專利名稱：測試盤的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試盤(test disc)結(jié)構(gòu)，尤其涉及一種用于檢測光盤設(shè)備的測試盤結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
在DVD刻錄/回放設(shè)備的生產(chǎn)線上，在用于將光頭(pickup)和前端系統(tǒng)(執(zhí)行伺服控制的部分)裝配起來的組裝過程中，當(dāng)其裝配完成后進(jìn)行對DVD的測試性刻錄。如果此時刻錄失敗，則判斷為裝配有缺陷，但是仍有必要找出是光頭還是前端系統(tǒng)應(yīng)對刻錄失敗負(fù)責(zé)。因此理想的是，在組裝過程之前，即在光頭的批量生產(chǎn)過程中，由光頭自身將光頭的性能評測為刻錄光頭。
作為用于評測光頭的測試盤，可使用商用的DVD/CD混合玻璃盤。但是，由于這些測試盤具有DVD-ROM或者CD-ROM的不同格式，因此它們不完全適用于評測刻錄光頭(對用于回放的測試盤，例如可參見日本專利JP AH9-274740)。對于可刻錄DVD(DVD-R，DVD-RW，DVD+R以及DVD+RW)，還有必要附加進(jìn)行擺動(wobble)信號評測和平面預(yù)刻凹坑(land prepit，LPP)信號評測。
因此，在光頭批量生產(chǎn)過程中包含對于可刻錄DVD的光頭信號評測的情況下，進(jìn)行信號評測的一種方式就是利用商用的測試盤，這種測試盤使用聚碳酸酯作為其基底，并且其格式符合多種可刻錄DVD標(biāo)準(zhǔn)。另一方面，例如日本專利JP A H7-93829公開了一種作為測試盤的光盤，其中在有意偏離平面或溝的中心的位置上形成了預(yù)定格式的凹坑。
不便之處在于，當(dāng)上述商用的測試盤用于對DVD-系列光盤(DVD-R及DVD-RW)和DVD+系列光盤(DVD+R及DVD+RW)進(jìn)行信號評測時，更換測試盤很費(fèi)時間。此外，如果需要檢查光頭對低質(zhì)量光盤的容錯能力(這已經(jīng)成為可刻錄DVD市場的一個問題)，則還要更多時間來更換光盤，而這降低了測試效率。另一方面，當(dāng)上述日本專利JP A H7-93829所公開的光盤用作測試盤時，可以檢查光頭對具有平面預(yù)刻凹坑的低質(zhì)量DVD-系列光盤的容錯能力，卻不能對DVD+光盤進(jìn)行信號評測。因此，這也降低了測試效率。
還存在如下不便之處。使用聚碳酸酯基底的測試盤容易產(chǎn)生翹曲變形。這使得它們不能可靠地用于信號評測。使用聚碳酸酯基底的測試盤也容易受到刮擦，從而縮短其使用壽命。這使得它們在制造成本上是不利的。在記錄層中使用有機(jī)染料膜的測試盤，如只添加式(append-only)DVD(DVD-R及DVD+R)，其易于發(fā)生特性的長期性變化，這也使得它們不能可靠地用于信號評測。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種測試盤，這種測試盤可以極大地提高對用于DVD刻錄的光頭的測試效率。
為了達(dá)到上述目的，按照本發(fā)明的測試盤包括第一區(qū)，其內(nèi)設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)；第二區(qū)，其內(nèi)設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)；第三區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動頻率不同于140kHz的區(qū)域；第四區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動頻率不同于817kHz的區(qū)域；第五區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動相位差不同于180度的區(qū)域；第六區(qū)，其內(nèi)設(shè)有多個區(qū)，如在盤平面(land surface)內(nèi)所看到的，在所述多個區(qū)之間形成的平面預(yù)刻凹坑的方向彼此不同；及第七區(qū)，其內(nèi)設(shè)有多個區(qū)，如沿著光軌方向所看到的，在所述多個區(qū)之間形成的平面預(yù)刻凹坑的長度彼此不同。在這里，第一、第三、第六和第七區(qū)用于對DVD-系列的光盤進(jìn)行信號評測，而第二、第四和第五區(qū)用于對DVD+系列的光盤進(jìn)行信號評測。
利用此結(jié)構(gòu)，可以使用單張光盤對DVD-系列的光盤和DVD+系列的光盤進(jìn)行光頭的信號評測，并且檢查光頭對低精度的可刻錄DVD、例如低質(zhì)量光盤的容錯能力。因此，可以極大提高對用于DVD刻錄的光頭的測試效率。
根據(jù)本發(fā)明，優(yōu)選地，如上述構(gòu)成的測試盤還包括基底；而且，第一、第二、第三、第四、第五、第六和第七區(qū)都形成在基底上；并且，已刻錄區(qū)形成有凹坑，而未刻錄區(qū)沒有形成凹坑。
利用此結(jié)構(gòu)，凹坑形成于基底上。這樣就無需刻錄層，并因此消除了對前述的特性長期性變化的擔(dān)心。
根據(jù)本發(fā)明，優(yōu)選地，基底由玻璃形成。這使得測試盤不會產(chǎn)生翹曲變形，能可靠地用于信號評測，并且耐刮擦。因此，該測試盤的使用壽命長，制造成本低。


圖1為根據(jù)本發(fā)明的測試盤中設(shè)置的玻璃基底的局部剖視圖；圖2為根據(jù)本發(fā)明的測試盤沿徑向的不同區(qū)的布局的示例圖；圖3為在盤平面內(nèi)沿不同方向形成為點(diǎn)的平面預(yù)刻凹坑的示例圖；圖4為沿光軌方向形成為不同長度的平面預(yù)刻凹坑的示例圖；以及圖5為利用根據(jù)本發(fā)明的測試盤測試光頭的過程的流程圖。
具體實(shí)施例方式
以下描述根據(jù)本發(fā)明的測試盤結(jié)構(gòu)的實(shí)例。圖1為根據(jù)本發(fā)明的測試盤中設(shè)置的玻璃基底的局部剖視圖。如圖1所示，在玻璃基底上形成有平面1、溝2、凹坑3(形成于溝2中)和平面預(yù)刻凹坑4(僅對于DVD-系列光盤)。溝2沿光盤的徑向略有彎曲(meander)，產(chǎn)生擺動。如果激光波長為λ，則溝2形成為其深度為λ/8，凹坑3的深度為λ/8，平面預(yù)刻凹坑4的深度為λ/4。在玻璃基底的頂部上鋪設(shè)有反射層和保護(hù)層(附圖中未示出)。在此，不需要刻錄層。典型地，反射層由金、銀或類似材料形成，保護(hù)層由聚碳酸酯或類似材料形成。
圖2為根據(jù)本發(fā)明的測試盤沿徑向的不同區(qū)的布局的示例圖。從位于光盤最內(nèi)側(cè)邊緣的夾持區(qū)到光盤的外邊緣，形成有“a”至“i”區(qū)?！癮”區(qū)為DVD-ROM格式，并在玻璃基底上形成有一系列的凹坑。
“b”、“d”、“g”和“h”區(qū)是用于對DVD-系列光盤進(jìn)行信號評測的區(qū)域，而“c”、“e”和“f”區(qū)是用于對DVD+系列光盤進(jìn)行信號評測的區(qū)域。
“b”區(qū)中設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)。在DVD-系列格式中，擺動形成于溝中，而平面預(yù)刻凹坑形成于平面上。這些平面預(yù)刻凹坑形成地址信息。在已刻錄區(qū)中，凹坑3形成于溝2中(如圖1)。例如，由“b”區(qū)的內(nèi)緣依次形成有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)。這使得不管是否刻錄，都可以通過平面預(yù)刻凹坑和擺動進(jìn)行信號評測，也可以通過平面預(yù)刻凹坑進(jìn)行解碼評測。
在“c”區(qū)中設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)。在DVD+系列格式中，擺動形成于溝中(其頻率比在DVD-系列格式中更高)，而沒有形成平面預(yù)刻凹坑。擺動形成為兩種，其彼此具有180度的相位差。這兩種擺動結(jié)合起來形成地址信息，稱為ADIP。在已刻錄區(qū)中，凹坑3形成于溝2中(如圖1)。例如，由“c”區(qū)的內(nèi)緣依次形成有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)。這樣就可以通過擺動進(jìn)行信號評測，也可以通過ADIP進(jìn)行解碼評測。
“d”區(qū)中設(shè)有擺動頻率不同于140kHz的至少一個區(qū)域，其中140kHz是DVD-系列的標(biāo)準(zhǔn)值。例如，從“d”區(qū)的中心邊緣，依次形成有擺動頻率為140+αkHz的區(qū)域和擺動頻率為140-βkHz的區(qū)域。α和β的值基于擺動頻率的限定值和已經(jīng)成為市場的一個問題的低質(zhì)量光盤上的信息來確定，其中在所述擺動頻率的限定值內(nèi)光盤被評測為符合其標(biāo)準(zhǔn)。這樣就可以檢查對平面預(yù)刻凹坑的解碼的容錯能力。
“e”區(qū)中設(shè)有擺動頻率不同于817kHz的至少一個區(qū)域，其中817kHz是DVD+系列的標(biāo)準(zhǔn)值。例如，從“e”區(qū)的中心邊緣，依次形成有擺動頻率為817+αkHz的區(qū)域和擺動頻率為817-βkHz的區(qū)域。α和β的值基于擺動頻率的限定值和已經(jīng)成為市場的一個問題的低質(zhì)量光盤上的信息來確定，其中在所述擺動頻率的限定值內(nèi)光盤被評測為符合其標(biāo)準(zhǔn)。這樣就可以檢查對ADIP的解碼的容錯能力。
“f”區(qū)中設(shè)有擺動相位差不同于180度的至少一個區(qū)域，其中180度是DVD+系列的標(biāo)準(zhǔn)值。例如，從“f”區(qū)的中心邊緣，依次形成有擺動相位差為180+θ度的區(qū)域和擺動相位差為180-δ度的區(qū)域。θ和δ的值基于擺動相位差的限定值和已經(jīng)成為市場的一個問題的低質(zhì)量光盤上的信息來確定，其中在所述擺動相位差的限定值內(nèi)光盤被評測為符合其標(biāo)準(zhǔn)。這樣就可以檢查對ADIP的解碼的容錯能力。
“g”區(qū)中設(shè)有多個區(qū)，如在盤平面內(nèi)所看到的，在所述多個區(qū)之間形成的平面預(yù)刻凹坑的方向彼此不同。例如，如圖3所示，從“g”區(qū)的內(nèi)緣，依次形成有其平面預(yù)刻凹坑的中心線被旋轉(zhuǎn)從而相對于光軌的方向傾斜θ度的一個區(qū)域和其平面預(yù)刻凹坑的中心線被旋轉(zhuǎn)從而相對于光軌的方向傾斜-δ度的另一個區(qū)域。θ和δ的值基于平面預(yù)刻凹坑方向的限定值和已經(jīng)成為市場的一個問題的低質(zhì)量光盤上的信息來確定，其中在所述平面預(yù)刻凹坑方向的限定值內(nèi)光盤被評測為符合其標(biāo)準(zhǔn)。這樣就可以檢查對平面預(yù)刻凹坑的解碼的容錯能力。
“h”區(qū)中設(shè)有多個區(qū)，在所述多個區(qū)之間，如同沿著光軌方向所看到的，其中形成的平面預(yù)刻凹坑的長度彼此不同。例如，如圖4所示，從“h”區(qū)的內(nèi)緣，依次形成有其平面預(yù)刻凹坑沿光軌方向的長度等于L1的一個區(qū)和其平面預(yù)刻凹坑沿光軌方向的長度等于L2(＞L1)的另一個區(qū)。L1和L2的值基于光軌方向平面預(yù)刻凹坑長度的限定值和已經(jīng)成為市場的一個問題的低質(zhì)量光盤上的信息來確定，其中在所述光軌方向平面預(yù)刻凹坑長度的限定值內(nèi)光盤被評測為符合其標(biāo)準(zhǔn)。這樣就可以檢查對平面預(yù)刻凹坑的解碼的容錯能力。
“i”區(qū)為CD-ROM格式，并在玻璃基底上形成有一系列的凹坑。
以下，參考圖5所示流程圖描述利用上述根據(jù)本發(fā)明的測試盤測試光頭的過程。
首先，如步驟S10，將測試盤放入測試設(shè)備。該測試設(shè)備可以是用于發(fā)展光頭的任何公知設(shè)備。然后，如步驟S20，將光頭裝在測試設(shè)備上。
如步驟S30，測試設(shè)備調(diào)整激光功率，接著，如步驟S40，光頭移動至“a”區(qū)。如步驟S50，測出聚焦誤差。然后，如步驟S60，啟動聚焦伺服系統(tǒng)，進(jìn)行斜度調(diào)整(skew adjustment)等等。
如步驟S70，光頭移動至“b”區(qū)。如步驟S80，基于從測試盤反射的光，檢查平面預(yù)刻凹坑信號和擺動信號的振幅水平是否符合標(biāo)準(zhǔn)。此外，還檢查對平面預(yù)刻凹坑解碼的結(jié)果。
如步驟S90，光頭移動至“c”區(qū)。如步驟S100，基于從測試盤反射的光，檢查擺動信號的振幅水平是否符合標(biāo)準(zhǔn)。此外，還檢查對ADIP解碼的結(jié)果。
隨后，如步驟S110至S200，以類似方式在“d”區(qū)至“h”區(qū)中進(jìn)行測試。具體而言，在涉及DVD-系列的區(qū)中，檢查平面預(yù)刻凹坑信號和擺動信號的振幅水平以及對平面預(yù)刻凹坑解碼的結(jié)果；在涉及DVD+系列的區(qū)中，檢查擺動信號的振幅水平以及對ADIP解碼的結(jié)果。
接下來，如步驟S210，光頭移動至“i”區(qū)。如步驟S220，測出聚焦誤差。如步驟S230，啟動聚焦伺服系統(tǒng)，進(jìn)行斜度調(diào)整等等。至此，完成測試過程。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的測試盤具有由玻璃形成的基底而沒有刻錄層。但是，也可以形成如同商用的可刻錄DVD的測試盤，其具有由聚碳酸酯形成的基底，而且具有由有機(jī)染料膜或相變膜構(gòu)成的刻錄層。在這種情況下，例如，在“b”和“c”區(qū)的已刻錄區(qū)中，如果刻錄層為有機(jī)染料膜，則刻錄標(biāo)記是通過刻錄層、基底和反射層的部分形變而形成；如果刻錄層為相變膜，則刻錄標(biāo)記是通過使部分刻錄層成為不定形態(tài)(amorphous)而形成。利用這種結(jié)構(gòu)的測試盤，也可以極大地提高對光頭的測試效率。
權(quán)利要求
1.一種測試盤，包括第一區(qū)，其內(nèi)設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)；第二區(qū)，其內(nèi)設(shè)有已刻錄區(qū)和未刻錄區(qū)；第三區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動頻率不同于140kHz的區(qū)域；第四區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動頻率不同于817kHz的區(qū)域；第五區(qū)，其內(nèi)設(shè)有至少一個擺動相位差不同于180度的區(qū)域；第六區(qū)，其內(nèi)設(shè)有多個區(qū)域，如在盤平面所看到的，在所述多個區(qū)域之間形成的平面預(yù)刻凹坑的方向彼此不同；及第七區(qū)，其內(nèi)設(shè)有多個區(qū)域，如沿著光軌方向所看到的，在所述多個區(qū)域之間形成的平面預(yù)刻凹坑的長度彼此不同；其中，第一、第三、第六和第七區(qū)用于對DVD-系列的光盤進(jìn)行信號評測，以及第二、第四和第五區(qū)用于對DVD+系列的光盤進(jìn)行信號評測。
2.如權(quán)利要求1所述的測試盤，還包括基底；其中，第一、第二、第三、第四、第五、第六和第七區(qū)都形成在該基底上，以及所述已刻錄區(qū)形成有凹坑，而所述未刻錄區(qū)沒有形成凹坑。
3.如權(quán)利要求2所述的測試盤，其中該基底是由玻璃形成。
4.如權(quán)利要求2或3所述的測試盤，其中還包括反射層。
全文摘要
對于傳統(tǒng)的測試盤，當(dāng)光頭用于對DVD－系列的光盤(DVD－R和DVD－RW)和DVD+系列的光盤(DVD+R和DVD+RW)進(jìn)行信號評測時，更換測試盤很費(fèi)時間，導(dǎo)致測試效率低下。本發(fā)明提供一種測試盤，其在單一玻璃基底上形成有設(shè)有具有凹坑或沒有凹坑的區(qū)域的多個區(qū)，和設(shè)有以不同參數(shù)形成擺動和平面預(yù)刻凹坑的區(qū)域的多個區(qū)。根據(jù)本發(fā)明的測試盤能可靠地用于信號評測，使用壽命長，制造成本低。
文檔編號G11B7/24GK1828738SQ20061000471
公開日2006年9月6日 申請日期2006年1月27日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月2日
發(fā)明者曾川輝明, 吉岡丈治, 鵜川芳昭, 笠原隆史, 井上勝一 申請人:船井電機(jī)株式會社