專利名稱：恢復(fù)硬件的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
這個(gè)發(fā)明涉及具有高速緩存設(shè)計(jì)的SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，并且尤其涉及在故障之后恢復(fù)硬件。
背景技術(shù)：
隨著SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)繼續(xù)提高性能，高速緩存設(shè)計(jì)以指數(shù)形式增長(zhǎng)。這些較大的高速緩存大小正使得它非常有可能具有軟和硬陣列故障。先前，添加一種稱為集合刪除(set delete)的功能以刪除具有已知缺陷的高速緩存部分。然而，大部分的現(xiàn)有技術(shù)從高速緩存中刪除大量的集合或者隔間(compartment)。在優(yōu)選實(shí)施例中使用的現(xiàn)有技術(shù)允許刪除在同余類內(nèi)的一個(gè)隔間而不是全部刪除隔間。
這個(gè)發(fā)明的現(xiàn)有技術(shù)中的另一個(gè)方面允許清除已經(jīng)遇到錯(cuò)誤的高速緩存線。如果錯(cuò)誤是可校正的，則重新校正該數(shù)據(jù)，并且將其作為干凈的數(shù)據(jù)在原有位置或者不同位置處再次輸入高速緩存中。如果相同的集合/隔間再次發(fā)生故障(即硬故障)，則進(jìn)行系統(tǒng)日志記錄，注銷所有發(fā)生故障的數(shù)據(jù)，并且清除和刪除那個(gè)位置以避免其在將來的使用。優(yōu)選實(shí)施例使用硬件來進(jìn)行這個(gè)清除/刪除。通過軟件代碼進(jìn)行日志記錄。
即使這些硬件特征提供了可靠性的益處，但是通常必須在可以嘗試重新啟動(dòng)之前替換有缺陷的部分。原因是因?yàn)楫?dāng)還沒有為陣列中發(fā)生故障的部分熔斷(blow)熔絲時(shí)，通常將不會(huì)經(jīng)過陣列內(nèi)置自測(cè)試(Array Built-In Self-Test，ABIST)檢查邏輯。ABIST邏輯將使發(fā)生故障的(一個(gè)或多個(gè))地址是可用的。即使當(dāng)如Huott等人在美國(guó)專利5,805,789中所描述的那樣應(yīng)用加電修復(fù)時(shí)，也存在有沒有更多的熔絲可用于修復(fù)而且在客戶可以再次啟用機(jī)器之前將需要訂購(gòu)該部分的可能性。

發(fā)明內(nèi)容
這個(gè)發(fā)明在具有高速緩存設(shè)計(jì)的SMP(對(duì)稱計(jì)算機(jī))系統(tǒng)中是有用的，并且使得能夠恢復(fù)硬件。它通?？蓱?yīng)用于包括具有熔絲、熔絲控制和線刪除的高速緩存設(shè)計(jì)在內(nèi)的各種類型的高速緩存設(shè)計(jì)，而且尤其可應(yīng)用于這樣的設(shè)備和方法，所述設(shè)備和方法用于在重復(fù)的陣列故障時(shí)刪除線、記錄故障地址和單元信息、確定和保留熔絲信息以用于將來重新啟動(dòng)硬件、當(dāng)熔絲不可用時(shí)呼叫總部(call home)、在重新啟動(dòng)時(shí)運(yùn)行陣列內(nèi)置自測(cè)試(ABIST)、以及在重新啟動(dòng)期間使用熔斷熔絲信息、保留熔絲信息和新標(biāo)識(shí)的ABIST故障信息來設(shè)置軟熔絲，以允許高速緩存即使在出現(xiàn)幾個(gè)可靠性問題之后也可以進(jìn)行操作。
本發(fā)明還允許在下一次重新啟動(dòng)時(shí)保存線刪除信息，運(yùn)行ABIST以測(cè)試陣列，并且允許如果通過線刪除僅僅保護(hù)了ABIST故障的話則進(jìn)行重新啟動(dòng)。
本發(fā)明還提供了一種在軟件表格、可編程電子熔絲、和/或EPROM硬件中永久地保存熔絲結(jié)果的方法。
通過本發(fā)明的技術(shù)實(shí)現(xiàn)了另外的特征和優(yōu)點(diǎn)。此處詳細(xì)描述了本發(fā)明的其它實(shí)施例和方面，而且這些其它實(shí)施例和方面被認(rèn)為是所要求保護(hù)的發(fā)明的一部分。為了更好地理解本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征，可參考該描述和附圖。


在權(quán)利要求書中特別地指出和清楚地要求了被認(rèn)為是本發(fā)明的主題。通過以下結(jié)合附圖的詳細(xì)說明，本發(fā)明的上述及其它目的、特征、和優(yōu)點(diǎn)將變得明顯，其中圖1說明了本發(fā)明中的部件的高級(jí)設(shè)計(jì)；圖2示出了高速緩存線修復(fù)表格的示例；
圖3說明了L1高速緩存線刪除流程圖；圖4說明了L2高速緩存線刪除流程圖；圖5示出了高速緩存線刪除表格的示例；圖6示出了重新啟動(dòng)修復(fù)流程；圖7示出了重新啟動(dòng)刪除/修復(fù)流程；圖8a示出了將可編程熔絲信息掃描到鎖存器中的步驟；圖8b示出了將修復(fù)信息燒入電子熔絲中的步驟；以及圖8c示出了將修復(fù)信息寫入到可擦可編程序只讀存儲(chǔ)器(EPROM)中的步驟。
詳細(xì)說明參考附圖通過舉例解釋了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例以及優(yōu)點(diǎn)和特征。
具體實(shí)施例方式
為了展開本發(fā)明的詳細(xì)說明，讀者應(yīng)該記住，這里的優(yōu)選實(shí)施例允許高速緩存熔絲信息的自管理，以允許高速緩存通過代碼和硬件支持對(duì)其自身進(jìn)行自修復(fù)。
在優(yōu)選實(shí)施例中，使用代碼將“熔斷”或者“硬”熔絲數(shù)據(jù)從硬件讀到表格中。這通常在機(jī)器的初始啟動(dòng)時(shí)完成。如果表格已經(jīng)存在了，則不必將條目重讀到表格中。
記錄的故障數(shù)據(jù)用于確定可能需要哪個(gè)熔絲值集合以重定位發(fā)生故障的陣列段。在表格中保留這些熔絲值。如果沒有剩余的熔絲可用于重定位，則代碼可以可選地通知客戶不要重新啟動(dòng)(即IML)機(jī)器，并且呼叫總部要求另一個(gè)部分/模塊來替換有缺陷的部分。原因是因?yàn)檫\(yùn)行ABIST的重新啟動(dòng)將不會(huì)具有足夠的熔絲來運(yùn)行，而且ABIST邏輯將指示用完熔絲的、不匹配的發(fā)生故障的分段的失敗。
代碼可以可選地保留線刪除信息用于在下一次IML期間使用，而不是將它們轉(zhuǎn)換為修復(fù)。在ABIST完成之后，將任何故障與已知的線刪除進(jìn)行比較，以確保在ABIST中沒有還未被線刪除所涵蓋的發(fā)生故障的區(qū)域。
如果存在有因?yàn)閯h除在時(shí)間上太接近而無法同時(shí)記錄它們而導(dǎo)致在日志中遺漏的刪除的話，則代碼也呼叫總部。這是非常不可能的事情，但是代碼允許保護(hù)客戶，從而在下一次重新啟動(dòng)期間不會(huì)有無熔絲的奇怪故障的風(fēng)險(xiǎn)。
另一個(gè)方面出現(xiàn)在IML或者重新啟動(dòng)序列期間。經(jīng)由掃描，而不是嚴(yán)格地依賴于硬熔絲設(shè)置，將熔絲表格加載到設(shè)計(jì)中。這允許重定位在初始熔絲熔斷之后發(fā)生故障的故障分段。這個(gè)特征使得具有缺陷的硬件能夠現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行自修復(fù)。
優(yōu)選實(shí)施例使用電子熔絲，并且它們可以現(xiàn)場(chǎng)在芯片內(nèi)熔斷，以利用硬件永久地保存新熔絲信息，而不是在單獨(dú)的表格中保存該信息。
在替換實(shí)施例中，可以利用稱為EPROM(可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)的單獨(dú)硬件保存熔絲信息。
熔絲表格的軟件版本具有故障出現(xiàn)時(shí)的時(shí)戳，什么事件首先檢測(cè)到問題(例如，ABIST、線刪除等)，以及其它關(guān)于故障來源的有用信息。這可以以文本形式進(jìn)行以便更容易讀取。熔絲修復(fù)表格用模塊序列號(hào)進(jìn)行標(biāo)記，而且使用模塊內(nèi)的電子序列號(hào)相對(duì)于該模塊序列號(hào)進(jìn)行跟蹤。如果插入了新的模塊，則根據(jù)需要從硬熔絲信息中重新創(chuàng)建該表格。
還有一個(gè)為了線刪除而存在的、具有序列號(hào)跟蹤的刪除表格。當(dāng)沒有與線刪除相對(duì)應(yīng)的熔絲可用時(shí)，更新該熔絲表格。本發(fā)明允許在下一次重新啟動(dòng)時(shí)更新這些刪除，以便重新應(yīng)用未用熔絲進(jìn)行修復(fù)的刪除?？蛇x地，如果代碼用于分析ABIST故障以確保這些線刪除將避免這些有缺陷的區(qū)域，則可以應(yīng)用全部的刪除來代替軟或者硬熔絲修復(fù)。
當(dāng)讀者閱讀說明了本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的各個(gè)附圖的更完整描述時(shí)，可以想到這些特征和優(yōu)點(diǎn)。
現(xiàn)在轉(zhuǎn)向圖1，注意到，其中有對(duì)稱多處理器SMP硬件11，其包含時(shí)鐘芯片12、一個(gè)或多個(gè)CP芯片13、以及一個(gè)或多個(gè)高速緩存芯片14。在每個(gè)所述高速緩存芯片14內(nèi)，存在一個(gè)或多個(gè)高速緩存陣列24，陣列內(nèi)置自測(cè)試(ABIST)邏輯15，熔絲控制邏輯16，以及設(shè)陷(trap)、清除、刪除邏輯17。在所述一個(gè)或多個(gè)CP芯片13內(nèi)，存在有記錄代碼(例如，CP微碼)18，其可以傳送來自所述高速緩存芯片14的發(fā)生故障的陣列的信息；以及服務(wù)單元19，其運(yùn)行服務(wù)單元代碼20，該代碼20對(duì)修復(fù)表格21和刪除表格22進(jìn)行讀寫，并且可以進(jìn)行呼叫總部的動(dòng)作23。還可選地具有電子熔絲25，其可以被熔斷以保存熔絲信息。還可選地具有可擦可編程只讀存儲(chǔ)器(EPROM)26，其還可以用于存儲(chǔ)熔絲和修復(fù)信息。
當(dāng)在高速緩存陣列24中出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，設(shè)陷、清除、刪除邏輯17收集有關(guān)該故障的信息。如果故障是新的(即，之前沒有遇到該特定高速緩存位置)，則清除該高速緩存條目。如果發(fā)生故障的陣列位置先前早已經(jīng)發(fā)生過故障，則清除該高速緩存條目，而且硬件刪除該高速緩存位置以便不會(huì)再次使用該位置。所述記錄代碼18通過時(shí)鐘芯片12將這個(gè)故障信息傳送到服務(wù)單元19。服務(wù)單元代碼20在讀取發(fā)生故障的高速緩存信息時(shí)，基于是否有任何未被記錄的遺漏的刪除來確定是否呼叫總部23。代碼20還確定將需要哪些熔絲用于修復(fù)缺陷，并且將這些熔絲與所述修復(fù)表格21進(jìn)行比較。如果在該表格中沒有剩余足夠的修復(fù)用于該給定的缺陷，則代碼20呼叫總部，并且通知系統(tǒng)操作員不要重新啟動(dòng)機(jī)器。當(dāng)沒有找到用于該缺陷的修復(fù)時(shí)，代碼20將在刪除表格22中構(gòu)造用于該刪除的條目。這個(gè)刪除可以在下一次重新啟動(dòng)時(shí)重新應(yīng)用于硬件。代碼20還可以一般在下一次IML窗口期間，更永久地將熔絲信息存儲(chǔ)在電子熔絲25中。這通常通過將期望的熔絲信息掃描到掃描環(huán)(例如軟熔絲邏輯16)中、并且施加更新電子熔絲信息的寫電壓來實(shí)現(xiàn)。代碼20還可以使用傳統(tǒng)方法在稱為EPROM(可擦可編程只讀存儲(chǔ)器)26的單獨(dú)的硬件存儲(chǔ)區(qū)域中存儲(chǔ)熔絲信息。
應(yīng)當(dāng)注意到，高速緩存陣列24的優(yōu)選實(shí)施例包含用于檢測(cè)發(fā)生故障的校正子(syndrome)的錯(cuò)誤校正邏輯。設(shè)陷、清除、刪除邏輯17跟蹤該發(fā)生故障的地址、集合或者隔間、以及在該陣列中使用的ECC的發(fā)生故障的校正子。如果出現(xiàn)可校正的錯(cuò)誤，則校正子可用于檢測(cè)陣列中發(fā)生故障的位，并且因此檢測(cè)發(fā)生故障的熔絲位置。然而，當(dāng)出現(xiàn)無法校正的錯(cuò)誤(UE)時(shí)，對(duì)發(fā)生故障的熔絲的隔離未必是精確的(即，可能有一個(gè)以上的可能熔絲)。因此，對(duì)于高速緩存中的UE來說，優(yōu)選實(shí)施例將一個(gè)故障映射到四個(gè)熔絲，每個(gè)熔絲用于高速緩存的、各個(gè)位可能已經(jīng)來源于其中的每個(gè)區(qū)域。
圖2所示的修復(fù)表格是在優(yōu)選實(shí)施例中使用的修復(fù)表格的示例。所述修復(fù)表格21包含一個(gè)ASCII、列相關(guān)的可讀表格，該表格由各個(gè)芯片和陣列上的修復(fù)位置、修復(fù)的時(shí)戳、導(dǎo)致修復(fù)的錯(cuò)誤類型、以及熔絲是否是壞的構(gòu)成。它還包含硬件的序列號(hào)以及最初創(chuàng)建該文件時(shí)的時(shí)戳。
轉(zhuǎn)向圖3，注意到，當(dāng)處理L1高速緩存故障時(shí)，代碼實(shí)現(xiàn)了以下步驟接收有關(guān)故障的信息(31)，保留執(zhí)行刪除的重新啟動(dòng)處理(32)，以及確定這是否是這種類型的第一次刪除(33)。如果這是這種類型的第一次刪除，則將單元id及其他信息添加到刪除表格中(34)。將結(jié)果寫入到刪除表格中(35)。
轉(zhuǎn)向圖4，注意到，當(dāng)處理L2高速緩存故障時(shí)，代碼實(shí)現(xiàn)了以下步驟接收有關(guān)故障的信息(41)，確定其是否為替換(42)，以及在替換的情況下、保留該替換(49)。
如果事件不是替換，則確定其是否是清除或者刪除(43)。如果事件是清除，則執(zhí)行以下步驟遞增清除計(jì)數(shù)(50)，確定清除計(jì)數(shù)是否超過閾值(51)，以及如果其超過閾值則呼叫總部(52)，而如果沒有超過閾值則沒有錯(cuò)誤地退出(53)。
如果事件是刪除，則執(zhí)行以下步驟保留執(zhí)行刪除的重新啟動(dòng)處理(44)，將刪除條目和時(shí)戳一起添加到刪除表格22中(45)，檢查遺漏的刪除(46)，以及如果從記錄的數(shù)據(jù)中遺漏了刪除則呼叫總部(48)，而如果沒有遺漏的刪除則沒有錯(cuò)誤地退出(47)。
圖5所示的刪除表格是在優(yōu)選實(shí)施例中使用的刪除表格的示例。所述刪除表格22包含PU部分(用于Cp)，該部分是ASCII、列相關(guān)的可讀表格，其由各個(gè)L1芯片與陣列上的刪除位置、刪除時(shí)戳及其它刪除信息構(gòu)成。此外，還具有L2部分，該部分是ASCII、列相關(guān)的可讀表格，其由各個(gè)L2芯片與陣列上的刪除位置、刪除時(shí)戳、發(fā)生故障的交錯(cuò)、校正子、隔間、地址以及該故障的時(shí)戳構(gòu)成。
轉(zhuǎn)向圖6，注意到其是帶有修復(fù)的、用于重新啟動(dòng)系統(tǒng)的過程。當(dāng)重新啟動(dòng)該系統(tǒng)(61)時(shí)，重置高速緩存及其他陣列(62)。然后，根據(jù)表格應(yīng)用陣列修復(fù)(63)。運(yùn)行ABIST(64)，以測(cè)試該陣列。分析ABIST故障(65)。如果沒有故障，則IML成功地完成(66)。然而，如果存在有故障，則檢查可用的修復(fù)(67)。如果沒有可用的修復(fù)，則IML失敗并且呼叫總部以獲得支持(68)。如果有可用的熔絲，則將新的熔絲修復(fù)添加到修復(fù)的陣列中(69)。然后再次運(yùn)行ABIST(64)。此后，IML應(yīng)該是成功的。
轉(zhuǎn)向圖7，注意到其是帶有刪除和修復(fù)的、用于重新啟動(dòng)系統(tǒng)的過程。當(dāng)重新啟動(dòng)系統(tǒng)(71)時(shí)，重置高速緩存及其他陣列(72)。然后，根據(jù)表格應(yīng)用陣列修復(fù)和刪除(73)。運(yùn)行ABIST(74)，以測(cè)試該陣列。分析ABIST故障(75)。如果沒有故障，則IML成功地完成(76)。然而，如果存在有故障，則將每個(gè)故障與線刪除列表進(jìn)行比較(77)。當(dāng)然，這要求ABIST結(jié)果具有足夠的信息可用于確定將影響哪些線。如果確定所有的故障都由線刪除保護(hù)了，則IML成功地完成(76)。如果存在有任何未被線刪除所涵蓋的故障，則檢查修復(fù)的可用性(78)。如果沒有相應(yīng)的修復(fù)可用，則IML失敗而且將為這些部分呼叫總部(79)。如果有修復(fù)可用，則應(yīng)用新的修復(fù)(80)，并且再次運(yùn)行ABIST(74)。這個(gè)時(shí)候，應(yīng)該沒有剩余的未被線刪除所涵蓋的故障。
轉(zhuǎn)向圖8a，注意到其是帶有軟寄存器修復(fù)的、用于重新啟動(dòng)系統(tǒng)的過程。當(dāng)重新啟動(dòng)系統(tǒng)(90)時(shí)，有這樣一個(gè)步驟用期望的修復(fù)值掃描熔絲環(huán)(91)，由此更新鎖存器以便保持熔絲值。保持這些熔絲修復(fù)值，并且向陣列提供所需的冗余編程以便繞過(workaround)陣列的損壞部分。
轉(zhuǎn)向圖8b，注意到其是帶有電子熔絲修復(fù)的、用于重新啟動(dòng)系統(tǒng)的過程。當(dāng)重新啟動(dòng)系統(tǒng)(94)時(shí)，有這樣一個(gè)步驟利用期望的修復(fù)值將電子熔絲信息燒入電子熔絲中(95)，由此建立永久的修理設(shè)置。存在有各種燒制電子熔絲的方法。優(yōu)選實(shí)施例包括設(shè)置較高的“燒制”電壓，當(dāng)施加該電壓時(shí)，其可用于永久地熔斷電子熔絲。保持這些熔絲修復(fù)值，并且向陣列提供所需的冗余編程以便繞過陣列的損壞部分。即使系統(tǒng)掉電時(shí)，這個(gè)電子熔絲修復(fù)信息也將保持在硬件中。
轉(zhuǎn)向圖8c，注意到，其為具有可擦可編程只讀存儲(chǔ)器(EPROM)熔絲修復(fù)的、用于重新啟動(dòng)系統(tǒng)的過程。當(dāng)重新啟動(dòng)系統(tǒng)(98)時(shí)，有這樣一個(gè)步驟利用熔絲修復(fù)信息寫EPROM(99)，由此建立永久修復(fù)設(shè)置。保持這些熔絲修復(fù)值，并且可以稍后讀出這些值并將其掃描到系統(tǒng)軟熔絲鎖存器中，以向陣列提供所需要的冗余編程以繞過陣列的損壞部分。即使系統(tǒng)掉電時(shí)，這個(gè)EPROM熔絲修復(fù)信息也將保持在硬件中。一般地，可以把這個(gè)信息壓縮到EPROM中。
雖然已經(jīng)描述了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解不管是現(xiàn)在還是將來，都可以在權(quán)利要求的范圍內(nèi)進(jìn)行各種改進(jìn)和提高。應(yīng)該將這些權(quán)利要求解釋為保持對(duì)首先描述的本發(fā)明的恰當(dāng)保護(hù)。
權(quán)利要求
1.一種在具有高速緩存的SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中恢復(fù)硬件的方法，包含步驟a)檢測(cè)高速緩存中的錯(cuò)誤；b)記錄來自運(yùn)行機(jī)器的故障信息；c)將修復(fù)重定位跟蹤到表格中；d)將修復(fù)信息加載到硬件中。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述步驟b包括記錄發(fā)生故障的ECC校正子。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，發(fā)生故障的ECC校正子用于計(jì)算重定位地址。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在步驟d中的所述硬件包括可掃描的鎖存器。
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在步驟d中的所述硬件包括電子的可熔斷熔絲。
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在步驟d中的所述硬件包括EPROM。
7.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，存在有另外的步驟將新的故障與來自步驟c中的所述表格的現(xiàn)有修復(fù)位置進(jìn)行比較。
8.如權(quán)利要求7所述的方法，其中，包括有另外的步驟如果沒有修復(fù)可用，則呼叫總部。
9.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述修復(fù)重定位用時(shí)戳進(jìn)行標(biāo)記。
10.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述修復(fù)位置用一個(gè)指示錯(cuò)誤類型的標(biāo)記進(jìn)行標(biāo)記。
11.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述表格依據(jù)序列號(hào)進(jìn)行跟蹤。
12.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述故障信息包含所執(zhí)行的刪除的總數(shù)。
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，包括另外步驟如果有遺漏的刪除，則呼叫總部。
14.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，包括另外的步驟在下一次系統(tǒng)重新啟動(dòng)期間應(yīng)用修復(fù)。
15.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，進(jìn)行一或多次重定位。
16.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，使用發(fā)生故障的地址來計(jì)算重定位地址。
17.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述跟蹤修復(fù)重定位的步驟指示現(xiàn)有的重定位發(fā)生了故障。
18.如權(quán)利要求15所述的方法，其中，另一個(gè)重定位用于替換所述現(xiàn)有的、發(fā)生故障的重定位。
19.一種在具有高速緩存的SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中恢復(fù)硬件的方法，包含步驟a)執(zhí)行高速緩存線刪除以避免使用有缺陷的高速緩存線條目，b)在系統(tǒng)重新啟動(dòng)期間重新加載高速緩存線刪除，c)分析陣列內(nèi)置自測(cè)試、即ABIST結(jié)果，以確定故障是否對(duì)應(yīng)于線刪除條目，以及d)如果所有的陣列內(nèi)置自測(cè)試、即ABIST故障都對(duì)應(yīng)于線刪除條目，則允許系統(tǒng)重新啟動(dòng)以便繼續(xù)進(jìn)行。
20.作為在使用具有高速緩存的SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)時(shí)執(zhí)行的服務(wù)，恢復(fù)硬件的步驟包含a)檢測(cè)高速緩存中的錯(cuò)誤，b)記錄來自運(yùn)行機(jī)器的故障信息，c)將修復(fù)重定位跟蹤到表格中，以及d)將修復(fù)信息加載到硬件中。
21.一種在具有高速緩存的SMP計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中恢復(fù)硬件的設(shè)備，包含用于檢測(cè)高速緩存中的錯(cuò)誤的裝置；用于記錄來自運(yùn)行機(jī)器的故障信息的裝置；用于將修復(fù)重定位跟蹤到表格中的裝置；用于將修復(fù)信息加載到硬件中的裝置。
22.如權(quán)利要求21所述的恢復(fù)硬件的設(shè)備，還包含多個(gè)用于實(shí)現(xiàn)先前方法權(quán)利要求所述的任何一種方法的裝置。
全文摘要
一種用于保護(hù)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)以防止陣列可靠性故障的設(shè)備和方法，使用陣列內(nèi)置自測(cè)試邏輯與代碼和硬件一起來刪除有缺陷的高速緩存線或者集合，標(biāo)識(shí)相應(yīng)的熔絲修復(fù)值，如果沒有多余的熔絲可用則主動(dòng)呼叫總部，為下一次系統(tǒng)重新啟動(dòng)調(diào)度軟熔絲修復(fù)，在下一次重新啟動(dòng)時(shí)調(diào)度線刪除，在表格中存儲(chǔ)刪除和熔絲修復(fù)(該表格用電子序列id、刪除或者ABIST故障事件的時(shí)戳、地址、以及故障類型進(jìn)行標(biāo)記)，并且如果存在有任何未被記錄的遺漏的刪除則主動(dòng)呼叫總部。還可以將熔絲信息更永久地存儲(chǔ)在硬件電子熔絲和/或EPROM中。在重新啟動(dòng)期間，能夠?qū)⑾惹暗男迯?fù)應(yīng)用到機(jī)器中，以便ABIST成功地運(yùn)行，而且利用檢查來維護(hù)先前的刪除，以允許某些由線刪除所保護(hù)的ABIST故障通過。
文檔編號(hào)G11C29/44GK1835125SQ200610059500
公開日2006年9月20日 申請(qǐng)日期2006年3月13日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月14日
發(fā)明者帕特里克·詹姆斯·米尼, 布萊恩·李·米奇特里, 戴維·詹姆斯·倫德, 托馬斯·約翰·尼普斯, 威廉·文森特·霍特, 普拉迪普·帕特爾 申請(qǐng)人:國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司