專利名稱：光盤和物理地址格式的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于以高密度記錄信息(例如，數(shù)字視頻信息) 的光盤介質(zhì)以及用于該光盤介質(zhì)的一種光盤裝置和一種光盤再現(xiàn)方 法。
背景技術(shù)：
近來，光盤介質(zhì)的記錄密度已經(jīng)變得不斷增高。 一般地，可記錄 光盤介質(zhì)在其中事先有軌道凹槽，信息沿軌道凹槽記錄，即，記錄在 軌道凹槽或介于軌道凹槽之間的區(qū)域(稱為"凸區(qū)(land)")上。軌道 凹槽是正弦狀的擺動(wobWe)，并且與基于擺動周期產(chǎn)生的時鐘同 步地記錄信息。沿著軌道凹槽提供地址，以便在光盤介質(zhì)的記錄表面 上的規(guī)定位置上記錄信息。下面將描述用于提供地址的三個例示結(jié) 構(gòu)。
(1) 日本公開文本No.6-309672公開了一種光盤，其中，在局部 間歇地形成擺動的軌道凹槽，并可以將地址信息再現(xiàn)為所謂的預(yù)凹坑
(pre-pit)。在這種情況下，在軌道凹槽上存在用于記錄信息的單地 址區(qū)域和單數(shù)據(jù)區(qū)域。
(2) 日本公開文本No.5-189934公開了一種光盤，其中，提供了 頻率調(diào)制擺動，并采用擺動頻率記錄地址信息(子信息)。在這種情 況下，將數(shù)據(jù)信息重寫在地址信息上。
(3) 日本公開文本No.9-326138公開了一種光盤，其中，在相鄰 軌道凹槽之間形成預(yù)凹坑，并由預(yù)凹坑形成地址。
考慮到在將來可能需要的更高的記錄密度，所有上述結(jié)構(gòu)都有其
自己的問題。
在(1)的結(jié)構(gòu)中，用于數(shù)據(jù)的空間由于地址所需的空間而減少 (所謂的"額外開銷")。于是，存儲容量不可避免地由于用于地址的 空間所減少。
(2)的結(jié)構(gòu)具有下列問題。擺動最初主要是為產(chǎn)生用于記錄信 息的時鐘的目的而提供的，因此優(yōu)選以單一頻率來形成。當(dāng)擺動以單 一頻率形成時，可以僅僅通過采用PLL等相乘并同步一個擺動再現(xiàn) 信號來產(chǎn)生高度精確的記錄時鐘信號。然而，當(dāng)擺動具有多個頻率分 量時，PLL可以自適應(yīng)的頻帶相對于擺動具有單一頻率的情況需要被 減小，以避免PLL的偽鎖定。然后，可能出現(xiàn)不希望的情況，即PLL 不能充分地跟隨盤馬達(dá)抖動或例如由盤的偏心產(chǎn)生的抖動。這導(dǎo)致在 記錄信號中保留有抖動。
在光盤的記錄表面上形成的記錄薄膜是一個相變薄膜的情況下， 隨著重寫被重復(fù)，記錄薄膜的S/N比會不合需要地被減小。即使在這 個出現(xiàn)時，對于一個較窄頻帶，具有單一頻率的擺動允許采用帶通濾 波器去除噪聲分量。然而，當(dāng)擺動是頻率調(diào)制的時，要通過的頻帶需 要被放大，以便考慮所調(diào)制的頻率。其結(jié)果是，噪聲分量與擺動再現(xiàn) 信號混合，因此進(jìn)一步增大抖動。抖動的這種增大不可取，因為隨著 記錄密度增大，抖動余量減小。
在(3)的結(jié)構(gòu)中，預(yù)凹坑自然影響存儲在相鄰軌道凹槽中的信 息的讀取。因此，難以提供足夠數(shù)目的分別具有足夠長度的預(yù)凹坑。 因此，存在一種不希望的可能性，即檢測誤差的數(shù)目在記錄密度相當(dāng) 高時尤其增大。
考慮到上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種用于使額外開銷最小 并以具有單一頻率的擺動描述地址的光盤介質(zhì)、用于再現(xiàn)光盤介質(zhì)的
光盤裝置和光盤再現(xiàn)方法。

發(fā)明內(nèi)容
依據(jù)本發(fā)明的一個方面，光盤介質(zhì)比較一個沿其記錄主信息的軌 道凹槽。將軌道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多 個幀中的每一幀包括多個規(guī)定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動 形狀。多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個 幀中的至少一幀的擺動形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的每一塊包括多個扇區(qū)。多 個扇區(qū)包括多個幀。地址信息由至少一條由至少一個扇區(qū)中包括的多 個幀中的至少一幀的擺動形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多條地址信 息。多條地址信息是相同的。多條地址信息中的每一個由所述至少一 條子信息所組成的串來表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，多條地址信息中的每一個包括一個序 號，序號指示各條地址信息在多條地址信息中的次序。
在本發(fā)明的一個實施例中，地址信息由多個位表示，多個位由所 述至少一個子信息串從低位到高位表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的每一塊包括多個扇區(qū)。多 個扇區(qū)包括多個幀。地址信息由多個扇區(qū)中包括的所述至少一個串表 示。指示在多個扇區(qū)中的扇區(qū)次序的信息由所述至少一條子信息的一 部分表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，指示誤差檢測代碼和誤差校正代碼中 的至少一個的信息由所述至少一條子信息的一部分表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，軌道凹槽具有在其中提供的指示多個 塊中的每一塊的前端的標(biāo)識標(biāo)記。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過切斷軌道凹槽來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過局部改變軌道凹槽的寬 度來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過局部改變擺動形狀的振 幅來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個擺動形狀包括在上升梯度和下降 梯度的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺 動形狀和第二擺動形狀指示彼此不同的子信息條。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個擺動形狀包括在占空比上彼此不 同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺動形狀和第二擺動形狀指 示彼此不同的子信息條。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個擺動形狀在軌道凹槽的一個邊緣 上提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，軌道凹槽包括一個指示所述至少一個 子信息串的前端和后端中的至少一個的標(biāo)識標(biāo)記。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至 少一個子信息串。標(biāo)識標(biāo)記指示所述至少一個子信息串的前端。標(biāo)識 標(biāo)記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標(biāo)識標(biāo)記具有相 同的形狀。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至 少一個子信息串。標(biāo)識標(biāo)記指示所述至少一個子信息串的前端。至少 一個標(biāo)識標(biāo)記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標(biāo)識標(biāo) 記具有不同的形狀。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記指示所述至少一個子信息串 的后端。標(biāo)識標(biāo)記通過將在上升梯度和下降梯度中的至少一個上彼此 不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀與具有正弦波形狀的第三擺動 形狀組合來形成。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至 少一個子信息串。標(biāo)識標(biāo)記指示所述至少一個子信息串的后端。標(biāo)識 標(biāo)記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標(biāo)識標(biāo)記具有相
同的形狀。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至 少一個子信息串。標(biāo)識標(biāo)記指示所述至少一個子信息串的后端。至少 一個標(biāo)識標(biāo)記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標(biāo)識標(biāo) 記具有不同的形狀。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過切斷軌道凹槽的相鄰部 分之間的凸區(qū)的一部分來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過切斷軌道凹槽的相鄰部 分之間的凸區(qū)來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，將單個頻率假數(shù)據(jù)記錄在標(biāo)識標(biāo)記上。
在本發(fā)明的一個實施例中，指示地址信息的一個較低位的子信息 的條數(shù)大于指示地址信息的一個較高位的子信息的條數(shù)。
依據(jù)本發(fā)明的另一個方面，光盤介質(zhì)將一個記錄再現(xiàn)區(qū)域和一個 盤管理區(qū)域進(jìn)行比較。記錄再現(xiàn)區(qū)域包括沿其記錄主信息的第一軌道 凹槽。盤管理區(qū)域包括在光盤介質(zhì)的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外側(cè)區(qū)域的至少一個 中提供的第二軌道凹槽。第二軌道凹槽包括多個規(guī)定擺動形狀。光盤 介質(zhì)的管理信息由多個規(guī)定擺動形狀的組合來表示。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個規(guī)定擺動形狀包括在上升梯度和 下降梯度中的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀、 以及具有正弦波形狀的第三擺動形狀。
在本發(fā)明的一個實施例中，第一軌道凹槽包括多個規(guī)定擺動形 狀。與在記錄和再現(xiàn)區(qū)域中相比，在盤管理區(qū)域中的指示l位信息的 擺動形狀的數(shù)目不同。
在本發(fā)明的一個實施例中，第一軌道凹槽包括多個規(guī)定擺動形 狀。第一軌道凹槽和第二軌道凹槽在擺動形狀的頻率上彼此不同。
在本發(fā)明的一個實施例中，第一軌道凹槽包括多個規(guī)定擺動形
狀。第二軌道凹槽具有比第一軌道凹槽大的擺動形狀振幅。
在本發(fā)明的一個實施例中，第二軌道凹槽的相鄰部分在7i/2x(2n+l) 的擺動形狀上具有一個恒定的相差，其中n是一個整數(shù)。
在本發(fā)明的一個實施例中，第二軌道凹槽具有比第一軌道凹槽大 的軌道間距。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過改變軌道凹槽中的至少 一個擺動形狀的相位來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，標(biāo)識標(biāo)記通過改變軌道凹槽中的至少 一個擺動形狀的頻率來提供。
在本發(fā)明的一個實施例中，多個擺動形狀以相同的周期提供。
依據(jù)本發(fā)明的又一個方面，提供了一種用于再i^一個光盤介質(zhì)的 光盤裝置，所述光盤介質(zhì)包括沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹 槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包 括多個規(guī)定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每 一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個幀中的至少一幀的擺 動形狀所表示的子信息所組成的串來表示。光盤裝置包括一個變換部 分，用于從光盤介質(zhì)讀取主信息和子信息并產(chǎn)生一個再現(xiàn)信號； 一個 再現(xiàn)信號計算部分，用于從再現(xiàn)信號產(chǎn)生一個TE信號和一個RF信 號； 一個基準(zhǔn)時鐘信號產(chǎn)生部分，用于從TE信號產(chǎn)生一個基準(zhǔn)時鐘 信號； 一個電平限幅脈沖信號產(chǎn)生部分，用于從TE信號產(chǎn)生一個電 平限幅脈沖信號； 一個塊標(biāo)記信號檢測部分，用于從RF信號檢測一 個塊標(biāo)記信號；以及， 一個子信息產(chǎn)生部分，用于從基準(zhǔn)脈沖信號、 電平限幅脈沖信號和塊標(biāo)記信號產(chǎn)生一個子信息信號。
依據(jù)本發(fā)明的又一個方面，提供了一種用于再1L一個光盤介質(zhì)的 方法，所述光盤介質(zhì)包括沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹槽分 成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多 個規(guī)定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊
具有地址信息。地址信息由至少一條由多個幀中的至少一幀的擺動形 狀所表示的子信息所組成的串來表示。該方法包括如下步驟從光盤 介質(zhì)讀取主信息和子信息并產(chǎn)生一個再現(xiàn)信號；從再現(xiàn)信號產(chǎn)生一個 TE信號和一個RF信號；從TE信號產(chǎn)生一個基準(zhǔn)時鐘信號；從TE 信號產(chǎn)生一個電平限幅脈沖信號；從RF信號檢測一個塊標(biāo)記信號； 以及，從基準(zhǔn)脈沖信號、電平限幅脈沖信號和塊標(biāo)記信號產(chǎn)生一個子信息信號


圖1顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖2顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)； 圖3顯示了依據(jù)本發(fā)明的例2的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖4顯示了依據(jù)本發(fā)明的例3的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖5顯示了依據(jù)本發(fā)明的例4的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖6顯示了依據(jù)本發(fā)明的例5的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖7顯示了依據(jù)本發(fā)明的例6的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖8顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖9顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)； 圖IO顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖11顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖12顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖13顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖14顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖15顯示了依據(jù)本發(fā)明的例10的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽; 圖16顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖17顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽; 圖18顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽;
圖19顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖20顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖21顯示了依據(jù)本發(fā)明的例13的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖22顯示了依據(jù)本發(fā)明的例11的光盤介質(zhì)的地址結(jié)構(gòu)； 圖23A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置的結(jié)構(gòu)； 圖23B是顯示依據(jù)本發(fā)明的例14的用于再現(xiàn)光盤介質(zhì)上的信息 的方法的流程圖24顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)； 圖25A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖25B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖26A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖26B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖27A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖27B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖28A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖28B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖29A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖29B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖30顯示了一個常規(guī)光盤介質(zhì)；
圖31顯示了依據(jù)本發(fā)明的例20的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖32顯示了依據(jù)本發(fā)明的例21的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖33顯示了依據(jù)本發(fā)明的例22的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽； 圖34顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置； 圖35顯示了依據(jù)本發(fā)明的例19的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽；以及 圖36顯示了依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽。
具體實施例方式
此后，將參考附圖以例示方式描述本發(fā)明。 (例1)
圖2顯示了依據(jù)本發(fā)明的例1的光盤介質(zhì)20。光盤介質(zhì)20具有 一個記錄表面101，在記錄表面101中形成有螺旋形軌道凹槽102。 如圖1所示，軌道凹槽102的形狀在逐塊基礎(chǔ)上不同。在圖1中，塊 標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記)210是軌道凹槽102中的切斷部分，顯示出一個指
示每塊的前端的索引。
將每塊分成N個扇區(qū)25 (N:32或16)，將每個扇區(qū)25 (子塊) 分成M個幀糾到弁25 (M=26)。每幀(基本單元)以周期方式具有規(guī) 定數(shù)目的擺動26或27。擺動26和27具有彼此不同的規(guī)定形狀，并 代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1"或 "S")由一種擺動形狀26或27表示。子信息的類型和擺動形狀(擺 動26或27)是一對一的關(guān)系。更具體地，擺動26和27都具有通常 為鋸齒形的形狀，并具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀 (下降梯度)。擺動26或27根據(jù)子信息的類型("0"或"1")來形 成。 一串子信息由擺動26和27的組合來表示。
擺動26和27之間的上升梯度和下降梯度上的差別可以容易地由 差分推挽檢測信號如下來檢測。將掃描激光束 旨向軌道凹槽102，并 產(chǎn)生這樣一個差分信號(即，推挽信號)，該差分信號指示由沿垂直 于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽102的方向(徑向)劃分的光接收元件的 檢測區(qū)域接收的光量之間的差。因此，獲得具有根據(jù)子信息是"0" 還是"1"而變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下 降梯度上的這個差別例如可以通過對檢測信號求差分來容易地識別。
于是，子信息的類型可以由作為差分結(jié)果而獲得的值的大小來檢 測。然而，當(dāng)使用差分時，噪聲分量也自然增大。在具有較差S/N比 的光盤介質(zhì)中，檢測誤差被合理地預(yù)期。在這個例子中，擺動26和 27的每種模式被重復(fù)多次，以便增強(qiáng)檢測的可靠性。 主信息(例如，可重寫用戶數(shù)據(jù))從塊標(biāo)記210開始沿軌道凹槽 102被記錄在塊單元241中。塊單元241具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標(biāo)記28。記錄標(biāo)記28通過執(zhí) 行記錄層的相變來記錄。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC 塊。當(dāng)N-32時，塊單元241被分成32個扇區(qū)25 (或當(dāng)N=16時是 16個扇區(qū)25)。每個扇區(qū)25是具有2kB長度的子塊。當(dāng)M=26時， 將每個扇區(qū)25分成26個幀#0到#25。
幀是在軌道凹槽102上記錄的信息的基本單位。在圖1中，幀#0 由標(biāo)號22表示，幀#1由標(biāo)號23表示。如幀22和23所例示的，每 幀包括事先以周期方式形成的一種擺動類型。這樣，在每幀22和23 中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。在每個扇區(qū)25中包括的26 位(M=26)子信息組指示對應(yīng)的塊單元241的塊ID (地址信息)。 在幀#0至1」#25的每一個的前端，記錄SYNC標(biāo)記。SYNC標(biāo)記是一個 被記錄的同步信號，在將主信息記錄為記錄標(biāo)記28時表示主信息的 每一幀的前端。擺動周期用作用于使光盤介質(zhì)20的旋轉(zhuǎn)同步和記錄 信號的基準(zhǔn)時鐘，也用作再現(xiàn)地址信息時的同步信號。
除了表示地址的信息之外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測 信號的誤差校正代碼、誤差檢測代碼或奇偶校驗碼等。
幀22只包括具有平緩上升梯度和陡峭下降梯度的擺動26。幀23 只包括具有陡峭上升梯度和平緩下降梯度的擺動27。例如，當(dāng)一幀 包括8個擺動時， 一個扇區(qū)25包括8x26=208個擺動(包括擺動26 和27)。
不管由噪聲引起的一些檢測誤差，只要208個擺動26和27之間 的上升梯度和下降梯度中的差別可以被作為整體檢測，記錄在扇區(qū) 25中的子信息組就可以被正確地識別。讀的可靠性通過重復(fù)同一塊 ID32次(當(dāng)N-32時)或16次(當(dāng)N46時)來進(jìn)一步提高。依據(jù) 用于識別子信息組的例示特定技術(shù)，在每次上升和每次下降時采樣和
保持推挽信號的差分波形，并將上升梯度的邏輯積和下降梯度的邏輯 積相互進(jìn)行比較。這樣，取消噪聲分量，可以只提取出子信息分量。
在這個例子中，塊標(biāo)記210是軌道凹槽102中的切斷部分，因此 重寫塊標(biāo)記210中的主信息不是最可取的。其原因是因為反射的光量 根據(jù)是否有凹槽而變化非常大，這個顯著差別充當(dāng)對再現(xiàn)信號的外部 干擾。在這個例子中，將包括塊標(biāo)記210的區(qū)域指定為VFO記錄區(qū) 域21。 VFO記錄區(qū)域21用于記錄VF0211， VF0 211是用于調(diào)整用 于再現(xiàn)記錄在VFO記錄區(qū)域21之后的主信息的PLL的頻率的單一 頻率信號。即使在有輕微的外部波動時，VF0 211僅僅充當(dāng)局部抖動， 不直接引起任何誤差。另外，VF0211具有單一頻率，因此可以從頻 率上分離由塊標(biāo)記210引起的外部干擾。
在這個例子中， 一個塊單元241 (—塊)被分成32個(或16個) 扇區(qū)25，每個扇區(qū)25被分成26幀(幀#0到#25)。在幀#0到#25的 每一個中，事先形成具有對應(yīng)于子信息的形狀的擺動26或27。由于 記錄在一個扇區(qū)25中的子信息組表示塊ID，所以可以在塊單元241 中包括的32個(或16個)扇區(qū)25中重復(fù)地形成同一塊ID (地址信 息)。
在這種情況下，子信息組可以包括指示重復(fù)的塊ID (地址信息) 的次序的序號，即每個塊ID是否是第五、第十、等等。這種序號可 用于根據(jù)大多數(shù)最終確定地址號。另外，這樣的序號提供用于信號處 理的有用信息，例如，塊中的哪個扇區(qū)25現(xiàn)在在被讀取，或塊中的 哪一子信息組是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個記錄表面或?qū)拥那闆r下，記錄層的序號可以 被包括在子信息組中。這樣，記錄表面可以被容易地識別。
如上所述，在這個例子中，將一個信息塊分成32 (N=32)或16 (N=16)個扇區(qū)，將一個扇區(qū)分成26 (M=26)幀。在26幀的每一 幀中，事先形成對應(yīng)于子信息的擺動形狀。在塊中的32 (或16)個
扇區(qū)中重復(fù)地形成一個塊ID (地址信息)。因此，沒有任何額外開銷 地或不需要在凹槽之間所必需的預(yù)凹坑來形成地址。
雖然擺動根據(jù)子信息類型而具有不同的上升梯度和下降梯度，這 個例子中所用的擺動具有恒定的單一頻率。因此，具有減少的抖動的 用于記錄的時鐘信號可以首先采用只允許擺動頻率通過以便去除噪 聲分量的帶通濾波器，然后使用PLL同步并相乘所得的頻率來提取 出來。
塊ID的讀取可靠性可以通過重復(fù)同一塊ID來提高。
在這個例子中，與幀的數(shù)目一樣，塊ID具有26位。地址信息的 位數(shù)并不限于26個，而是可以是例如依據(jù)要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù) 據(jù)量或誤差校正代碼的類型和系統(tǒng)的任何所需數(shù)目。
在這個例子中，對于N=32，將塊單元分成32個扇區(qū)(或?qū)τ?N46是16個扇區(qū))。本發(fā)明并不限于這樣一個扇區(qū)數(shù)。
在這個例子中，對于M=26，子信息被記錄在每個扇區(qū)中包括的 26幀中。本發(fā)明并不限于這樣一個幀數(shù)。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制成鋸齒形狀的擺動之后被記錄。 本發(fā)明并不限于這樣的擺動形狀。如下所述，子信息可以在被調(diào)制成 具有例如如圖4或7中所示形狀的擺動之后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明并不限于 這樣一種形式的塊標(biāo)記。例如，如下所述，塊標(biāo)記可以被調(diào)制成具有 例如如圖5或6中所示形狀的擺動。 (例2)
圖3顯示了依據(jù)本發(fā)明的例2的軌道凹槽10。代替圖1所示的 軌道凹槽102,軌道凹槽10可以在圖2所示的光盤介質(zhì)20中形成。 在這個例子中，除了幀22中指示子信息"0"的擺動26和幀23中指 示子信息"1"的擺動27之外，軌道凹槽10具有指示記錄在幀24中 的子信息"S"的擺動28。與在例1中一樣，地址信息由子信息"0"
和子信息"1"的組合來表示。子信息"s"在塊的前端設(shè)置，用于代 替圖1所示的塊標(biāo)記210來指示塊的前端。這樣，可以消除塊標(biāo)記 210所需的額外開銷。在這個例子中，表示子信息"S"的擺動28具 有陡峭的上升梯度和陡峭的下降梯度。 (例3)
圖4顯示了依據(jù)本發(fā)明的例3的軌道凹槽11。代替圖1所示的軌 道凹槽102，軌道凹槽11可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成。 在第一和第二個例子中，對應(yīng)于一種子信息類型周期性地重復(fù)一種擺 動類型，將具有不同上升梯度和不同下降梯度的擺動用于不同類型的 子信息。在這個例子中，形成擺動29和30，以便依據(jù)子信息的類型 具有不同的占空比。更具體地，如圖4所示，指示記錄在幀32中的 子信息"0"的擺動29在波峰或波谷中的一個上較寬(在圖4的例子 中是波谷)，指示記錄在幀34中的子信息"1"的擺動30在波峰或波 谷中的另一個上較寬(在圖4的例子中是波峰)。這樣的特征消除了 對用于識別子信息類型的再現(xiàn)信號差分的必要性。再1W言號可以通過 采用時鐘定時器等測量占空比來簡單地識別。因此，可以減輕噪聲的 影響。 (例4)
圖5顯示了依據(jù)本發(fā)明的例4的軌道凹槽200。代替圖1所示的 軌道凹槽102，軌道凹槽200可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形 成。在例1中，切斷軌道凹槽102的一部分，以便形成塊標(biāo)記210。 在這個例子中，采用通過局部增大軌道凹槽200的寬度而形成的塊標(biāo) 記212來替代塊標(biāo)記210。為了記錄或再現(xiàn)主信息，可以通過檢測塊 標(biāo)記212來識別塊的前端。塊標(biāo)記212的使用避免軌道凹槽200被切 斷，因此主信息也可以被記錄在塊標(biāo)記212中。其結(jié)果是，可以減少 額外開銷。 (例5)
圖6顯示了依據(jù)本發(fā)明的例5的軌道凹槽201。代替圖1所示的 軌道凹槽102，軌道凹槽201可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形 成。在例1中，切斷軌道凹槽102的一部分，以便形成塊標(biāo)記210。 在這個例子中，采用通過局部增大擺動的振幅而形成的塊標(biāo)記213來 替代塊標(biāo)記210。為了記錄或再現(xiàn)主信息，可以通過檢測塊標(biāo)記213 來識別塊的前端。與在例4中一樣，塊標(biāo)記213的使用避免軌道凹槽 201被切斷，因此主信息也可以被記錄在塊標(biāo)記213中。 (例6)
圖7顯示了依據(jù)本發(fā)明的例6的軌道凹槽202和凸區(qū)203。在這 個例子中，光盤介質(zhì)具有僅僅沿軌道凹槽202的一個邊緣形成的擺動 220和230。例1到5涉及凹槽記錄類型的光盤介質(zhì)，其中，主信息 被記錄在軌道凹槽中。被稱為凸區(qū)-凹槽類型的另一種類型的光盤介 質(zhì)是可用的。在這種類型的光盤介質(zhì)中，主信息沿軌道凹槽202被記 錄在凹槽和凸區(qū)(放在兩個相鄰凹槽中間的區(qū)域)中。例1到5可以 與在這個例子中描述的凹槽-凸區(qū)類型的光盤介質(zhì)組合起來。
在圖7中，子信息"0"和子信息"1"沿軌道凹槽202的一個邊 緣被記錄。在幀221中形成的擺動220指示子信息"0"，在幀231中 形成的擺動230指示子信息"1"。以這種方式，軌道凹槽202和與軌 道凹槽202相鄰的凸區(qū)203用相同的地址表示。主信息被記錄在軌道 凹槽202和凸區(qū)203中。通過以這種方式記錄主信息，軌道間距變窄， 這樣實現(xiàn)了更高密度的記錄。 (例7)
圖9顯示了依據(jù)本發(fā)明的例7的光盤介質(zhì)800。光盤介質(zhì)800具 有在其中形成有螺旋形軌道凹槽802的記錄表面801 。如圖8中所示， 軌道凹槽802具有逐塊不同的形狀。在圖8中，塊標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記) 810為軌道凹槽802中的切斷部分并且顯示指示每一個塊的前端的索 引。
每一個塊被分成N個扇區(qū)825 (N=32或16)，并且每一個扇區(qū) 825被分成M個幀#0到#25 (M=26)。每一個幀具有規(guī)定數(shù)量的周期 方式的擺動826或827。擺動826和827具有彼此不同的規(guī)定形狀， 并表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一種擺動形狀826或827來表示。子信息的類型和擺動形 狀(擺動826或827)是一一對應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺動826或827 都具有通常的鋸齒形狀，并且具有不同的上升形狀(或上升梯度)和 下降形狀(下降梯度)。擺動826或827依據(jù)子信息的類型("0"或 "1")形成。子信息串由擺動826和827的組合表示。子信息串由擺 動826和827的組合表示。
擺動826或827之間在上升梯度和下降梯度上的差別可以由差分 推挽檢測信號容易地檢測如下。掃描激光束射向軌道凹槽802，產(chǎn)生 了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)800的軌道凹槽802的方向(徑向)劃分 的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信 號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上升梯 度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的這個差別例如可 以通過對檢測信號進(jìn)行差分來容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分結(jié)果而獲得的值的大小來 檢測。但是，當(dāng)使用差分時，噪聲分量自然地增加了。在具有較差 S/N比的光盤介質(zhì)中，檢測錯誤被合理地預(yù)期到。在這個例子中，擺 動826或827的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記810起沿軌道凹槽802的塊單元841中。 塊單元841具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以被記 錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC塊。 當(dāng)N=32時塊單元841被分成32個扇區(qū)825 (或當(dāng)N=16時分成16 個扇區(qū))。每一個扇區(qū)25是具有2kB長度的子塊。當(dāng)M-26時每一個 扇區(qū)25被分成#0至悄25的26個幀。在每一個幀弁O到#25的前端，
SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號。
幀是記錄在軌道凹槽802上的信息的基本單位。在圖8中，幀#0 由標(biāo)號822表示，幀#1由標(biāo)號823表示。如幀822和823所示例， 每一個幀包括預(yù)先以周期方式形成的一種類型的擺動。以這種方式， 在每一個幀822和823中描述1位子信息"0"、 "1"或"S"。包括在 每一個扇區(qū)825中的26位(M=26)子信息組指示對應(yīng)的塊單元841 的塊ID (地址信息)的至少一部分。
1位信息被分配給幀#0至1」#25中的每一個。例如，8幀(即8位) 被分配作為塊ID的1字節(jié)部分。接著的8幀被分配作為塊ID的1 字節(jié)奇偶校驗。接著的5幀被分配作為5位字節(jié)扇區(qū)號。剩下的5幀 被分配作為扇區(qū)號的5位奇偶校驗。扇區(qū)號指示多個扇區(qū)中扇區(qū)的次 序(即第5扇區(qū)、第10扇區(qū)等)。每一個奇偶校驗指示誤差檢測碼或 誤差校正碼中的至少一個。
例如，如上面所描述的被分配的一個扇區(qū)的子信息被排列在4個 扇區(qū)825 (即扇區(qū)組825，)上。通過排列塊ID的一部分，即4個扇 區(qū)的每一個l個字節(jié)，可以表示32位塊ID (8位x4-32位)。
圖10顯示了記錄在塊單元841中的扇區(qū)825和幀#0至1」#25中的 子信息的示例格式。在圖10中，最左部分顯示了扇區(qū)號。其右邊， 顯示了記錄在每一個扇區(qū)的幀中的子信息。假設(shè)塊單元841包括32 個扇區(qū)。括號"()"中的扇區(qū)號是在塊單元841包括16個扇區(qū)的情 況中的扇區(qū)號。幀糾到#25的每一個包括1位子信息。在這個例子中， 塊單元841是ECC塊。
將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的幀#0至U弁25中，在幀糾到#7 中，從LSB開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第一 個1字節(jié)。在幀#8到#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗的4字 節(jié)中第一個1字節(jié)的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區(qū)號 的5位子信息。在幀#21到#25中，填蓋了代表扇區(qū)號的奇偶校驗的
5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)0中，1字節(jié)"01h"被填蓋為塊 ID的一部分。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的幀#0到#25中，在幀#0到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 二個1字節(jié)。在幀#8至1」#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗的4 字節(jié)中第二個1字節(jié)的子信息。在幀#16至1」#20中，填蓋了代表扇區(qū) 號的5位子信息。在幀#21至'」#25中，填蓋了代表扇區(qū)號的奇偶校驗 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)1中，1字節(jié)"23h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區(qū)2的內(nèi)容。在扇區(qū)2的幀#0至!|#25中，在幀#0到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了 ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 三個1字節(jié)。在幀#8到#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗的4 字節(jié)中第三個1字節(jié)的子信息。在幀#16至1」#20中，填蓋了代表扇區(qū) 號的5位子信息。在幀#21到#25中，填蓋了代表扇區(qū)號的奇偶校驗 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)2中，1字節(jié)"45h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區(qū)3的內(nèi)容。在扇區(qū)3的幀#0到#25中，在幀弁0到#7 中，從最低位開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(jié)(32位)中第 四個1字節(jié)。在幀#8到#15中，填蓋了 ECC塊地址的奇偶校驗的4 字節(jié)中第四個1字節(jié)的子信息。在幀#16至脾20中，填蓋了代表扇區(qū) 號的5位子信息。在幀#21至1」#25中，填蓋了代表扇區(qū)號的奇偶校驗 的5位子信息。如圖8中所示，在扇區(qū)3中，1字節(jié)"67h"信息被 填蓋為塊ID的一部分。
以這種方式，32位塊ID"76543210h"通過組合來自4個扇區(qū)825 中的每一個的1字節(jié)信息來表示。
扇區(qū)825中的4字節(jié)塊ID最好以讀取順序排列，即順序地從第 一個被讀取的扇區(qū)825到最后一個被讀取的扇區(qū)825，并且從塊ID
的最低位到最高位。
將描述扇區(qū)4以及下列等等的內(nèi)容。在扇區(qū)4到7中，扇區(qū)0到 3的內(nèi)容將被重復(fù)地描述。類似地，在扇區(qū)8到11， 12到15, 16到 19， 20到23， 24到27以及28到31中，扇區(qū)0到3的內(nèi)容將被重 復(fù)描述。
以這種方式，在4個扇區(qū)中的信息被描述8次(當(dāng)塊單元841包 括16個扇區(qū)時是4次)。這樣，用于實現(xiàn)誤差校正的奇偶校驗信息將 被加到每一個塊單元841中?？梢栽鰪?qiáng)塊ID的讀取可靠性。
由于描述了扇區(qū)號，即使當(dāng)塊ID的1字節(jié)丟失時，丟失的這個l 字節(jié)也可以通過讀取扇區(qū)號來容易地識別。這樣，可以增強(qiáng)塊ID的 讀取可靠性。
由于描述了扇區(qū)號，所以提供了下面的優(yōu)點。例如當(dāng)在搜索操作 后數(shù)據(jù)沒有被連續(xù)地讀取時，在搜索操作后扇區(qū)825的扇區(qū)號可以立 即被讀取，替代了在前端從塊標(biāo)記810開始讀取塊單元841。由于這 樣操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區(qū)825開始的4個扇區(qū)825的 子信息來最終確定。
由于通過僅僅讀取每一個都包括4個扇區(qū)(8kB=2kBx4)的扇區(qū) 組825'的任意一個來最終確定塊ID，后處理(數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄 等)可以被迅速地完成。
即使當(dāng)由于盤劃痕(缺陷)造成塊ID的大約4個扇區(qū)被不正確 地讀取時，正確的塊ID也可以由沒有缺陷的扇區(qū)組來讀取。這樣， 保證了顯著高水平讀取塊ID的可靠性。
替代扇區(qū)號，將描述指示一個扇區(qū)組825'中的4個扇區(qū)825中扇 區(qū)的次序(即，第一扇區(qū)、第二扇區(qū)等)的ID號。其中圖IO顯示了 幀#16到#25中的5位扇區(qū)號和扇區(qū)號的5位奇偶校驗，圖16顯示了 幀#16至扭25中的指示重復(fù)的塊ID的次序的2位ID號、ID號的2位 奇偶校驗和重復(fù)的塊ID的6位序號。當(dāng)使用ID號時，每一個扇區(qū)號需要的5位子信息可以減少到2 位。使用剩下的8位(幀#18到#25)，可以提高ID號的誤差校正能 力，或可以描述塊ID的序號。
由于描述了 ID號，可以提供如下的優(yōu)點。例如當(dāng)在搜索操作后 數(shù)據(jù)沒有被連續(xù)地讀取時，在搜索操作后扇區(qū)825的ID號可以立即 被讀取，替代了在前端從塊標(biāo)記810開始讀取塊單元841。由于這樣 操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區(qū)825開始的4個扇區(qū)825的子 信息來最終確定。
在子信息包括塊ID的序號的情況中，序號可以根據(jù)大多數(shù)被用 于最終確定地址號。另外，這樣的序號提供了用于信號處理的有用信 息，例如，塊中的哪一個扇區(qū)825現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個子信息組 是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號可以 包括在子信息組中。以這種方式，記錄表面可以被容易地識別。例如， 圖16中的四個相同序號中的一個可以用記錄層的序號替代。這樣， 記錄表面可以容易地識別。
在這個例子中，塊ID有32位。地址信息的位的數(shù)量不局限于32， 而是可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼 的類型和系統(tǒng)的任何需要的數(shù)量。
在這個例子中，當(dāng)N=32時，塊單元被分為32個扇區(qū)(或當(dāng)N=16 時分為16個扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣數(shù)量的扇區(qū)。
在這個例子中，當(dāng)M=26時子信息被記錄在包括在每一個扇區(qū)中 的26個幀中。本發(fā)明不限于這樣數(shù)量的幀。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒狀擺動之后被記錄。本發(fā) 明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4或 7中所示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于
這樣的塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為例如具有如圖5或 6中所示的形狀的擺動。 (例8)
圖11顯示了依據(jù)本發(fā)明的例8的軌道凹槽1102。軌道凹槽1102 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成，來代替圖1中所示的軌道 凹槽102。如圖11中所示，軌道凹槽1102具有逐塊不同的形狀。在 圖11中，塊標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記)1110為軌道凹槽1102中的切斷部分， 并且顯示指示每一個塊的前端的索引。
每一個塊被分成N個扇區(qū)1125 (N-32或16)，并且每一個扇區(qū) 1125被分成M個幀#0到#25 (M=26)。每一個幀具有規(guī)定數(shù)量的周 期方式的擺動1126或1127。擺動1126或1127具有彼此不同的規(guī)定 形狀，并表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、
"1"或"S")由一種擺動形狀1126或1127來表示。子信息的類型 和擺動的形狀(擺動1126或1127)是一一對應(yīng)的關(guān)系。更具體地， 擺動1126和1127都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀
(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動1126或1127依據(jù)子 信息的類型("0"或"1")形成。子信息串由擺動1126和1127的組 合表示。
擺動1126和1127之間上升梯度和下降梯度的差別可以由差分推 挽檢測信號容易地檢測如下。掃描激光束射向軌道凹槽1102，產(chǎn)生 了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1102的方向(徑向)劃分 的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信 號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上升梯 度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的差別例如可以通 過對檢測信號差分容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來 檢測。但是當(dāng)使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N
比的光盤介質(zhì)中，檢測錯誤被合理地預(yù)期。在這個例子中，擺動1126 和1127的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記1110起沿軌道凹槽1102的塊單元1141 中。塊單元1141具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是ECC 塊。當(dāng)N-32時塊單元1141被分成32個扇區(qū)1125 (或當(dāng)N=16時分 成16個扇區(qū))。每一個扇區(qū)1125是具有2kB長度的子塊。當(dāng)M=26 時每一個扇區(qū)1125被分成#0至(]#25的26個幀。在每一個幀#0到#25 的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號。
幀是記錄在軌道凹槽1102上的信息的基本單位。在圖11中，幀 #0由標(biāo)號1122表示，幀#1由標(biāo)號1123表示。如幀1122和1123所 示例，每一個幀包括預(yù)先以周期方式形成的一種類型的擺動。以這種 方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個幀1122和1123中描 述。包括在每一個扇區(qū)1125中的26位(M=26)子信息組指示了對 應(yīng)的塊單元1141的塊ID (地址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測信號 的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
例如，每一個扇區(qū)1125中的26幀被分成第一個13幀(幀#0到 #12;第一幀組)和第二個13幀(幀#13到#25;第二幀組)。1位子 信息被記錄在每13幀中作為塊ID的一部分。這樣，2位子信息被記 錄在每一個扇區(qū)1125中作為塊ID的一部分。
圖12顯示了記錄在塊單元1141中的扇區(qū)1125和幀#0到#25中的 子信息的示例格式。在圖12中，最左部分顯示了扇區(qū)號。其右邊， 顯示了記錄在每一個扇區(qū)的幀中的子信息。1位子信息被記錄在第一 個13幀中，以及1位子信息被記錄在第二個13幀(幀組)中。在這 個例子中，塊單元1141是ECC土央。B0至ljB31的每一個指示ECC塊 地址中的位的序號(即，對應(yīng)的位是否是第一位、第二位等)。
將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的幀#0至!]#25中，在幀#0至扭12 (第一幀組)中，填蓋了ECC塊地址(LSB)的32位中第一個1位。 在幀#13到#25 (第二幀組)中，填蓋了 ECC塊地址的32個位中第 二個1位的子信息。如圖11中所示，在扇區(qū)0中，2位信息("0"或 "1")被填蓋為塊地址的一部分。
在扇區(qū)0的第一幀組中，指示ECC塊地址的開始的SYNC碼"S" 被填蓋來替代ECC塊地址(LSB)的第一個1位。SYNC碼"S"可 以用作用于再現(xiàn)ECC塊地址的同步信號或用作用于檢測ECC塊地址 的開始的檢測標(biāo)記。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的幀#0至[]#25中，在幀#0至1」#12 中，填蓋了ECC塊地址的32位中的第三個1位。在幀#13到#25中， 填蓋了 ECC塊地址的32位中的第四個1位的子信息。如圖11中所 示，在扇區(qū)1中，2位信息("0"或"1")被填蓋為塊地址的一部 分。
以這種方式，32位塊ID通過組合來自16個扇區(qū)1125中的每一 個的2位信息來表示。
在ECC塊具有32kB的長度并且塊單元1141被分成16個扇區(qū) 1125的情況中，32位塊可以通過在每一個扇區(qū)1125中記錄2位子信 息來獲得。
在ECC塊具有32kB長度的情況中， 一個塊ID如上所述由16個 扇區(qū)表示。在ECC塊具有64kB長度的情況中， 一個塊單元1141具 有32個扇區(qū)1125。在扇區(qū)16到31中，扇區(qū)0到15的內(nèi)容被重復(fù) 地描述。艮卩，在16個扇區(qū)中的信息(子信息組)被描述兩次。
因為子信息被重復(fù)記錄在塊單元1141中，塊ID通過僅僅讀取16 個扇區(qū)、即32kB (2kxl6)來最終確定。因此，后處理(數(shù)據(jù)讀取、 數(shù)據(jù)記錄等)可以迅速地完成。因為塊ID在塊單元1141中被重復(fù)兩 次，可以增強(qiáng)塊ID的讀取的可靠性。
替代在塊單元1141中記錄兩次塊ID，可以包括除塊ID之外的信 息。例如，塊ID的序號可以包括在子信息組中。序號可以用于基于 大多數(shù)來最終確定地址號。另外，這樣的序號提供了對于信號處理有 用的信息，例如，塊中哪一個扇區(qū)1125現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個子 信息組是不正確的。
在光盤介質(zhì)具有多個記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號可以 包括在子信息組中。以這種方法，記錄表面可以如上面參照圖16所 描述的容易地被識別。
在這個例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32， 而可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼的 類型和系統(tǒng)的任意需要的數(shù)量。
在這個例子中，N-32時塊單元被分成32個扇區(qū)(或N=16時分 成16個扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個例子中，M=26時子信息被記錄在包括在每一個扇區(qū)中的 26個幀中。本發(fā)明不不局限于這樣的幀數(shù)量。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒形狀的擺動后被記錄。本 發(fā)明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4 或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種形式的塊標(biāo)記。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 顯示的形狀的擺動。 (例9)
圖13顯示了依據(jù)本發(fā)明的例9的軌道凹槽1302。軌道凹槽1302 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來代替圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖13中所示，軌道凹槽1302具有逐塊不同的形狀。在圖 13中，塊標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記)1310為軌道凹槽1302中的切斷部分并且 顯示指示每一個塊的前端的索引。
每一個塊被分成N個扇區(qū)1325 (N-32或16)，并且每一個扇區(qū) 1325被分成M個幀#0到#25 (M=26)。每一個幀具有規(guī)定數(shù)量的周 期方式的擺動1326或1327。擺動1326或1327具有彼此不同的規(guī)定 形狀，表示子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、
"1"或"S")由一種形狀的擺動1326或1327來表示。子信息的類 型和擺動的形狀(擺動1326或1327)是一一對應(yīng)的關(guān)系。更具體地， 擺動1326和1327都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀
(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動1326或1327依據(jù)子 信息的類型("0"或"1")形成。子信息串由擺動1326和1327的組 合表示。
擺動1326和1327之間的上升梯度和下降梯度的差別可以容易地 由差分推挽檢測信號來檢測如下。掃描激光束射到軌道凹槽1302， 產(chǎn)生了指示由沿著垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1302的方向(徑向)
劃分的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(即， 推挽信號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的 上升梯度和下降梯度的檢測信號。例如，上升梯度和下降梯度中的這 個差別可以通過對檢測信號差分容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來 檢測。但是，當(dāng)使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差 S/N比的光盤介質(zhì)中，檢測錯誤被合理地預(yù)期。在這個例子中，擺動 1326和1327的每一種模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標(biāo)記1310開始沿軌道凹槽1302的塊單元 1341中。塊單元1341具有規(guī)定長度，例如64kB (或32 kB)。主信 息可以被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如 是ECC塊。當(dāng)N=32時塊單元1341被分成32個扇區(qū)1325(或當(dāng)N=16 時分成16個扇區(qū)1325)。每一個扇區(qū)1325是具有2kB長度的子塊。 當(dāng)M=26時每一個扇區(qū)1325被分成26個幀糾到#25。在每一個幀弁O
到#25的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號。
幀是記錄在軌道凹槽1302上的信息的基本單位。在圖13中，幀 #0由標(biāo)號1322表示，幀#1由標(biāo)號1323表示。如幀1322和1323所 示例的，每一個幀包括預(yù)先以周期的形式形成的一種類型的擺動。以 這種方式，1位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個幀1322和1323 中描述。包括在每一個扇區(qū)1325中的26位(M=26)子信息組指示 對應(yīng)的塊單元1341的塊ID (地址信息)的至少一部分。
例如，每一個扇區(qū)1325中的26個幀被分成第一個13幀(幀#0 到#12;第一幀組)和第二個13幀(幀#13到#25;第二幀組)。在第 一幀組中的13個幀中，預(yù)先以周期的方式形成相同形狀的擺動。在 第二幀組中的13個幀中，預(yù)先以周期的方式形成相同形狀的擺動。 這樣，2位子信息"0"、 "1"或"S"在每一個扇區(qū)1325中描述。在 每一個扇區(qū)1325中的32位子信息指示對應(yīng)的塊單元1341的塊ID(地 址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID還可以包括用于校正或檢測檢測信 號的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
圖14顯示了記錄在塊單元1341中的扇區(qū)1325和幀#0到#25中 的子信息的示例格式。在圖14中，最左邊部分顯示了扇區(qū)號。其右 邊顯示了記錄在每一個扇區(qū)的幀中的子信息。
將描述扇區(qū)0的內(nèi)容。在扇區(qū)0的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址(LSB)的32位中的第一個1位被填蓋。如圖14中所示，在 扇區(qū)0中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填蓋。
將描述扇區(qū)1的內(nèi)容。在扇區(qū)1的所有幀#0至扭25中，在ECC 塊地址(LSB)的32位中的第一個1位被填蓋。如圖14中所示，在 扇區(qū)1中，1位子信息B0 ("0"或"1")被填蓋。
在扇區(qū)1中，填蓋在扇區(qū)0中的子信息BO被重復(fù)描述。
接著將描述扇區(qū)2的內(nèi)容。在扇區(qū)2的所有幀#0到#25中，在ECC
塊地址的32位中的第二個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)2中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填蓋。
將描述扇區(qū)3的內(nèi)容。在扇區(qū)3的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址的32位中的第二個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)3中， 1位子信息B1 ("0"或"1")被填蓋。
在扇區(qū)3中，填蓋在扇區(qū)2中的子信息B1被重復(fù)描述。
以這種方式，在直到扇區(qū)12的偶數(shù)扇區(qū)中，ECC塊地址的32位 中第三、第四、第五、第六和第七個1位分別地被填蓋。在直到扇區(qū) 13的奇數(shù)(N)扇區(qū)中，與偶數(shù)(N-l)扇區(qū)中相同的子信息被填蓋。
扇區(qū)14到24的內(nèi)容將被描述。
扇區(qū)14的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)14的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址的32位中的第8個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)14 中，1位子信息B7 ("0"或"1")被填蓋。
扇區(qū)15的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)15的所有幀#0到#25中，在ECC 塊地址的32位中的第9個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區(qū)15 中，1位子信息B8 ("0"或"1")被填蓋。
直到扇區(qū)24的1位子信息被類似地描述。
扇區(qū)25到31的內(nèi)容將被描述。
扇區(qū)25的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)25的幀#0到弁25中，在幀#0到 #12 (第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第19個1位被填蓋。 如圖14中所示，在扇區(qū)25的第一幀組中，1位子信息B18 ("0"或 "1")被填蓋。
在扇區(qū)25的幀#0到#25中，在幀#13到#25 (第二幀組)中，在 ECC塊地址的32位中的第20個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇 區(qū)25的第二幀組中，1位子信息B19 ("0"或"1")被填蓋。
扇區(qū)26的內(nèi)容將被描述。在扇區(qū)26的幀弁0到#25中，在幀#0到 #12 (第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第21個1位被填蓋。
如圖14中所示，在扇區(qū)26的第一幀組中，1位子信息B20 ("0"或 "1")被填蓋。
在扇區(qū)26的幀弁0到#25中，在幀#13到#25 (第二幀組)中，在 ECC塊地址的32位中的第22個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇 區(qū)26的第二幀組中，1位子信息B21 ("O"或"I")被填蓋。
直到扇區(qū)31的1位子信息被類似地描述。
如上所述，在這個例子中，其中描述子信息的扇區(qū)的數(shù)量和幀的 數(shù)量依據(jù)塊ID的位的位置(即，較低位或較高位)而變化。在這個 例子中，子信息BO是LSB，子信息B31是HSB。
在用于讀取存儲在例如光盤中的連續(xù)數(shù)據(jù)的系統(tǒng)中，被連續(xù)讀取 的數(shù)據(jù)的塊ID從較低位順序地增大。在兩個相鄰塊ID之間，塊ID 的值僅僅差"1 "。因此，塊ID可以僅僅通過讀取所讀取的塊ID的幾 個較低位來確定，因為剩下的較高位可以由從緊挨著的前一個塊ID 讀取的值或由從先于當(dāng)前塊ID —個確定數(shù)的塊ID讀取的值來估算。 在這種情況中，塊ID的幾個較低位的讀取可靠性很重要。在這個例 子中，塊ID的較低位被排列在多個扇區(qū)上，即以大于其他較高位的 數(shù)目來排列，如圖14所示。因此，可以提高塊ID的較低位的讀取可 靠性，因而提高塊ID的讀取效率。
在這個例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32， 而可以是依據(jù)例如將要被記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼 的類型和系統(tǒng)任意需要的數(shù)量。
在這個例子中，當(dāng)N-32時塊單元被分成32個扇區(qū)(N-16時為 16個扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個例子中，M=26時子信息被記錄在包括在每一個扇區(qū)中的 26個幀中。本發(fā)明不局限于這樣的幀的數(shù)量。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒形狀的擺動后被記錄。本 發(fā)明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4
或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種形式的塊標(biāo)記。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 顯示的形狀的擺動。 (例10)
圖15顯示了依據(jù)本發(fā)明的例10的軌道凹槽1502。軌道凹槽1502 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來代替圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖15中所示，軌道凹槽1502具有逐塊不同的形狀。在圖 15中，塊標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記)1510為軌道凹槽1502中的切斷部分并且 顯示指示每一個塊的前端的索引。
每一個塊被分成N個扇區(qū)1525 (N:32或16)，每一個扇區(qū)1525 被分成M個幀糾到#25 (M=26)。每一個幀以周期的方式具有規(guī)定數(shù) 量的擺動1526和1527。擺動1526和1527彼此具有不同的規(guī)定形狀， 并且代表子信息("0"、 "1"或"S")。 一種類型的子信息("0"、 "1" 或"S")由一種形狀的擺動1526或1527來表示。子信息的類型和擺 動的形狀(擺動1526和1527)具有一一對應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺 動1526和1527都具有通常的鋸齒形狀，并且具有不同的上升形狀(或 上升梯度)和下降形狀(或下降梯度)。擺動1526或1527依據(jù)子信 息("0"或"1")的類型來形成。子信息串由擺動1526和1527的組 合來表示。
在擺動1526和1527之間的上升梯度和下降梯度中的差別可以由 差分推挽檢測信號容易地檢測如下。掃描激光束射向軌道凹槽1502， 產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽102的方向(徑向) 劃分的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(即推 挽信號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"或"1"來變化的上 升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的差別例如可 以通過對檢測信號差分容易地識別。
這樣，子信息的類型可以通過作為差分的結(jié)果獲得的值的大小來
檢測。但是，當(dāng)使用差分時，噪聲成分自然增加了。在具有較差S/N 比的光盤介質(zhì)中，檢測錯誤被合理地預(yù)期到。在這個例子中，擺動 1526和1527的每一個模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測的可靠性。
主信息從塊標(biāo)記1510沿著軌道凹槽1502被記錄在塊單元1541 中。塊單元1541具有規(guī)定長度，例如64kB (或32kB)。主信息可以 被記錄為記錄標(biāo)記28。塊單元是用于信息處理的單元，并且例如是 ECC土央。當(dāng)N-32時塊單元1541被分成32個扇區(qū)1525 (或當(dāng)N46 時分成16個扇區(qū)1525)。每一個扇區(qū)1525都是具有2kB長度的子塊。 當(dāng)M=26時每一個扇區(qū)1525被分為26個幀#0至1」#25。在每一個幀#0 到#25的前端，SYNC標(biāo)記被記錄為用于再現(xiàn)數(shù)據(jù)的同步信號。
幀是記錄在軌道凹槽1502上的信息的基本單位。在圖15中，幀 #0由標(biāo)號1522表示，幀#1由標(biāo)號1523表示。如幀1522和1523所 示例，每一幀包括預(yù)先以周期的方式形成的一種類型的擺動。以這種 方式，1位的子信息"0"、 "1"或"S"在每一個幀1522和1523中 描述。子信息被描述為SYNC信息。包括在每一個扇區(qū)1525中的26 位(M=26)子信息組指示了對應(yīng)的塊單元1541的塊ID (地址信息) 的至少一部分。
1位子信息被分配給一幀，這樣32位塊ID被填蓋在連續(xù)的32幀 (子信息組)中。
除了指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測信 號的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
如上所述，塊ID通過組合分配給32幀中的每一個的1位信息來 表示。即整個塊ID由32位子信息組來表示。
當(dāng)ECC塊具有64kB的長度時，每一個塊包括32個扇區(qū)。因此， 一個塊包括832幀(=32x26)。當(dāng)塊ID由32幀(一個幀組)來表示 時，塊ID可以在塊單元1541中被重復(fù)26次(即相同的塊ID在26
個幀組中描述)。
當(dāng)ECC塊具有32kB的長度時，每一個塊包括16個扇區(qū)。因此， 一個塊包括416個幀(=16x26)。當(dāng)塊ID由32個幀(一個幀組)來 表示時，塊ID可以在塊單元1541中被重復(fù)13次(即相同的塊ID在 13個幀組中描述)。
以這種方式，塊ID由32幀(一個幀組)來表示，并且該ID塊 在塊單元1541中被描述很多次。
這樣，塊ID最后通過僅僅讀取32幀來確定。因此，可以很快地 執(zhí)行后處理(數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄等)。
由于塊ID在塊單元1541中被重復(fù)多次，可以增強(qiáng)塊ID的讀取 可靠性。
如上面參照圖16描述的，可以包括不同于塊ID的信息，盡管在 塊單元1541中重復(fù)塊ID的次數(shù)在這種情況中減少了。例如，塊ID 的序號可以包括在子信息組中。序號可以用于在大多數(shù)的基礎(chǔ)上最后 確定地址號。此外，這樣的號提供了用于信號處理的有用信息，例如， 塊中的哪一個扇區(qū)1525現(xiàn)在被讀取或塊中哪一個子信息組是不正確 的。
在光盤介質(zhì)具有多個記錄表面或?qū)拥那闆r中，記錄層的序號可以 包括在子信息組中。以這種方式，記錄表面可以容易地被識別。例如， 圖16中的四個相同序號中的一個可以用記錄層的序號替代。這樣， 記錄表面可以容易地識別。
在這個例子中，塊ID有32位。地址信息的位數(shù)不局限于32，而 是可以是依據(jù)例如將要記錄在光盤介質(zhì)上的數(shù)據(jù)量或誤差校正碼的 類型和系統(tǒng)的任何需要的數(shù)量。
在這個例子中，當(dāng)N=32時塊單元被分為32個扇區(qū)(或當(dāng)N=16 分為16個扇區(qū))。本發(fā)明不局限于這樣的扇區(qū)數(shù)量。
在這個例子中，當(dāng)M-26時子信息被記錄在包括在每一個扇區(qū)中
的26幀中。本發(fā)明不限于這樣的幀數(shù)量。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制為鋸齒狀擺動后被記錄。本發(fā)明 不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調(diào)制為具有例如圖4或7 中所示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這種塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制為具有例如圖5或6中 所示的形狀的擺動。 (例11)
圖22顯示了依據(jù)本發(fā)明的例11的軌道凹槽1602。軌道凹槽1602 可以在圖2中所示的光盤介質(zhì)20中形成來替^^圖1中所示的軌道凹 槽102。如圖22中所示，軌道凹槽1602具有逐塊不同的形狀。
參照圖22，作為形成塊地址的單元的ECC塊被分成4個PID部 分PIDO至U PID3 。 PID部分PIDO、 PID1 、 PID 2禾口 PID3分另lj由豐示號 2202、 2204、 2206和2208來指示。PID部分2202、 2204、 2206和 2208的前面分別是附加部分0到3。附加部分O、 1、 2和3分別由標(biāo) 號2201、 2203、 2205和2207來指示。附加部分2201、 2203、 2205 和2207的每一個都包括塊標(biāo)記(標(biāo)識標(biāo)記)2220。在圖22中，塊標(biāo) 記(標(biāo)識標(biāo)記)2220是軌道凹槽1602中的切斷部分并且顯示了指示 每一個PID部分的前端的索引。
如上所述，塊被分為四個PID部分(N=4),并且每一個PID部 分還被分成M幀(M=52)。每一幀(例如，每一幀2222、 2223、 2224 和2225)從塊標(biāo)記2220沿軌道凹槽1602具有規(guī)定數(shù)量的擺動2226、 2227、 2229或2230。擺動2226、 2227、 2229和2230具有彼此不同 的規(guī)定形狀，代表子信息("0"、 "1"、 "S"或"B")。 一種類型的子 信息("0"、 "1"、 "S"或"B")由一種擺動形狀2226、 2227、 2229 或2230來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動2226、 2227、 2229 或2230)是一一對應(yīng)的關(guān)系。更具體地，擺動2226、 2227和2228
都具有通常的鋸齒形狀，擺動2230具有正弦波形狀。擺動2226、2227、 2228或2230具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(或下 降梯度)。擺動2226、 2227、 2229或2230依據(jù)子信息("0"、 "1"、
"S"或"B")的類型來形成。
擺動2226、 2227、 2229和2230中的上升梯度和下降梯度中的差 別可以通過差分推挽檢測信號容易地檢測如下。掃描激光束射向軌道 凹槽1602，產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)20的軌道凹槽1602的 方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差 分信號(即推挽信號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"、 "1"、
"S"或"B"來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度 和下降梯度中的差別例如可以通過對檢測信號差分容易地識別。
這樣，子信息的類型可以通過作為差分結(jié)果獲得的值的大小來檢 測。但是，當(dāng)使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N 比的光盤介質(zhì)中，檢測錯誤被合理地預(yù)期到。在這個例子中，擺動 2226、 2227、 2229和2230的每一個模式被重復(fù)多次以增強(qiáng)檢測的可 靠性。
PID部分的內(nèi)容將被描述。每一個PID部分包括每一個都具有372 個字節(jié)的52幀，這樣具有19344字節(jié)的長度(-372字節(jié)x52)。 PID 部分2202 (PID0)包括8位PID信息2209、 24位塊地址信息2210、 16位正D信息2211和4位地址標(biāo)記(AM) 2212。
PID信息2209表示對應(yīng)的PID部分的號(即，PID部分是否是 PID0、 PID1、 PID2或PID3)。塊地址信息2210是分配給每一個塊的 地址信息，并且在相同的ECC塊的PIDO到PID3中是共同的。正D 信息2211是從PID信息2209和塊地址信息2210產(chǎn)生的ID誤差檢測 碼。
地址標(biāo)記2212位于PID部分2202的后端(后端)并且用于檢測 緊隨PID部分2202的PID部分2204的前端。除子信息"0"、 "1"
或"S"之外，地址標(biāo)記2211包括使用正弦波形狀的擺動、例如在幀 2225中的擺動2230的子信息"B"。地址標(biāo)記2212通過組合由幀2224 中的擺動2229記錄的子信息"S"和子信息"B"來表示。例如，地 址標(biāo)記2212具有4位信息"SBBS"。當(dāng)這種模式被檢測時，準(zhǔn)備下 面的附加部分或PID部分的檢測。
由于子信息"B"僅僅被用于地址標(biāo)記，地址標(biāo)記容易與具有其 他信息的部分區(qū)別開。這樣，可以增強(qiáng)地址標(biāo)記的檢測精度。
附加部分的內(nèi)容將被描述。不象PID部分，每一個附加部分具有 預(yù)先記錄在盤上的塊標(biāo)記2220。塊標(biāo)記2220例如是鏡像標(biāo)記，它是 如在下面描述的圖17中所示的軌道凹槽1602中的切斷部分。附加部 分2201位于PID部分2202 (PIDO)之前并且也是ECC塊的前端。
附加部分0到3預(yù)先分別在PIDO到PID3之前被提供，并且每一 個都具有93字節(jié)的長度。塊標(biāo)記(鏡像標(biāo)記)2220具有大約2個字 節(jié)的長度。在每一個附加部分，假數(shù)據(jù)可以被記錄以增加塊標(biāo)記2220 的檢測精度。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡單重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空間的 信息。這樣，單個頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以是在頻率上分開 的，以便更容易檢測。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測。
如上所述， 一個ECC塊被分成4個PID部分，并且每一個PID 部分前面是附加部分。在每一個附加部分，形成了指示PID部分的前 端的塊標(biāo)記。在ECC塊中重復(fù)這樣的PID部分。因為塊ID最終通過 僅僅讀取ECC塊的1/4來確定，后處理(數(shù)據(jù)讀取，數(shù)據(jù)記錄等) 可以快速地執(zhí)行。
因為塊ID在ECC塊中重復(fù)多次，增強(qiáng)了塊ID的讀取可靠性。
在這個例子中， 一個ECC塊被分成4個PID部分。本發(fā)明不局 限于這樣數(shù)量的PID部分。一個ECC塊可以被分成任意整數(shù)多個PID 部分。
在這個例子中，子信息在被調(diào)制成鋸齒形狀的擺動后被記錄。本
發(fā)明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調(diào)制成具有例如圖4 或7中顯示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標(biāo)記是軌道凹槽的切斷部分。本發(fā)明不局限于 這樣的塊標(biāo)記的形式。例如，塊標(biāo)記可以被調(diào)制成具有例如圖5或6 中顯示的形狀的擺動?；蛘?，塊標(biāo)記可以被調(diào)制成具有例如圖17、 18或19中顯示的形狀的擺動。 (例12)
圖17顯示了依據(jù)本發(fā)明的例12的軌道凹槽1702。軌道凹槽1702 通過修改圖22中顯示的軌道凹槽1602的附加部分來獲得。
在圖17中，標(biāo)號1701表示附加部分0， 1705表示附加部分1到 3中的每一個。具有連續(xù)多個正弦波狀擺動的形狀的軌道凹槽1702 預(yù)先在盤中形成，每一個附加部分具有93字節(jié)的長度。附加部分包 括9個擺動。附加部分0具有每一個都作為軌道凹槽1702的切斷部 分的塊標(biāo)記1703和1704，附加部分1到3每一個都具有作為軌道凹 槽1702的切斷部分的塊標(biāo)記1706。
如例11中所描述的，附加部分0到3先于各自的PID部分并且 可以是地址信息的前端。因此，需要提供對附加部分0到3的令人滿 意的高水平的讀取可靠性。在塊標(biāo)記在附加部分中重復(fù)多次(例如， 兩次)的情況中，即在附加部分中提供了多個相同的塊標(biāo)記的情況中， 即使當(dāng)一個塊標(biāo)記由于外部干擾例如噪聲或故障而不能被檢測時，塊 標(biāo)記也能以高水平的可靠性被檢測。在塊標(biāo)記以特定的間隔被重復(fù)多 次的情況中，正確的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別于由噪聲、故障等產(chǎn)生的 假的塊標(biāo)記。
在附加部分0到3中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量和形狀可以相同。例如， 一個塊標(biāo)記1703可以在附加部分0到3的每一個中提供?；蛘撸?圖17中所示，在附加部分0到3中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量和形狀可以
在附加部分0到3之間不同。例如，附加部分O中的塊標(biāo)記的數(shù)量可 以與附加部分1到3中的塊標(biāo)記的數(shù)量不同。在這種情況中，可以在 附加部分O中提供比其他附加部分中更多數(shù)量的塊標(biāo)記，以增強(qiáng)對作 為ECC塊的前端的附加部分0的讀取的可靠性。在圖17中，在附加 部分0中提供了兩個塊標(biāo)記1703和1704，而在附加部分1到3的每 一個中提供了一個塊標(biāo)記1706。當(dāng)在附加部分0中形成的塊標(biāo)記的 數(shù)量或形狀不同于附加部分1到3中形成的時，附加部分0中的塊標(biāo) 記可以容易地區(qū)別于其他附加部分的塊標(biāo)記。這樣，可以不用讀取 PID部分的全部而最終地確定ECC塊的前端地址。
在圖17中，按照擺動的相位在相同的位置提^^多個塊標(biāo)記?；?者，如圖18中所示，塊標(biāo)記可以在具有擺動的180度相差的位置提 供(塊標(biāo)記1703和1804)。
在這個例子中，每一個塊標(biāo)記具有2個字節(jié)的物理長度，但是本 發(fā)明不局限于這樣的長度?？梢赃x擇基于光點直徑確定的最佳設(shè)計長 度。例如，如圖19中所示，塊標(biāo)記可以具有4個字節(jié)的物理長度。
當(dāng)塊標(biāo)記可以具有如圖19中所示的4個字節(jié)的物理長度時，附 加部分0中的塊標(biāo)記的物理長度可以與附加部分1到3中的不同。這 樣，附加部分O中的塊標(biāo)記的讀取可靠性可以被增強(qiáng)。當(dāng)在附加部分 0中形成的塊標(biāo)記的長度與附加部分1到3中形成的不同時，附加部 分0中的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別于其他附加部分的塊標(biāo)記。
參照圖20，將描述其中塊標(biāo)記是在凸區(qū)中形成的預(yù)凹坑的光盤介 質(zhì)。圖20顯示了在這樣的光盤介質(zhì)中的軌道凹槽2002。軌道凹槽2002 通過修改圖22中顯示的軌道凹槽1602的附加部分來獲得。在圖20 中，標(biāo)號2001表示附加部分0， 2005表示附加部分1到3中的每一 個。塊標(biāo)記2004在附加部分0的軌道凹槽2002的相鄰部分之間的凸 區(qū)2003中形成。塊標(biāo)記2004是凸區(qū)2003中的切斷部分。當(dāng)用光點 2007掃描軌道凹槽2002時，塊標(biāo)記2004在從光點2007的中心偏移
了半個軌道的狀態(tài)被掃描。
如圖20中所示在凸區(qū)2003上形成的塊標(biāo)記2004可以使用指示 由光接收元件的兩個分開的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信 號(即，推挽信號)來檢測。使用這樣的差分信號來檢測上述的PID 部分。塊地址可以使用類似的差分信號來檢測。因此，塊地址和PID 部分可以被檢測而不用將差分信號切換成總和信號。這樣，信號檢測 部分可以具有更簡單的電路配置。
在類似圖20中的塊標(biāo)記2004的一個附加部分中提供多個相同的 塊標(biāo)記的情況中，塊標(biāo)記的數(shù)量可以在附加部分O中和在附加部分1 到3中之間存在差別。
例如，當(dāng)附加部分0包括兩個塊標(biāo)記2204并且附加部分1到3 中的每一個都具有一個塊標(biāo)記2204時，可以增強(qiáng)附加部分0中的塊 標(biāo)記的讀取可靠性。當(dāng)在附加部分0中形成的塊標(biāo)記的數(shù)量不同于在 附加部分1到3中形成的時，附加部分0中的塊標(biāo)記可以容易地區(qū)別 于其他附加部分的塊標(biāo)記。
在每一個附加部分中，假數(shù)據(jù)可以被記錄以增加塊標(biāo)記的檢測精度。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡單地重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空間 的信息。這樣，單一頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以是在頻率上分 開的，以便更容易檢測。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測。 (例13)
圖21顯示了依據(jù)本發(fā)明的例13的光盤介質(zhì)的PID部分2100。PID 部分2100通過修改圖22中所示的PIDO到PID3來獲得。PID部分 2100包括每一個都具有372個字節(jié)的52幀，因此具有19344字節(jié)的 長度0372字節(jié)x52)。 PID部分2100包括8位PID信息2209、 24 位塊地址信息2210、 16位IED信息2211和作為標(biāo)識標(biāo)記的4位地址 標(biāo)記(AM) 2212。 PID信息2209、塊地址信息2210和IED信息2211
類似于例ll中的對應(yīng)部分。
地址標(biāo)記2211位于PID部分2100的后端并且用于檢測緊隨PID 部分2100的PID部分的前端。地址標(biāo)記2211是除子信息"0"、 "1" 或"S"之外還包括子信息"B"的4信息單元。地址標(biāo)記2211通過 組合子信息"S"和子信息"B"來表示。地址標(biāo)記可以是每一個PID 部分2100中的子信息的不同組合。例如，如圖21中所示，PID3的 地址標(biāo)記2107包括4位信息"SSSS"。當(dāng)這種組合被檢測時，識別 出這是PID3的地址標(biāo)記2107。這樣，可以準(zhǔn)備緊隨其后的PIDO之
PIDO的地址標(biāo)記2101 、 PID1的地址標(biāo)記2103和PID2的地址標(biāo) 記2105中的每一個都包括不同于PID3的地址標(biāo)記2107中的 "SBBS"。由于PID3的地址標(biāo)記的內(nèi)容不同于PIDO到PID2的地址 標(biāo)記的內(nèi)容，所以PID3的地址標(biāo)記容易地區(qū)別于其他PID部分的地 址標(biāo)記。這樣，增加了PID3的地址標(biāo)記的檢測精度。gp，塊的前端 可以更容易地由子信息的這樣的不同組合來檢測。
PID0到PID2的地址標(biāo)記可以由相同形狀的擺動來形成(即，子 信息的相同組合)。例如，PIDO到PID2的地址標(biāo)記可以都包括 "SBBS"。
圖21中所示的具有用軌道凹槽的擺動表示的信息的地址標(biāo)記 2101、 2103、 2105和2107可以使用指示由光接收元件的兩個分開的 檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信號(即，推挽信號)來檢測。 使用這樣的差分信號來檢測PID信息2209、塊地址信息2210和IED 信息2211。在每一個PID部分之前的塊地址或標(biāo)識標(biāo)記可以使用類 似的差分信號來檢測。因此，每一個PID部分的前端、塊的前端和塊 地址都可以被檢測而不用把差分信號切換成總和信號和差分信號。這 樣，信號檢測部分可以具有更簡單的電路配置。
為了增加地址標(biāo)記2101、 2103、 2105和2107的檢測精度，假數(shù)
據(jù)可以被記錄在對應(yīng)于地址標(biāo)記的軌道凹槽的部分。
可使用的假數(shù)據(jù)例如可以是包括簡單地重復(fù)的4T標(biāo)記和4T空 間的信息。這樣，單一頻率分量的記錄標(biāo)記和塊標(biāo)記可以在頻率上分 開，以便更容易檢測。這樣，塊標(biāo)記可以更容易地被檢測。圖21中 顯示的地址標(biāo)記可以使用上述的差分信號來檢測。因此，地址標(biāo)記可 以通過在對應(yīng)于地址標(biāo)記的軌道凹槽的部分中記錄正確的用戶數(shù)據(jù) 以替代假數(shù)據(jù)來檢測。
附加部分中的標(biāo)識標(biāo)記和地址標(biāo)記可以組合使用。例如，附加部 分中的標(biāo)識標(biāo)記是2字節(jié)的鏡象標(biāo)記，這樣以非常高水平的位置精度 來提供。因此，這樣的組合使用可以增加在鏈接時開始記錄的位置的 精度以供額外地寫或重寫。 (例14)
圖23A顯示了依據(jù)本發(fā)明的例14的光盤裝置2300。光盤裝置 2300再現(xiàn)利用前面的例子中描述的多個擺動形狀的組合記錄在光盤 介質(zhì)上的子信息，以便記錄和再現(xiàn)主信息。圖23是顯示在圖23A中 的光盤裝置2300的操作的流程圖。
光盤裝置2300包括變換部分2330、再現(xiàn)信號計算部分2308、聚 焦位置控制部分2309、跟蹤位置控制部分2310、子信息檢測部分 2312、激光驅(qū)動部分2313、再現(xiàn)信號處理部分2314和地址信息/盤管 理信息處理部分2315。變換部分2330包括半導(dǎo)體激光器2302、準(zhǔn)直 透鏡2303、分束器2304、會聚部分2305、集光透鏡2306、光檢測部 分2307以及傳動器2311。光盤裝置2300將光束射向光盤介質(zhì)2301 使得讀取記錄在光盤介質(zhì)2301上的主信息和子信息并且把該主信息 和子信息轉(zhuǎn)換為再現(xiàn)信號。
參照圖23A和23B，半導(dǎo)體激光器2302發(fā)射出的光束通過準(zhǔn)直 透鏡2303、分束器2304和光會聚部分2305被收集在光盤介質(zhì)2301 的信息表面上。然后所收集的光被光盤介質(zhì)2301反射和折射并且通
過光會聚部分2305、分束器2304和集光透鏡2306被收集在光檢測 部分2307上。光檢測部分2307的光接收元件A、 B、 C和D的每一 個都依據(jù)接收到的光的總量來輸出電壓信號作為再現(xiàn)信號2320 (步 驟SIOO)。
再現(xiàn)信號計算部分2308利用加、減、乘或除來處理再現(xiàn)信號2320 。 從再現(xiàn)信號計算部分2308輸出的作為這樣的計算結(jié)果的FE (聚焦誤 差)信號2321被發(fā)送到聚焦位置控制部分2309。從再現(xiàn)信號計算部 分2308輸出的作為這樣的計算結(jié)果的TE (跟蹤誤差)信號2322被 發(fā)送到跟蹤位置控制部分2310。從再現(xiàn)信號計算部分2308輸出的作 為這樣的計算結(jié)果的RF (射頻)信號2323被發(fā)送到子信息檢測部分 2312和再現(xiàn)信號處理部分2314 (步驟S200)。
聚焦位置控制部分2309通過依據(jù)FE信號2321輸出的電壓驅(qū)動 傳動器2311，以便控制在光盤介質(zhì)2301的信息表面上的光點的聚焦 位置。跟蹤位置控制部分2310通過依據(jù)TE信號2322輸出的電壓驅(qū) 動傳動器2311，以便控制在光盤介質(zhì)2301的信息表面上的光點的跟 蹤位置。根據(jù)聚焦位置和跟蹤位置控制的光點被用于讀取預(yù)凹坑或光 盤介質(zhì)2301上的標(biāo)記和空間。作為一種相差類型的光盤介質(zhì)2301中 的標(biāo)記和空間以不同的反射比反射光。這樣，記錄在光盤介質(zhì)2301 上的信息被讀取。在推挽系統(tǒng)的情況中，TE信號2322是由光檢測部 分2307的兩個光接收部分接收的光的總量之間的差的輸出。這兩個 光接收部分的每一個都包括四個光接收元件A、 B、 C和D中的兩個 并且由平行于跟蹤方向的一條線來定義。這里，差為(A+D)-(B+C)。 RF信號2323是由四個光接收元件A、 B、 C和D接收的光的總量的 和的輸出。這里，和為(A+ B+C + D)。在象散系統(tǒng)的情況中，F(xiàn)E 信號2321是(A+C) - (B+D)的輸出。
子信息用下面的方式再現(xiàn)。
由再現(xiàn)信號計算部分2308產(chǎn)生的TE信號2322和RF信號2323
被輸出到子信息檢測部分2312并且被用于譯碼子信息。由子信息檢 測部分2312檢測的子信息被輸出到地址信息/盤管理信息處理部分 2315和激光驅(qū)動部分2313。
如圖34中所示，子信息檢測部分2312包括基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生部分 3410、電平限幅脈沖信號產(chǎn)生部分(level-sliced pulse signal generation section) 3411、作為塊標(biāo)記信號檢測部分的第三BPF (帶通濾波器) 3403和子信息產(chǎn)生部分3412。
基準(zhǔn)時鐘產(chǎn)生部分3410包括第一 BPF 3401和同步檢測部分 3404。電平限幅脈沖信號產(chǎn)生部分3411包括第二 BPF 3402、比較器 3405和積分器3408。子信息產(chǎn)生部分3412包括多數(shù)確定部分3406 和子信息譯碼器3407。
第一 BPF 3401被設(shè)計為具有這樣的一個濾波常數(shù)，以便提取出 調(diào)制成TE信號2322的擺動信號?；赥E信號2322，第一 BPF 3401 產(chǎn)生包含具有與軌道凹槽中的擺動同步的正弦波形的基波分量的輸 出信號3401，。同步檢測部分3404接收輸出信號3401，并且產(chǎn)生與 從光盤介質(zhì)2301(圖23A)讀取的信號同步的基準(zhǔn)時鐘信號3404'(步 驟S300)。基準(zhǔn)時鐘信號3404'被用于同步子信息信號。
第二 BPF 3402是用于檢測被調(diào)制為TE信號2322的鋸齒波形的 陡邊的差分濾波器。根據(jù)陡邊的相位(或方向)，第二 BPF 3402產(chǎn)生 一個向上或向下差分脈沖信號3402'。差分脈沖信號3402'被輸出到 比較器3405。比較器3405將通過積分器3408反饋的調(diào)節(jié)限幅電壓 和差分脈沖信號3402'相比較，并且產(chǎn)生電平限幅脈沖信號3405'， 差分脈沖信號3402，的向上狀態(tài)和向下狀態(tài)為"0"和"1"(步驟S400)。 電平限幅脈沖信號3405'被輸出到多數(shù)確定部分3406。
第三BPF 3403濾波RF信號2323以檢測塊標(biāo)記信號3403，并且最 終確定子信息組的前端(步驟S500)。所檢測的塊標(biāo)記信號3403'被 輸出到多數(shù)確定部分3406，在那里所檢測的塊標(biāo)記信號3403'被用于
計時同步。
基于從基準(zhǔn)時鐘信號3404'和塊標(biāo)記信號3403'產(chǎn)生的同步信號， 在特定的時間區(qū)間內(nèi)，多數(shù)確定部分3406比較電平限幅脈沖信號 3405'的"0"脈沖和"1"脈沖的數(shù)量。然后，多數(shù)確定部分3406把 在特定的時間區(qū)間內(nèi)占所有脈沖的大多數(shù)的脈沖輸出到子信息譯碼 器3407作為電平限幅數(shù)據(jù)信號3406'。子信息譯碼器3407檢查在電 平限幅數(shù)據(jù)信號3406'中是否有錯誤。當(dāng)在電平限幅數(shù)據(jù)信號3406' 中沒有錯誤時，子信息譯碼器3407輸出電平限幅數(shù)據(jù)信號3406'作為 子信息信號3420 (例如，地址信息)(步驟S600)。
通過上述過程，記錄在光盤介質(zhì)2301上的子信息信號3420被再 現(xiàn)?；诎ㄔ谠佻F(xiàn)的子信息信號3420中的地址信息，光盤裝置2300 可以確定在軌道凹槽中的信息的哪一塊現(xiàn)在被再現(xiàn)。當(dāng)在光盤介質(zhì) 2301上記錄主信息時，確定緊挨在要記錄主信息的塊之前的塊的地 址，然后預(yù)測出下一塊是要記錄主信息的塊。這樣，可以從目標(biāo)塊的 塊的前端開始記錄主信息。 (例15)
將描述依據(jù)本發(fā)明的例15的光盤介質(zhì)的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)。 參照圖30，常規(guī)的光盤介質(zhì)3001的導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)將被描述。 光盤介質(zhì)3001包括在內(nèi)周邊區(qū)域中提供的導(dǎo)入?yún)^(qū)3003、在外周邊區(qū) 域中提供的導(dǎo)出區(qū)3004和在導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3004之間提供的 記錄和再現(xiàn)區(qū)域。在圖30中，部分3007被放大了。導(dǎo)入?yún)^(qū)3003具 有預(yù)先形成的預(yù)凹坑3006。通過讀取在預(yù)凹坑和保留區(qū)域之間的反 射比之間的差，"0"和"1"的信息被讀取。導(dǎo)入?yún)^(qū)3003具有預(yù)先記 錄的盤管理信息。例如，盤管理信息包括盤再現(xiàn)功率信息、伺服信息 和最佳記錄功率的信息。記錄和再現(xiàn)區(qū)域3004具有預(yù)先形成的軌道 凹槽3002。通過沿軌道凹槽3002執(zhí)行跟蹤控制，可重寫數(shù)據(jù)被記錄 在軌道凹槽3002中或記錄在軌道凹槽3002中的數(shù)據(jù)被擦除。
在常規(guī)的光盤介質(zhì)3001中，導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3005與記錄 和再現(xiàn)區(qū)域3004在預(yù)凹坑3006的形狀和軌道凹槽3002的形狀方面 不同。因此，兩個跟蹤系統(tǒng)不得不以切換的方式使用。更具體地，差 分相位系統(tǒng)(DPD)的跟蹤被用于導(dǎo)入?yún)^(qū)3003和導(dǎo)出區(qū)3005，利用 軌道凹槽3002的衍射的推挽系統(tǒng)的跟蹤被用于記錄和再現(xiàn)區(qū)域 3004。
在本發(fā)明的例15中，提供了允許同樣的跟蹤系統(tǒng)被用于導(dǎo)入?yún)^(qū)、 導(dǎo)出區(qū)和記錄和再現(xiàn)區(qū)域的光盤介質(zhì)。這樣的光盤介質(zhì)可以簡化跟蹤 操作。
下面，將描述依據(jù)例15的光盤介質(zhì)。
圖24顯示了依據(jù)例15的光盤介質(zhì)2400。光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo) 入?yún)^(qū)240K記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402和導(dǎo)出區(qū)2403。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo) 出區(qū)2403具有預(yù)先記錄的盤管理信息。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中的每一個可以進(jìn)一步具有不同于用于記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)域的區(qū)域， 即用于試驗記錄的區(qū)域。在圖24中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401可以在從具有距光 盤介質(zhì)2400的中心22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距光盤介質(zhì) 2400的中心24.02mm的半徑的圓的邊緣的區(qū)域中提供。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 包括具有預(yù)先記錄的盤管理信息的盤管理區(qū)域(從具有距中心 22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距中心24.000mm的半徑的圓的邊 緣的區(qū)域)。導(dǎo)入?yún)^(qū)2401還可以包括用于在光盤介質(zhì)或驅(qū)動器上試驗 記錄的可重寫區(qū)域。在盤管理區(qū)域中的信息原則上被禁止重寫。在這 個例子中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403意味著盤管理區(qū)域。
參照圖36，將描述以螺旋方式在光盤介質(zhì)2400的記錄表面中形 成的軌道凹槽3631。軌道凹槽3631在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中 形成。軌道凹槽3631以周期方式帶有規(guī)定形狀的擺動3626、 3627和 3628。擺動3626、 3627和3628具有彼此不同的規(guī)定的形狀，表示子 信息("0"， "1"， "S"或"B")。 一種類型的子信息("0"， "1"， "S"
或"B")由一種擺動形狀3626、 3627或3628來表示。子信息的類 型和擺動的形狀(擺動3626、 3627或3628)是一一對應(yīng)的關(guān)系。更 具體地，具有通常的鋸齒形狀的擺動3626和3627和具有通常的正弦 波形的擺動3628具有如圖36中所示的不同的上升形狀(或上升梯度) 和下降形狀(下降梯度)。盤管理信息由擺動3626、 3627和3628的 組合所示的子信息串表示。
在擺動3626、 3627和3628中的上升梯度和下降梯度的差別可以 容易地被差分推挽檢測信號檢測如下。掃描激光束直射到軌道凹槽 3631，產(chǎn)生了指示由沿垂直于光盤介質(zhì)3400的軌道凹槽3631的方向 (徑向)劃分的光接收元件的檢測區(qū)域接收的光量之間的差的差分信 號(即，推挽信號)。這樣，獲得了具有依據(jù)子信息是"0"還是"1" 變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。例如，這個上升梯度和下降 梯度的差可以由檢測信號的差分容易地確定。子信息的類型可以由作 為差分的結(jié)果獲得的值的大小來檢測。在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中，子信息被用作記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402的盤管理信息。
在圖36中，包括塊標(biāo)記3630的幀3620具有預(yù)先形成的9個擺 動3628以指示子信息"B"。在塊標(biāo)記3630后的52個幀3621的每 一個具有總共36個擺動3626和3627以指示子信息"O"和子信息"1 "。 在CLV格式的這個例子中的光盤介質(zhì)2400的情況中，形成擺動3626 和3627的物理頻率從最里面的軌道到最外面的軌道恒定在fb。
參照圖25A和25B，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403將與記錄和再現(xiàn) 區(qū)域2402比較。
圖25A顯示了記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道凹槽2502。包括塊 標(biāo)記2520的幀2510具有預(yù)先形成的9個擺動2528 (正弦波形)以 指示子信息"B"。在塊標(biāo)記2520后的52個幀2511的每一個具有總 共36個擺動2526和2527 (鋸齒波形)以指示子信息"0"和子信息 "1 "。在CLV格式的這個例子中的光盤介質(zhì)2400的情況中，形成擺
動2526、 2527和2528的物理頻率從最里面的軌道到最外面的軌道(1 個擺動124個信道位)恒定在fa。擺動的擺動量恒定在22.5nmpp。
在記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中，記錄標(biāo)記在調(diào)制后被記錄。在這個 例子中，運(yùn)行周期被限制為2T (最小長度)的46D調(diào)制的信號被記 錄在軌道凹槽2502中。在這點上信道位長度為0.0771pm。用于記錄 和再現(xiàn)信號的激光具有405nm (+10 nm， -5 nm)的波長的平均值和 0.85±0.01的數(shù)值孔徑(NA)。
圖25B顯示了導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道凹槽3631。軌 道凹槽3631的細(xì)節(jié)如上述參照圖36所描述的。形成導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和 導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動3626、 3627和3628的物理頻率fb比形成記錄 和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動2526、 2527和2528的物理頻率fa高10 倍。通過把擺動的頻率設(shè)置得更高，可以增加包括在單位區(qū)域中的信
在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中，多個擺動指示1位子信息。在 導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之間，指示作為 子信息的最小單元的1位信息的擺動的數(shù)量可以不同。與記錄和再現(xiàn) 區(qū)域2402相比，通過減小導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中指示1位信 息的擺動的數(shù)量，指示盤管理信息的擺動可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出 區(qū)2403中相對小的區(qū)域中有效地形成。
如上所述，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403包括具有規(guī)定的以周期形 式形成的擺動形狀的軌道凹槽3631，并且在軌道凹槽3631中每一個 擺動形狀表示盤管理信息。因為擺動也以周期形式在包括在記錄和再 現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道凹槽2502中形成，因此相同系統(tǒng)的跟蹤可以用 于整個光盤介質(zhì)2400。因為在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中擺動的 頻率比記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的高10倍，并且一個擺動指示1位子 信息，所以記錄在單位區(qū)域中的信息量增加了。這樣，指示盤管理信 息的擺動可以有效地記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的有限的區(qū)
域內(nèi)。
在這個例子中，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動的頻率比 記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的高10倍，本發(fā)明不局限于這樣的數(shù)值。
在這個例子中，描述了鋸齒形狀的擺動。依據(jù)本發(fā)明擺動不局限 于這樣的形狀。
在這個例子中， 一個擺動指示l位信息。多個擺動可以指示l位 信息。
或者，如圖26A和26B中所示，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的 擺動的頻率fb可以低于記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動的頻率fa。以 這種方式，可以增大在檢測導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動時的 S/N比。這樣，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的盤管理信息的可靠 性可以被增強(qiáng)。
在這個例子中，在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動有相同的 頻率，該頻率與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動的頻率不同。在盤管 理信息僅僅記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401中的情況中，僅僅在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401中的 擺動的頻率可以與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動的頻率不同。
在這個例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例16)
圖27A和27B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例16的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502和2731。
在圖27A中所示的軌道凹槽2502與上面參照圖25A描述的軌道 凹槽2502相同，是在圖24中所示的光盤介質(zhì)2400的記錄和再現(xiàn)區(qū) 域2402中形成的。圖27B中所示的軌道凹槽2731可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403中形成。
包括塊標(biāo)記2520的幀2510具有9個正弦波形狀的擺動2528'，
以指示子信息"B"。跟在塊標(biāo)記2520之后的52幀2511中的每一個 具有總共36個鋸齒形狀的擺動2526'和2527'，以指示子信息"0" 和子信息"l "。在這個例子中的CLV格式的光盤介質(zhì)2400的情況下， 形成擺動2526、 2527和2528的物理頻率從最內(nèi)側(cè)軌道向最外側(cè)軌道 恒定為fa(l個擺動124個信道位)。表示擺動的擺動量的擺動振幅 恒定為Ca。
圖27A和27B中所示的軌道凹槽在表示擺動的擺動量的擺動振幅 上與圖25A和25B中所示的不同。其中，圖27A中的記錄和再現(xiàn)區(qū) 域2402中的軌道凹槽2502的擺動振幅為Ca，圖27B中的導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道凹槽2731的擺動振幅為Cb，其中Cb>Ca。
再現(xiàn)時的擺動信號振幅與擺動量成比例。因此，當(dāng)導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403的擺動振幅大于記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的擺動振幅 時，提高了在再現(xiàn)的時候檢測擺動時的S/N比。這樣，可以增強(qiáng)盤管
理信息的讀取可靠性。
在這個例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例17)
圖28A和28B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例17的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502和2831。
在圖28A中，擺動2826用CLV格式形成，擺動2826的物理頻 率從最里面的軌道到最外面的軌道是恒定的。因此，兩個相鄰擺動 2826的相位依據(jù)軌道位置和徑向位置來偏移。在再現(xiàn)的時候，相鄰 軌道的干擾的影響由于相差而變得明顯，由再現(xiàn)信號檢測到的擺動信 號振幅以周期的方式在相差上變化。在變化的擺動信號振幅為最小的 擺動中，S/N比減小了。
在圖28A和28B中所示的軌道凹槽與圖25A和25B中所示的軌
道凹槽有下面幾點不同。在軌道凹槽2831中，擺動2827由CAV格 式形成，這樣兩個相鄰軌道之間的擺動2827的相差總是兀/2。
當(dāng)記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402、導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動由 CAV格式形成時，在再現(xiàn)時的擺動信號振幅為常數(shù)。這樣，增強(qiáng)了 擺動的檢測可靠性。
在這個例子中，相差是兀/2。在上升處在相位為0的位置上和在 下降處相位為兀的位置上擺動通常具有陡峭的邊緣。當(dāng)在兀/2和3x兀/2 以及兀/2x(2n+l) (n是整數(shù))的位置安排陡峭邊緣時，可以減小來自 相鄰軌道的串?dāng)_的影響。相差不局限于這樣的值，而可以是任意其他 的常數(shù)值。
在記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402、導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動可 以由在DVD-RAM中使用的ZCLV格式替代CAV格式來形成。
通過由CAV格式或ZCLV格式替代CLV格式形成擺動，從記錄 和再現(xiàn)區(qū)域2402再現(xiàn)的地址信息的可靠性可以被增強(qiáng)。
在這個例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例18)
圖29A和29B顯示了依據(jù)本發(fā)明的例18的光盤介質(zhì)的軌道凹槽 2502和2931。
圖29A中所示的軌道凹槽2502與上面參照圖25A描述的相同并 且在圖24中所示的光盤介質(zhì)2400的記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中形成。 在圖29B中所示的軌道凹槽2931可以在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403 中形成。
在圖29A中所示的軌道凹槽2502具有TPa的軌道間距(兩個相 鄰軌道之間的距離)。主信息通過凹槽記錄系統(tǒng)記錄在軌道凹槽2502 中。
在圖29A和29B中所示的軌道凹槽與圖25A和25B中所示的軌 道凹槽在軌道間距上不同。其中圖29A中記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的 軌道凹槽2502的軌道間距是TPa，圖29B中導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū) 2403中的軌道凹槽2931的軌道間距是TPb，其中TPb>TPa。例如， 當(dāng)使用具有405nrn的波長和0.85的NA作為光學(xué)常數(shù)的光點來再現(xiàn) 記錄在具有軌道間距TPa=0.32|um (兩個相鄰凹槽之間的距離)的凹 槽記錄系統(tǒng)光盤介質(zhì)上的信息時，由推挽系統(tǒng)獲得的跟蹤誤差信號的 振幅相當(dāng)小。當(dāng)軌道間距增大時，跟蹤誤差信號的振幅因此而增大。 當(dāng)擺動的擺動量恒定時，擺動信號振幅基本上與跟蹤誤差信號的振幅 成比例地增大。因此，當(dāng)軌道間距增加時，再現(xiàn)時的擺動信號振幅增 大了。
這樣，與記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402中的軌道間距TPa相比，通過增 加導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的軌道間距TPb，檢測擺動時的S/N 比可以被增強(qiáng)。
或者，當(dāng)TPb〈TPa時，指示盤管理信息的擺動可以有效地記錄在 導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的有限的區(qū)域中。
在例15到18中，導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中的擺動頻率、擺 動振幅、相對于相鄰軌道中的相位的擺動相差、軌道間距等與記錄和 再現(xiàn)區(qū)域2402中的不同。導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)2401和2403與記錄和再 現(xiàn)區(qū)域2402之間的多個這樣的因素可以不同。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403的盤管理區(qū)域中的軌道中，沒有形 成記錄標(biāo)記。這樣，盤管理區(qū)域的再現(xiàn)信號的S/N比可以被增加，其 結(jié)果是，盤管理區(qū)域的讀取可靠性可以被增強(qiáng)。
在這個例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例19)圖35顯示了依據(jù)本發(fā)明的例19的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3531。 在圖35中所示的軌道凹槽3531可以在圖24中所示的光盤介質(zhì) 2400的導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403中形成。
在圖35中所示的軌道凹槽3531與圖25B中所示的軌道凹槽3631 不同，因為軌道凹槽3531具有以一次寫入的方式記錄在導(dǎo)入?yún)^(qū)2401 和導(dǎo)出區(qū)2403 (即，軌道凹槽3531)中的單頻率記錄標(biāo)記。例如， 具有0.0771pm的記錄信道位長度的記錄標(biāo)記以一次寫入的方式通過 提供具有在具有盤管理信息的軌道凹槽3531中重復(fù)的8T記錄標(biāo)記和 8T空間的信號來記錄。這樣，信息可以由不允許推挽系統(tǒng)的跟蹤的 再現(xiàn)裝置(DPD系統(tǒng)跟蹤的裝置)來再現(xiàn)。裝置之間的兼容性可以 提咼。
在這個例子中，光盤介質(zhì)2400包括導(dǎo)入?yún)^(qū)2401和導(dǎo)出區(qū)2403。 除記錄和再現(xiàn)區(qū)域2402之外，光盤介質(zhì)2400可以僅僅包括導(dǎo)入?yún)^(qū) 2401或僅僅包括導(dǎo)出區(qū)2403。 (例20)
圖31顯示了依據(jù)本發(fā)明的例20的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3101。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個例 子中，塊標(biāo)記3104通過局部地反轉(zhuǎn)軌道凹槽3101中的擺動3126的 相位來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3104不切斷軌道凹槽3101，這樣信 息可以被記錄在塊標(biāo)記3104上。結(jié)果，額外開銷可以被減小。 (例21)
圖32顯示了依據(jù)本發(fā)明的例21的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3201。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個例 子中，多個塊標(biāo)記3204a和3204b通過局部地反轉(zhuǎn)軌道凹槽3201中 的擺動3226的相位來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3204a和3204b不切 斷軌道凹槽3201，另外，除在塊標(biāo)記3204a和3204b之間插入的部 分外，保持?jǐn)[動3226相位的連續(xù)性。因此，再現(xiàn)可以在沒有實質(zhì)地
改變擺動的時鐘的相位并且不在PLL中產(chǎn)生相差的情況下完成。主 信息可以被記錄在塊標(biāo)記3204a和3204b上。結(jié)果，額外開銷可以被 減小。 (例22)
圖33顯示了依據(jù)本發(fā)明的例22的光盤介質(zhì)的軌道凹槽3301。 在例1中，塊標(biāo)記210通過切斷軌道凹槽102來提供。在這個例 子中，塊標(biāo)記3304由具有比擺動26的頻率局部增大的頻率的擺動 3326來形成。這樣形成的塊標(biāo)記3304不切斷軌道凹槽3301，這樣信 息可以被記錄在塊標(biāo)記3304上。結(jié)果，額外開銷可以被減小。
在例l、 4、 5、 7到12、 15、 16以及19到22中，公開了具有塊 標(biāo)記的軌道凹槽。軌道凹槽可以在不具有塊標(biāo)記的光盤介質(zhì)上提供。
工業(yè)實用性
如上所述，依據(jù)本發(fā)明，在以逐塊為基礎(chǔ)記錄主信息的軌道凹槽 上形成多個規(guī)定形狀的擺動。擺動顯示出在通過以規(guī)定數(shù)K除所述 塊所獲得的一幀中描述的特定子信息。通過在該塊的多個幀中、即多 次形成指示子信息的擺動，可以在沒有或幾乎沒有額外開銷的情況下 形成地址信息?？梢垣@得單頻率擺動再現(xiàn)信號(即，同步信號)。這 樣，可以提供適合于高密度記錄的光盤介質(zhì)。
作為子信息組的一部分的子信息指示一個ID號的扇區(qū)號。當(dāng)數(shù) 據(jù)未被連續(xù)讀取時，例如，在一個尋找操作之后，緊接在尋找操作之 后的扇區(qū)的扇區(qū)號或ID號可以被讀取，而不是在該塊的前端的塊標(biāo) 記。這樣，可以從一個任意扇區(qū)讀取塊ID。通過僅僅讀取包括塊中 的多個扇區(qū)的一個扇區(qū)組來最終確定塊ID，可以迅速地執(zhí)行后處理 (數(shù)據(jù)讀取、數(shù)據(jù)記錄等等)。
塊ID在一個塊中被重復(fù)多次。這樣，可以增強(qiáng)塊ID的讀取可靠性。
在導(dǎo)入?yún)^(qū)和導(dǎo)出區(qū)中，盤管理信息由預(yù)先形成的鋸齒形狀的擺動 來指示。這樣，相同的跟蹤系統(tǒng)可以用于整個盤。光盤裝置可以被簡 化。
使擺動頻率在引入和導(dǎo)出區(qū)和記錄和再現(xiàn)區(qū)域之間不同。盤管理 區(qū)域可以被有效地記錄在盤內(nèi)側(cè)部分中的導(dǎo)入?yún)^(qū)和盤外側(cè)部分的導(dǎo) 出區(qū)的有限區(qū)域中。
權(quán)利要求
1. 一種光盤，包括軌道凹槽，其中所述軌道凹槽被分成多個塊，所述多個塊中的每一塊包括多個幀，所述多個幀中的每一幀包括多種擺動形狀中的一種擺動形狀的多個擺動，所述多個擺動表示子信息，所述多種擺動形狀包括第一擺動形狀和第二擺動形狀，所述第一擺動形狀和所述第二擺動形狀指示彼此不同的子信息，所述多個塊中的每一塊具有地址信息，以及所述地址信息由所述多個幀中的至少一幀的所述擺動形狀的多個擺動所表示的至少一條子信息所組成的串來表示。
2. 如權(quán)利要求1所述的光盤的再現(xiàn)方法，該方法包括 用光照射所述光盤；基于從所述光盤反射的所述光的一部分，生成電信號；以及 基于所述電信號檢測所述子信息。
3. 如權(quán)利要求1所述的光盤的記錄方法，該方法包括 用光照射所述光盤；基于從所述光盤反射的所述光的一部分，生成電信號； 基于所述電信號檢測所述子信息；以及 基于所述子信息向所述光盤進(jìn)行記錄。
4. 一種光盤，包括 記錄/再現(xiàn)區(qū)域，和 盤管理區(qū)域， 其中所述記錄/再現(xiàn)區(qū)域包括第一軌道凹槽，所述盤管理區(qū)域包括在所述光盤的內(nèi)側(cè)區(qū)域和外側(cè)區(qū)域中的至 少一個中提供的第二軌道凹槽，所述第二軌道凹槽包括指示子信息的多種規(guī)定形狀的多個擺動， 以及所述光盤的管理信息由所述多種規(guī)定形狀的多個擺動的組合來
5. 如權(quán)利要求4所述的光盤的再現(xiàn)方法，該方法包括 從所述光盤讀取信息以生成再現(xiàn)信號；以及 基于所述再現(xiàn)信號生成指示所述子信息的子信息信號。
6. 如權(quán)利要求4所述的光盤的記錄方法，該方法包括-從所述光盤讀取信息以生成再現(xiàn)信號；基于所述再現(xiàn)信號生成指示所述子信息的子信息信號；以及 基于所述子信息向所述光盤進(jìn)行記錄。
全文摘要
一種光盤介質(zhì)，包括一個沿其記錄主信息的軌道凹槽。將軌道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多個規(guī)定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀。多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一條由多個幀中的至少一幀的擺動形狀所表示的子信息所組成的串來表示。
文檔編號G11B20/12GK101383163SQ20081021597
公開日2009年3月11日 申請日期2001年8月29日 優(yōu)先權(quán)日2000年8月31日
發(fā)明者東海林衛(wèi), 中村敦史, 南野順一, 古宮成, 石橋広道, 石田隆 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社