專利名稱：拾取裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在對(duì)例如光盤等的光學(xué)記錄介質(zhì)進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的裝置 中使用的光學(xué)拾取裝置，更具體地涉及一種光學(xué)拾取裝置，其能夠使用
像散法(astigmatic method)來(lái)控制聚焦在具有多個(gè)層疊的記錄層的例如 光盤等的光學(xué)記錄介質(zhì)的目標(biāo)記錄表面上的光通量的最佳聚焦位置。
背景技術(shù)：
近些年來(lái)，光盤己被廣泛用作對(duì)例如視頻數(shù)據(jù)、音頻數(shù)據(jù)、計(jì)算機(jī) 數(shù)據(jù)等的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的設(shè)備。被稱為Blu-rayTM盤(以下稱 為BD)的高密度記錄型盤己被實(shí)際應(yīng)用。這種光盤標(biāo)準(zhǔn)包含其中層疊有 多個(gè)記錄層的多層光盤。在以多個(gè)記錄層交替層疊并且同時(shí)在記錄層之 間分別夾有間隔層的結(jié)構(gòu)構(gòu)造的多層光盤中，為了通過(guò)光學(xué)拾取裝置從 光盤的一個(gè)表面?zhèn)茸x取信息，需要調(diào)整光在目標(biāo)層的記錄表面上的焦點(diǎn) (焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)位置或最佳聚焦位置)并且將聚焦光點(diǎn)照射到目標(biāo)記錄層。
例如，如圖l所示，雙層盤被構(gòu)造成這樣一種結(jié)構(gòu)，其中由接近其 讀取側(cè)的半透明膜形成的第一記錄層(以下稱為L(zhǎng)0)和由例如金屬或絕 緣體的反射膜形成的第二記錄層(以下稱為L(zhǎng)1)設(shè)置在基板Sub上，用 于將記錄層彼此分離開(kāi)預(yù)定厚度的透光間隔層SP夾在L0和Ll之間，并 且設(shè)置覆蓋層CL以保護(hù)L0。
在間隔厚度較大的情況下，當(dāng)從盤的覆蓋層側(cè)將焦點(diǎn)調(diào)整到例如作 為目標(biāo)層的LO上時(shí)，聚焦在L1上的激光L2LB散開(kāi)，導(dǎo)致從L1反射的
光不被位調(diào)制，并且因而變?yōu)轭l率非常低或類似直流的信號(hào)。為此，當(dāng) 利用高通濾波器從讀取的信號(hào)中提取高頻分量時(shí)，可以僅讀取來(lái)自L0的 信號(hào)。另一方面，在間隔厚度較小的情況下，即使焦點(diǎn)被調(diào)整到LO，照 射到Ll的激光也不會(huì)廣泛地散開(kāi)。結(jié)果，Ll的信號(hào)在一定程度上被泄
4露。(這種泄露被稱為層間串?dāng)_。)即使在激光L1LB被聚焦在作為目標(biāo) 層的L1上的情況下，也獲得相同的結(jié)果。
為了將焦點(diǎn)調(diào)整到多層光盤的目標(biāo)記錄層上，必須產(chǎn)生焦點(diǎn)誤差信 號(hào)并進(jìn)行伺服控制(焦點(diǎn)拉近)。另一方面，為了避免焦點(diǎn)誤差噪聲，必 須從焦點(diǎn)誤差信號(hào)中消除例如層間串?dāng)_的影響。
然而，在另一方面，即使在對(duì)層間串?dāng)_進(jìn)行限制的情況下，當(dāng)將激
光聚焦在作為目標(biāo)層的LO上，通過(guò)聚光透鏡將反射光(信號(hào)光)引導(dǎo)至 光檢測(cè)器時(shí)，因?yàn)橐呀?jīng)穿過(guò)L0并在L1處散開(kāi)的光的反射光(雜散光)
具有預(yù)定的散開(kāi)，所以該雜散光的分量也入射到光檢測(cè)器上。
信號(hào)光之外的雜散光與信號(hào)光干擾，導(dǎo)致發(fā)生噪聲。而且，光檢測(cè) 器的輸出信號(hào)的質(zhì)量可能劣化，并且可能發(fā)生例如伺服誤差信號(hào)的偏移 的缺陷。
對(duì)于拾取裝置，更希望減少由雜散光導(dǎo)致的噪聲。為了避免雜散光 入射到光檢測(cè)器上并由此避免光檢測(cè)器中的雜散光和信號(hào)光之間的干 擾，因此提出了這樣一種技術(shù)，其通過(guò)遮擋部分返回光以使來(lái)自目標(biāo)記 錄層之外的層的光不直接入射到光檢測(cè)器上，來(lái)避免這種千擾(參見(jiàn)專 利文檔1)。
專利文檔1:日本專利申請(qǐng)公開(kāi)第2005-63595號(hào)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的問(wèn)題
在常規(guī)技術(shù)中，利用遮光帶或全息圖來(lái)避免在光檢測(cè)器中信號(hào)光和 雜散光之間交疊。然而，在常規(guī)技術(shù)中，再現(xiàn)所必須的部分信號(hào)光被遮 蔽，導(dǎo)致再現(xiàn)的信號(hào)質(zhì)量劣化。而且，盡管通過(guò)別的光檢測(cè)器來(lái)接收遮 光區(qū)的光，光檢測(cè)器的分隔數(shù)量會(huì)增加，并且用于從光檢測(cè)器的輸出信 號(hào)中獲取期望信號(hào)的加法器的數(shù)量也增加，導(dǎo)致操作噪聲增加。
因此，本發(fā)明的作為示例的一個(gè)目的是提供一種能夠利用來(lái)自多層 記錄介質(zhì)的信號(hào)光來(lái)保持再現(xiàn)信號(hào)的質(zhì)量的拾取裝置。
解決問(wèn)題的手段根據(jù)本發(fā)明，上述和其他目的可以通過(guò)提供一種拾取裝置來(lái)實(shí)現(xiàn)， 該拾取裝置包括照射光學(xué)系統(tǒng)，其包括用于將光聚焦在光學(xué)記錄介質(zhì) 的記錄表面的軌道上以形成束點(diǎn)的物鏡，所述光學(xué)記錄介質(zhì)具有多個(gè)層 疊的記錄層，在所述記錄層之間夾有間隔層；以及檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)，其包 括光檢測(cè)器，該光檢測(cè)器具有用于接收通過(guò)所述聚光透鏡從所述束點(diǎn)反 射的返回光以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的多個(gè)光接收部，所述拾取裝置根據(jù)從所述 光接收部的輸出計(jì)算出的電信號(hào)來(lái)控制所述物鏡的位置，其中所述拾取 裝置還包括
光學(xué)裝置，其用于對(duì)指向所述光接收部的所述返回光提供像散；以
及
分割裝置，其具有由以所述返回光的光軸為中心而在像散方向上延 伸的分割線所分割出的分割區(qū)，沿著返回光的所述光軸，按照各個(gè)分割 區(qū)而分割，將經(jīng)像散的所述返回光分割為多個(gè)部分光通量，
其中，彼此相鄰的一些分割區(qū)為所述部分光通量提供光學(xué)作用，使 得在所述光接收部上不會(huì)發(fā)生所述相應(yīng)的部分光通量之間的千擾。
圖1是雙層光盤的示意性截面圖。
圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的結(jié)構(gòu)的
示意圖。
圖3是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的作為像
散裝置的柱面透鏡的典型平面圖。
圖4是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的作為像 散裝置的透射型全息裝置的典型平面圖。
圖5是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè) 器的典型平面圖。
圖6是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的利用像 散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系統(tǒng)的主要部分的示意性立體圖。
圖7是示出了當(dāng)從分割波片裝置的入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割波片裝置的典型平面圖。
圖8是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的聚焦
狀態(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的成像檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖。
圖9是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的聚焦?fàn)?br>
態(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖10是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的信 號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光學(xué)檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖ll是示出了根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的主要部 分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
圖12是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖13是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的
第二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖14是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的
第三實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖15是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第三實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖16是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第三實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖17是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第三實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖18是示出了根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的主要 部分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
圖19是示出了當(dāng)從分割偏轉(zhuǎn)裝置的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā) 明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置的典型平面圖。
圖20是示出了根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的返 回光的聚集狀態(tài)的檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖。
圖21是示出了根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的聚焦 狀態(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光檢測(cè)單元的示意性平面圖。
7圖22是示出了根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的信 號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖23是示出了根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的主要
部分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
圖24是示出了根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的其偏 轉(zhuǎn)方向改變的分割偏轉(zhuǎn)裝置的典型平面圖。
圖25是示出了根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢 測(cè)器的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。
圖26是示出了根據(jù)本發(fā)明的第六實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢 測(cè)器的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。
圖27是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的包括 作為像散裝置的示例的柱面組裝透鏡的光學(xué)系統(tǒng)的典型立體圖。
圖28是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的包括 作為像散裝置的示例的象限全息部分的象限透射閃耀全息圖的典型立體 圖。
圖29是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的主要 部分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
圖30是示出了當(dāng)從三等分光學(xué)檢測(cè)單元的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根 據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的三等分光檢測(cè)單元的典型平 面圖。
圖31是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割 裝置的分割波片裝置的典型立體圖。
圖32是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割 偏轉(zhuǎn)裝置的典型立體圖。
圖33是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的返 回光的聚集狀態(tài)的檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖。
圖34是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的聚焦 狀態(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖35是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的信號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖36是示出了根據(jù)本發(fā)明的第七實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的信
號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖37是示出了根據(jù)本發(fā)明的第八實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割
偏轉(zhuǎn)裝置的典型立體圖。
圖38是示出了根據(jù)本發(fā)明的第八實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置中的信
號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢測(cè)單元的示意性平面圖。
圖39是示出了根據(jù)本發(fā)明的第九實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割 偏轉(zhuǎn)裝置的典型平面圖。
圖40是示出了根據(jù)本發(fā)明的第九實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢 測(cè)器的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。
圖41是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分割 偏轉(zhuǎn)裝置的典型平面圖。
圖42是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢 測(cè)器的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。
圖43是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的利 用像散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系統(tǒng)的主要部分的示意性立體圖。
圖44是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的分 割遮光裝置的示意性平面圖。
圖45是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第十一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
圖46是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的利 用像散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系統(tǒng)的主要部分的示意性立體圖。
圖47是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的根據(jù)本發(fā)明的 第十二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的光檢測(cè)器的典型平面圖。
附圖標(biāo)記的說(shuō)明
1光盤
3拾取裝置
31半導(dǎo)體激光器32子光束生成衍射光柵 33偏振分束器
34準(zhǔn)直鏡
35四分之一波片
36物鏡
37分割波片裝置
38像散裝置
40光檢測(cè)器
138柱面組裝透鏡
138H象限透射閃耀全息圖
400象限光學(xué)檢測(cè)單元
401子光學(xué)檢測(cè)單元
402子光學(xué)檢測(cè)單元
Bl、 B2、 B3、 Al、 A2、 A3、 Cl、 C2光接收部 DM透鏡驅(qū)動(dòng)設(shè)備 M反射鏡
具體實(shí)施例方式
下面參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式。 第一實(shí)施方式
圖2是示出了根據(jù)本發(fā)明的第一實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置3的結(jié)構(gòu) 的示意圖。光學(xué)拾取裝置3包括作為光源的半導(dǎo)體激光器31、偏振分束 器33、用以將發(fā)散光轉(zhuǎn)化為平行光的準(zhǔn)直鏡34、四分之一波片35、物鏡 36、分割波片裝置37、像散裝置38、以及用以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的光檢測(cè)器 40。
光盤1是具有多個(gè)層疊的記錄層并且記錄層之間夾有間隔層的光學(xué) 記錄介質(zhì)。光盤1放置在主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)盤(未示出)上，光盤1與物鏡 36隔開(kāi)。
用于將光通量聚焦在光盤1的目標(biāo)記錄表面上以形成束點(diǎn)的物鏡36
10被包括在照射光學(xué)系統(tǒng)中。物鏡36被可移動(dòng)地支撐，使得物鏡36可以 進(jìn)行聚焦伺服操作和跟蹤伺服操作?；诟鶕?jù)光檢測(cè)器的輸出而計(jì)算出
的電信號(hào)對(duì)物鏡36的位置進(jìn)行控制。物鏡36也被包括在檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)
中，該檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)接收從束點(diǎn)反射并返回的光，并且經(jīng)由偏振分束器
33將該返回光引導(dǎo)至光檢測(cè)器40。
偏振分束器33具有偏光鏡。偏振分束器33根據(jù)通過(guò)的光的偏振狀 態(tài)將通過(guò)的光的光路分入不同方向。物鏡36處聚焦在光盤1的信號(hào)表面 軌道上的光通量被反射，并隨后入射到物鏡36上。入射到物鏡36上的 返回光的光通量通過(guò)偏振分束器33與照射光學(xué)系統(tǒng)分離，并且同時(shí)變?yōu)?直偏振光(S偏振光)。返回光通量經(jīng)由分割波片裝置37和像散裝置38 到達(dá)光檢測(cè)器40。
設(shè)置在偏振分束器33和光檢測(cè)器40之間的像散裝置38向返回光提 供像散，并利用像散(像散法)進(jìn)行聚焦伺服。像散是由于透鏡光學(xué)系 統(tǒng)的焦距在與光軸OAX垂直的兩個(gè)截面具有不同的值所導(dǎo)致的像差。當(dāng) 點(diǎn)圖像耦合在具有像散的光學(xué)系統(tǒng)中時(shí)，耦合圖像根據(jù)其在所述兩個(gè)截 面之間的位置而變?yōu)榫哂邢鄬?duì)較大垂直長(zhǎng)度的形狀、圓形、或具有相對(duì) 較大水平長(zhǎng)度的形狀。另選地，分割波片裝置37和像散裝置38可以按 逆序設(shè)置，使得返回光被衍射，隨后被提供像散。
圖3是示出了作為像散裝置38的示例的柱面透鏡的典型平面圖。像 散裝置38的柱面透鏡向指向光檢測(cè)器40的返回光RLB提供像散。如圖 所示，將柱面透鏡設(shè)置為與返回光的光軸OAX垂直，使得在與返回光的 光軸OAX垂直的平面上，該平面的中心軸RL (柱面透鏡的棱線或形成 透鏡表面的柱形曲面的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸)與光盤1的徑向RAD相垂直的方向 以與切線方向TAN，即，軌道延伸方向(以下簡(jiǎn)稱為切線方向)呈45° 的角度e延伸。像散裝置38的柱面透鏡的中心軸RL的延伸方向是像散 方向。
圖4是示出了作為像散裝置38的透射型全息裝置的典型平面圖。該 透射型全息裝置是被設(shè)計(jì)為用作柱面透鏡的透鏡表面的衍射光學(xué)裝置。 按照與柱面透鏡相同的方式，透射型全息裝置的像散裝置38具有將成為像散方向的中心軸RL，并且該中心軸變?yōu)橄鄳?yīng)的柱面透鏡的棱線或形成 透鏡表面的柱形曲面的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸。將透射型全息裝置的像散裝置38設(shè)
置為與返回光的光軸OAX垂直，使得在與返回光RLB的光軸OAX垂直 的平面上，該平面的中心軸RL以與光盤的切線方向TAN呈45°的角度0 延伸。
圖5是示出了光檢測(cè)器40的示例的典型平面圖(返回光RLB處于 聚焦?fàn)顟B(tài))。如圖所示，光檢測(cè)器40包括位于與返回光的光軸OAX垂直 的平面上的象限光學(xué)檢測(cè)單元400。象限光學(xué)檢測(cè)單元400包括具有相同 面積的四個(gè)光接收部，即，第一到第四象限光接收部B1、 B2、 B3禾口B4， 所述四個(gè)光接收部彼此相鄰設(shè)置，同時(shí)通過(guò)作為邊界線的兩條垂直分割 線400L和400M而彼此分開(kāi)。分割線400L平行于切線方向TAN，并且 分割線400L和400M之間的交點(diǎn)被設(shè)置為與返回光RLB的光軸OAX相 交。各光接收部連接到預(yù)定電路(未示出)。對(duì)來(lái)自各光接收部的光電轉(zhuǎn) 換輸出進(jìn)行計(jì)算以生成焦點(diǎn)誤差信號(hào)。
圖6是示出了利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系i充的主要部分的示
意性立體圖(光源、偏振分束器等被省去以清楚地描述檢測(cè)系統(tǒng))。在像 散法中，對(duì)包括物鏡36、像散裝置38、光檢測(cè)器40的整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn) 行設(shè)定，使得當(dāng)激光聚焦在光盤的軌道TRK上形成光點(diǎn)時(shí)，返回光RLB 的束點(diǎn)(最小散射圈C，后面將對(duì)其進(jìn)行描述)形成在象限光學(xué)檢測(cè)單 元400的中心周圍。在以與光學(xué)檢測(cè)單元400 (圖5)的分割線400L和 400M呈約45。的角度e延伸的方向上提供像散。因此，當(dāng)光盤l的焦點(diǎn) 狀態(tài)從聚焦?fàn)顟B(tài)偏移時(shí)，光檢測(cè)器上的聚光點(diǎn)的形狀變?yōu)榫哂幸耘c分割 線呈約45。的角度延伸的長(zhǎng)軸的橢圓形。根據(jù)圖6所示的結(jié)構(gòu)，像散裝置 38對(duì)被包括物鏡36的光學(xué)系統(tǒng)限制的返回光提供像散，以基于光盤和物 鏡36之間的距離來(lái)形成線圖像M和最小散射圈C。因此，在光通量的聚 焦?fàn)顟B(tài)下，檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)將最小散射圈C照射到如圖6 (a)所示的象限 光學(xué)檢測(cè)單元400上。另一方面，在散焦?fàn)顟B(tài)下，檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)將在光 接收部的對(duì)角線的方向上延伸的線圖像(或橢圓環(huán))的光點(diǎn)照射到圖6 (b)或圖6 (c)所示的象限光學(xué)檢測(cè)單元400上。聚集的返回光的線圖
12像M之間的距離，即，像散距離ASD，與所謂的S形特性曲線的焦點(diǎn)誤 差信號(hào)的捕獲范圍相對(duì)應(yīng)。
圖7是示出了當(dāng)從分割波片裝置的入射側(cè)觀看時(shí)的作為在本實(shí)施方 式中使用的分割裝置的示例的分割波片裝置37的典型平面圖。分割波片 裝置37被構(gòu)造成這樣一種結(jié)構(gòu)，其中在與返回光的光軸OAX垂直的平 面上，通過(guò)將返回光RLB的光通量截面以光軸為中心以扇狀均勻地四等 分而獲得的半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW交替地設(shè)置在光軸周圍。半波片 區(qū)WR和透明區(qū)TW進(jìn)行偏振操作，使得在相鄰區(qū)域透射的返回光的光 通量的偏振光分量彼此相差90。的角度。也就是說(shuō)，分割波片裝置37被 分割線37M和37L分為四份，使得分割波片裝置37包括四個(gè)透光區(qū)， 偏振狀態(tài)在相鄰區(qū)域中彼此不同，并且在四個(gè)區(qū)域中位于補(bǔ)角位置的部 分光通量的偏振狀態(tài)彼此相差90。的角度，由此避免其間的干擾。如圖7 所示，在分割波片裝置37中，分割線37L以與光盤的切線方向呈45。的 角度e延伸，并且與返回光的光軸相交，使得半波片區(qū)WR在切線方向 上并排設(shè)置，并且透明區(qū)TW在徑向上并排設(shè)置。因此，分割波片裝置 37具有被分割線37M和37L (分割線37M和37L以返回光的光軸為中 心在像散方向上延伸)分割出的分割區(qū)，并且具有像散的返回光沿著光 軸被各分割區(qū)分割，以形成在其相鄰區(qū)域中彼此不同的多個(gè)部分光通量。
圖8是示出了將分割波片裝置37應(yīng)用于利用像散法的聚焦伺服控制 的實(shí)施方式中的聚焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的拾取檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖 (光源、偏振分束器等被省去以清楚地描述檢測(cè)系統(tǒng))。圖9是示出了光 學(xué)拾取裝置400的聚焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的示 意性平面圖。圖IO是示出了特別是在光學(xué)拾取裝置中的信號(hào)光的聚焦?fàn)?態(tài)的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的示意性平面圖。在像散法中，分割波片裝 置37的分割線37L和像散裝置38的柱面透鏡的棱線RL (像散方向)彼 此平行，并且同時(shí)，分割波片裝置37的半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW以及 第一到第四象限光接收部B1、 B2、 B3和B4中的每一個(gè)都圍繞公共光軸 旋轉(zhuǎn)了45。的角度。
如圖8所示，當(dāng)入射到包括物鏡36的光學(xué)系統(tǒng)的分割波片裝置37上的S偏振光的返回光通量穿過(guò)彼此相鄰的半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW 時(shí)，其偏振光分量變?yōu)楸舜讼嗖?0。的角度。在偏振狀態(tài)下被分割的部分
光通量RLB透射通過(guò)像散裝置38，使得在45。的角方向上提供像散，并 且所述部分光通量RLB通過(guò)具有45°的角度的線圖像M，使得在象限光 學(xué)檢測(cè)單元400上形成最小散射圈C。
當(dāng)分割波片裝置37的分割線37L和像散裝置38的柱面透鏡的棱線 RL彼此平行時(shí)，聚焦位置(最小散射圈C的光軸位置)處的偏振方向 從線圖像M位置起變?yōu)榕c光盤處的偏振方向相差90。的角度。例如，穿 過(guò)圖8的分割波片裝置37的半波片區(qū)WR并由此變?yōu)镻偏振光的部分光 通量P以線圖像M (子午線圖像)的位置為界限移動(dòng)到相對(duì)于線圖像M 對(duì)稱的一側(cè)，即，與包括分割波片裝置37的分割線37L、像散裝置38 的柱面透鏡的棱線RL、以及光軸的平面相對(duì)的一側(cè)。當(dāng)從像散距離的范 圍偏離到下一線圖像M (弧線圖像)時(shí)，P偏振的部分光通量P以線圖 像M (弧線圖像)的位置為界移動(dòng)到相對(duì)于線圖像M對(duì)稱的一側(cè)，艮口， 與包括分割波片裝置37的分割線37M和光軸的平面相對(duì)的一側(cè)。部分 光通量的這種移動(dòng)對(duì)于穿過(guò)分割波片裝置3的透明區(qū)TW的S偏振的部 分光通量也是適用的。
因此，如圖9 (a)所示，在聚焦?fàn)顟B(tài)下，返回光RLB以最小散射圈 C的形狀聚集在象限光檢測(cè)單元400上。當(dāng)光盤變得比在聚焦?fàn)顟B(tài)下更 接近物鏡36時(shí)，如圖9 (b)所示，返回光以線圖像M的形狀聚集在象 限光學(xué)檢測(cè)單元400的對(duì)角線上。另一方面，當(dāng)光盤變得比在聚焦?fàn)顟B(tài) 下更遠(yuǎn)離物鏡36時(shí)，如圖9 (c)所示，返回光以線圖像M的形狀聚集 在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的另一條對(duì)角線上。
此外，當(dāng)光盤和物鏡之間的距離進(jìn)一步減少和增加時(shí)，如圖9 (d) 和9 (e)所示，返回光以擴(kuò)展橢圓的形狀在象限光學(xué)檢測(cè)單元400上散 開(kāi)。同時(shí)，照射有P偏振和S偏振的部分光通量的象限光學(xué)檢測(cè)單元400 上的光點(diǎn)部分P和S在像散距離(圖9 (a)至9 (c))的范圍之內(nèi)變化， 以及在像散距離(圖9 (d)和9 (e))的范圍之外變化。在像散法中， 沿光軸分割的光的狀態(tài)在像散距離的范圍之外和之內(nèi)變化。
14從圖8和圖9中可以看出，當(dāng)多層光盤被記錄和再現(xiàn)時(shí)，在像散法
中，從要被再現(xiàn)的目標(biāo)記錄層之外的記錄層反射的光(雜散光STRAY) 沿著上述相同的光路入射到象限光學(xué)檢測(cè)單元400上，但該光在像散距 離(通常，比在線圖像狀態(tài)下更遠(yuǎn))的范圍之外處于散焦?fàn)顟B(tài)下被反射。
因此，如圖10所示，在聚焦?fàn)顟B(tài)下，反射的雜散光STRAY的光通 量處于與物鏡36的焦點(diǎn)不同的位置，導(dǎo)致最小散射圈C不形成在象限光 學(xué)檢測(cè)單元400上，而是被顯著地散焦照射。也就是說(shuō)，雜散光與最小 散射圈C的光點(diǎn)部分P和S交疊。然而，在來(lái)自要被再現(xiàn)的記錄層的光 通量(最小散射圈C)中，即使在象限光學(xué)檢測(cè)單元400上被交疊，其 在每個(gè)交疊區(qū)域的光點(diǎn)部分P和S中的偏振方向與雜散光的偏振方向也 會(huì)相差90°，因此不會(huì)發(fā)生其間的干擾。
結(jié)果，在根據(jù)該實(shí)施方式的拾取裝置中，不會(huì)產(chǎn)生由于信號(hào)光和雜 散光之間的干擾而導(dǎo)致的噪聲，因此，可以獲得良好的伺服誤差信號(hào)和 良好的再現(xiàn)信號(hào)。例如，利用象限光學(xué)檢測(cè)單元400的各個(gè)光接收部Bl、 B2、 B3禾BB4的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3和B4，可以獲得以下等式的焦點(diǎn) 誤差信號(hào)FE: FE=(B1+B3)-(B2+B4)，可以獲得以下等式的推挽跟蹤誤差 信號(hào)PP: PP=(B1+B4)-(B2+B3)，并獲得以下等式的RF信號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4。
第二實(shí)施方式
圖ll是示出了根據(jù)本發(fā)明的第二實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的主要部 分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
光學(xué)拾取裝置3包括作為光源的半導(dǎo)體激光器3K子光束生成衍射 光柵32、偏振分束器33、準(zhǔn)直鏡34、四分之一波片35、啟動(dòng)反射鏡M、 物鏡36、分割波片裝置37、作為透射全息裝置的像散裝置38、以及光檢 測(cè)器40。光盤1放置在主軸馬達(dá)的轉(zhuǎn)盤(未示出)上的中心CODK處， 在與盤表面垂直的方向(光軸方向)上，光盤1與物鏡36隔開(kāi)。而且， 圖11的分割波片裝置37被形成為與偏振分束器33的邊緣相對(duì)應(yīng)。然而， 這僅改變了分割波片裝置37的外觀，而該分割波片裝置37與圖7所示 的分割波片裝置37具有相同的功能。除了子光束生成衍射光柵32、啟動(dòng)反射鏡M、像散裝置38和光檢
測(cè)器40之外，本實(shí)施方式在構(gòu)造上幾乎與第一實(shí)施方式相同。因此，以
下將僅描述上述部件的操作。
如圖11所示，從半導(dǎo)體激光器31發(fā)出的光束LB經(jīng)由子光束生成 衍射光柵32入射到偏振分束器33上。入射到偏振分束器33上的光通量 穿過(guò)偏振分束器33，并隨后穿過(guò)準(zhǔn)直鏡34。光通量的光路通過(guò)反射鏡M 以直角改變。之后，光通量穿過(guò)四分之一波片35，并隨后通過(guò)物鏡36照 射到光盤1的信息記錄表面。子光束生成衍射光柵32將從半導(dǎo)體激光器 31發(fā)出的光通量分為三束光通量，所述三束光通量包括0次衍射光通量
(主光束)、+1次衍射光通量(子光束)、以及1次衍射光通量(子光束)， 它們都透射通過(guò)物鏡36。而且，三束光通量在圖中被示為一束光通量。 在照射光學(xué)系統(tǒng)中，物鏡36將光通量聚焦在以螺旋或同心圓的形狀形成 在光盤1上的位陣列或軌道TRK上，以在光盤1的記錄表面上形成光點(diǎn)
(未示出)。進(jìn)行照射，使得軌道被置于軌道上的兩個(gè)子光束的束點(diǎn)之間 而位于主光束的束點(diǎn)之外，并且軌道被掃描并同時(shí)被掛起。
而且，透鏡驅(qū)動(dòng)設(shè)備DM安裝在拾取裝置3中，使得可以根據(jù)從光 檢測(cè)器40的輸出計(jì)算出的電信號(hào)由透鏡驅(qū)動(dòng)設(shè)備DM對(duì)物鏡36的位置 進(jìn)行控制，該透鏡36被可移動(dòng)地支撐以進(jìn)行聚焦伺服和跟蹤伺服操作。 從位于光盤的目標(biāo)記錄表面上的光點(diǎn)反射的返回光經(jīng)由光學(xué)系統(tǒng)
(即，透鏡36、反射鏡M、四分之一波片35和準(zhǔn)直鏡34)的光軸OAX 再次入射到偏振分束器33上，并且經(jīng)由分割波片裝置37和像散裝置38 而引入到光檢測(cè)器中。透射通過(guò)像散裝置38的三束返回光被給予像散， 并同時(shí)被衍射。隨后，返回光入射到光檢測(cè)器40的用于主光束的象限光 學(xué)檢測(cè)單元400以及用于三條光束的子光檢測(cè)單元401和402，作為衍射 光。
圖12是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的光檢測(cè)器40的 典型平面圖。光檢測(cè)器40包括用于三條光束的子光檢測(cè)單元401和402， 其在徑向上被并排設(shè)置在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的相對(duì)兩側(cè)以利用三束 法進(jìn)行跟蹤伺服。按照與第一實(shí)施方式相同的方式，象限光學(xué)檢測(cè)單元
16400包括具有相同面積的四個(gè)光接收部B1、 B2、 B3禾口B4，所述四個(gè)光 接收部彼此相鄰設(shè)置，同時(shí)通過(guò)作為邊界線的兩條垂直分割線400L和 400M而彼此分離。分割線中的一條平行于切線方向TAN。用于三條光束 的子光學(xué)檢測(cè)單元401、 402包括彼此相鄰設(shè)置的兩個(gè)分離的光接收部 Al和A2、 Cl和C2，同時(shí)大致平行于切線方向而延伸的分割區(qū)401a、 402a設(shè)置在兩個(gè)光接收部Al和A2、 Cl和C2之間。相對(duì)于象限光學(xué)檢 測(cè)單元400的中心(分割線之間的交點(diǎn))以點(diǎn)對(duì)稱方式形成并設(shè)置光接 收部。也就是說(shuō)，光接收部對(duì)稱于在切線方向TAN和徑向RAD上從其 中心延伸的直線。
而且，如圖13 (a)所示，光檢測(cè)器40被設(shè)置為使得當(dāng)光通量聚焦 在光盤上時(shí)，0次衍射光變?yōu)槲挥谙笙薰鈱W(xué)檢測(cè)單元400的中心處的最小 散射圈的主束點(diǎn)MB，并且與子束點(diǎn)SB1和SB2相對(duì)應(yīng)的返回光通量(子 光束)分別入射到子光學(xué)檢測(cè)單元401和402。
子光學(xué)檢測(cè)單元401和402在推挽方向(徑向RAD)上被分割，使 得子光學(xué)檢測(cè)單元401和402在其中間具有分割區(qū)401a和402a。分割區(qū) 401a和402a的寬度被設(shè)定為大于照射有P或S偏振分量光通量的子束點(diǎn) SB1和SB2的光點(diǎn)部分P或S的寬度。這是因?yàn)槠淦駹顟B(tài)與雜散光 STRAY的光點(diǎn)部分P或S相同，并且因此不需要接收相應(yīng)的部分。
如上所述，在各光束產(chǎn)生雜散光STRAY;然而，位于子光束的雜散 光的偏振按照與主光束相同的方式改變了90。的角度，并且因此，按照與 第一實(shí)施方式相同的方式而不會(huì)發(fā)生干擾。如圖13 (b)所示，在主光束 的雜散光STRAY和子光束的信號(hào)光之間發(fā)生干擾(在圖中在S偏振光之 間發(fā)生干擾)。然而，偏振方向在軌道的主衍射圈處彼此不同，并且因此 不發(fā)生干擾(在圖中在S偏振光和P偏振光之間不發(fā)生干擾)。子光學(xué)檢 測(cè)單元401和402的光接收部?jī)H設(shè)置在不發(fā)生干擾的區(qū)域中，并且因此 未檢測(cè)到由于干擾的噪聲。
而且，子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部具有足以檢測(cè)子光束 的推挽信號(hào)的區(qū)域，并且因此可以采用例如公知的差分推挽(DPP)法的 跟蹤誤差生成法。在這種情況下，例如，利用象限光學(xué)檢測(cè)單元400的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3和B4的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3禾n B4以及子 光學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光接收部Al、 A2和Cl、 C2的輸出信號(hào) Al、 A2和Cl、 C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE: FE=(B1+B3)-(B2+B4)、以下等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP: DPP=((Bl+B4)-(B2+B3))-Gx((Al+Ci)-(A2+C2))、以及以下等式的RF信 號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。
根據(jù)具有上述構(gòu)造的本實(shí)施方式，在多個(gè)部分光通量被分割以檢測(cè) 焦點(diǎn)誤差的系統(tǒng)中，可以通過(guò)改變部分光通量的偏振方向以使部分光通 量的偏振方向彼此不同來(lái)避免在兩個(gè)部分光通量之間發(fā)生干擾，并且因 此，可以將光接收部之間的距離設(shè)定得較小。S卩，不會(huì)發(fā)生從目標(biāo)記錄 層反射的光與從其他記錄層反射的光(雜散光)之間的干擾，并且因此， 可以穩(wěn)定地進(jìn)行聚焦伺服而不受噪聲影響。而且，不需要考慮光檢測(cè)器 的尺寸和光檢測(cè)器的各部件之間的距離，并且因此，可以減小光檢測(cè)器 的尺寸。由于減小了光檢測(cè)器的尺寸，可以實(shí)現(xiàn)寬帶。當(dāng)然，由于用于 再現(xiàn)多層光盤的光檢測(cè)器的尺寸，可以抑制再現(xiàn)信號(hào)的層間串?dāng)_，使得 層間串?dāng)_很小。
在常規(guī)技術(shù)中，信號(hào)光和雜散光在使用遮光帶的光檢測(cè)器上彼此交 疊。然而，在本實(shí)施方式中，利用偏振光而避免了干擾。而且，常規(guī)技 術(shù)被構(gòu)造為使得雜散光不會(huì)入射到光檢測(cè)器上。然而，在本實(shí)施方式中， 盡管雜散光入射到光檢測(cè)器上，在彼此相鄰的各分割區(qū)處的光學(xué)操作因 具有沿像散的棱線形成的分割線的分割裝置而在返回光的截面中彼此不 同，導(dǎo)致光量的減少很小。因此，再現(xiàn)信號(hào)的質(zhì)量未被劣化。
第三實(shí)施方式
圖14示出了根據(jù)本發(fā)明的第三實(shí)施方式的拾取裝置的光檢測(cè)器40， 該光檢測(cè)器40除了子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部的形狀變化之 外，在構(gòu)造上與第二實(shí)施方式相同。光檢測(cè)器40被構(gòu)造為使得大量跟蹤 誤差信號(hào)(推挽信號(hào))可由子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部檢測(cè)。
如圖14和15所示，子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部的形狀 被構(gòu)造為使得光接收部以扇狀擴(kuò)展，即，光接收部在分割裝置的分割波
18片裝置37的分割線37M和37L處和與在焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí)圖像形成的子束點(diǎn) SB1和SB2上的分割線37M和37L (扇狀)之間的交點(diǎn)大致重合的輪廓 CTL處，朝向分割區(qū)401a和402a突出。
如圖15所示，子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部的形狀與分割 波片裝置37的分割線37M和37L (焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí))大致重合，并且因此， 跟蹤誤差信號(hào)的S/N比增加。
而且，優(yōu)選地，在子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的光接收部的輪廓上形 成減少部分(圖15所示的部分PR)，使得子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的 光接收部的輪廓不超過(guò)主光束的分割線37M和37L的圖像形成延伸線。 結(jié)果，如圖16和17所示，當(dāng)減少了減少部分PR的面積，并且子光學(xué)檢 測(cè)單元401和402的光接收部的面積被均勻設(shè)計(jì)時(shí)，在子光學(xué)檢測(cè)單元 401和402的光接收部上不會(huì)發(fā)生子光束的雜散光STRAY和主光束的雜 散光STRAY之間的干擾，并且因此進(jìn)一步減少由于干擾導(dǎo)致的噪聲產(chǎn) 生。
盡管用以接收子光束的光接收部被形成為如上述實(shí)施方式中的具體 形狀，但是可在光接收部上形成遮光掩模以實(shí)現(xiàn)與上述實(shí)施方式相同的 光接收狀態(tài)。
第四實(shí)施方式
在根據(jù)前面實(shí)施方式的拾取裝置中，分割裝置(分割波片裝置37) 具有由分割線分割出的多個(gè)分割區(qū)，該分割線以返回光的光軸為中心在 像散方向上延伸，利用所述多個(gè)分割區(qū)，沿著返回光的光軸，按照各分 割區(qū)進(jìn)行分割，將具有像散的返回光分割成多個(gè)部分光通量。而且，彼 此相鄰的分割區(qū)對(duì)這些部分光通量提供光學(xué)作用，使得這些部分光通量 在光檢測(cè)器40的光接收部上不會(huì)彼此干擾。在根據(jù)本實(shí)施方式的拾取裝 置中，該光學(xué)作用將光檢測(cè)器40上的部分光通量之間不同的偏振作用提 供到包括半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW的分割波片裝置。然而，分割裝置 不受限于分割波片裝置37，而是可以包括使光檢測(cè)器40上的部分光通量 從光軸偏離并到達(dá)其他位置的分割裝置的光學(xué)作用和偏振作用。以下將 描述這種示例，以作為本發(fā)明的另一實(shí)施方式。除了增加了分割偏轉(zhuǎn)裝置377并且改變了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)之外，
圖18所示的根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的拾取裝置與第二實(shí)施方式(圖 11)相同。圖18是示出了根據(jù)本發(fā)明的第四實(shí)施方式的光學(xué)拾取裝置的
主要部分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。
在該實(shí)施方式中，除了作為分割裝置的分割波片裝置37之外，分割 偏轉(zhuǎn)裝置377被同軸地設(shè)置在分割波片裝置37和像散裝置38之間。分 割偏轉(zhuǎn)裝置377主要在大致包括徑向和光軸方向的平面內(nèi)對(duì)來(lái)自光盤1 的穿過(guò)分割波片裝置37的三束返回光通量(反射光通量)進(jìn)行衍射并從 像散裝置38入射到光檢測(cè)器40上。而且，在圖中三束光通量被示為一 束光通量。
圖19是示出了使用在本發(fā)明的第四實(shí)施方式中的作為分割裝置的 示例的分割偏轉(zhuǎn)裝置377的典型平面圖。分割偏轉(zhuǎn)裝置377被構(gòu)造成這 樣一種結(jié)構(gòu)，其中將通過(guò)將光通量部分以光軸為中心大致均勻地四等分 為扇狀而獲得的四個(gè)區(qū)域Ha、 TWb、 Hc和TWd在與返回光RLB的光 軸OAX垂直的平面上順序地設(shè)置在光軸周圍。如圖19所示，分割偏轉(zhuǎn) 裝置377的分割線377L和377M以與光盤的切線方向呈45°的角度(像 散方向)延伸，并且分割偏轉(zhuǎn)裝置377的分割線377L和377M在返回光 的光軸OAX處彼此相交，使得全息圖區(qū)Ha和Hc位于切線方向并且透 光區(qū)TWb和TWd位于徑向。
位于分割偏轉(zhuǎn)裝置377的一對(duì)對(duì)頂角位置的兩個(gè)透光區(qū)TWb和TWd 被形成為從分割線377L和377M之間的交點(diǎn)(光軸)開(kāi)始逐漸加寬的透 光平行板。而且，位于分割偏轉(zhuǎn)裝置377的另一對(duì)對(duì)頂角位置的兩個(gè)全 息圖區(qū)Ha和Hc被形成在全息案中，并且基于離光檢測(cè)器40的象限 光學(xué)檢測(cè)單元400的中點(diǎn)(分割線400L和400M之間的交點(diǎn)(圖5))的 徑向上相同點(diǎn)位置而被設(shè)計(jì)。全息圖區(qū)Ha和Hc被形成在閃耀全息圖 (blazedhologram)中，并且被設(shè)計(jì)為使得在徑向上相反地引導(dǎo)透射光， 即，透射光在透射光彼此分離的方向上被偏轉(zhuǎn)。
全息圖區(qū)Ha和Hc用于使P偏振光偏轉(zhuǎn)，并且透光區(qū)TWb和TWd 用于原樣透射返回光(S偏振光)。也就是說(shuō)，由兩條分割線377M和377L進(jìn)行四等分的四個(gè)區(qū)域Ha、 TWb、 Hc和TWd當(dāng)中的位于補(bǔ)角位置的部 分光通量由于提供了分割偏轉(zhuǎn)裝置377而不會(huì)彼此干擾。
圖20是示出了圖18所示的拾取裝置中的返回光RLB的聚集狀態(tài)(聚 焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài))的檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖(如圖6那樣，光源、 偏振分束器和除了象限光學(xué)檢測(cè)單元400之外的光檢測(cè)器被省去以清楚 地描述的檢測(cè)系統(tǒng))。圖21 (a)至21 (e)是示出了用于說(shuō)明拾取裝置 的聚焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的各種狀態(tài)的示意性 平面圖。圖22是示出了特別是在拾取裝置中的信號(hào)光的聚焦?fàn)顟B(tài)的象限 光學(xué)檢測(cè)單元400的示意性平面圖。
穿過(guò)包括圖20所示的物鏡36的光學(xué)系統(tǒng)的分割波片裝置37的返回 光RLB被分割為偏振光分量彼此相差90。的角度的多個(gè)部分光通量。根 據(jù)偏振狀態(tài)而分割的部分光通量被分割偏轉(zhuǎn)裝置377進(jìn)一步空間分割。 穿過(guò)分割波片裝置37的半波片區(qū)WR的P偏振的部分光通量P被分割偏 轉(zhuǎn)裝置377的全息圖區(qū)Ha和Hc衍射，而穿過(guò)分割波片裝置37的透明區(qū) TW的S偏振的部分光通量透射通過(guò)分割偏轉(zhuǎn)裝置377的透光區(qū)TWb和 TWd而未被衍射。因此，各個(gè)部分光通量穿過(guò)像散裝置38，通過(guò)該像散 裝置38，各個(gè)部分光通量被給予具有45。的角方向的像散，并且在最小 散射圈被分割的狀態(tài)下的返回光RLB的扇狀束點(diǎn)通過(guò)具有45°的角度的 線圖像M而形成在象限光學(xué)檢測(cè)單元400上。例如，當(dāng)從像散距離的范 圍偏離到下一線圖像M (弧線圖像)時(shí)，P偏振的部分光通量P移動(dòng)到 以線圖像為界相對(duì)于線圖像M對(duì)稱的一側(cè)。P偏振的部分光通量的移動(dòng) 與前面的實(shí)施方式相同。而且，穿過(guò)分割波片裝置37的透明區(qū)TW (S 偏振)的S偏振的部分光通量按相同方式在光軸周圍移動(dòng)。
也就是說(shuō)，當(dāng)主光束聚焦在圖20的光盤1的軌道TRK時(shí)(在焦點(diǎn) 對(duì)準(zhǔn)時(shí))，如圖20 (a)和21 (a)所示，圖22的聚集束點(diǎn)Ta關(guān)于遠(yuǎn)離分 割線400M上的中心點(diǎn)的點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，以成為置于光接收部B2和B3 之間的四分之一圓，圖22的聚集束點(diǎn)Tc關(guān)于分割線400M上的中心的對(duì) 稱點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，以成為置于光接收部B1和B4之間的四分之一圓，圖 22的聚集束點(diǎn)Tb遠(yuǎn)離中心點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，以成為置于光接收部Bl和
21B2之間的四分之一圓，并且圖22的聚集束點(diǎn)Td遠(yuǎn)離中心點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，
以成為置于光接收部B3和B4之間的四分之一圓。按這種方式，在聚焦 狀態(tài)下，返回光聚集為象限光學(xué)檢測(cè)單元400上的分割的最小散射圈。 當(dāng)光盤1變得比聚焦?fàn)顟B(tài)更接近于物鏡36時(shí)，如圖20 (b)和21 (b)所示，返回光以平行于對(duì)角線的三個(gè)線圖像M的形狀聚集在象限 光學(xué)檢測(cè)單元400的對(duì)角線上。另一方面，當(dāng)光盤1變得比聚焦?fàn)顟B(tài)更 遠(yuǎn)離物鏡36時(shí)，如圖20 (c)和21 (c)所示，返回光以平行于對(duì)角線 的三個(gè)線圖像M的形狀聚集在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的另一條對(duì)角線 上。
此外，當(dāng)光盤和物鏡之間的距離進(jìn)一步減少和增加時(shí)，如圖21 (d) 和21 (e)所示，返回光以擴(kuò)展并分割的橢圓形狀散開(kāi)在象限光學(xué)檢測(cè)單 元400上。同時(shí)，照射有P偏振和S偏振的部分光通量的象限光學(xué)檢測(cè) 單元400上的光點(diǎn)部分P和S在像散距離(圖21 (a)至21 (c))的范 圍之內(nèi)變化，以及在像散距離(圖21 (d)和21 (e))的范圍之外變化。 在像散法中，沿光軸分割的光的狀態(tài)在像散距離的范圍之外和之內(nèi)變化。
也就是說(shuō)，如圖22所示，在聚焦?fàn)顟B(tài)下，在圖19所示的分割偏轉(zhuǎn) 裝置377的全息圖區(qū)Ha和Hc處衍射的P偏振的部分光通量聚集在象限 光學(xué)檢測(cè)單元400的徑向上彼此遠(yuǎn)離的位置(即，相反移置的位置)上， 以分別作為聚集束點(diǎn)Ta和Tc。另一方面，透射通過(guò)透光區(qū)TWb和TWd 的S偏振的部分光通量聚集在關(guān)于象限光學(xué)檢測(cè)單元400的中心點(diǎn)而彼 此相對(duì)的位置上，以分別作為聚集束點(diǎn)Tb和Td。而且，如圖22所示， 在圖19所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377的象限全息圖表面區(qū)域Ha、 TWb、 Hc 和TWd處分割的子光束中的一條聚集在子光學(xué)檢測(cè)單元401上，以分別 作為聚集束點(diǎn)Qa、 Qb、 Qc和Qd。在區(qū)域Ha、 TWb、 Hc和TWd處衍 射的另一條子光束聚集在子光學(xué)檢測(cè)單元402上，以分別作為聚集束點(diǎn) Ra、 Rb、 Rc和Rd。然而，S偏振光的子光束聚集在作為非敏感帶的分割 區(qū)401a和402a上，以作為聚集束點(diǎn)Qb、 Qd、 Rb和Rd。
從圖20至圖22可以看出，當(dāng)多層光盤被記錄和再現(xiàn)時(shí)，在像散法 中，從要被再現(xiàn)的目標(biāo)記錄層之外的記錄層反射的光(雜散光STRAY)沿著上述相同的光路入射到象限光學(xué)檢測(cè)單元400上，但該光被在像散 距離(通常，比在線圖像狀態(tài)下更遠(yuǎn))的范圍之外在散焦?fàn)顟B(tài)下被反射。
因此，如圖22所示，在聚焦?fàn)顟B(tài)下，反射的雜散光STRAY的光通 量處于與物鏡36的焦點(diǎn)不同的位置，導(dǎo)致分割的最小散射圈不形成在象 限光學(xué)檢測(cè)單元400上，而是被顯著地散焦、分割和照射。也就是說(shuō)， 雜散光不與分割的最小散射圈的光點(diǎn)部分P和S交疊。而且，在從要被 再現(xiàn)的記錄層返回的光通量中，即使其在象限光學(xué)檢測(cè)單元400上交疊， 其在每個(gè)交疊區(qū)域的光點(diǎn)部分P和S中的偏振方向與雜散光的偏振方向 也會(huì)相差90。，因此不會(huì)發(fā)生其間的干擾。而且，在本實(shí)施方式中，分割 波片裝置37的分割線被設(shè)定為平行于像散裝置38的像散方向(與切線 方向呈45。的角度)，并且半波片區(qū)WR并排設(shè)置在切線方向上而透明區(qū) TW并排設(shè)置在徑向上。按相同的方式，分割偏轉(zhuǎn)裝置377的分割線被設(shè) 定為彼此平行，并且分割偏轉(zhuǎn)裝置377的全息圖區(qū)Ha和Hc位于切線方 向上，而透光區(qū)TWb和TWd位于徑向上。然而，即使當(dāng)分割線被設(shè)定 為不與像散裝置38的像散方向平行，而是在切線方向上關(guān)于其中心(光 軸)對(duì)稱，使得各區(qū)域按對(duì)稱的方式形成在切線方向上和徑向上，也可 以有一定自由度地設(shè)置光檢測(cè)器的各個(gè)光學(xué)檢測(cè)單元，并且因此可以避 免雜散光和信號(hào)光之間的干擾。
在本實(shí)施方式中，如在前面的實(shí)施方式中，與焦點(diǎn)狀態(tài)相對(duì)應(yīng)的像 散被給予到在分割偏轉(zhuǎn)裝置377處偏轉(zhuǎn)并從中透射通過(guò)的返回光通量， 并且因此可以通過(guò)計(jì)算來(lái)自光檢測(cè)器的象限光學(xué)檢測(cè)單元400以及子光 學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光接收部的輸出信號(hào)，來(lái)檢測(cè)光盤1的焦 點(diǎn)狀態(tài)。結(jié)果，在根據(jù)本實(shí)施方式的拾取裝置中，由信號(hào)光和雜散光之 間的干擾而導(dǎo)致的噪聲不會(huì)產(chǎn)生，并且因此，可以獲得良好的伺服誤差 信號(hào)和良好的再現(xiàn)信號(hào)。按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖22所 示，利用光學(xué)檢測(cè)單元的各個(gè)光接收部Bl、 B2、 B3、 B4、 B5和B6的 輸出信號(hào)B1、 B2、 B3和B4以及子光學(xué)檢測(cè)單元的各個(gè)光接收部Al 、 A2和C1、 C2的輸出信號(hào)A1、 A2和C1、 C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn) 誤差信號(hào)FE: FE=(B1+B3)-(B2+B4)，獲得以下等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP: DPP=((BI+B4HB2+B3))-Gx((Al+Cl)-(A2+C2))，并獲得以下 等式的RF信號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。
根據(jù)本實(shí)施方式，返回光的偏振光通量的偏振方向和非偏振光通量 的偏振方向由于分割偏轉(zhuǎn)裝置377而彼此不同，并且因此不會(huì)發(fā)生其間 的干擾?？梢栽谖磳⒆庸鈱W(xué)檢測(cè)單元401和402形成為具體形狀的情況 下排除S偏振分量。
第五實(shí)施方式
除了改變了分割偏轉(zhuǎn)裝置的偏轉(zhuǎn)方向并且改變了光檢測(cè)器40的結(jié) 構(gòu)之外，根據(jù)本發(fā)明的第五實(shí)施方式的拾取裝置在構(gòu)造上與第四實(shí)施方 式(圖1S)相同。在圖23中示出了第四實(shí)施方式的變型例的主要部分。 根據(jù)該變型例，偏振光通量的偏振方向與非偏振光通量的偏振方向彼此 不同，并且因此，不會(huì)發(fā)生其間的干擾。結(jié)果，可以設(shè)置用以接收偏振 光通量的光接收部，使得光接收部彼此相鄰，并且因此可以減小光接收 部的尺寸。
圖23是示出了返回光RLB的聚集狀態(tài)(聚焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)) 的檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖(光源、偏振分束器、以及除了象限光學(xué)檢 測(cè)單元400之外的光檢測(cè)器被省去以清楚地描述檢測(cè)系統(tǒng))。
圖24是示出了其偏轉(zhuǎn)方向改變的分割偏轉(zhuǎn)裝置377a的典型平面圖。 除了通過(guò)在與返回光的光軸OAX垂直的平面上以扇狀將返回光RLB的 光通量部分關(guān)于光軸均勻地四等分而獲得的四個(gè)區(qū)域的設(shè)置與第四實(shí)施 方式不同之外，該分割偏轉(zhuǎn)裝置377a與第四實(shí)施方式(圖19)相同。
在被圖24的分割線377L和377M四等分的區(qū)域中，被形成為透光 平行板的透光區(qū)TWa和TWc并排設(shè)置在切線方向上同時(shí)光軸置于透光 區(qū)TWa和TWc之間，并且全息圖區(qū)Hb和Hd并排設(shè)置在徑向上同時(shí)光 軸置于全息圖區(qū)Hb和Hd之間。透光區(qū)TWa和TWc的功能與前面的實(shí) 施方式相同。也就是說(shuō)，透光區(qū)TWa和TWc用于原樣透射返回光RLB (S偏振光)。全息圖區(qū)Hb和Hd被設(shè)計(jì)為使得聚集束點(diǎn)在切線方向上被 雙向衍射，由此使得從象限光學(xué)檢測(cè)單元400的中心點(diǎn)將聚集束點(diǎn)沿切 線方向偏轉(zhuǎn)預(yù)定距離。另選地，全息圖區(qū)Hb和Hd可以形成在閃耀全息
24圖中，使得在切線方向上不是沿雙向而是沿一個(gè)方向?qū)崿F(xiàn)衍射。
圖25是示出了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。光檢測(cè)器40包括
設(shè)置在其中部以利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的象限光學(xué)檢測(cè)單元400，以及 在徑向上并排設(shè)置在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的相對(duì)兩側(cè)以利用三束法進(jìn) 行跟蹤伺服的用于三束光的子光學(xué)檢測(cè)單元401和402。子光學(xué)檢測(cè)單元 401、 402包括兩個(gè)分離的光接收部Al和A2、 Cl和C2。然而，未提供 具有大寬度并與子光學(xué)檢測(cè)單元的切線方向大致平行地延伸的分割區(qū) 401a、 402a。在光檢測(cè)器40中，具有相同面積并接收從透光區(qū)TWa和 TWc到全息圖區(qū)Hb和Hd進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)的S偏振的部分光通量的切線 方向子光學(xué)檢測(cè)單元B5和B6設(shè)置在關(guān)于象限光學(xué)檢測(cè)單元400的中心 點(diǎn)對(duì)稱的位置處(位于切線方向上的分割線的延長(zhǎng)線上)。
穿過(guò)包括圖23所示的物鏡36的光學(xué)系統(tǒng)的分割波片裝置37的返回 光RLB被分割為其偏振光分量彼此相差90。的角度的多個(gè)部分光通量。 根據(jù)偏振狀態(tài)而分割的部分光通量被分割偏轉(zhuǎn)裝置377進(jìn)一步空間分割。 穿過(guò)分割波片裝置37的半波片區(qū)WR的P偏振的部分光通量P被分割偏 轉(zhuǎn)裝置377a的全息圖區(qū)Hb和Hd衍射，而穿過(guò)分割波片裝置37的透明 區(qū)TW的S偏振的部分光通量透射通過(guò)分割偏轉(zhuǎn)裝置377a的透光區(qū)TWa 和TWc而未被衍射。因此，各個(gè)部分光通量穿過(guò)像散裝置38，通過(guò)該像 散裝置38各個(gè)部分光通量被給予具有45。的角方向的像散，并且在最小 散射圈被分割的狀態(tài)下的返回光RLB的扇狀束點(diǎn)通過(guò)具有45。的角度的 線圖像M而形成在象限光學(xué)檢測(cè)單元400上。例如，當(dāng)從像散距離的范 圍偏離到下一線圖像M (弧線圖像)時(shí)，P偏振的部分光通量P移動(dòng)到 以線圖像M為界而相對(duì)于線圖像M對(duì)稱的一側(cè)。P偏振的部分光通量的 移動(dòng)與前面的實(shí)施方式相同。而且，穿過(guò)分割波片裝置37的透明區(qū)TW 的S偏振的部分光通量按相同方式在光軸周圍移動(dòng)。
也就是說(shuō)，當(dāng)主光束聚焦在圖20的光盤1上時(shí)(在焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí))， 例如，如圖25所示，返回光RLB聚集為象限光學(xué)檢測(cè)單元400上的分
割的最小散射圈的扇狀。
在本實(shí)施方式中，如在前面的實(shí)施方式中一樣，與焦點(diǎn)狀態(tài)相對(duì)應(yīng)的像散被給予到在分割偏轉(zhuǎn)裝置377a處偏轉(zhuǎn)并從中透射通過(guò)的返回光通 量，并且因此可以通過(guò)計(jì)算來(lái)自光檢測(cè)靜的象限光學(xué)檢測(cè)單元400以及 子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光接收部的輸出信號(hào)，來(lái)檢測(cè)光盤1 的焦點(diǎn)狀態(tài)。結(jié)果，在根據(jù)本實(shí)施方式的拾取裝置中，由信號(hào)光和雜散 光之間的干擾而導(dǎo)致的噪聲不會(huì)產(chǎn)生，并且因此，可以獲得良好的伺服 誤差信號(hào)和良好的再現(xiàn)信號(hào)。按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖 25所示，利用象限光學(xué)檢測(cè)單元400的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3和B4 的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3禾口B4以及子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光 接收部A1、 A2和C1、 C2的輸出信號(hào)A1、 A2和C1、 C2，可以獲得以 下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE: FE=(B1+B3)-(B2+B4)，獲得以下等式的差分 推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP: DPP=((Bl+B4)-(B2+B3》-Gx((Al+ClHA2+C2))， 并獲得以下等式的RF信號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4+B5+B6。在等式中， "G"表示差分系數(shù)。 第六實(shí)施方式
圖26示出了在第五實(shí)施方式中被分割為用于焦點(diǎn)誤差檢測(cè)的光檢 測(cè)器和用于跟蹤誤差信號(hào)檢測(cè)的光檢測(cè)器的光檢測(cè)器40的第六實(shí)施方 式。除了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)變化之外，第六實(shí)施方式與第五實(shí)施方式相 同。這里，利用跟蹤誤差信號(hào)分量較小的區(qū)域的光通量來(lái)進(jìn)行焦點(diǎn)誤差 檢測(cè)，而利用跟蹤誤差信號(hào)分量較大的區(qū)域的光通量來(lái)進(jìn)行跟蹤誤差信 號(hào)檢測(cè)。由于軌道交叉分量在信號(hào)本身中很小，所以軌道交叉在焦點(diǎn)誤 差檢測(cè)中很少混合為噪聲。
與圖25的光檢測(cè)器不同，圖26的光檢測(cè)器40在切線方向上移動(dòng)， 而不是以象限光學(xué)檢測(cè)單元400為中心移動(dòng)，并且在切線方向上分割以 用于推挽的子光學(xué)檢測(cè)單元404 (光接收部B5和B6)設(shè)置在光檢測(cè)器 40的中部。而且，光檢測(cè)器40包括被移動(dòng)以接收從透光區(qū)TWa和TWc (圖23和圖24)到全息圖區(qū)Hb和Hd進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)的S偏振的部分 光通量的象限光學(xué)檢測(cè)單元400，以及設(shè)置在關(guān)于子光學(xué)檢測(cè)單元404的 中心點(diǎn)而對(duì)稱的位置(位于切線方向上的分割線的延長(zhǎng)線上)處的切線 方向子光學(xué)檢測(cè)單元B7。
26而且，在本實(shí)施方式中，由信號(hào)光和雜散光之間的干擾而導(dǎo)致的噪 聲不會(huì)產(chǎn)生，并且因此，可以獲得良好的伺服誤差信號(hào)和良好的再現(xiàn)信 號(hào)。按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖26所示，利用光學(xué)檢測(cè)單
元的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3、 B4、 B5、 B6和B7的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3和B4以及子光學(xué)檢測(cè)單元的各個(gè)光接收部Al、 A2和Cl、 C2的輸出 信號(hào)Al、 A2和Cl、 C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE: FE=(B1+B3)-(B2+B4)，獲得以下等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP: DPP=(B5-B6)-Gx((Al+Cl)-(A2+C2》，并獲得以下等式的RF信號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4+B5+B6+B7。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。 第七實(shí)施方式
根據(jù)本實(shí)施方式的焦點(diǎn)誤差檢測(cè)是利用這樣一種光學(xué)裝置來(lái)執(zhí)行 的，該光學(xué)裝置提供在瞳孔上以扇狀四等分同時(shí)彼此相鄰的四個(gè)區(qū)域中 相差90。的角度的像散并提供在相鄰區(qū)域中不同的偏轉(zhuǎn)動(dòng)作。由于像散方 向?qū)τ诟鱾€(gè)區(qū)域不同，所以線圖像的方向也彼此不同。焦點(diǎn)誤差通過(guò)利 用這方面的束點(diǎn)尺寸法來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。
圖27是示出了包括作為像散裝置的示例的柱面組裝透鏡138的光學(xué) 系統(tǒng)的典型立體圖。柱面組裝透鏡138設(shè)置在與返回光RLB的光軸OAX 垂直的平面上，并且將方向彼此垂直的兩個(gè)像散提供到沿光軸從物鏡36 引導(dǎo)至光檢測(cè)器40的返回光RLB。柱面組裝透鏡138被構(gòu)造成這樣一種 結(jié)構(gòu)，其中例如具有相同曲率的兩個(gè)柱面透鏡部481、 483和482、 484 被設(shè)置，同時(shí)與返回光RLB的光軸OAX相交，使得柱面透鏡部481、 483和482、484的中心軸RL1和RL2處于徑向和切線方向上并且垂直于 光軸。柱面透鏡部481、 483和482、 484的中心軸RL1和RL2的延伸方 向變?yōu)橄裆⒎较?。透鏡部481到484的對(duì)頂角位置481、 483和482、 484 的對(duì)屬于相同的柱面透鏡。
柱面透鏡部481到484提供像散，像散方向相對(duì)于穿過(guò)位于相對(duì)于 分割線L1 (切線方向)或分割線L2 (徑向)的相同側(cè)并相鄰的象限區(qū)的 返回光旋轉(zhuǎn)了90。的角度，并且同時(shí)，針對(duì)各個(gè)象限區(qū)將返回光四等分。 設(shè)置在一對(duì)對(duì)頂角位置的第一和第三透鏡部481和483具有延伸到分割
27線L2的相對(duì)側(cè)的公共柱面透鏡表面。設(shè)置在另一對(duì)對(duì)頂角位置的第二和
第四透鏡部482和484具有延伸到相對(duì)側(cè)的公共柱面透鏡表面。位于一 對(duì)對(duì)頂角位置的透鏡部的曲率中心軸從位于另一對(duì)對(duì)頂角位置的透鏡部 的曲率中心軸關(guān)于中心軸旋轉(zhuǎn)了90。的角度。利用這種構(gòu)造，將其方向旋 轉(zhuǎn)了90。的角度的像散提供到穿過(guò)位于對(duì)頂角位置的象限的返回光部分。
如圖27所示，從物鏡36穿過(guò)位于返回光的光軸OAX的周圍的第一 透鏡部481的位于第一象限區(qū)的返回光RLB的部分光通量xl穿過(guò)第一 象限區(qū)到達(dá)第一線圖像M，在穿過(guò)第一線圖像M之后移動(dòng)到第二象限區(qū)， 并且在穿過(guò)下一線圖像M之后移動(dòng)到第三象限區(qū)。因此，經(jīng)由像散距離 內(nèi)的扇狀束點(diǎn)，沿分割線L2形成在第二象限區(qū)中的線圖像束點(diǎn)改變到沿 以90。的角度傾斜的分割線Ll形成的線圖像束點(diǎn)。
按相同的方式，穿過(guò)第二透鏡部482的位于第二象限區(qū)的返回光的 部分光通量穿過(guò)第二象限區(qū)到達(dá)第一線圖像，在穿過(guò)第一線圖像之后移 動(dòng)到第三象限區(qū)，并且在穿過(guò)下一線圖像之后移動(dòng)到第四象限區(qū)。因此， 經(jīng)由像散距離內(nèi)的扇狀束點(diǎn)，沿分割線L1形成在第三象限區(qū)中的線圖像 束點(diǎn)變?yōu)檠匾?0。的角度傾斜的分割線L2形成的線圖像束點(diǎn)。
按相同的方式，穿過(guò)位于對(duì)頂角位置的第三透鏡部483的位于第三 象限區(qū)的部分光通量穿過(guò)第三象限區(qū)到達(dá)第一線圖像，在穿過(guò)第一線圖 像之后移動(dòng)到第四象限區(qū)，并且在穿過(guò)下一線圖像之后移動(dòng)到第一象限 區(qū)。因此，經(jīng)由像散距離內(nèi)的扇狀束點(diǎn)，沿分割線L2形成在第四象限區(qū) 中的線圖像束點(diǎn)變?yōu)檠匾?0。的角度傾斜的分割線Ll形成的線圖像束 點(diǎn)。
按相同的方式，穿過(guò)第四透鏡部484的位于第四象限區(qū)的部分光通 量穿過(guò)第四象限區(qū)到達(dá)第一線圖像，在穿過(guò)第一線圖像之后移動(dòng)到第一 象限區(qū)，并且在穿過(guò)下一線圖像之后移動(dòng)到第二象限區(qū)。因此，經(jīng)由像 散距離內(nèi)的扇狀束點(diǎn)，沿分割線L1形成在第一象限區(qū)中的線圖像束點(diǎn)變 為沿以90。的角度傾斜的分割線L2形成的線圖像束點(diǎn)。
以這種方式，在像散距離的情況下，十字形線圖像束點(diǎn)出現(xiàn)在光軸 上，并且看起來(lái)好像各個(gè)部分光通量像風(fēng)車一樣關(guān)于光軸旋轉(zhuǎn)。利用包括第一到第四透鏡部481到484的柱面組裝透鏡138，可以將穿過(guò)各個(gè)象
限區(qū)的透鏡部的返回的部分光通量進(jìn)行空間分割，同時(shí)可以通過(guò)提供像
散合并地使用三束法和PDP法。
圖28是示出了包括作為像散裝置的示例的象限全息部分的象限透 射閃耀全息圖138H的典型立體圖。象限透射閃耀全息圖138H是被設(shè)計(jì) 為用作柱面組裝透鏡138的透鏡表面的衍射光學(xué)裝置。利用雙光波干擾 法，第一到第四象限全息部分481H、 482H、 483H和484H被形成為用 作柱面透鏡表面。象限透射閃耀全息圖138H用作如第一到第四透鏡部 481到484的柱面透鏡表面。與柱面組裝透鏡138 —樣，象限透射閃耀全 息圖138H具有作為像散方向的中心軸RL1禾卩RL2。中心軸RL1和RL2 是相應(yīng)的柱面透鏡部的棱線，或形成透鏡表面的柱形曲面的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱軸。 象限透射閃耀全息圖138H被設(shè)置，同時(shí)與返回光軸相交，使得象限透射 閃耀全息圖138H的中心軸RL1和RL2 (或分割線Ll和L2)在與返回 光的光軸垂直的平面上與光盤的切線方向和徑向平行地延伸。象限透射 閃耀全息圖138H將穿過(guò)各個(gè)象限區(qū)的第一到第四象限全息部分481H、 482H、 483H和484H的返回的部分光通量進(jìn)行空間分割，并且同時(shí)，利 用第一到第四象限全息部分481H、 482H、 483H和484H將像散提供到 返回的部分光通量。
圖29是示出了使用了圖28所示的象限透射閃耀全息圖138H的根據(jù) 本發(fā)明的第七實(shí)施方式的拾取裝置的主要部分的結(jié)構(gòu)的示意性立體圖。 除了改變了分割裝置(分割波片裝置37、象限透射閃耀全息圖138H、和 分割偏轉(zhuǎn)裝置377b)和改變了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)之外，該拾取裝置與第 二實(shí)施方式(圖11)相同。光檢測(cè)器40包括兩個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元 500以及用于三條光束的子光學(xué)檢測(cè)單元501和502，所述兩個(gè)三等分光 學(xué)檢測(cè)單元500設(shè)置在光檢測(cè)器40的中部以利用像散法在與返回光的光 軸垂直的平面上進(jìn)行聚焦伺服，所述子光學(xué)檢測(cè)單元501和502沿徑向 并排設(shè)置在兩個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的相對(duì)側(cè)，以利用三束法進(jìn)行 跟蹤伺服。
在本實(shí)施方式中，作為分割裝置的分割波片裝置37和分割偏轉(zhuǎn)裝置
29377b同軸地設(shè)置在分割波片裝置37和作為像散裝置的象限透射閃耀全息
圖138H之間。分割偏轉(zhuǎn)裝置377b對(duì)來(lái)自光盤1并穿過(guò)分割波片裝置37 的三束光通量(反射光通量)進(jìn)行衍射。光通量從象限透射閃耀全息圖 138H入射到光檢測(cè)器40上。而且，在圖中三束光通量被示為一束光通 量°
圖30是示出了當(dāng)從三等分光學(xué)檢測(cè)單元的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的圖 29所示的光檢測(cè)器40的三等分光檢測(cè)單元500的典型平面圖。光檢測(cè)器 40的兩個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500在結(jié)構(gòu)上相同，并且并排設(shè)置，在切 線方向上彼此隔開(kāi)預(yù)定距離。各個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500包括具有相 同面積的三個(gè)光接收部B1、 B2、 B3禾卩B4、 B5、 B6，這些光接收部以在 切線方向上彼此平行的兩條分割線500L和500M為界，彼此分離并且彼 此相鄰。各個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500被設(shè)置為使得沿直線在切線方向 上并排設(shè)置的三等分光學(xué)檢測(cè)單元500之一的中間光接收部B5的中心與 返回光RLB的光軸OAX相交。光接收部連接到預(yù)定電路(未示出)，并 且對(duì)來(lái)自各個(gè)光接收部的光電轉(zhuǎn)換輸出進(jìn)行計(jì)算以生成焦點(diǎn)誤差信號(hào)。
圖31是示出了本實(shí)施方式中使用的分割裝置的分割波片裝置37的 典型立體圖。該分割波片裝置37與圖7所示的分割波片裝置37具有相 同的功能。分割波片裝置37被構(gòu)造成這樣一種結(jié)構(gòu)，其中在與返回光 RLB的光軸OAX垂直的平面上，通過(guò)將光通量部分以光軸為中心以扇狀 均勻地四等分而獲得的半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW交替地設(shè)置在光軸周 圍。在分割波片裝置37中，如圖所示， 一條分割線37L和另一條分割線 37M之間的交點(diǎn)與返回光的光軸OAX相交，使得分割線37L沿徑向延 伸，并且分割線37M沿切線方向延伸。半波片區(qū)WR和透明區(qū)TW提供 相位差，使得位于其相鄰區(qū)域的透射返回光(S偏振光)的光通量的偏振 光分量彼此相差90。的角度。
圖32是示出了在第七實(shí)施方式中使用的分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置 377b的典型立體圖。分割偏轉(zhuǎn)裝置377b被構(gòu)造成這樣一種結(jié)構(gòu)，其中在 與返回光RLB的光軸OAX垂直的平面上，通過(guò)將光通量部分以光軸為 中心以扇狀均勻地四等分而獲得的四個(gè)區(qū)域TWa、 Hb、 TWc和Hd順序地設(shè)置在光軸周圍。在分割偏轉(zhuǎn)裝置377b中，如圖所示，一條分割線377L 和另一條分割線377M之間的交點(diǎn)與返回光的光軸OAX相交，使得分割 線377L沿徑向延伸，并且分割線377M沿切線方向延伸。在由分割線377L 和分割線377M四等分的區(qū)域中，透光區(qū)TWa和TWc被形成為透光平行 板，并且用于照原樣透射返回光(S偏振光)。全息圖區(qū)Hb和Hd形成在 閃耀全息圖中，使得全息圖區(qū)Hb和Hd在切線方向上沿相同方向被衍射， 由此使得全息圖區(qū)Hb和Hd從三等分光學(xué)檢測(cè)單元500之一的中間光接 收部B5的中心的中心點(diǎn)沿切線方向偏轉(zhuǎn)預(yù)定距離(另一個(gè)三等分光學(xué)檢 測(cè)單元500的中間光接收部B2的中心的中心點(diǎn))。
由于分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的全息圖區(qū)Hb和Hd與分割波片裝置37的 半波片區(qū)WR相對(duì)應(yīng)，所以分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的全息圖區(qū)Hb和Hd用 于偏轉(zhuǎn)P偏振光。而且，由于分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的透光區(qū)TWa和TWc 與分割波片裝置37的透明區(qū)TW相對(duì)應(yīng)，所以分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的透 光區(qū)TWa和TWc用于照原樣透射返回光(S偏振光)。也就是說(shuō)，分割 偏轉(zhuǎn)裝置377b被構(gòu)造為使得由兩條分割線377M和377L進(jìn)行了四等分 的四個(gè)區(qū)域TWa、 Hb、 TWc和Hd當(dāng)中的位于補(bǔ)角位置的部分光通量不 會(huì)彼此空間干擾。
圖33是示出了圖29所示的拾取裝置中的返回光RLB的聚集狀態(tài)(聚
焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài))的檢測(cè)系統(tǒng)的示意性立體圖(光源、偏振分束器 和除了三等分光學(xué)檢測(cè)單元500之外的光檢測(cè)器被省去以清楚地描述檢 測(cè)系統(tǒng))。
圖34是示出了拾取裝置的聚焦?fàn)顟B(tài)和非聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢 測(cè)單元500的示意性平面圖。圖35是示出了特別是在拾取裝置中的信號(hào) 光的聚焦?fàn)顟B(tài)的三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的示意性平面圖。當(dāng)主光束聚 焦在光盤l時(shí)(焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)時(shí))，如圖33 (a)、 34 (a)和35所示，聚集束 點(diǎn)Ta、 Tb、 Tc和Td從各個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的中間光接收部B5 和B2的中心點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，以成為分別置于光接收部B4-B5之間和光接 收部B1-B3之間的一對(duì)四分之一圓(與切線方向呈45。的角度傾斜的相對(duì) 方向)。當(dāng)光盤1變得比聚焦?fàn)顟B(tài)更接近于物鏡36時(shí)，如圖33 (b)和34 (b)所示，返回光RLB以沿與各個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500垂直的方 向延伸的線圖像束點(diǎn)M的形狀聚集。另一方面，當(dāng)光盤1變得比聚焦?fàn)?態(tài)更遠(yuǎn)離物鏡36時(shí)，如圖33 (c)和34 (c)所示，返回光以沿與各個(gè) 三等分光學(xué)檢測(cè)單元500相反地垂直的方向延伸的線圖像束點(diǎn)M的形狀聚集。
此外，當(dāng)光盤和物鏡之間的距離進(jìn)一步減少和增加時(shí)，如圖33所示， 返回光RLB以擴(kuò)展并分割的橢圓形狀散開(kāi)在三等分光學(xué)檢測(cè)單元500 上。同時(shí)，照射有P偏振和S偏振的部分光通量的三等分光學(xué)檢測(cè)單元 500上的光點(diǎn)部分P和S在像散距離(圖33以及圖34 (a)至34 (c)) 的范圍之內(nèi)和在像散距離的范圍之外變化。在像散法中，沿光軸分割的 光的狀態(tài)在像散距離的范圍之外和之內(nèi)變化。
在第七實(shí)施方式中，沿檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的光軸具有相同的分割區(qū)域的 分割波片裝置37、分割偏轉(zhuǎn)裝置377b和像散裝置138H被組裝，從而原 則上不會(huì)發(fā)生雜散光和聚集束點(diǎn)Ta、 Tb、 Tc和Td之間的交疊(見(jiàn)圖35)， 并且此外，不必將兩個(gè)光接收部彼此分離以利用兩個(gè)柱面透鏡(全息圖) 部分481H、 483H和482H、 484H來(lái)避免兩個(gè)返回光通量RLB之間的干 擾?？梢园聪噜彽姆绞絹?lái)設(shè)置光檢測(cè)器，以改變兩個(gè)光通量的偏振。
在本實(shí)施方式中，主要描述了在兩個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500聚焦 以獲得焦點(diǎn)誤差信號(hào)。然而，如圖36所示，可以僅使用在使用三條光束
的時(shí)候不會(huì)彼此干擾的光通量來(lái)生成跟蹤誤差信號(hào)(推挽信號(hào))，使得可 以對(duì)跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)。
在如圖32所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的四個(gè)區(qū)域TWa、 Hb、 TWc 和Hd處分割的子光束中的一條聚集在光檢測(cè)器的子光學(xué)檢測(cè)單元501上 (光接收部A1和A2)上，以分別作為聚集束點(diǎn)Qa、 Qb、 Qc和Qd，并 且聚集在子光學(xué)檢測(cè)單元502 (光接收部Cl和C2)上，以分別作為聚集 束點(diǎn)Ra、 Rb、 Rc和Rd，如圖36所示。然而，子光學(xué)檢測(cè)單元501 (光 接收部Al和A2)和子光學(xué)檢測(cè)單元502 (光接收部Cl和C2)彼此平 行地并排設(shè)置，同時(shí)在兩個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500被并排設(shè)置的方向
32(切線方向)的相對(duì)側(cè)沿徑向彼此隔開(kāi)，并且光接收部Al和A2以及光
接收部Cl和C2沿徑向以對(duì)稱的方式設(shè)置，使得S偏振和P偏振的子光
束不與雜散光干擾。
在本實(shí)施方式中，與前面的實(shí)施方式中的一樣，與焦點(diǎn)狀態(tài)相對(duì)應(yīng)
的像散被給予在分割偏轉(zhuǎn)裝置377b處偏轉(zhuǎn)并從中透射通過(guò)的返回光通 量，并且因此可以通過(guò)計(jì)算來(lái)自光檢測(cè)器的三等分光學(xué)檢測(cè)單元500以 及子光學(xué)檢測(cè)單元501和502的各個(gè)光接收部的輸出信號(hào)，來(lái)檢測(cè)光盤1 的焦點(diǎn)狀態(tài)。結(jié)果，在根據(jù)本實(shí)施方式的拾取裝置中，由于信號(hào)光和雜 散光之間的干擾而導(dǎo)致的噪聲不會(huì)產(chǎn)生，并且因此，可以獲得良好的伺 服誤差信號(hào)和良好的再現(xiàn)信號(hào)。按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如 圖36所示，利用三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3、 B4、 B5和B6的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3 、 B4、 B5和B6以及子光學(xué)檢測(cè) 單元501和502的各個(gè)光接收部A1、 A2和C1、 C2的輸出信號(hào)A1、 A2 和Cl 、 C2 ，可以獲得以下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE : FE=(B1+B3+B5)-(B2+B4+B6)，獲得以下等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào) DPP: DPP=((Bl+B3)-(B4+B6))-Gx((Al+A2)-(Cl+C2))，并獲得以下等式 的RF信號(hào)RF: RF=B1+B3+B2+B4+B5+B6。在等式中，"G"表示差分系 數(shù)。
第八實(shí)施方式
第八實(shí)施方式是除了改變了光檢測(cè)器40的光接收部的形狀和設(shè)置 以及分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置377b之外，在構(gòu)造上與第七實(shí)施方式(圖 29)相同的拾取裝置。在本實(shí)施方式中，去除了三等分光學(xué)檢測(cè)單元500 中的一個(gè)，并且增加了子光學(xué)檢測(cè)單元500PP，以檢測(cè)大量跟蹤誤差信號(hào) (推挽信號(hào))。
圖37示出了在第八實(shí)施方式中使用的分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置 377c。除了圖32所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377b的全息圖區(qū)Hd的P偏振光的 偏振方向被設(shè)定為相反之外，該分割偏轉(zhuǎn)裝置377c在構(gòu)造上與圖32所 示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377b相同。也就是說(shuō)，全息圖區(qū)Hb和Hd形成在閃 耀全息圖中，使得P偏振的部分光通量在切線方向上沿反向進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)。
在圖37所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377c的全息圖區(qū)Hb和Hd處衍射的P 偏振的部分光通量在聚焦?fàn)顟B(tài)下，聚集在兩個(gè)子光學(xué)檢測(cè)單元500PP的 切線方向上彼此遠(yuǎn)離的位置上，即，沿反向移置的位置上，以分別作為 聚集束點(diǎn)Tb和Td，如圖38所示。三等分光學(xué)檢測(cè)單元500包括具有相 同面積的三個(gè)光接收部B3、 B4、 B5，所述三個(gè)光接收部以在切線方向上 彼此平行的兩條分割線500L和500M為界而彼此分離同時(shí)彼此相鄰。而 且，各個(gè)三等分光學(xué)檢測(cè)單元500被設(shè)置，使得在切線方向上以直線設(shè) 置的三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的中間光接收部B5的中心與返回光RLB 的光軸OAX相交。因此，兩個(gè)子光學(xué)檢測(cè)單元500PP以光軸為中心以點(diǎn) 對(duì)稱方式被設(shè)置，同時(shí)與三等分光學(xué)檢測(cè)單元500分離。而且，兩個(gè)子 光學(xué)檢測(cè)單元500PP包括由分割線500L和500M分割的光接收部Bl、 B2和B6、 B7。因此，聚集束點(diǎn)Tb和Td被聚集，使得聚集束點(diǎn)Tb和 Td超過(guò)光接收部Bl、 B2和B6、 B7的分割線。
另一方面，透射通過(guò)分割偏轉(zhuǎn)裝置377c的透光區(qū)TWa和TWc的S 偏振的部分光通量被聚集，使得聚集束點(diǎn)Ta和Tc從三等分光學(xué)檢測(cè)單 元500的中間光接收部B4的中心點(diǎn)以扇狀擴(kuò)展，以成為置于光接收部 B3-B5之間的一對(duì)四分之一圓(以與切線方向呈45。的角度傾斜的相反方 向)。
而且，在圖37所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377的四個(gè)區(qū)域TWa、 Hb、 TWc 和Hd處分割的子光束中的一條聚集在光檢測(cè)器的子光學(xué)檢測(cè)單元501 (光接收部A1和A2)上，以分別作為聚集束點(diǎn)Qd和Qc，并且聚集在 子光學(xué)檢測(cè)單元502 (光接收部C1和C2)上，以分別作為聚集束點(diǎn)Rc 和Ra，如圖38所示。然而，子光學(xué)檢測(cè)單元501 (光接收部A1和A2) 和子光學(xué)檢測(cè)單元502 (光接收部Cl和C2)在光軸上的三等分光學(xué)檢測(cè) 單元500的相對(duì)側(cè)的徑向上彼此平行地并排設(shè)置同時(shí)彼此隔幵，并且光 接收部Al和A2以及光接收部Cl和C2以光軸為中心以點(diǎn)對(duì)稱方式被設(shè) 置，使得S偏振和P偏振的子光束不與雜散光干擾。
按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖38所示，利用三等分光學(xué)檢測(cè)單元500的各個(gè)光接收部B3、 B4和B5的輸出信號(hào)B1、 B2、 B3、 B4禾nB5，子光學(xué)檢測(cè)單元500PP的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B6禾n B7的 輸出信號(hào)B1、 B2、 B6和B7，以及子光學(xué)檢測(cè)單元501和502的各個(gè)光 接收部A1、 A2和C1、 C2的輸出信號(hào)AK A2和C1、 C2，可以獲得以 下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE: FE-(B1+B4+B7)-(B2+B3+B5+B6),獲得以下 等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP: DPP=((B5+B3)-(B5+B7))-Gx((Al十 A2)-(C1+C2》，并獲得以下等式的 RF 信號(hào) RF: RF=B1+B3+B2+B4+B5+B6+B7。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。 第九實(shí)施方式
第九實(shí)施方式是除了改變了光檢測(cè)器40的光接收部的形狀和設(shè)置 以及分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置377之外，在構(gòu)造上與第四實(shí)施方式(圖 18)相同的拾取裝置。在本實(shí)施方式中，在第四實(shí)施方式之外，利用分 割偏轉(zhuǎn)裝置的一些區(qū)域?qū)εcS偏振光或P偏振光相對(duì)應(yīng)的區(qū)域的部分光 通量進(jìn)行輕微的偏移，使得在返回光通量當(dāng)中的用于偏轉(zhuǎn)裝置衍射的光 的光檢測(cè)器的形狀被簡(jiǎn)化，并且同時(shí)，也避免了在RF信號(hào)檢測(cè)時(shí)的SN 劣化。
具體地，圖39示出了在第九實(shí)施方式中使用的分割裝置的分割偏轉(zhuǎn) 裝置377d。除了 P偏振的部分光通量所穿過(guò)的分割偏轉(zhuǎn)裝置377a的透光 區(qū)TWa和TWc變?yōu)槿D區(qū)Ha和Hc之夕卜，該分割偏轉(zhuǎn)裝置377d在構(gòu) 造上與圖24所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377a相同。也就是說(shuō)，形成了全息圖 區(qū)Ha和Hc，使得P偏振的部分光通量也在切線方向上進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)。
圖40是示出了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。光檢測(cè)器40包括 設(shè)置在其中部以利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的象限光學(xué)檢測(cè)單元703以及 在徑向上并排設(shè)置在象限光學(xué)檢測(cè)單元703的相對(duì)兩側(cè)以利用三束法進(jìn) 行跟蹤伺服的子光學(xué)檢測(cè)單元704和705。此外，光檢測(cè)器40還包括用 于+1次衍射S偏振光的象限光學(xué)檢測(cè)單元702和用于+1次衍射P偏振光 的半光學(xué)檢測(cè)單元701。
此外，在子光學(xué)檢測(cè)單元704和705的切線方向上的分割線上發(fā)生 雜散光和信號(hào)光之間的千擾，并且為此，設(shè)置了具有不受干擾影響的寬
35度的不透明遮光條紋BS。按相同的方式，O次光的P偏振區(qū)的雜散光和 + 1次衍射P偏振光區(qū)域的雜散光之間的干擾發(fā)生在+1次衍射S偏振光的 象限光學(xué)檢測(cè)單元702的徑向上的分割線上，并且為此，設(shè)置了具有不
受干擾影響的寬度的不透明遮光條紋BS。按相同的方式，具有不受干擾 影響的寬度的不透明遮光條紋BS設(shè)置在半光學(xué)檢測(cè)單元701的切線方向 上的分割線上。結(jié)果，可以避免對(duì)于推挽跟蹤誤差檢測(cè)不必要的DC分 量的檢測(cè)。
在通過(guò)圖39的分割偏轉(zhuǎn)裝置377d的分割線377L和377M進(jìn)行四等 分的區(qū)域中，全息圖區(qū)Ha和Hc在切線方向上并排設(shè)置，光軸置于全息 圖區(qū)Ha和Hc之間，并且全息圖區(qū)Hb和Hd在徑向上并排設(shè)置，光軸置 于全息圖區(qū)Hb和Hd之間。按與全息圖區(qū)Hb和Hd相同的方式，全息 圖區(qū)Ha和Hc被設(shè)計(jì)為使得聚集束點(diǎn)在切線方向上被雙向衍射，由此使 得聚集束點(diǎn)從象限光學(xué)檢測(cè)單元703的中心點(diǎn)沿切線方向被偏轉(zhuǎn)了預(yù)定 距離dd2。而且，全息圖區(qū)Ha和Hc被形成為使得在切線方向上實(shí)現(xiàn)了 雙向衍射，由此使得預(yù)定距離dd2大于被全息圖區(qū)Hb和Hd聚集的束點(diǎn) 的切線方向上的預(yù)定距離ddl 。
在圖39所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377d的全息圖區(qū)Ha處衍射的P偏振的 部分光通量中，0次衍射聚集束點(diǎn)Ta在徑向上的分割線上以光軸為中心 以扇狀擴(kuò)展，以成為置于象限光學(xué)檢測(cè)單元703的光接收部B8和B9之 間的四分之一圓，如圖40所示。在全息圖區(qū)Hc處衍射的P偏振的部分 光通量中，0次衍射聚集束點(diǎn)Tc在徑向上的分割線上以光軸為中心以反 向指向的扇狀擴(kuò)展，以成為置于象限光學(xué)檢測(cè)單元703的光接收部B7和 B10之間的四分之一圓。同時(shí)，分割偏轉(zhuǎn)裝置377d的全息圖區(qū)Ha處衍 射的P偏振的部分光通量的+1次衍射聚集束點(diǎn)Ta從象限光學(xué)檢測(cè)單元 703的切線方向上的分割線的延長(zhǎng)線在徑向上以扇狀擴(kuò)展，以成為半光學(xué) 檢測(cè)單元701的光接收部B2上的四分之一圓，并且P偏振的部分光通量 的+1次衍射聚集束點(diǎn)丁c以反向的扇狀擴(kuò)展，以成為置于半光學(xué)檢測(cè)單元 701的光接收部B1上的四分之一圓。
在分割偏轉(zhuǎn)裝置377d的全息圖區(qū)Hb處衍射的S偏振的部分光通量
36中，0次衍射聚集束點(diǎn)Tb以切線方向上的分割線上的交點(diǎn)為中心以扇狀
擴(kuò)展，以成為置于象限光學(xué)檢測(cè)單元702的光接收部B3和B4之間的四 分之一圓，如圖40所示。在全息圖區(qū)Hd處衍射的P偏振的部分光通量 中，0次衍射聚集束點(diǎn)Td以切線方向上的分割線上的交點(diǎn)為中心以反向 指向的扇狀擴(kuò)展，以成為置于象限光學(xué)檢測(cè)單元702的光接收部B5和 B6之間的四分之一圓。
在圖39所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377d的四個(gè)區(qū)域TWa、 Hb、 TWc和 Hd處分割的子光束中的一條部分聚集在光檢測(cè)器的子光學(xué)檢測(cè)單元704 (光接收部A1和A2)上，以分別作為P偏振的部分光通量的O次衍射 聚集束點(diǎn)Qc和Qa，并且聚集在子光學(xué)檢測(cè)單元705 (光接收部Cl和 C2)上，以分別作為聚集束點(diǎn)Rd和Ra，如圖40所示。
按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖40所示，利用象限光學(xué)檢 測(cè)單元703、子光學(xué)檢測(cè)單元704和705、象限光學(xué)檢測(cè)單元702、以及 半光學(xué)檢測(cè)單元701的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3、 B4、 B5、 B6、 B7、 B8、 B9、 BIO、 Al、 A2、 Cl和C2的輸出信號(hào)Bl 、 B2、 B3、 B4、 B5、 B6、 B7、 B8、 B9、 BIO、 Al、 A2、 Cl禾n C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn) 誤差信號(hào)FE: FE-(B3+B5)-(B4+B6)，獲得以下等式的差分推挽跟蹤誤差 信號(hào)DPP: DPP=(Bl-B2)-Gx((Al+Cl)-(A2+C2))，并獲得以下等式的RF 信號(hào)RF: RF=B7+B8+B9+B10。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。而且，除 了利用三條光束的普通DPP之外，可以利用單條光束進(jìn)行推挽跟蹤誤差 檢測(cè)。在這種情況下，不使用檢測(cè)器A1、 A2、 C1和C2?？梢垣@得單條 光束跟蹤誤差信號(hào)PP-(Bl-B2)-Gx((B3+B6)-(B4+B5))。在等式中，"G"表 示差分系數(shù)。
第十實(shí)施方式
第十實(shí)施方式是除了去除了子光束生成衍射光柵32、改變了光檢測(cè) 器40的光接收部的形狀和設(shè)置以及分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置377之外， 在構(gòu)造上與第四實(shí)施方式(圖18)相同的拾取裝置。在本實(shí)施方式中， 從第四實(shí)施方式中去除了子光束生成衍射光柵32，并且分割偏轉(zhuǎn)裝置被 進(jìn)一步分割，從而利用分割偏轉(zhuǎn)裝置的分割區(qū)域?qū)偏振光和P偏振光的部分光通量進(jìn)行輕微的偏移，并且因此用于返回光通量當(dāng)中的被偏轉(zhuǎn) 裝置衍射的光的光檢測(cè)器的形狀和設(shè)置被簡(jiǎn)化，并且同時(shí)，也避免了在 RF信號(hào)檢測(cè)時(shí)的SN劣化。
具體地，圖41示出了在第十實(shí)施方式中使用的分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)
裝置377e。圖41是示出了光檢測(cè)器40的結(jié)構(gòu)的典型平面圖。分割偏轉(zhuǎn) 裝置377e被構(gòu)造為將返回光RLB分割為七塊。也就是說(shuō)，分割偏轉(zhuǎn)裝 置377e包括包含返回光RLB的光軸OAX的中央全息圖區(qū)He以及設(shè)置 在全息圖區(qū)He周圍的周圍六分全息圖區(qū)Ha、 Hbl、 Hb2、 Hc、 Hdl和 Hd2。
如圖42所示，光檢測(cè)器40包括設(shè)置在其中部以利用像散法進(jìn)行聚 焦伺服的用于0次衍射光的象限光學(xué)檢測(cè)單元400,以及在切線方向上并 排設(shè)置在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的相對(duì)側(cè)的子光學(xué)檢測(cè)單元401和402。 子光學(xué)檢測(cè)單元401是用于+1次衍射S偏振光的半光學(xué)檢測(cè)單元，并且 子光學(xué)檢測(cè)單元402是用于1次衍射S偏振光的象限光學(xué)檢測(cè)單元。子 光學(xué)檢測(cè)單元401包括并排設(shè)置在切線方向上同時(shí)沿徑向分割的兩個(gè)光 接收部Al和A2。子光學(xué)檢測(cè)單元402包括并排設(shè)置在切線方向上同時(shí) 沿徑向分割的兩個(gè)象限光學(xué)檢測(cè)部Cl、 C2、 Cl、 C2和Cl、 C2、 Cl、 C2。子光學(xué)檢測(cè)單元402的一個(gè)象限光學(xué)檢測(cè)部相對(duì)于返回光的光軸與 子光學(xué)檢測(cè)單元401的光接收部Al對(duì)稱地設(shè)置，并且子光學(xué)檢測(cè)單元 402的另一個(gè)象限光學(xué)檢測(cè)部在相對(duì)于返回光的光軸與子光學(xué)檢測(cè)單元 401的光接收部A1對(duì)稱的位置上，設(shè)置在用于O次衍射光的象限光學(xué)檢 測(cè)單元400的切線方向上的分割線的延長(zhǎng)線上。并排設(shè)置在子光學(xué)檢測(cè) 單元402的切線方向上的象限光學(xué)檢測(cè)部Cl以與切線方向呈45°的角方 向并排設(shè)置，并且同時(shí)，象限光學(xué)檢測(cè)部C2以與切線方向呈45。的角方 向并排設(shè)置。
在圖41所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)He周圍的返回光通量 中，返回光的0次衍射聚集束點(diǎn)成為使象限光學(xué)檢測(cè)單元400的光軸作 為其中心的圓(O次光)，如圖42所示。
圖41的全息圖區(qū)He被設(shè)置為盡可能使得返回光的中部不照射到子
38光學(xué)檢測(cè)單元401和子光學(xué)檢測(cè)單元402，并且全息圖區(qū)He被形成為使得透射光以例如與圖42的切線方向呈45。的角方向衍射。0次光由用于0次衍射光的象限光學(xué)檢測(cè)單元400接收，而不受全息圖區(qū)He的影響。而且，全息圖區(qū)He可以被形成為由吸收材料制成的遮光區(qū)。在這種情況下，O次光的中部被遮蔽；然而，當(dāng)該區(qū)域被構(gòu)造為較小時(shí)，在再現(xiàn)RF信號(hào)時(shí)不會(huì)有麻煩。如圖42所示，在分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)He處衍射的+1次衍射光的部分光通量(He+1次光)和在全息圖區(qū)He處衍射的1次衍射光的部分光通量(He-1次光)形成聚集束點(diǎn)，同時(shí)與象限光學(xué)檢測(cè)單元400分離。
圖41所示的全息圖區(qū)Ha和Hc是相同的圖案，并且并排設(shè)置在切線方向上，同時(shí)全息圖區(qū)He置于全息圖區(qū)Ha和Hc之間。而且，全息圖區(qū)Ha和Hc被形成為對(duì)來(lái)自徑向上的分割波片裝置37的P偏振的部分光通量進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)。在返回光的全息圖區(qū)Ha和Hc處衍射的P偏振的部分光通量在象限光學(xué)檢測(cè)單元400的徑向上的分割線上以光軸為中心以反向衍射，以成為以變形的扇狀形成的一對(duì)聚集束點(diǎn)(HaHc+l次光和HaHcll次光)。這些包含推挽信號(hào)分離的變形的扇狀束點(diǎn)不被用于誤差檢測(cè)。
圖41的全息圖區(qū)對(duì)HM、 Hb2和Hdl、 Hd2并排設(shè)置在徑向上，同時(shí)全息圖區(qū)He置于全息圖區(qū)對(duì)HM、 Hb2和Hdl、 Hd2之間。而且，全息圖區(qū)對(duì)Hbl、 Hb2和Hdl、 Hd2被形成為對(duì)來(lái)自切線方向上的分割波片裝置37的S偏振的部分光通量進(jìn)行衍射和偏轉(zhuǎn)。全息圖區(qū)Hbl和Hb2之間的分割線從返回光的光軸沿徑向延伸，并且全息圖區(qū)Hdl和Hd2之間的分割線從返回光的光軸與徑向平行地延伸。全息圖區(qū)Hbl和Hdl是相同的圖案，并且被設(shè)計(jì)為使得聚集束點(diǎn)在切線方向上被雙向衍射，由此使得聚集束點(diǎn)從象限光學(xué)檢測(cè)單元400的中心點(diǎn)在切線方向上偏轉(zhuǎn)了預(yù)定距離dd2。全息圖區(qū)Hb2和Hd2是相同的圖案，并且被形成為使得聚集束點(diǎn)以小于切線方向上的預(yù)定距離dd2的預(yù)定距離ddl而在切線方向上被雙向衍射。
因此，在圖41所示的分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)Hbl和Hdl處衍射的+ 1次衍射光的S偏振的部分光通量(HblHdl + l次光)變?yōu)樵谧?br>
光學(xué)檢測(cè)單元401的光接收部Al上的兩個(gè)變形的1/4圓。在分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)HM和Hdl處衍射的-1次衍射光的S偏振的部分光通量(HblHdl-l次光)變?yōu)樵谧庸鈱W(xué)檢測(cè)單元402的象限光學(xué)檢測(cè)部Cl和C2上的兩個(gè)變形的l/4圓。此外，在分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)Hb2和Hd2處衍射的+1次衍射光的S偏振的部分光通量(Hb2Hd2+l次光)變?yōu)樵谧庸鈱W(xué)檢測(cè)單元401的光接收部A2上的兩個(gè)變形的1/4圓。在分割偏轉(zhuǎn)裝置377e的全息圖區(qū)Hb2和Hd2處衍射的-1次衍射光的S偏振的部分光通量(Hb2Hd2-l次光)變?yōu)樵谧庸鈱W(xué)檢測(cè)單元402的象限光學(xué)檢測(cè)部Cl和C2上的兩個(gè)變形的1/4圓。
利用上述構(gòu)造，包括返回光的光軸的中央全息圖區(qū)He的衍射光通量移動(dòng)到不具有光接收部的區(qū)域，并且因此，避免了全息圖區(qū)Hbl、 Hb2、Hdl和Hd2的±1次光的雜散光入射到子光學(xué)檢測(cè)單元上，導(dǎo)致對(duì)于誤差檢測(cè)不必要的偏移不會(huì)發(fā)生。此外，可以將子光學(xué)檢測(cè)單元設(shè)置在0次光的雜散光內(nèi)。子光學(xué)檢測(cè)單元上的雜散光和士l次光之間的干擾由于分割波片裝置37而不會(huì)發(fā)生?？梢詫⒆庸鈱W(xué)檢測(cè)單元401和402設(shè)置在用于0次衍射光的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的附近。
可以通過(guò)接收在子光學(xué)檢測(cè)單元401的兩個(gè)光接收部Al和A2的沒(méi)有推挽信號(hào)的區(qū)域(即，全息圖區(qū)Hbl和Hdl)處衍射的+l次衍射光的S偏振的部分光通量(HblHdl+l次光)來(lái)檢測(cè)透鏡移動(dòng)量，并且同時(shí)，可以通過(guò)從位于用于0次衍射光的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的主光束(O次光)的推挽信號(hào)中進(jìn)行提取來(lái)校正推挽信號(hào)的偏移。
僅僅子光學(xué)檢測(cè)單元402的兩個(gè)象限光學(xué)檢測(cè)部Cl、 C2、 Cl、 C2和C1、 C2、 Cl、 C2的沒(méi)有推挽信號(hào)的-l次光被用亍焦點(diǎn)檢測(cè)，并且因此，推挽信號(hào)未被混合到焦點(diǎn)誤差信號(hào)中作為噪聲。
按照與前面的實(shí)施方式相同的方式，如圖42所示，利用用于O次衍射光的象限光學(xué)檢測(cè)單元400以及子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光接收部B1、 B2、 B3、 B4、 Al、 A2、 Cl和C2的輸出信號(hào)Bl、 B2、 B3、B4、A1、A2、C1和C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE:FE-C1-C2，
40獲得以下等式的推挽跟蹤誤差信號(hào)PP : PP=((B1+B4)-
(B2+B3))-Gx(A2-Al)，并獲得以下等式的RF信號(hào)RF:RF-Bl+B2+B3+B4。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。第十一實(shí)施方式
第十一實(shí)施方式是除了改變了光檢測(cè)器40的光接收部的形狀和設(shè)置并且提供了分割遮光裝置377e以取代分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置377之外，在構(gòu)造上與第二實(shí)施方式(圖ll)相同的拾取裝置。
圖43是示出了根據(jù)本發(fā)明的第十一實(shí)施方式的利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系統(tǒng)的主要部分的示意性立體圖(光源、偏振分束器等被省去以清楚地描述檢測(cè)系統(tǒng))。
如圖44所示，分割遮光裝置377e被構(gòu)造成這樣一種結(jié)構(gòu)，其中不透明遮光區(qū)BR和透明區(qū)TW交替地設(shè)置在光軸周圍。也就是說(shuō)，分割遮光裝置377e與返回光RLB的光軸OAX相交，使得分割線37L以與光盤的切線方向呈45。的角度衍射，并且使得透明區(qū)TW并排設(shè)置在切線方向上同時(shí)光軸置于透明區(qū)TW之間，并且遮光區(qū)BR并排設(shè)置在徑向上同時(shí)光軸置于遮光區(qū)BR之間。
圖45是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的光檢測(cè)器40的典型平面圖。光檢測(cè)器40包括設(shè)置在其中部以利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的象限光學(xué)檢測(cè)單元400，以及并排設(shè)置在徑向上的象限光學(xué)檢測(cè)單元400的相對(duì)側(cè)以利用三束法進(jìn)行跟蹤伺服的用于三條光束的子光學(xué)檢測(cè)單元401和402。按與第二實(shí)施方式相同的方式，象限光學(xué)檢測(cè)單元400包括具有相同面積的四個(gè)光接收部B1、 B2、 B3和B4，所述四個(gè)光接收部彼此相鄰地設(shè)置，以兩條垂直的分割線400L和400M作為邊界線而彼此分離。分割線中的一條與切線方向平行。用于三條光束的子光學(xué)檢測(cè)單元401、 402包括彼此相鄰設(shè)置、邊界線大致與切線方向平行延伸的兩個(gè)分離的光接收部Al和A2、 Cl和C2。在此，未設(shè)置寬度大的分割區(qū)401a、 402a。光接收部相對(duì)于象限光檢測(cè)單元400的中心(分割線之間的交點(diǎn))以點(diǎn)對(duì)稱方式形成和設(shè)置。也就是說(shuō)，光接收部與在切線方向和徑向上從其中心延伸的直線對(duì)稱。分割遮光裝置377e包括由兩條分割線400L和400M進(jìn)行四等分的四個(gè)透光區(qū)，使得相鄰?fù)腹鈪^(qū)的透射狀態(tài)和非透射狀態(tài)彼此不同。如圖45所示，在四個(gè)區(qū)域當(dāng)中的位于補(bǔ)角位置的部分光通量不與雜散光干擾，并且因此，相鄰的部分光通量的狀態(tài)彼此不同。因此，甚至通過(guò)簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的拾取裝置，就可以避免再現(xiàn)信號(hào)的SN劣化。
根據(jù)本實(shí)施方式，利用象限光學(xué)檢測(cè)單元400的各個(gè)光接收部Bl、B2、 B3和B4的輸出信號(hào)Bl、 B2、 B3和B4以及子光學(xué)檢測(cè)單元401和402的各個(gè)光接收部A1、 A2和C1、 C2的輸出信號(hào)A1、 A2和C1、C2，可以獲得以下等式的焦點(diǎn)誤差信號(hào)FE: FE= (B1+B3)-(B2+B4)，獲得以下等式的差分推挽跟蹤誤差信號(hào)DPP : DPP=((BI+B4)-(B2+B3))-Gx((Al+Cl)-(A2+C2))，并獲得以下等式的RF信號(hào)RF.'RJF=B1+B3+B2+B4。在等式中，"G"表示差分系數(shù)。
第十二實(shí)施方式
第十二實(shí)施方式是除了改變了光檢測(cè)器40的光接收部的形狀和設(shè)置以及僅提供了分割裝置的分割偏轉(zhuǎn)裝置377a (圖24)并去除了分割波片裝置37之外，在構(gòu)造上與第五實(shí)施方式(圖23)相同的拾取裝置。
圖46是示出了根據(jù)第十二實(shí)施方式的利用像散法進(jìn)行聚焦伺服的光學(xué)系統(tǒng)的主要部分的示意性立體圖(光源、偏振分束器等被省去以清楚地描述檢測(cè)系統(tǒng))。
圖47是示出了當(dāng)從光檢測(cè)器的光軸入射側(cè)觀看時(shí)的光檢測(cè)器40的典型平面圖。除了在切線方向上設(shè)置的具有相同面積的光學(xué)檢測(cè)部B5和B6被設(shè)置為使得光學(xué)檢測(cè)部B5和B6在相對(duì)于象限光學(xué)檢測(cè)單元400的中心點(diǎn)而對(duì)稱的位置(位于切線方向上的分割線的延長(zhǎng)線上)上，比圖25隔開(kāi)更遠(yuǎn)之外，根據(jù)第十二實(shí)施方式的光檢測(cè)器40與圖25的光檢測(cè)器40相同。在圖25的第五實(shí)施方式中，光軸周圍的偏振方向彼此不同，避免了雜散光和信號(hào)光之間的千擾。另一方面，在第十二實(shí)施方式中，由于光接收部之間的分離而避免了這種干擾，并且因此，即使通過(guò)簡(jiǎn)單結(jié)構(gòu)的拾取裝置也可以實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)。
4權(quán)利要求
1、一種拾取裝置，該拾取裝置包括照射光學(xué)系統(tǒng)以及檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)，所述照射光學(xué)系統(tǒng)包括用于將光通量聚焦在光學(xué)記錄介質(zhì)的記錄表面的軌道上以形成束點(diǎn)的物鏡，所述光學(xué)記錄介質(zhì)具有多個(gè)層疊的記錄層，在所述記錄層之間夾有間隔層；所述檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)包括具有用于接收通過(guò)所述物鏡從所述記錄層反射的返回光以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的多個(gè)光接收部的光檢測(cè)器，所述拾取裝置根據(jù)從所述光接收部的輸出計(jì)算出的電信號(hào)來(lái)控制所述物鏡的位置，其中所述拾取裝置還包括像散裝置，其用于將像散提供到指向所述光接收部的所述返回光；以及分割裝置，其具有被以所述返回光的光軸為中心在像散方向上延伸的分割線分割出的分割區(qū)，按照所述各個(gè)分割區(qū)進(jìn)行分割，而沿著返回光的所述光軸，將具有所述像散的所述返回光分割為多個(gè)部分光通量，其中，彼此相鄰的一些分割區(qū)為所述部分光通量提供光學(xué)作用，使得在所述光接收部上不會(huì)發(fā)生所述相應(yīng)的部分光通量之間的干擾。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的拾取裝置，其中所述光檢測(cè)器的所述光接 收部由以所述返回光的所述光軸為中心在所述像散方向上延伸的分割線 以及與所述分割線垂直的像散分割線四等分。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的拾取裝置，其中所述像散裝置提供的所述 像散方向被設(shè)定為以與所述軌道的延伸方向呈45。的角度傾斜。
4、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的拾取裝置，其中所述像散裝置提供的所述 像散方向被設(shè)定為與所述軌道的延伸方向平行。
5、 根據(jù)權(quán)利要求1至4中的任意一項(xiàng)所述的拾取裝置，其中所述分 割裝置包括用于進(jìn)行作為所述光學(xué)作用的偏轉(zhuǎn)作用的分割偏轉(zhuǎn)裝置，通 過(guò)所述偏轉(zhuǎn)作用，使所述各個(gè)部分光通量到達(dá)所述光接收部上的不同位 置，并且所述分割裝置由所述分割線和與所述分割線垂直的第二分割線 分割。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1至5中的任意一項(xiàng)所述的拾取裝置，其中所述分割裝置包括用于進(jìn)行作為光學(xué)作用的偏振作用的分割偏轉(zhuǎn)裝置，通過(guò)所 述偏振作用，使所述各個(gè)部分光通量在所述光接收部上被不同地偏振， 并且所述分割裝置由所述分割線和與所述分割線垂直的第二分割線分 割。
7、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的拾取裝置，其中位于所述分割偏轉(zhuǎn)裝置的 一對(duì)對(duì)頂角位置的兩個(gè)區(qū)域處衍射的所述返回光聚集的束點(diǎn)形成在以所 述光檢測(cè)器的所述分割線之間的交點(diǎn)為中心而在所述第二分割線上分別 設(shè)置在相對(duì)側(cè)同時(shí)彼此相鄰的光接收部上，并且位于所述分割偏轉(zhuǎn)裝置 的另一對(duì)對(duì)頂角位置的兩個(gè)區(qū)域處衍射的所述返回光聚集的束點(diǎn)形成在 以所述光檢測(cè)器的所述分割線之間的交點(diǎn)為中心而在所述分割線上分別 設(shè)置在相對(duì)側(cè)同時(shí)彼此隔開(kāi)的光接收部上。
8、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的拾取裝置，其中所述分割偏轉(zhuǎn)裝置的所述 四個(gè)區(qū)域被形成為以所述分割線之間的交點(diǎn)為公共原點(diǎn)，位于所述分割 偏轉(zhuǎn)裝置的一對(duì)對(duì)頂角位置的所述兩個(gè)區(qū)域具有基于所述光檢測(cè)器的所 述分割線之間的交點(diǎn)而設(shè)定的全息案，并且位于所述分割偏轉(zhuǎn)裝置 的另一對(duì)對(duì)頂角位置的所述兩個(gè)區(qū)域具有基于與所述光檢測(cè)器的所述分 割線之間的交點(diǎn)隔開(kāi)的所述分割線上的兩點(diǎn)而設(shè)定的全息案。
9、 根據(jù)權(quán)利要求1至8中的任意一項(xiàng)所述的拾取裝置，其中在所述 光檢測(cè)器的所述光接收部之間設(shè)置不透明遮光區(qū)。
10、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的拾取裝置，其中所述分割裝置包括用于 遮蔽光以作為光學(xué)作用的不透明分割遮光裝置，并且所述分割裝置由所 述分割線和與所述分割線垂直的第二分割線分割。
全文摘要
一種拾取裝置包括照射光學(xué)系統(tǒng)以及檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)，該照射光學(xué)系統(tǒng)包括用于將光通量聚焦在光學(xué)記錄介質(zhì)的記錄表面的軌道上以形成束點(diǎn)的物鏡，該光學(xué)記錄介質(zhì)具有多個(gè)層疊的記錄層，在記錄層之間夾有間隔層；該檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)包括具有用于接收通過(guò)物鏡從記錄層反射的返回光以進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換的多個(gè)光接收部的光檢測(cè)器，該拾取裝置根據(jù)從光接收部的輸出計(jì)算出的電信號(hào)來(lái)控制所述物鏡的位置。該拾取裝置還包括像散裝置，其用于將像散提供到指向光接收部的返回光；以及分割裝置，其具有被以返回光的光軸為中心在像散方向上延伸的分割線分割出的分割區(qū)，按照各個(gè)分割區(qū)進(jìn)行分割，而沿著返回光的光軸，將具有像散的返回光分割為多個(gè)部分光通量。彼此相鄰的分割區(qū)為所述部分光通量提供光學(xué)作用，使得在光接收部上不會(huì)發(fā)生相應(yīng)的部分光通量之間的干擾。
文檔編號(hào)G11B7/135GK101490757SQ20078002625
公開(kāi)日2009年7月22日 申請(qǐng)日期2007年7月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年7月13日
發(fā)明者小池克宏, 小笠原昌和, 柳澤琢磨 申請(qǐng)人:先鋒株式會(huì)社