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數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置及將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法

文檔序號(hào):6753321閱讀:164來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置及將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明有關(guān)存儲(chǔ)器,特別是有關(guān)存儲(chǔ)器的測(cè)試。
背景技術(shù)
次級(jí)品存儲(chǔ)器(downgrade memory)是用來(lái)指稱有缺陷的存儲(chǔ)器芯片。當(dāng)生產(chǎn)廠 商完成一批存儲(chǔ)器芯片的生產(chǎn)時(shí),會(huì)對(duì)該批存儲(chǔ)器芯片進(jìn)行品質(zhì)測(cè)試。若該批存儲(chǔ)器芯片 無(wú)法通過(guò)品質(zhì)測(cè)試,該批存儲(chǔ)器芯片便被標(biāo)注為次級(jí)品存儲(chǔ)器。此時(shí),生產(chǎn)廠商便會(huì)以低于 正常的定價(jià)銷售該批次級(jí)品存儲(chǔ)器芯片。一般而言,次級(jí)品存儲(chǔ)器并非完全無(wú)法用以儲(chǔ)存數(shù)據(jù),只是由于生產(chǎn)過(guò)程的缺陷, 造成芯片內(nèi)有許多存儲(chǔ)單元無(wú)法正常儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。因此,當(dāng)一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置運(yùn)用次級(jí)品存儲(chǔ) 器以儲(chǔ)存數(shù)據(jù)時(shí),數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置的控制器就必須事先對(duì)次級(jí)品存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)單元進(jìn)行掃 描,以確定并記錄有缺陷的存儲(chǔ)單元。如此,控制器便可于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)時(shí)避開有缺陷的存儲(chǔ)單 元,而將數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于次級(jí)品存儲(chǔ)器中可正常運(yùn)作的存儲(chǔ)單元。圖1為測(cè)試一存儲(chǔ)器的現(xiàn)有方法100的流程圖,控制器可藉方法100辨別初次級(jí) 品存儲(chǔ)器的缺陷的存儲(chǔ)單元。假設(shè)控制器欲檢測(cè)存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍的存儲(chǔ)單元是否正常 運(yùn)作。首先,控制器向存儲(chǔ)器傳送一寫入命令及該檢測(cè)范圍中的一寫入地址(步驟102)。 接著,控制器向存儲(chǔ)器傳送一測(cè)試數(shù)據(jù)(步驟104)。存儲(chǔ)器收到測(cè)試數(shù)據(jù)后,便會(huì)依據(jù)寫入 命令將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的寫入地址。此時(shí),控制器檢查是否存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍已全被 寫入測(cè)試數(shù)據(jù)(步驟106)。若否,則控制器將寫入地址更新為存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍的其它地 址(步驟108),再依序向存儲(chǔ)器發(fā)送寫入命令、更新的寫入地址、以及測(cè)試數(shù)據(jù)(步驟102、 104)。如此,控制器便可逐次將存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍寫滿測(cè)試數(shù)據(jù)。當(dāng)存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍寫滿測(cè)試數(shù)據(jù)后,控制器便向存儲(chǔ)器傳送一讀取命令及檢測(cè) 范圍的一讀取地址(步驟110)。當(dāng)存儲(chǔ)器收到讀取命令及讀取位置,便會(huì)依讀取命令自讀 取位置讀取數(shù)據(jù)。當(dāng)控制器自存儲(chǔ)器接收讀出數(shù)據(jù)時(shí)(步驟112),便將讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù) 據(jù)相比較。若讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)不符合(步驟114),表示讀取地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元有損 壞,控制器便記錄讀取地址為損壞地址。若讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)相符合(步驟114),控制器 便自檢測(cè)范圍選取其它讀取地址以更新讀取地址的值(步驟120),并持續(xù)比較自更新后讀 取地址讀出的數(shù)據(jù)以確定該讀取地址是否損壞,直到存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍已全被讀取完畢為 止(步驟118)。如此,控制器便可找出存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍內(nèi)所有損壞的地址。圖1的存儲(chǔ)器的現(xiàn)有測(cè)試方法100雖可正確的找出損壞地址,但仍有缺點(diǎn)。每當(dāng) 控制器向存儲(chǔ)器寫入一次測(cè)試數(shù)據(jù),控制器便需向存儲(chǔ)器傳送一遍測(cè)試數(shù)據(jù)。測(cè)試數(shù)據(jù)的 傳送需耗費(fèi)許多時(shí)間,而拖延了測(cè)試流程。圖2A為一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置200的區(qū)塊圖。數(shù)據(jù) 儲(chǔ)存裝置200包括一控制器202及一非揮發(fā)性存儲(chǔ)器204??刂破?02包括一數(shù)據(jù)緩沖器 214用以儲(chǔ)存測(cè)試數(shù)據(jù)。每當(dāng)控制器202發(fā)送一次寫入命令,控制器202便需將數(shù)據(jù)緩沖器 214中儲(chǔ)存的測(cè)試數(shù)據(jù)向非揮發(fā)性存儲(chǔ)器204傳送。而非揮發(fā)性存儲(chǔ)器204于收到測(cè)試數(shù) 據(jù)后將測(cè)試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)寄存器224,再將數(shù)據(jù)寄存器224中儲(chǔ)存的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入具寫入地址的存儲(chǔ)單元。例如,第一次將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)單元241時(shí),控制器202需沿?cái)?shù)據(jù)路 徑231將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器204 ;而第二次將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)單元242時(shí), 控制器202需沿?cái)?shù)據(jù)路徑232再次將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器204。由于一般而言控制器一次寫入存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)量大約是一頁(yè)(page),而一頁(yè)數(shù)據(jù)量 很大,因而反復(fù)于控制器與存儲(chǔ)器間傳送供寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)會(huì)造成測(cè)試流程的延遲。圖2B 顯示控制器傳送寫入命令與寫入數(shù)據(jù)至存儲(chǔ)器的時(shí)序示意圖??刂破魇紫认虼鎯?chǔ)器發(fā)送寫 入命令80h。接著,控制器向存儲(chǔ)器傳送寫入地址,其中寫入地址包括列地址CA1、CA2以及 行地址RA1、RA2、RA3。最后,控制器首先向存儲(chǔ)器發(fā)送寫入的測(cè)試數(shù)據(jù)Dl DN。假設(shè)存儲(chǔ) 器的一頁(yè)數(shù)據(jù)包括2KB,而控制器與存儲(chǔ)器間一個(gè)時(shí)脈周期可傳送1字節(jié),則2KB數(shù)據(jù)需耗 費(fèi)2K個(gè)時(shí)脈周期,造成系統(tǒng)的延遲。因此,需要一種可快速將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法, 以提升系統(tǒng)的效能。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,以解決現(xiàn) 有技術(shù)存在的問(wèn)題。根據(jù)本發(fā)明一方面提供一種將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,該存儲(chǔ)器包括一數(shù)據(jù) 寄存器。首先,將一測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)間。接著,向該存儲(chǔ)器傳送一讀 回命令(read-back command)及該存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該讀回 地址的該測(cè)試數(shù)據(jù)讀取至該數(shù)據(jù)寄存器。接著,向該存儲(chǔ)器傳送一回寫命令(copy-back command)及該存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍內(nèi)的一回寫地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)寄存器 的該測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該回寫地址。接著,當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍尚未全被寫入該測(cè)試數(shù) 據(jù)時(shí),重復(fù)執(zhí)行該讀回命令及該讀回地址的傳送步驟,并于更改該回寫地址后重復(fù)執(zhí)行該 回寫命令及該回寫地址的傳送步驟。本發(fā)明還提供一種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置。該數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置包括一存儲(chǔ)器及一控制器。該 存儲(chǔ)器包括一數(shù)據(jù)寄存器。該控制器命令該存儲(chǔ)器將一存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址儲(chǔ)存的一測(cè) 試數(shù)據(jù)讀回至該數(shù)據(jù)寄存器,命令該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)寄存器的該測(cè)試數(shù)據(jù)回寫至該 存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍的一回寫地址,當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍尚未全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí) 重復(fù)命令該存儲(chǔ)器讀回該測(cè)試數(shù)據(jù)并于更改該回寫地址后重復(fù)命令該存儲(chǔ)器回寫該測(cè)試 數(shù)據(jù)至該更改的回寫地址,當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)命令該存儲(chǔ)器 讀取該檢測(cè)范圍的多個(gè)讀取地址以得到多個(gè)讀出數(shù)據(jù),比較這些讀出數(shù)據(jù)與該測(cè)試數(shù)據(jù), 以及當(dāng)這些讀出數(shù)據(jù)其中的多個(gè)讀出錯(cuò)誤數(shù)據(jù)與該測(cè)試數(shù)據(jù)不相符時(shí)記錄這些讀出錯(cuò)誤 數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的這些讀取地址。


為了讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下面將配合附圖對(duì) 本發(fā)明的較佳實(shí)施例作詳細(xì)說(shuō)明,其中圖1為測(cè)試一存儲(chǔ)器的現(xiàn)有方法的流程圖;圖2A為一數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置的區(qū)塊圖;圖2B為控制器傳送寫入命令與寫入數(shù)據(jù)至存儲(chǔ)器的時(shí)序示意5
圖3為依據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存系統(tǒng)的區(qū)塊圖;圖4為依據(jù)本發(fā)明的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法的流程圖;圖5A為依據(jù)本發(fā)明的讀回命令的傳送時(shí)序的示意圖;圖5B為依據(jù)本發(fā)明的回寫命令的傳送時(shí)序的示意圖;圖6A為依據(jù)本發(fā)明的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的一實(shí)施例的示意圖;以及圖6B為依據(jù)本發(fā)明的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的另一實(shí)施例的示意圖。
具體實(shí)施例方式圖3為依據(jù)本發(fā)明的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存系統(tǒng)300的區(qū)塊圖。數(shù)據(jù)儲(chǔ)存系統(tǒng)300包括一控制 器302及一非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304。控制器302可逐步將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的 一檢測(cè)范圍,再比較測(cè)試數(shù)據(jù)與自非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍所讀出的讀出數(shù)據(jù),以 找出非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍內(nèi)損毀的存儲(chǔ)單元。當(dāng)控制器302將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非 揮發(fā)性存儲(chǔ)器304時(shí),控制器302不需反復(fù)將測(cè)試數(shù)據(jù)傳送至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304以供寫 入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍??刂破?02只需將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304 一次,然后命令非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304將測(cè)試數(shù)據(jù)自先前被寫入的地址讀出至其數(shù)據(jù)寄存器 324,再命令非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304將測(cè)試數(shù)據(jù)自數(shù)據(jù)寄存器324寫入檢測(cè)范圍的其它地址。 如此,控制器302可避免反復(fù)地傳送測(cè)試數(shù)據(jù)至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304,以減少傳送數(shù)據(jù)所需 的時(shí)間,而提升系統(tǒng)的效能。于一實(shí)施例中,控制器302包括控制電路312、數(shù)據(jù)緩沖器314、儲(chǔ)存接口 316、以及 主機(jī)接口 318,而非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304包括存儲(chǔ)單元陣列332、數(shù)據(jù)寄存器324、以及儲(chǔ)存接 口 326。主機(jī)接口 318溝通主機(jī)與控制器302??刂齐娐?12為控制器302的核心,管理控 制器302的其它模塊。儲(chǔ)存接口 316與326負(fù)責(zé)控制器302與非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304間的數(shù) 據(jù)傳遞。非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304具有一存儲(chǔ)單元陣列322,其包括多個(gè)存儲(chǔ)單元以供儲(chǔ)存數(shù) 據(jù)。當(dāng)控制器302欲將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304時(shí),控制器302首先將測(cè)試數(shù)據(jù) 儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)緩沖器314。接著,控制器302將數(shù)據(jù)緩沖器314中儲(chǔ)存的測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)儲(chǔ)存接 口 316傳送至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304。接著,非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304將儲(chǔ)存接口 326所收到的測(cè) 試數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)寄存器324中。接著,非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304依據(jù)自控制器302所收到的 寫入命令的指示將數(shù)據(jù)寄存器324儲(chǔ)存的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入位于寫入地址的存儲(chǔ)單元341??刂破?02第一次將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304時(shí),是通過(guò)數(shù)據(jù)路徑311 將測(cè)試數(shù)據(jù)傳遞至非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304。然而,當(dāng)控制器后續(xù)將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存 儲(chǔ)器304的其它地址時(shí),控制器302便不再通過(guò)數(shù)據(jù)路徑311將測(cè)試數(shù)據(jù)傳遞至非揮發(fā)性 存儲(chǔ)器304。假設(shè)控制器302接著欲將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的存儲(chǔ)單元342。 此時(shí)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的存儲(chǔ)單元341已儲(chǔ)存了測(cè)試數(shù)據(jù)??刂破?02首先向非揮發(fā)性 存儲(chǔ)器304發(fā)送一讀回命令(readback command),以指示非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304自存儲(chǔ)單元 341將測(cè)試數(shù)據(jù)讀回至數(shù)據(jù)寄存器324,如路徑332所示。接著,控制器302向非揮發(fā)性存儲(chǔ) 器304發(fā)送一回寫命令(copybackcommand),以指示非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304將數(shù)據(jù)寄存器324 中儲(chǔ)存的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至存儲(chǔ)單元342,如路徑333所示。因此,控制器302僅向非揮發(fā)性 存儲(chǔ)器304發(fā)送了一讀回命令及一回寫命令,就可將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的 檢測(cè)范圍的其它地址,而不需再次傳送測(cè)試數(shù)據(jù)。因此,依據(jù)本發(fā)明的控制器302可以較高的效率與較短的時(shí)間完成非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的測(cè)試,從而提升數(shù)據(jù)儲(chǔ)存系統(tǒng)300的效能。圖4為依據(jù)本發(fā)明的存儲(chǔ)器的測(cè)試方法400的流程圖??刂破?02依據(jù)測(cè)試方 法400以對(duì)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304的一檢測(cè)范圍進(jìn)行測(cè)試。首先,控制器302將測(cè)試數(shù)據(jù)寫 入至存儲(chǔ)器304的一存儲(chǔ)區(qū)間(步驟402)。該存儲(chǔ)區(qū)間可為圖3中存儲(chǔ)單元陣列的存儲(chǔ) 單元341。于一實(shí)施例中,該存儲(chǔ)區(qū)間為存儲(chǔ)器304的一儲(chǔ)存頁(yè)(page)。于另一實(shí)施例中, 該存儲(chǔ)區(qū)間為存儲(chǔ)器304的一存儲(chǔ)區(qū)塊(block)。接著,控制器302向存儲(chǔ)器304傳送一 讀回命令(readback command)及該存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址(步驟404)。當(dāng)存儲(chǔ)器304收 到讀回命令及讀回地址時(shí),便會(huì)依據(jù)讀回命令自讀回地址的存儲(chǔ)單元341將測(cè)試數(shù)據(jù)讀出 而儲(chǔ)存于數(shù)據(jù)寄存器324中。接著,控制器302向存儲(chǔ)器304傳送一回寫命令(copyback command)及檢測(cè)范圍的一回寫地址(步驟406)。假設(shè)該回寫地址為檢測(cè)范圍的另一存儲(chǔ) 單元342的地址,則存儲(chǔ)器304會(huì)依據(jù)回寫命令將數(shù)據(jù)寄存器324中的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入回寫 地址的存儲(chǔ)單元342。如此,控制器302可在不需再次傳送測(cè)試數(shù)據(jù)的情況下,直接將測(cè)試 數(shù)據(jù)寫入非揮發(fā)性存儲(chǔ)器304。接著,控制器302判斷是否存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍已全被寫入測(cè)試數(shù)據(jù)(步驟 408)。若存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍尚未完全被寫入測(cè)試數(shù)據(jù),則控制器302將回寫地址更新 為存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍的其它地址(步驟410),再依序向存儲(chǔ)器發(fā)送讀回命令、回寫命令、以 及更新的回寫地址(步驟404、406)。如此,控制器便可逐次將存儲(chǔ)器的檢測(cè)范圍寫滿測(cè)試 數(shù)據(jù)。于另一實(shí)施例中,由于寫滿測(cè)試數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)區(qū)間的數(shù)據(jù)容量可能大于數(shù)據(jù)寄存器324 的容量,則控制器302于步驟410中一并將讀回地址更新為存儲(chǔ)區(qū)間的其它后續(xù)地址,以便 于步驟404中使存儲(chǔ)器304自其它讀回地址讀取數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)寄存器324中。當(dāng)存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍寫滿測(cè)試數(shù)據(jù)后(步驟408),控制器302便向存儲(chǔ)器 304傳送一讀取命令及檢測(cè)范圍的一讀取地址(步驟412)。當(dāng)存儲(chǔ)器304收到讀取命令及 讀取位置,便會(huì)依讀取命令自讀取位置讀取數(shù)據(jù)。當(dāng)控制器302自存儲(chǔ)器304接收讀出數(shù) 據(jù)時(shí)(步驟414),便將讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)相比較。若讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)不符合(步驟 416),表示讀取地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)單元有損壞,控制器302便記錄該讀取地址為損壞地址(步 驟418)。若讀出數(shù)據(jù)與測(cè)試數(shù)據(jù)相符合(步驟416),控制器302便自檢測(cè)范圍選取其它讀 取地址以更新讀取地址的值(步驟422),并持續(xù)比較自更新后讀取地址讀出的數(shù)據(jù)以確定 該讀取地址是否損壞,直到存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍已全被讀取完畢為止(步驟420)。如此, 控制器302便可找出存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范圍內(nèi)所有損壞的地址。圖5A為依據(jù)本發(fā)明的讀回命令的傳送時(shí)序的示意圖。控制器302首先傳送讀回 命令的OOh指令至存儲(chǔ)器304。接著,控制器302傳送讀回地址至存儲(chǔ)器304,其中讀回地 址包括列地址CA1、CA2以及行地址RA1、RA2、RA3。最后,控制器302傳送讀回地址的35h 指令至存儲(chǔ)器304。圖5B為依據(jù)本發(fā)明的回寫命令的傳送時(shí)序的示意圖。控制器302首先 傳送回寫命令的85h指令至存儲(chǔ)器304。接著,控制器302傳送回寫地址至存儲(chǔ)器304,其 中回寫地址包括列地址CA1、CA2以及行地址RA1、RA2、RA3。最后,控制器302傳送回寫地 址的IOh指令至存儲(chǔ)器304。圖5A及圖5B中的讀回命令及回寫命令與圖2B的寫入命令相 較,不需傳送寫入數(shù)據(jù)Dl DN至存儲(chǔ)器,因此節(jié)省了將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器304的檢測(cè)范 圍的時(shí)間,而提高了測(cè)試過(guò)程的效率。圖6A為依據(jù)本發(fā)明的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的一實(shí)施例的示意圖。假設(shè)控制器事先將存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)塊610寫滿測(cè)試數(shù)據(jù),而存儲(chǔ)區(qū)塊610包括多個(gè)儲(chǔ)存頁(yè)611、612、 613、…、61N。因此,控制器可逐次發(fā)送讀回命令指示存儲(chǔ)器讀出存儲(chǔ)區(qū)塊610的儲(chǔ)存頁(yè) 611、612、613、…、61N內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)至存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)緩沖器,并逐次發(fā)送回寫命令將存儲(chǔ) 器的數(shù)據(jù)緩沖器內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入檢測(cè)范圍的其它存儲(chǔ)區(qū)塊620的對(duì)應(yīng)儲(chǔ)存頁(yè)621、622、 623、…、62N。因此,存儲(chǔ)區(qū)塊610的儲(chǔ)存頁(yè)611的測(cè)試數(shù)據(jù)被寫入存儲(chǔ)區(qū)塊620的對(duì)應(yīng)儲(chǔ) 存頁(yè)621,存儲(chǔ)區(qū)塊610的儲(chǔ)存頁(yè)612的測(cè)試數(shù)據(jù)被寫入存儲(chǔ)區(qū)塊620的對(duì)應(yīng)儲(chǔ)存頁(yè)622, 而存儲(chǔ)區(qū)塊610的儲(chǔ)存頁(yè)61N的測(cè)試數(shù)據(jù)被寫入存儲(chǔ)區(qū)塊620的對(duì)應(yīng)儲(chǔ)存頁(yè)62N。圖6B為依據(jù)本發(fā)明的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的另一實(shí)施例的示意圖。假設(shè)控制 器事先將存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)塊650的一儲(chǔ)存頁(yè)651寫滿測(cè)試數(shù)據(jù),而存儲(chǔ)區(qū)塊650尚包括 多個(gè)其它儲(chǔ)存頁(yè)652、653、…、65N。因此,控制器可逐次發(fā)送讀回命令指示存儲(chǔ)器讀出存儲(chǔ) 區(qū)塊650的儲(chǔ)存頁(yè)651內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)至存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)緩沖器,并逐次發(fā)送回寫命令將存儲(chǔ) 器的數(shù)據(jù)緩沖器內(nèi)的測(cè)試數(shù)據(jù)寫入檢測(cè)范圍的存儲(chǔ)區(qū)塊620的其它儲(chǔ)存頁(yè)652、653、…、 65N。因此,存儲(chǔ)區(qū)塊650的儲(chǔ)存頁(yè)651的測(cè)試數(shù)據(jù)被直接寫入存儲(chǔ)區(qū)塊620的儲(chǔ)存頁(yè)652、 653、…、65N。雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上,然而其并非用以限定本發(fā)明,任何熟悉此 項(xiàng)技術(shù)者,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),當(dāng)可作出種種等同的改變或替換,因此本發(fā)明 的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的本申請(qǐng)權(quán)利要求范圍所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,其中該存儲(chǔ)器包括一數(shù)據(jù)寄存器,該方法包括下列步驟將一測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)間;向該存儲(chǔ)器傳送一讀回命令及該存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該讀回地址的該測(cè)試數(shù)據(jù)讀取至該數(shù)據(jù)寄存器;向該存儲(chǔ)器傳送一回寫命令及該存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍內(nèi)的一回寫地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)寄存器的該測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該回寫地址;以及當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍尚未全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí),重復(fù)執(zhí)行該讀回命令及該讀回地址的傳送步驟,并于更改該回寫地址后重復(fù)執(zhí)行該回寫命令及該回寫地址的傳送步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,其特征在于,該讀回命令及 該讀回地址的傳送步驟包括傳送該讀回命令的OOh指令至該存儲(chǔ)器;傳送該讀回地址至該存儲(chǔ)器;以及傳送該讀回命令的35h指令至該存儲(chǔ)器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,其特征在于,該回寫命令及 該回寫地址的傳送步驟包括傳送該回寫命令的85h指令至該存儲(chǔ)器;傳送該回寫地址至該存儲(chǔ)器;以及傳送該回寫命令的13h指令至該存儲(chǔ)器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,其特征在于,該存儲(chǔ)區(qū)間為 該存儲(chǔ)器的一儲(chǔ)存頁(yè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法,其特征在于,該存儲(chǔ)區(qū)間及 該檢測(cè)范圍皆為該存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)塊,該讀回命令及該讀回地址的傳送步驟于重復(fù)執(zhí)行 前該讀回地址會(huì)更改,而這些更改的讀回地址于該存儲(chǔ)區(qū)間中的位置與這些更改的回寫地 址于該檢測(cè)范圍中的位置相對(duì)應(yīng)。
6.一種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,包括一存儲(chǔ)器,包括一數(shù)據(jù)寄存器;以及一控制器,命令該存儲(chǔ)器將一存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址儲(chǔ)存的一測(cè)試數(shù)據(jù)讀回至該數(shù)據(jù) 寄存器,命令該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)寄存器的該測(cè)試數(shù)據(jù)回寫至該存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍 的一回寫地址,當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍尚未全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)重復(fù)命令該存儲(chǔ)器讀 回該測(cè)試數(shù)據(jù)并于更改該回寫地址后重復(fù)命令該存儲(chǔ)器回寫該測(cè)試數(shù)據(jù)至該更改的回寫 地址,當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)命令該存儲(chǔ)器讀取該檢測(cè)范圍的多 個(gè)讀取地址以得到多個(gè)讀出數(shù)據(jù),比較這些讀出數(shù)據(jù)與該測(cè)試數(shù)據(jù),以及當(dāng)這些讀出數(shù)據(jù) 其中的多個(gè)讀出錯(cuò)誤數(shù)據(jù)與該測(cè)試數(shù)據(jù)不相符時(shí)記錄這些讀出錯(cuò)誤數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的這些讀取 地址。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,其特征在于,該控制器向該存儲(chǔ)器傳送一讀 回命令及該讀回地址,以命令該存儲(chǔ)器由該讀回地址讀回該測(cè)試數(shù)據(jù)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,其特征在于,該控制器先傳送該讀回命令的 OOh指令至該存儲(chǔ)器,接著傳送該讀回地址至該存儲(chǔ)器,最后傳送該讀回命令的35h指令至該存儲(chǔ)器,以傳送該讀回命令及該讀回地址至該存儲(chǔ)器。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,其特征在于,該控制器向該存儲(chǔ)器傳送一回 寫命令及該回寫地址,以命令該存儲(chǔ)器回寫該測(cè)試數(shù)據(jù)至該回寫地址。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置,其特征在于,該控制器首先傳送該回寫命令 的85h指令至該存儲(chǔ)器,接著傳送該回寫地址至該存儲(chǔ)器,最后傳送該回寫命令的13h指令 至該存儲(chǔ)器,以傳送該回寫命令及該回寫地址至該存儲(chǔ)器。
全文摘要
本發(fā)明提供一種數(shù)據(jù)儲(chǔ)存裝置及將測(cè)試數(shù)據(jù)寫入存儲(chǔ)器的方法。該方法包括以下步驟。首先,將一測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該存儲(chǔ)器的一存儲(chǔ)區(qū)間。接著,向該存儲(chǔ)器傳送一讀回命令及該存儲(chǔ)區(qū)間的一讀回地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該讀回地址的該測(cè)試數(shù)據(jù)讀取至該存儲(chǔ)器的一數(shù)據(jù)寄存器。接著,向該存儲(chǔ)器傳送一回寫命令及該存儲(chǔ)器的一檢測(cè)范圍內(nèi)的一回寫地址,以使該存儲(chǔ)器將儲(chǔ)存于該數(shù)據(jù)寄存器的該測(cè)試數(shù)據(jù)寫入至該回寫地址。當(dāng)該存儲(chǔ)器的該檢測(cè)范圍尚未全被寫入該測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí),重復(fù)執(zhí)行該讀回命令及該讀回地址的傳送步驟,并于更改該回寫地址后重復(fù)執(zhí)行該回寫命令及該回寫地址的傳送步驟。
文檔編號(hào)G11C11/34GK101996686SQ200910056500
公開日2011年3月30日 申請(qǐng)日期2009年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月17日
發(fā)明者盧茂中 申請(qǐng)人:慧國(guó)(上海)軟件科技有限公司;慧榮科技股份有限公司
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