專利名稱：利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法及裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明有關一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法及裝置。
背景技術：
當我們在測試讀取邏輯硬盤的時候，常常會需要使用標示壞扇區(qū)(Mark Bad Sector)這種命令對于某一個硬盤的區(qū)塊(Block)注明為”壞的”，進而測試讀取邏輯硬盤 的容錯機制(Error Handling)。但是該命令只能針對”某一個”區(qū)塊進行，所以若是需要標 示為壞掉的區(qū)塊很多的話會需要執(zhí)行很多命令。請參閱圖1所示，為習知模擬測試硬盤的功能方塊架構圖，其中一選項只讀存儲 器11，接收且執(zhí)行一實體要求指令，通過一硬盤固件(HDD Firmware) 12進入一硬盤13中去 執(zhí)行標示壞扇區(qū)動作，并產生一壞扇區(qū)寫入位置131，但一旦標示為壞掉，即無法再對該壞 扇區(qū)寫入位置131做使用。若是還想要使用該壞扇區(qū)寫入位置131，則必須重新下寫入命 令(Write Command)將該壞扇區(qū)寫入位置131導到壞扇區(qū)映射區(qū)132的壞扇區(qū)映射寫入位 置(Remapped Block) 1321才可繼續(xù)使用。倘若壞扇區(qū)映射寫入位置1321已經額滿，則表 示該硬盤13已經損毀，必須重新進行低階格式化O^omat)才能重新使用，但也代表該硬盤 13里面數(shù)據(jù)必完全清除。故傳統(tǒng)的模擬測試邏輯硬盤的方法及裝置對于硬盤13勢必留下 一些破壞性，且測試的速度也無法提升，本發(fā)明提出的方法與裝置正可改善上述習知缺點。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于，解決現(xiàn)有技術中測試讀取邏輯硬盤的時候，易對硬盤產生破 壞的技術問題。為達上述目的，本發(fā)明為一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的裝置， 其包含有一選項只讀存儲器，接收且執(zhí)行一實體要求指令；—壞扇區(qū)記錄表，設置于該選項只讀存儲器中，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要 求指令，提供壞扇區(qū)設置信息給該選項只讀存儲器；以及一硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬ο為達上述目的，本發(fā)明為一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法， 其包含有利用一選項只讀存儲器接收且執(zhí)行一實體要求指令；利用一壞扇區(qū)記錄表，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設置 信息給該選項只讀存儲器；以及利用一硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀 寫硬盤。本發(fā)明的有益效果在于，利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤，將壞扇區(qū)記3錄表設置于一選項只讀存儲器(OPROM)中，該壞扇區(qū)記錄表設置有測試者模擬壞扇區(qū)的區(qū) 塊，利用此壞扇區(qū)記錄表來模擬壞扇區(qū)的區(qū)塊內的數(shù)據(jù)，不必真實對硬盤寫入任何數(shù)據(jù)及 制作真實壞扇區(qū)的區(qū)塊，故可提高邏輯磁盤的測試速度。


圖1為習知模擬測試硬盤的功能方塊架構圖；圖2為本發(fā)明模擬測試硬盤的功能方塊架構圖；圖3為本發(fā)明模擬測試硬盤的方法流程圖。附圖標記說明11、21_選項只讀存儲器；12、23-硬盤固件；13、24_硬盤；131-壞扇區(qū)寫入位置； 132J43-壞扇區(qū)映射區(qū)；1321-壞扇區(qū)映射寫入位置；22-壞扇區(qū)記錄表；221-硬盤序號； 222-磁扇區(qū)及區(qū)塊；223-區(qū)塊計數(shù)值的數(shù)據(jù)；241-模擬壞扇區(qū)寫入位置—般數(shù)據(jù)； 31-利用一選項只讀存儲器接收且執(zhí)行一實體要求指令；32-利用一壞扇區(qū)記錄表，執(zhí)行該 選項只讀存儲器的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設置信息給該選項只讀存儲器；33-利用一 硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬盤。
具體實施例方式下面配合下列的圖式說明本發(fā)明的詳細結構，及其連結關系。請參閱圖2所示，為本發(fā)明模擬測試硬盤的功能方塊架構圖，其包含有一選項只 讀存儲器21，接收且執(zhí)行一實體要求指令；一壞扇區(qū)記錄表22，設置于該選項只讀存儲器 21中，執(zhí)行該選項只讀存儲器21的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設置信息給該選項只讀存儲 器21，該壞扇區(qū)設置信息包括有一硬盤序號221、磁扇區(qū)及區(qū)塊222、區(qū)塊計數(shù)值223的數(shù) 據(jù)；一硬盤固件23，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬盤 24，而硬盤M中原本應是壞扇區(qū)寫入位置處，直接以一模擬壞扇區(qū)寫入位置M1，換言之， 即可不需真正將該位置利用寫入方式變更為壞扇區(qū)，另外非壞扇區(qū)寫入位置的區(qū)塊，即可 以一般數(shù)據(jù)242來進行寫入動作，同時其壞扇區(qū)映射區(qū)243也不需寫入任何數(shù)據(jù)。請參閱圖3所示，為本發(fā)明模擬測試硬盤的方法流程圖其包含有31-利用一選項只讀存儲器接收且執(zhí)行一實體要求指令；32-利用一壞扇區(qū)記錄表，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設 置信息給該選項只讀存儲器；以及33-利用一硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來 讀寫硬盤。根據(jù)上述模擬測試硬盤的方法，其較為細部的執(zhí)行步驟為在選項只讀存儲器 (OPROM)之中建立一個壞扇區(qū)記錄表(Bad sector Table)，當實體要求指令(INT13)對于 該硬盤有讀取動作的時候，會先檢查該壞扇區(qū)記錄表看是否有被標示為壞掉，如果該壞扇 區(qū)記錄表中時，則直接回傳上層該實體要求(Physical Request)狀態(tài)為嚴重錯誤(Fatal Error)，回傳給選項只讀存儲器進行錯誤處理(Error Handling)。倘若測試結束時可直接 將壞扇區(qū)記錄表刪除，不需要再通過硬盤固件來寫入硬盤，故該硬盤內部的數(shù)據(jù)還都存在， 也不會造成數(shù)據(jù)遺失，讓測試設備可利用率提升。
利用上述模擬測試硬盤的裝置及方法，具有下列的優(yōu)點1.利用在選項只讀存儲器(OPROM)之中建立一個壞扇區(qū)記錄表(Bad sector Table)來達成標示壞扇區(qū)(Mark Bad Sector)命令，不需另外設置一硬件裝置，故可節(jié)省測 試裝置的成本。2.無須對于硬盤固件(HDD Firmware)下達命令，所以實際上硬盤區(qū)塊(HDD Block)并未真正毀損，所以也并沒有壞扇區(qū)映射寫入位置(Remapped Block)不足的問題。3.壞扇區(qū)記錄表為一表格形式，所以一次可大量輸入多筆壞扇區(qū)(BadSector)數(shù) 據(jù)，省去必須輸入大量標示壞扇區(qū)命令，故可節(jié)省大量的測試時間。綜上所述，本發(fā)明的結構特征及各實施例皆已詳細揭示，而可充分顯示出本發(fā)明 案在目的及功效上均深賦實施的進步性，極具產業(yè)的利用價值，且為目前市面上前所未見 的運用。以上對本發(fā)明的描述是說明性的，而非限制性的，本專業(yè)技術人員理解，在權利要 求限定的精神與范圍之內可對其進行許多修改、變化或等效，但是它們都將落入本發(fā)明的 保護范圍內。
權利要求
1.一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的裝置，其特征在于，包含有一選項只讀存儲器，接收且執(zhí)行一實體要求指令；一壞扇區(qū)記錄表，設置于該選項只讀存儲器中，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要求指 令，提供壞扇區(qū)設置信息給該選項只讀存儲器；以及一硬盤固件，在壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬盤。
2.如權利要求1所述的利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的裝置，其特征在 于，該壞扇區(qū)設置信息包括有一硬盤序號、磁扇區(qū)及區(qū)塊、區(qū)塊計數(shù)值的數(shù)據(jù)。
3.一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法，其特征在于，包含有利用一選項只讀存儲器接收且執(zhí)行一實體要求指令；利用一壞扇區(qū)記錄表，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設置信息 給該選項只讀存儲器；以及利用一硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬ο
4.如權利要求3所述的利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法，其特征在 于，該壞扇區(qū)設置信息包括有一硬盤序號、磁扇區(qū)及區(qū)塊、區(qū)塊計數(shù)值的數(shù)據(jù)。
5.如權利要求3所述的利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法，其特征在 于，于選項只讀存儲器之中建立一個壞扇區(qū)記錄表，當實體要求指令對于該硬盤有讀取動 作的時候，會先檢查該壞扇區(qū)記錄表看是否有被標示為壞掉，如果該壞扇區(qū)記錄表中時，則 直接回傳上層該實體要求狀態(tài)為嚴重錯誤，回傳給選項只讀存儲器進行錯誤處理。
全文摘要
本發(fā)明一種利用一壞扇區(qū)記錄表來模擬測試邏輯硬盤的方法及裝置，其包含有一選項只讀存儲器，接收且執(zhí)行一實體要求指令；一壞扇區(qū)記錄表，設置于該選項只讀存儲器中，執(zhí)行該選項只讀存儲器的實體要求指令，提供壞扇區(qū)設置信息給該選項只讀存儲器；一硬盤固件，于壞扇區(qū)設置信息范圍之外，提供一硬盤數(shù)據(jù)讀寫的指令來讀寫硬盤。利用該壞軌扇區(qū)記錄表來模擬壞扇區(qū)的區(qū)塊內的數(shù)據(jù)，不必真實對硬盤寫入任何數(shù)據(jù)及制作真實壞扇區(qū)的區(qū)塊，故可提高邏輯磁盤的測試速度。
文檔編號G11B20/18GK102044278SQ20091020431
公開日2011年5月4日 申請日期2009年10月12日 優(yōu)先權日2009年10月12日
發(fā)明者陳重江 申請人:英業(yè)達股份有限公司