專利名稱：信息記錄設備測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種信息記錄設備測試方法。
技術(shù)背景信息記錄設備已經(jīng)廣泛應用于消費性電子及信息產(chǎn)業(yè)中，例如CD刻錄機、可以讀取DVD 并能刻錄CD的康寶、計算機用DVD刻錄機及家用DVD錄像機等。這些信息記錄設備由于其可供 用戶刻錄照片、文檔、音視頻數(shù)據(jù)而應用日漸廣泛。另外，可保存更大容量數(shù)據(jù)的信息記錄 設備也開始普及應用，如Blu-ray刻錄機和HD-DVD刻錄機等。信息記錄設備在出廠銷售前，都要進行嚴格的測試，以確定該光盤驅(qū)動器是否符合規(guī)范 。傳統(tǒng)的信息記錄設備測試方法為刻錄一張完整的光盤，即從光盤的內(nèi)圈刻錄到光盤的外圈 ，再做刻錄質(zhì)量的檢査。然而，刻錄一張完整的光盤通常需要較長的時間，這對于減少測試 時間，提高生產(chǎn)效率不利。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，有必要提供一種減少測試時間的信息記錄設備測試方法。一種信息記錄設備測試方法，其包括以下步驟將用于測試的光盤劃分成預定長度的測 試區(qū)域；檢査光盤的某一所述測試區(qū)域內(nèi)是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)，所述測試區(qū)域的起始地址作為 初始的檢査地址；若從所述檢査地址開始的所述預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，則將所述檢査地址 增加一所述預定長度直至增加后的檢査地址大于或等于光盤最外圈地址或從所述增加后的檢 査地址開始的預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù)，將測試開始地址設定為所述增加后的檢査地址減小一 所述預定長度；若從所述檢査地址開始的所述預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù)，則將所述檢査地址減 小一所述預定長度直至減小后的檢査地址開始的所述預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，將所述測試開 始地址設定為所述減小后的檢査地址；從所述測試開始地址開始進行所述刻錄測試。上述信息記錄設備測試方法在每次測試時僅在預定長度的測試區(qū)域內(nèi)測試，不需刻錄一 張完整的光盤，減少了測試時間，提高了生產(chǎn)效率。


圖l為光盤的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為一較佳實施方式的信息記錄設備測試方法流程圖。 圖3為圖1所示的光盤第一次用于測試的測試開始地址尋找示意圖。4圖4為圖1所示的光盤第二次用于測試的測試開始地址尋找示意圖。圖5為上次測試開始的地址位于圖1所示的光盤的已刻錄的區(qū)域時測試開始地址尋找示意圖。圖6為上次測試開始的地址位于圖1所示的光盤的未刻錄的區(qū)域時測試開始地址尋找示意圖。
具體實施方式
請參閱圖l，其為光盤100的結(jié)構(gòu)示意圖。光盤100包括導入?yún)^(qū)102、數(shù)據(jù)區(qū)104及導出區(qū) 106。其中，導入?yún)^(qū)102用于記錄數(shù)據(jù)區(qū)104中數(shù)據(jù)的起始與結(jié)束地址等信息，數(shù)據(jù)區(qū)104用于 記錄用戶數(shù)據(jù)，導出區(qū)106用于表示光盤100中數(shù)據(jù)的結(jié)束，使信息記錄設備能連續(xù)平滑地讀 出。光盤100在裝入信息記錄設備后，首先確定光盤100的種類，然后信息記錄設備依據(jù)光盤 IOO的種類進入相應光盤種類的對應程序，接著檢査導入?yún)^(qū)102是否已經(jīng)寫入數(shù)據(jù)。如果沒有 ，則光盤100的空白光盤識別方式完成；如果寫入了數(shù)據(jù)，則信息記錄設備需要將數(shù)據(jù)讀出 。在對光盤100進行刻錄測試時，為減少測試時間，信息記錄設備測試方法采用空白光盤的 識別方式，即本信息記錄設備測試方法在測試時，光盤的導入?yún)^(qū)102始終為空，即未寫入數(shù) 據(jù)。采用了空白光盤的識別方式后，節(jié)省了讀取導入?yún)^(qū)102中數(shù)據(jù)的時間，提高了生產(chǎn)效率本信息記錄設備測試方法將光盤100的數(shù)據(jù)區(qū)104劃分成預定長度的測試區(qū)域108，每一 測試區(qū)域108用于刻錄測試數(shù)據(jù)。測試區(qū)域的長度可以通過光盤100的高位地址減去低位地址 之間的差值來確定。每次對信息記錄設備進行測試時，信息記錄設備僅刻錄一個測試區(qū)域。在對信息記錄設備進行測試時，首先檢査光盤的某一測試區(qū)域108內(nèi)是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù) ，將測試區(qū)域108的起始地址作為最初的檢査地址。若從檢査地址開始的預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，則將檢査地址增加一預定長度直至增加后 的檢査地址大于或等于光盤最外圈地址或從增加后的檢査地址開始的預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù) ，將測試開始地址設定為增加后的檢査地址減小一預定長度。若從檢査地址開始的預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù)，則將檢査地址減小一預定長度直至減小后 的檢査地址開始的預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，將測試開始地址設定為減小后的檢査地址。確定測試開始地址后，從測試開始地址開始進行所述刻錄測試。上述信息記錄設備測試方法具體工作流程請參閱圖2，其為一種較佳的信息記錄設備測 試方法流程示意圖。首先，步驟200，將光盤100的數(shù)據(jù)區(qū)104劃分成預定長度的測試區(qū)域108。 步驟202，設標志位為O。標志位用于控制流程的跳轉(zhuǎn)。請一并參閱圖3，步驟204，將信息記錄設備的檢査地址設為上次測試開始地址A1減去預 定長度L，即目前檢査地址為A2。檢査地址為對測試區(qū)域進行刻錄與否的檢査時的起始地址 ，從檢査地址到檢査地址加預定長度L之間的區(qū)域為測試區(qū)域。如果是第一次測試，即光盤 100為全新的空白光盤，則步驟204中的上次測試開始地址為數(shù)據(jù)區(qū)104中最靠近導出區(qū)的地 址，即數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址。步驟206，從步驟204中設定的目前檢査地址A2開始，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù) 據(jù)進行檢査。例如，從目前檢査地址A2由內(nèi)向外取5個測試點進行檢査。檢査的方式可以設 定激光功率為讀取光盤100中數(shù)據(jù)的功率，并根據(jù)反射回來的信號判斷測試點是否刻錄過。步驟208為判斷測試區(qū)域內(nèi)是否為已刻錄區(qū)，即根據(jù)步驟206的檢査結(jié)果判斷測試區(qū)域內(nèi) 是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)。如果已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)，則進入步驟218;如果未刻錄數(shù)據(jù)，則進入步驟 210。當然，如果光盤100是第一次用于測試，則未刻錄數(shù)據(jù)，進入步驟210。步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。步驟212為將檢査地址設為目前檢査地址A2加預定長度L，即檢査地址被設為上次測試開 始的地址A1。對于第一次用于測試的光盤IOO，檢査地址被設為數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址。步驟214為判斷檢査地址A1是否大于或等于最外圈地址，如果大于或等于最外圈地址， 則進入步驟216;如果小于最外圈地址，則返回步驟206。對于第一次用于測試的光盤IOO， 檢査地址A1被設為數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址等于最外圈地址，進入步驟216。步驟216為設定測試開始地址為目前檢査地址A1減去預定長度L，即測試開始地址被設為 A2。對于第一次用于測試的光盤IOO，測試開始地址為數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址減去預定長度 L。設定完測試開始地址后，步驟222，信息記錄設備開始從測試開始地址刻錄數(shù)據(jù)到光盤 100，根據(jù)刻錄結(jié)果檢測信息記錄設備的性能。測試完一臺信息記錄設備后，光盤100可以被 用于下一臺信息記錄設備的測試。請一并參閱圖4，圖4中黑色粗線部分表示已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)，即在第一次測試過程中刻錄的 數(shù)據(jù)。光盤100第二次被用于測試的工作流程如下步驟202，設標志位為O。步驟204，將信息記錄設備的檢査地址設為上次測試開始地址A2減去預定長度L，即目前 檢査地址為A3。步驟206，從步驟204中設定的檢査地址A3開始，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進 行檢査。步驟208為判斷測試區(qū)域內(nèi)是否為已刻錄區(qū)，即根據(jù)步驟206的檢査結(jié)果判斷測試區(qū)域內(nèi) 是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)。如果已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)，則進入步驟218;如果未刻錄數(shù)據(jù)，則進入步驟 210。由圖4可知，光盤100第二次用于測試時，從檢査地址A3開始的測試區(qū)域內(nèi)并未刻錄數(shù)據(jù)。步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。步驟212為將檢査地址設為目前檢査地址A3加預定長度L，即檢査地址被設為上次測試開 始的地址A2 。對于第二次用于測試的光盤100，檢査地址被設為數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址減去 預定長度L。步驟214為判斷檢査地址是否大于或等于最外圈地址，對于第二次用于測試的光盤IOO， 檢査地址為數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址減去預定長度L，因而小于最外圈地址，返回步驟206。步驟206，從步驟212中設定的檢査地址A2開始，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進 行檢査，由圖4可知，檢査地址A2 (即數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高地址減去預定長度L)開始的測試 區(qū)域內(nèi)已經(jīng)刻錄了數(shù)據(jù)，進入步驟218。步驟218為判斷標志位是否為1。由于步驟210中，標志位已經(jīng)被設為l，因而流程進入步 驟220。步驟220為設定測試開始地址為目前檢査地址A2減去預定長度L，即數(shù)據(jù)區(qū)104中的最高 地址減去兩個預定長度L，亦即測試開始地址為A3。設定完測試開始地址后，步驟222，信息記錄設備開始從測試開始地址A3刻錄數(shù)據(jù)到光 盤IOO，根據(jù)刻錄結(jié)果檢測信息記錄設備的性能。類似地，光盤可以進行第三、第四、第五 等多次測試，其工作流程與第二次類似，不再贅述。本測試方法將光盤100分成若干個測試區(qū)域，每個測試區(qū)域具有預定長度L。每次對信息 記錄設備進行測試時，信息記錄設備僅刻錄一個測試區(qū)域，即只刻錄了預定長度L。因此， 本測試方法不需要刻錄整個光盤，僅需刻錄預定長度L，減少測試時間，提高了生產(chǎn)效率。 另外，本測試方法將測試區(qū)域設于光盤100的外圈，因而信息記錄設備在測試時可以以較高 速度刻錄測試區(qū)域，便于測試信息記錄設備的性能。并且，本測試方法可以設定每一光盤用 于測試的次數(shù)，每測試完一次后測試區(qū)域從光盤的外圈逐漸向內(nèi)圈移動，提高測試光盤的利 用率。另外，當光盤100被用于多個測試系統(tǒng)，即測試系統(tǒng)儲存的上次測試開始的地址不同于光盤1 OO上次實際測試開始的地址時，圖2所示的方法工作流程如下請一并參閱圖5，當測試系統(tǒng)儲存的上次測試開始的地址位于光盤100已經(jīng)刻錄的區(qū)域時 ，例如圖5所示的A3，而光盤100上次實際測試開始的地址為A5，圖2所示的方法工作流程為步驟202，設標志位為O。步驟204，將信息記錄設備的檢査地址設為上次測試開始地址A3減去預定長度L， g卩A4。 步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A4到A3的測試區(qū)域內(nèi)為已刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟218。步驟218中，由于步驟202中，標志位已經(jīng)被設為O，因而流程進入步驟224。 步驟224為將檢査地址設為目前檢査地址A4減去預定長度L， g卩A5，然后返回步驟206。 步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A5到A4的測試區(qū)域內(nèi)為已刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟218。步驟218中，由于標志位仍然為O，因而流程進入步驟224。步驟224為將檢査地址設為目前檢査地址A5減去預定長度L， g卩A6，然后返回步驟206。 步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A6到A5的測試區(qū)域內(nèi)為 未刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟210。 步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。 步驟212為將檢査地址設為目前檢査地址A6加預定長度L， g卩A5。步驟214為判斷檢査地址A5是否大于或等于最外圈地址，顯然，A5小于最外圈地址，返 回步驟206。步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A5到A4的測試區(qū)域內(nèi)為 已刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟218。步驟218為判斷標志位是否為1。由于步驟210中，標志位已經(jīng)被設為l，因而流程進入步 驟220。步驟220為設定測試開始地址為目前檢査地址A5減去預定長度L， g卩A6。 請一并參閱圖6，當測試系統(tǒng)儲存的上次測試開始的地址位于光盤100未刻錄的區(qū)域時， 例如圖6所示的A4，而光盤100上次實際測試開始的地址為A2，圖2所示的方法工作流程為 步驟202，設標志位為O。步驟204，將信息記錄設備的檢査地址設為上次測試開始地址A4減去預定長度L， g卩A5。 步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A5到A4的測試區(qū)域內(nèi)為未刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟210。 步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。步驟212為設定檢査地址設為目前檢査地址A5加預定長度L， g卩A4。步驟214為判斷檢査地址A4是否大于或等于最外圈地址，顯然，A4小于最外圈地址，返 回步驟206。步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A4到A3的測試區(qū)域內(nèi)為 未刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟210。 步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。步驟212為設定檢査地址設為目前檢査地址A4加預定長度L， g卩A3。步驟214為判斷檢査地址A3是否大于或等于最外圈地址，顯然，A3同樣小于最外圈地址 ，返回步驟206。步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A3到A2的測試區(qū)域內(nèi)為 未刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟210。 步驟210為設標志位為1，然后進入步驟212。步驟212為設定檢査地址設為目前檢査地址A3加預定長度L， g卩A2。 步驟214為判斷檢査地址A2是否大于或等于最外圈地址，顯然，A2也小于最外圈地址， 返回步驟206。步驟206，對測試區(qū)域內(nèi)進行是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)進行檢査，由于A2到A1的測試區(qū)域內(nèi)為 已刻錄區(qū)，因而經(jīng)步驟208的判斷后進入步驟218。步驟218為判斷標志位是否為1。由于步驟210中，標志位已經(jīng)被設為l，因而流程進入步 驟220。步驟220為設定測試開始地址為目前檢査地址A2減去預定長度L， g卩A3。 上述測試方法在光盤100被用于多個測試系統(tǒng)時，同樣可正確地尋找到測試開始地址， 提高了光盤100的利用效率。
權(quán)利要求
1. 一種信息記錄設備測試方法，其包括以下步驟將用于測試的光盤劃分成預定長度的測試區(qū)域；檢查光盤的某一所述測試區(qū)域內(nèi)是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)，所述測試區(qū)域的起始地址作為初始的檢查地址；若從所述檢查地址開始的所述預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，則將所述檢查地址增加一所述預定長度直至增加后的檢查地址大于或等于光盤最外圈地址或從所述增加后的檢查地址開始的預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù)，將測試開始地址設定為所述增加后的檢查地址減小一所述預定長度；若從所述檢查地址開始的所述預定長度內(nèi)已刻錄數(shù)據(jù)，則將所述檢查地址減小一所述預定長度直至減小后的檢查地址開始的所述預定長度內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，將所述測試開始地址設定為所述減小后的檢查地址；從所述測試開始地址開始進行所述刻錄測試。
2.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于所述 檢査光盤的某一測試區(qū)域內(nèi)是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)的步驟的檢査地址為上次測試開始地址減去一 所述預定長度。
3.如權(quán)利要求2所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于第一 次用于測試的光盤的所述上次測試開始地址為光盤的數(shù)據(jù)區(qū)中最靠近導出區(qū)的地址。
4.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于還包 括設標志位為0的步驟。
5.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于若從 所述檢査地址開始的測試區(qū)域內(nèi)未刻錄數(shù)據(jù)，還包括將標志位設為l的步驟。
6.如權(quán)利要求5所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于還包 括判斷標志位是否為l的步驟，若所述標志位不為l，則執(zhí)行所述將檢査地址減小一預定長度 后返回所述檢査光盤的測試區(qū)域內(nèi)是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)的步驟。
7.如權(quán)利要求5所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于還包括判斷標志位是否為l的步驟，若所述標志位為l，則執(zhí)行所述將測試開始地址設定為檢査地 址減小一預定長度的步驟。
8.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于所述 測試方法采用空白光盤的識別方式，在光盤的導入?yún)^(qū)內(nèi)不寫入數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于所述 測試方法在測試信息記錄設備時，將測試區(qū)域設于光盤的外圈，測試區(qū)域從光盤的外圈逐漸 向內(nèi)圈移動。
10.如權(quán)利要求l所述的信息記錄設備測試方法，其特征在于所述 是否已經(jīng)刻錄數(shù)據(jù)的檢査通過從所述檢査地址開始從所述光盤由內(nèi)向外取測試點進行檢査。
全文摘要
一種信息記錄設備測試方法，將用于測試的光盤劃分成預定長度的測試區(qū)域，在該測試區(qū)域內(nèi)進行刻錄測試。上述信息記錄設備測試方法在每次測試時僅在預定長度的測試區(qū)域內(nèi)測試，不需刻錄一張完整的光盤，減少了測試時間，提高了生產(chǎn)效率。
文檔編號G11B20/18GK101261847SQ20071020025
公開日2008年9月10日 申請日期2007年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月7日
發(fā)明者劉鶴瑤 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司