diào)整用控制信號和所述伺服信號調(diào)整所述光拾取器內(nèi)的所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置，基于所述伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。16.如權(quán)利要求15所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述光檢測器，還具備對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測的第三光檢測部，并輸出用于計(jì)算雜散光成分的第四檢測信號，所述信號處理電路，基于所述第四檢測信號計(jì)算所述雜散光成分，并從所述信息記錄再現(xiàn)信號減去所述雜散光成分，由此生成僅起因于所述光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號。17.一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物鏡，用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切換元件，用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束；信號處理電路，其基于來自所述光檢測器的檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和控制信號；和驅(qū)動(dòng)控制部，其基于所述控制信號對所述光拾取器進(jìn)行反饋控制，所述衍射光學(xué)元件，在作為所述第一功能起作用的情況下，將所述反射光分割衍射為多個(gè)光束，在作為所述第二功能起作用的情況下，使所述反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射，所述光檢測器具備第一光檢測部，其檢測在作為所述第一功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二光檢測部，其檢測在作為所述第二功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；和第三光檢測部，其檢測作為所述第一功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)，和作為所述第二功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的衍射光中衍射角與所述第二衍射光不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號，所述信號處理電路，基于所述第一檢測信號生成用于調(diào)整所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于所述第二或第三檢測信號生成所述信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號，所述驅(qū)動(dòng)控制部，基于所述位置調(diào)整用控制信號和所述伺服信號調(diào)整所述光拾取器內(nèi)的所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置，基于所述伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。18.如權(quán)利要求17所述的光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于所述光檢測器，還具備對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測的第三光檢測部，并輸出用于計(jì)算雜散光成分的第四檢測信號，所述信號處理電路，基于所述第四檢測信號計(jì)算所述雜散光成分，并從所述信息記錄再現(xiàn)信號減去所述雜散光成分，由此生成僅起因于所述光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號。19.一種光信息記錄再現(xiàn)裝置，其特征在于，包括光拾取器，其包括物鏡，用于使來自光源的光照射到光記錄介質(zhì)的信息記錄層；衍射光學(xué)元件，將來自所述光記錄介質(zhì)的反射光分割為多個(gè)光束并使其衍射，而且具有第一和第二功能；切換元件，用于在所述衍射光學(xué)元件的所述第一和第二功能之間切換功能；和光檢測器，接收被所述衍射光學(xué)元件衍射的光束；信號處理電路，其基于來自所述光檢測器的檢測信號生成信息記錄再現(xiàn)信號和控制信號；和驅(qū)動(dòng)控制部，其基于所述控制信號對所述光拾取器進(jìn)行反饋控制，所述衍射光學(xué)元件，在作為所述第一功能起作用的情況下，將所述反射光分割衍射為多個(gè)光束，在作為所述第二功能起作用的情況下，使所述反射光的中央?yún)^(qū)域的光在與其他區(qū)域不同的方向上衍射，所述光檢測器具備第一光檢測部，其檢測在作為所述第一功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的0級衍射光(第一衍射光)；第二光檢測部，其檢測在作為所述第二功能起作用時(shí)的所述衍射光學(xué)元件的所述反射光的中央?yún)^(qū)域的衍射光中0級以外的衍射光(第二衍射光)；第三光檢測部，其檢測作為所述第一功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的0級以外的衍射光(第三衍射光)，和作為所述第二功能起作用的所述衍射光學(xué)元件的衍射光中衍射角與所述第二衍射光不同的0級以外的衍射光(第四衍射光)；和第四光檢測部，其對自具有多個(gè)信息記錄層的光記錄介質(zhì)中的非對象層來的反射雜散光進(jìn)行檢測，輸出用于計(jì)算雜散光成分的雜散光成分檢測信號，在選擇了所述第一功能的情況下，所述光檢測器輸出第一檢測信號或與所述第一和第三衍射光的檢測量相應(yīng)的信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的第二檢測信號，其中，該第一檢測信號作為與所述第一衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成組裝調(diào)整用的信號，在選擇了所述第二功能的情況下，所述光檢測器輸出第三檢測信號，該第三檢測信號作為與所述第二和第四衍射光的檢測量相應(yīng)的信號，用于生成信息記錄再現(xiàn)和反饋控制用的信號，所述信號處理電路，基于所述第一檢測信號生成用于調(diào)整所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置關(guān)系的位置調(diào)整用控制信號，基于所述第二或第三檢測信號生成所述信息記錄再現(xiàn)信號和伺服信號，基于所述雜散光成分檢測信號計(jì)算所述雜散光成分，并從所述信息記錄再現(xiàn)信號減去所述雜散光成分，由此生成僅起因于所述光記錄介質(zhì)的對象層的信息記錄再現(xiàn)信號，所述驅(qū)動(dòng)控制部，基于所述位置調(diào)整用控制信號和所述伺服信號調(diào)整所述光拾取器內(nèi)的所述衍射光學(xué)元件與所述光檢測器的位置，基于所述伺服信號執(zhí)行聚焦控制和跟蹤控制。全文摘要本發(fā)明提供一種光拾取器和光信息記錄再現(xiàn)裝置。以使來自光盤的反射光分割·衍射的衍射光學(xué)元件中的區(qū)域，將反射光分割為多個(gè)不同衍射級數(shù)的光并受光，利用受光信號進(jìn)行反饋控制，由此使衍射光學(xué)元件、光檢測器的位置關(guān)系對齊。在對透過衍射光學(xué)元件的中央?yún)^(qū)域的光束進(jìn)行檢測而生成RF信號的光檢測器的附近配置副光檢測器，接收來自非對象層的反射雜散光并進(jìn)行運(yùn)算，由此計(jì)算RF信號檢測器接收的反射雜散光成分，僅檢測來自對象層的反射光信號成分。文檔編號G11B7/13GK101958129SQ201010230378公開日2011年1月26日申請日期2010年7月14日優(yōu)先權(quán)日2009年7月14日發(fā)明者井手達(dá)朗,山崎和良,木村茂治,達(dá)永里子申請人:日立視聽媒介電子股份有限公司