專利名稱：象差調整裝置、光拾取器、光信息記錄介質裝置、程序、存儲介質和象差調整方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于在DVD等光信息記錄介質中記錄或者再現(xiàn)信息的優(yōu)選的象差調整裝置、光拾取器、光信息記錄介質裝置、程序、存儲介質和象差調整方法。
背景技術：
在特開2000-348371號中，公開了按照擺動信號實時地控制非點象差，從而調整對于光盤面的光點的技術。
在記錄用的光盤上，為了表示同步信息(同步圖案)和盤上的地址信息，形成如圖1所示的擺動(蛇行溝)110和臺前坑(land pre-pit)(LPP)111等(而且，標號112表示溝，標號113表示臺，標號114表示坑)。微觀地觀察時，由于形成這些結構，在半徑方向上為非周期的構造。
但是，如果從以軌道間隔周期形成軌道溝的觀點看，則成為周期性的構造。
擺動信號和LPP信號來源于該非周期的構造，推挽信號等軌道信號來源于降低了頻帶的周期性構造。
如圖2所示，通過兩分割盤反射光上的軌道圖案103的區(qū)域(光接收區(qū)域A)104和區(qū)域(光接收區(qū)域B)105的差動信號(A-B)來生成擺動信號和LPP信號。這成為在溝產(chǎn)生的所謂推挽信號上在高頻帶進行了重疊的信號。
因此，在聚光在記錄面上的點的溝橫斷方向(半徑方向、徑向方向)的點徑變大時，該方向的分辨能力(MTF)降低，從溝得到的信號(上述擺動和LPP)的C/N惡化。
于是，如果在被聚光在光盤的記錄面上的光束中存在非點象差時，其波面成為鞍狀，將其聚光的光點鞍的彎曲方向的光點徑為最小的聚焦位置不同，在半徑方向光點縮小的狀態(tài)時，從溝得到的信號的C/N上升。
另一方面，對于信息信號，由于需要溝方向(切線方向)的MTF，所以在存在非點象差的光點中，乍一看，認為在切線方向上光點縮小的狀態(tài)時為最好，但如果半徑方向的光點徑變大，則由于來自相鄰軌道的串擾，信號質量降低。從經(jīng)驗上來說，在RF信號的振幅最大時，對于信息信號為最佳的聚焦位置。該位置與半徑方向的光點徑為最小的聚焦位置不同。這樣，在光點中存在非點象差時，從溝得到的擺動信號和LPP信號為最佳的聚焦位置和信息信號為最佳的聚焦位置不同。
而且，該非點象差起因于包括LD(激光二極管)的光學部件，有可能由于溫度而變化，所以有時由溫度導致的上述不良情況的發(fā)生狀況產(chǎn)生變化。
關于這一點，雖然在特開2000-348371號中公開了按照擺動信號實時地控制非點象差，從而調整對于光盤面的光點的技術，但是由于僅基于擺動信號，所以不能解決如前所述的課題。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是用根據(jù)從DVD等光信息記錄介質的溝得到的信號和信息信號兩者而生成的控制信號，通過使對光信息記錄介質照射的光的光點特性變化，即使在光點中存在非點象差等象差的情況下，也可以對于從溝得到的信號和信息信號兩者保持合適的S/N。
上述目的通過以下象差調整裝置達到，該裝置具有象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述象差。
而且，上述目的也通過可在計算機中讀取的程序達到，該程序使對所述光信息記錄介質照射光，從而進行信息的記錄或者再現(xiàn)的光信息記錄介質裝置執(zhí)行以下部件象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述象差。
而且，上述目的也通過以下象差調整方法達到，該方法包含以下步驟使從光源照射的光產(chǎn)生象差的步驟；從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號的步驟；從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號的步驟；以及根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差的步驟。
本發(fā)明的進一步的其它目的和特長可以通過與以下附圖一起描述的說明來明確。


圖1是光盤的結構的說明圖。
圖2是在光盤裝置的光接收元件中接受了激光的狀態(tài)的平面圖。
圖3是作為本實施方式的光盤裝置的電連接的方框圖。
圖4是表示包含光盤裝置的主計算機的概略結構的方框圖。
圖5是光拾取器的光學系統(tǒng)的一個結構例的說明圖。
圖6(A)和圖6(B)分別是擺動信號和LPP信號的波形圖。
圖7是在溝尋跡等中使用的推挽信號的波形圖。
圖8是用于說明本發(fā)明的課題的說明圖。
圖9(A)和圖9(B)是用于說明本發(fā)明的課題的說明圖。
圖10是用于說明本發(fā)明的課題的說明圖。
圖11是用于說明本發(fā)明的課題的說明圖。
圖12(A)和圖12(B)是作為用于實施本發(fā)明的最佳方式的光拾取器的光學系統(tǒng)的結構例的說明圖。
圖13(A)和圖13(B)是對于非點象差和球面象差混合的情況的說明圖。
圖14(A)和圖14(B)是光拾取器的光學系統(tǒng)的另一個結構例的說明圖。
圖15(A)和圖15(B)是表示準直透鏡位于規(guī)定的位置時，或者將對折射率可變元件施加的電壓設為規(guī)定值時的聚焦位置(散焦量)、RF信號振幅和擺動信號振幅的關系的說明圖。
圖16是控制信號生成部、控制部的電路圖。
圖17是實施方式1中的狀態(tài)設定處理的流程圖。
圖18是光盤裝置執(zhí)行的聚焦偏移處理的流程圖。
圖19是光盤裝置執(zhí)行的聚焦偏移處理的流程圖。
圖20是光盤裝置執(zhí)行的球面象差調整處理的流程圖。
圖21是光盤裝置執(zhí)行的球面象差調整處理的流程圖。
圖22是光盤裝置執(zhí)行的球面象差調整處理的流程圖。
圖23是光盤裝置執(zhí)行的球面象差調整處理的流程圖。
圖24是表示實施方式2中的狀態(tài)設定處理的全體的處理概要的流程圖。
圖25是表示聚焦偏移設定處理的詳細的處理的流程圖。
圖26是表示非點象差調整處理的詳細的處理的流程圖。
圖27是表示非點象差調整處理的詳細的處理的流程圖。
圖28是表示非點象差調整處理的詳細的處理的流程圖。
圖29是表示非點象差調整處理的詳細的處理的流程圖。
圖30是表示聚焦偏移設定處理的另一個處理的流程圖。
具體實施例方式
對用于實施本發(fā)明的最佳方式進行說明。
首先，對作為本實施方式中使用的光信息記錄介質的光盤說明概略。DVD-RAM(WO)、DVD-R、DVD+R、DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW等光盤是可寫入的(可記錄)DVD(Digital Versatile Disc)。DVD-RAM(WO)、DVD-R、DVD+R是只能寫入一次的DVD(而且，也被稱為DVD Write Once)。而且，DVD-RAM、DVD-RW、DVD+RW是可寫入數(shù)次的DVD。這些DVD+R和DVD+RW盤等，即光盤通過后述的光盤裝置1可以進行信息的記錄、再現(xiàn)。而且，當然也可以通過該光盤裝置1進行DVD-ROM和DVD-Video、DVD-Audio等再現(xiàn)專用盤的再現(xiàn)。
〔實施方式1〕接著，作為實施方式1說明本發(fā)明的一個實施方式。該實施方式以象差，特別是球面象差為主進行校正處理。
圖3是對于本實施方式的光盤裝置1，表示其主要結構的一例的功能方框圖。在圖3中，光盤裝置1實施本發(fā)明的光信息記錄介質裝置，標號D表示光盤，標號2表示主軸電動機，標號3表示光拾取器，標號4表示電動機驅動器，標號5表示讀放大器，標號6表示控制電動機驅動器4的伺服部件，標號7表示DVD解碼器，標號8表示ADIP解碼器，標號9表示激光控制器，標號10表示DVD編碼器，標號11表示DVD-ROM編碼器，標號12表示緩沖RAM，標號13表示緩沖管理器，標號14表示DVD-ROM解碼器，標號15表示ATAPI/SCSI接口，標號16表示D/A變換器，標號17表示ROM，標號18表示CPU，標號19表示RAM，標號LB表示激光，“Audio”表示音頻輸出信號。
在圖3中，箭頭表示數(shù)據(jù)主要流動的方向，而且，為了簡化附圖，在集中控制圖3的各塊的CPU18中，僅附加粗線而省略與各塊的連接。在ROM17中存儲著用可由CPU18解讀的碼記述的控制程序。而且，如果光盤裝置1的電源為導通狀態(tài)，則前述程序被裝載到未圖示的主存儲器中，前述CPU18按照該程序控制上述各部的動作，同時將控制所需要的數(shù)據(jù)等暫時保存在RAM19中。
光盤裝置1的結構和動作如下所述。光盤D被主軸電動機2旋轉驅動。該主軸電動機2通過電動機驅動器4和伺服部件6被控制為線速度或者角速度一定。該線速度或者角速度可以臺階性地變更。
光拾取器3內置半導體激光器、規(guī)定的光學系統(tǒng)、聚焦致動器、軌道致動器、光接收元件和位置傳感器，將激光LB對光盤D照射。而且，該光拾取器3可以通過搜索電動機向錘擊(sledge)方向移動。這些聚焦致動器、軌道致動器、搜索電動機根據(jù)從光接收元件和位置傳感器得到的信號，通過電動機驅動器4和伺服部件6進行控制，使得激光LB的光點位于光盤D上的目的位置。而且，對于光拾取器的結構在后面詳細敘述。
然后，在信息讀取時，通過光拾取器3得到的再現(xiàn)信號被讀放大器5放大從而被二值化后，被輸入DVD解碼器7。被輸入的二值化數(shù)據(jù)在該DVD解碼器7中被8/16解調。而且，記錄數(shù)據(jù)每8比特匯總后被調制(8/16調制)，在該調制中，將8比特變換為16比特。這時，附加結合比特，使得到此為止的“1”和“0”的數(shù)量平均相等。將其稱為“DC分量的抑制”，被DC截止的再現(xiàn)信號的限制電平變動被抑制。
在被解調的數(shù)據(jù)中，進行去交織和差錯校正處理。之后，該數(shù)據(jù)被輸入DVD-ROM解碼器14，為了提高數(shù)據(jù)的可靠性，進一步進行差錯校正的處理。這里，進行了兩次差錯校正的處理的數(shù)據(jù)通過緩沖管理器13被暫時存儲在緩沖RAM12中，在作為扇區(qū)數(shù)據(jù)一致的狀態(tài)下，經(jīng)由ATAPI/SCSI接口15被一次傳送到主計算機(后述的信息處理裝置21)。而且，在音樂數(shù)據(jù)的情況下，從DVD解碼器7輸出的數(shù)據(jù)被輸入D/A變換器16，被作為模擬的音頻輸出信號Audio取出。
而且，在寫信息時，通過ATAPI/SCSI接口15從未圖示的主計算機(后述的信息處理裝置21)發(fā)送來的數(shù)據(jù)，通過緩沖管理器13暫時被存儲在緩沖RAM12中。之后，開始寫動作，但是這時，在此之前需要使激光的光點位于寫入開始地點。該地點在DVD+RW/+R中，通過預先在光盤D上由軌道的蛇行刻蝕的擺動信號而求出。而且，上述地點在DVD-RW/-R中不是通過擺動信號，而是通過臺前坑求出，在DVD-RAM/RAM(WO)中通過前坑來求出。
在DVD+RW/+R盤中的擺動信號中，包含被稱為ADIP(ADress InPre-groove)的地址信息，該信息通過ADIP解碼器8取出。而且，通過該ADIP解碼器8生成的同步信號被輸入DVD編碼器10，可以對光盤D上正確的位置進行數(shù)據(jù)的寫入。緩沖RAM12的數(shù)據(jù)在DVD-ROM編碼器11和DVD編碼器10中進行差錯校正碼的附加和交織，經(jīng)由激光控制器9、光拾取器3被記錄在光盤D上。而且，也可以從臺前坑和前坑得到地址信息。
圖4是具有該光盤裝置1的信息處理裝置的概略圖。該信息處理裝置21為前述的主計算機，由主控制裝置22、規(guī)定的接口23、記錄數(shù)據(jù)的記錄裝置(HDD等)24、輸入裝置(鍵盤，鼠標等)25、顯示裝置26等構成。主控制裝置22由微型計算機、主存儲器(都未圖示)等構成，集中地控制信息處理裝置21的全體。
接口23是與光盤裝置1的雙方向的通信接口，符合ATAPI和SCSI等標準接口。接口23與光盤裝置1的接口15連接。而且，各接口間的連接方式，不僅可以是使用通信電纜(例如SCSI電纜)等通信線的電纜連接，也可以是利用了紅外線等的無線連接。
在記錄裝置(硬盤HDD)24中，存儲以可由主控制裝置22的微型計算機解讀的碼記述的程序。而且在信息處理裝置21的驅動電源為接通狀態(tài)時，該程序被裝載到主控制裝置22的主存儲器中。
顯示裝置26例如具有CRT、液晶顯示器(LCD)以及等離子體顯示板(PDP)等顯示部(未圖示)，顯示來自主控制裝置22的各種信息。
輸入裝置25例如具有鍵盤、鼠標以及指點器等中的至少一種輸入介質(未圖示)，將從用戶輸入的各種信息通知主控制裝置22。而且，來自輸入介質的信息也可以以無線方式輸入。而且，作為顯示裝置26和輸入裝置25一體化的裝置，例如有附帶觸摸屏的CRT等。
而且，信息處理裝置21裝載操作系統(tǒng)(OS)。于是，構成信息處理裝置21的全部設備由OS管理。
在圖5中表示一般的光拾取器3的結構。如圖5所示，從作為光源的半導體激光器(LD)41射出的發(fā)散光通過準直透鏡42成為大致平行光，透過分光器43，并通過偏振光棱鏡44將光路偏向45度，射入物鏡45，并透過光盤D的透明基板，作為微小光點被聚光在其記錄面上。透過該光點，進行對光盤D的信息的再現(xiàn)、記錄或者消除。而且，物鏡45通過尋跡線圈和聚焦線圈、永久磁鐵等構成的公知的物鏡45致動器48，可以向半徑方向和聚焦方向移動。
由光盤D的記錄面反射的光束通過物鏡45再次成為大致平行光，通過偏振光棱鏡44被偏轉，通過分光器43被反射，通過聚光透鏡47成為收斂光，到達光接收元件(PD)49。這樣，從光接收元件49檢測信息信號、伺服信號。
這里，光接收元件49如圖2所示，被設置為將軌道圖案至少進行兩分割，根據(jù)其差動信號(推挽信號(PP信號))生成在光盤D的溝橫斷方向上來自非周期性的溝形狀的信息信號分量，即擺動信號和LPP信號。通過帶通濾波器從推挽信號中除去了RF分量和推挽分量的信號是如圖6(A)所示的擺動信號61，和如圖6(B)所示的LPP信號62。標號61是以在DVD+RW和DVD+R中利用的相位調制方式，形成信息軌道(溝)以記錄地址信息等的例子。另一方面，LPP信號62是以DVD-RW和DVD-R中利用的LPP方式提取出記錄著地址信息等的LPP信號的信號。實際上，LPP信號通過被重疊在擺動信號上的形狀來檢測(標號63)。相反，通過低通濾波器截止了高頻分量的信號是在溝尋跡等中使用的推挽信號(圖7)。
理想的情況，是光拾取器3在聚焦信號為零時，RF信號的振幅為最大，信息信號的差錯率為最小，從擺動信號和LPP信號得到的信號最佳。因此，作為系統(tǒng)，例如使聚焦位置在±0.5μm的范圍內振動，用內部電路測量這時的RF信號振幅，并用內部的CPU進行近似等，求RF信號振幅為最大的聚焦位置，進行使聚焦信號具有偏移等的控制，以始終聚焦控制為RF信號振幅最大的聚焦位置(圖8)。
但是，在由于光拾取器3的光學部件組裝誤差和LD41自身的特性等在光點中存在非點象差時，在半徑方向、切線方向的光點徑為最小的聚焦位置不同，半徑方向、切線方向的光點徑為最小的聚焦位置向聚焦在光點峰值位置中心的前后位置分開(圖9(A)和圖9(B))。
另一方面，RF信號振幅為最大的位置不由于非點象差而變化，基本上光點峰值強度為最大的聚焦位置是RF信號振幅為最大的位置(圖10)。
一般來說，在RF信號振幅為最大時，信息信號的差錯率為最小，在徑向光點徑最小時，由擺動信號和LPP信號得到的信號最佳，所以作為系統(tǒng)，即使聚焦控制為RF信號振幅最大的聚焦位置，也存在從擺動信號和LPP信號得到的信號惡化的情況(圖11)。
這樣，在存在非點象差的情況下，例如還考慮不將RF信號振幅為最大的位置設為聚焦控制位置，而分別求RF信號振幅為最大的聚焦位置F1和擺動振幅為最大的聚焦位置F2，將它們的中間位置(＝(F1+F2)/2)設為聚焦控制位置。
但是，這時如果非點象差大，則有可能由于設為了中間的位置而哪一個信號都不能成為良好的信號。
因此，在本光盤裝置1中，為了解決相關的不良情況，具有以下那樣的部件。在圖12(A)和圖12(B)中，表示用于上述裝置的系統(tǒng)。與控制信號相當?shù)男盘?，利用擺動信號和LPP信號的振幅(或者相當于這些信號的S/N，C/N的信號(它們由光盤裝置1的規(guī)定的內部電路測量(生成))作為從光盤D的溝得到的信號，來自光盤D的標記的信號在RF信號中例如利用作為最長的標記長度的14T振幅(以下將其設為“RF信號振幅”)。
這里，如圖13(A)和圖13(B)所示，在非點象差和球面象差混合存在的情況下，半徑方向徑為最小的聚焦位置和切線方向徑為最小的聚焦位置的差基本不變，但由于球面象差量，光點的峰值功率為最大的聚焦位置和半徑方向徑、切線方向徑為最小的聚焦位置關系產(chǎn)生偏差。圖13(A)和圖13(B)是將準直透鏡42的位置從理想位置偏差+0.3mm時的模擬結果。而且，圓點標記表示光點峰值強度，如圖10所示，對于散焦量，進行與RF信號振幅對應的變化。而且，鉆石形標記表示光點的半徑方向的徑，在最小時擺動信號為最大振幅。方形標記表示光點的切線方形的徑。而且，+的方向在這時是沿著光路從半導體激光器41遠離的方向，-的方向是沿著光路接近半導體激光器41的方向。
因此，求RF信號振幅為最大的聚焦位置(即，光點強度最大的聚焦位置)F1和擺動振幅為最大的聚焦位置(即，半徑方向光點徑為最小的聚焦位置)F2，利用上述關系進行控制，以便通過在F2的位置，利用規(guī)定的球面象差產(chǎn)生部件在光學系統(tǒng)中對從半導體激光器41射出的激光賦予球面象差，“F1-F2”小于等于某個值。
作為產(chǎn)生球面象差的部件，考慮使準直透鏡42在激光的光軸方向可移動，通過規(guī)定的控制信號進行驅動。即，如圖12(A)所示，根據(jù)光接收元件49接收的光信號，由控制信號生成部71生成控制信號，并通過該控制信號，由控制部72控制將準直透鏡42在激光的光軸方向移動的致動器73，從而對激光賦予球面象差。
作為另一個結構例，還考慮如圖12(B)所示，用多個透鏡構成準直透鏡，將其中一個或者多個利用為可在光軸方向移動的球面象差校正透鏡，并進行與圖12(A)的情況一樣的控制。74相當于校正透鏡。
如圖14(A)所示，作為另一個產(chǎn)生球面象差的部件，考慮使用折射率可變元件75。由于其折射率可變，所以不需要作為元件的變移機構的致動器73。只要通過控制部72控制折射率就可以。例如，考慮利用了鈮酸鋰等雙折射結晶的焦點可變透鏡和折射率可變元件。但是，由于它們需要高電壓這一點，一般不使用它們，所以作為更一般的元件還考慮平行平板狀的液晶元件(如果需要，關于其細節(jié)，例如參照特開2000-3526號公報、特開2001-176108號公報)。
在將這樣產(chǎn)生球面象差的元件配置在發(fā)散(會聚)光路中的情況下(圖14(A))，僅通過使折射率變化，透過準直透鏡74的光就具有球面象差。因此，在作為產(chǎn)生球面象差的元件使用液晶元件的情況下，液晶元件的電極全部用固態(tài)電極就可以。但是，由于在發(fā)散光路中，所以在光軸上傾斜地設置時，存在由于該元件自身而產(chǎn)生非點象差的不良情況。
因此，通過在通過準直透鏡后的平行光路中進行設置(圖14(B))，對于設置精度的容許值變得寬松。但是，為了產(chǎn)生球面象差狀的象差，必須將電極設為同心圓狀等，在元件自身中需要特別的手段，有可能提高制造成本。
圖15(A)表示在準直透鏡74位于規(guī)定的位置A時，或者將對折射率可變元件75施加的電壓設為a時的聚焦位置(散焦量)、RF信號振幅和擺動信號振幅的關系。
圖15(B)表示在準直透鏡74位于規(guī)定的位置A時，或者將對折射率可變元件75施加的電壓設為b時的聚焦位置(散焦量)、RF信號振幅和擺動信號振幅的關系。如果觀察這些圖，可知圖15(B)與圖15(A)的情況相比，RF信號振幅最大位置F1和擺動信號振幅最大位置F2的差小。即，可知通過球面象差的控制，可以縮小RF信號振幅最大位置F1和擺動信號振幅最大位置F2的差。
這里，利用圖16詳細地對控制信號生成部71和控制部72的電路結構及動作進行說明。
光接收元件49被分割為四個光接收區(qū)域a、b、c、d。這里，將光接收區(qū)域a、d合并的區(qū)域相當于圖2的光接收區(qū)域104，將光接收區(qū)域c、d合并的區(qū)域相當于光接收區(qū)域105。光接收區(qū)域a、b、c、d將與接收的光量成比例的大小的電流ia、ib、ic、id分別輸出到讀放大器5內的控制信號生成部71。而且，在本例中使用將光接收區(qū)域分割為四個的光接收元件，但不需要限定于此，例如也可以使用對應于所謂3束法而分割為8個以上的光接收元件。
在控制信號生成部71中，電流ia、ib、ic、id被分別輸入到電流/電壓變換器902、903、904、905，被變換為電壓信號Sa、Sb、Sc、Sd。加法器906將電壓信號Sb和Sc相加，加法器907將電壓信號Sa和Sd相加，加法器908將電壓信號Sa和Sc相加，加法器909將電壓信號Sb和Sd相加。而且，加法器910將來自加法器906的輸出和來自加法器907的輸出相加，輸出再現(xiàn)信號(RF信號)。減法器911從來自加法器907的輸出減去來自加法器906的輸出，輸出推挽(PP)信號。減法器912從來自加法器908的輸出減去來自加法器909的輸出，輸出聚焦差錯(FE)信號。
RF信號被輸出到DVD解碼器7等，同時被輸入到峰值保持電路913。峰值保持電路913根據(jù)來自CPU18的指令保持并輸出RF信號的極大值。而且，在本例中，控制部72通過以如圖3所示的光盤裝置1的CPU18為中心的控制系統(tǒng)來實現(xiàn)。而且，RF信號在通過反轉電路914反轉了極性后，被輸入到峰值保持電路915。峰值保持電路915根據(jù)來自CPU18的指令保持并輸出反轉的RF信號的極大值。來自峰值保持電路913、915的輸出通過加法器916相加。由此可以檢測RF信號的振幅(正確地說是與極大值和極小值的差相當?shù)闹?電平。表示RF信號的振幅的來自加法器916的輸出被輸入到CPU18。
PP信號被輸入具有規(guī)定的截止頻率的低通濾波器電路917。低通濾波器電路917輸出軌道差錯(TE)信號，并被輸入伺服部件6。而且，PP信號被輸入帶通濾波器電路918，得到擺動(WBL)信號(在DVD-RW/-R的情況下進而得到LPP信號)。而且，帶通濾波器電路918為了正確地提取信號的相位調整部分，將高通濾波器電路和低通濾波器電路組合而構成的情況較多。為了對地址信息等進行解調，WBL信號被輸出到未圖示的地址檢測電路(包括ADIP解碼器8)，同時也被輸出到峰值保持電路919。峰值保持電路919根據(jù)來自CPU18的指示保持并輸出WBL信號的極大值。而且，WBL信號通過反轉電路920反轉了極性后被輸入到峰值保持電路921。峰值保持電路921根據(jù)來自CPU18的指令保持并輸出反轉的WBL信號的極大值。來自峰值保持電路919、921的輸出通過加法器922相加。由此，可以檢測WBL信號的振幅(正確地說是相當于極大值和極小值的差的值)電平。來自加法器922的輸出被輸入到CPU18。而且，在DVD-RW/-R的情況下，為了得到LPP信號，僅在極大值大于等于規(guī)定的值時保持，將該值直接輸出到CPU18。
CPU18按照存儲在ROM17內的控制程序控制伺服部件6。伺服部件6根據(jù)輸入的FE信號和TE信號來控制物鏡45致動器48，進行聚焦伺服和尋跡伺服。而且，通過與被輸入的來自加法器916、922的輸出對應的CPU18的指令，伺服部件6使控制準直透鏡42或者74的致動器73動作(圖12(A)和圖12(B))，或者控制對折射率可變元件75(圖14(A)和圖14(B))施加的電壓。這樣，由CPU18、ROM17、伺服部件6(還間接地包含RAM19)構成控制部72。
通過這樣的控制信號生成部71、控制部72實施本發(fā)明的象差調整裝置。然后，通過控制信號生成部71、控制部72執(zhí)行的處理，實現(xiàn)再現(xiàn)信號取得部件、溝形狀取得部件、取得再現(xiàn)信號的步驟、取得溝形狀信號的步驟。而且，通過后述的圖17～圖21的處理，如后面所述，實現(xiàn)合焦部件、合焦步驟、象差產(chǎn)生部件、象差調制部件、產(chǎn)生象差的步驟、調制象差的步驟。然后，本發(fā)明的存儲介質通過ROM17實施，通過存儲在該ROM17中的程序，實施本發(fā)明的程序。
接著，按照存儲在ROM17中的程序，對CPU18執(zhí)行的具體的狀態(tài)設定的處理進行說明。
圖17是表示狀態(tài)設定處理的整體的概要的流程圖。CPU18在該狀態(tài)設定處理開始時，對伺服部件6提供指令，使物鏡控制致動器48等動作，進行聚焦引入，使聚焦伺服打開(合焦部件)(步驟S101)。而且，在聚焦引入已經(jīng)完成的情況下跳過該處理。接著，CPU18進行設定聚焦偏移的處理(步驟S102)。該處理的細節(jié)參照圖18、圖19在后敘述。而且，在不進行聚焦偏移的設定而進行球面象差的校正的情況下，跳過步驟S102的處理。然后，CPU18進行球面象差的調整(象差產(chǎn)生部件、象差調整部件、產(chǎn)生象差的步驟、調整象差的步驟)(步驟S103)。該處理的細節(jié)參照圖20、圖21在后敘述。
如果該步驟S103的處理結束，則狀態(tài)設定處理結束。而且，在進行該步驟S103的處理時，可以使再現(xiàn)(RF)信號以及擺動(WBL)信號的檢測精度提高，可以正確地進行對于光盤D的信息的再現(xiàn)、記錄。而且，如果與步驟S102的處理一起進行，則由于非點象差的調整的目標的值在步驟S102求出，所以可以迅速地進行步驟S103中的調整。而且，也可以使步驟S103的處理在步驟102的處理中進行。
圖18中記載的處理，是為了將RF信號的振幅電平為最大的位置作為物鏡45的聚焦位置，在聚焦伺服信號中重疊偏移信號的處理(步驟S102)。
首先，CPU18作為準備階段，將變量n的值復位設定為0(步驟S201)。然后，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45由聚焦打開(ON)的聚焦位置向遠離光盤D的方向移動S[μm](例如0.5μm)(步驟S202)。即，S決定物鏡45的初始位置。伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于移動S[μm]的信號(電流)。
接著，CPU18判斷n的值是否與規(guī)定值N(例如為11)一致(步驟S203)。該規(guī)定值N表示測量RF信號的振幅電平的次數(shù)。在判斷為不一致的情況下(步驟S203的否)，CPU18對峰值保持電路913、915提供指令，在該物鏡45的位置取得RF信號的振幅電平rn。然后，CPU18將該振幅電平rn與這時的n的值一起存儲在RAM19中(步驟S204)。而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。例如，通過規(guī)定地址中存在的標記檢測RF信號振幅rn，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記的區(qū)域(測試區(qū)域)中進行RF信號振幅rn的檢測。這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄標記檢測RF信號振幅rn。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](例如0.1μm)(步驟S205)。伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于移動Q[μm]的信號。即，在物鏡45的位置的Q[μm]標記處進行測量。
然后，使n的值僅增加1(步驟S206)，返回步驟S203。然后，重復步驟S203～S206的處理，直到在步驟S203中CPU18判斷n的值和規(guī)定值N的值一致。
在步驟S203中，CPU18判斷出n的值和N的值一致的情況下(步驟S203的是)，CPU18在存儲于RAM19中的RF信號振幅電平測量值中求最大的值，求與該最大值對應的n的值(nrmax)(步驟S207)。求最大(最佳)值的方法除了求直接測量的值的最大值，也可以使用最小自乘法等近似方法求最大值。對于以下的最大值的求取方法也一樣。
接著，CPU18對伺服部件6提供指令，以使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動“Q×(N-1-nrmax)[μm]”(步驟S208)。伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡致動器(聚焦線圈)48提供用于僅移動“Q×(N-1-nrmax)[μm]”的控制信號。由此，可以使物鏡45移動到RF信號振幅最大的位置。即，該信號的值(電流值)相當于聚焦偏移的值。在該處理結束時，聚焦偏移的設定處理結束。
而且，在本處理例中，一邊使物鏡45暫時遠離光盤D后緩慢地靠近一邊測量RF信號振幅，但不需要限定于此，也可以進行暫時接近光盤D后緩慢遠離的處理。
而且，在進行著步驟S102的處理期間，準直透鏡42、74被配置在后述的規(guī)定的基準位置(開始位置)和移動到離該開始位置最遠的位置的中間位置(圖12(A)和圖12(B)的例子的情況)。在進行步驟S102的處理期間，對折射率可變元件75施加的電壓設為規(guī)定的基準電壓(開始電壓)和最大施加電壓的中間的電壓(圖14(A)和圖14(B)的情況)。
圖19中記載的處理是設定聚焦偏移的另一個處理例。這是為了將物鏡45的聚焦位置設為RF信號的振幅電平最大的位置和WBL信號的振幅電平最大的位置的中間位置，對聚焦伺服信號重疊偏移信號的處理(步驟S102)。
首先，CPU18作為準備階段，將變量n的值復位設定為0(步驟S301)。然后，CPU18對伺服部件6提供指令，以使物鏡45從聚焦打開(ON)的聚焦位置向遠離光盤D的方向移動S[μm](例如0.5μm)(步驟S302)。即，S決定物鏡45的初始位置。伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于移動S[μm]的信號(電流)。
接著，CPU18判斷n的值是否與規(guī)定值N(例如為11)一致(步驟S303)。該規(guī)定值N表示測量RF信號的振幅電平的次數(shù)。在判斷為不一致的情況下(步驟S303的否)，CPU18對峰值保持電路913、915、919、921提供指令，在該物鏡45的位置取得RF信號和WBL信號的各振幅電平(在DVD-RW/R的情況下，為LPP信號電平)rn、wn。然后，CPU18將這些振幅電平(或者LPP信號電平)rn、wn與這時的n的值一起存儲在RAM19中(步驟S304)。而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。例如，在規(guī)定地址檢測RF信號振幅rn和WBL振幅wn，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記或空間的區(qū)域(測試區(qū)域)中，進行RF信號振幅rn和WBL信號振幅wn的檢測。這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF信號振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄標記檢測RF信號振幅rn。而且，WBL信號振幅的檢測在沒有標記的區(qū)域中進行也可以。這時，可以得到不被RF信號影響的WBL信號。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](例如0.1μm)(步驟S305)。伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于移動Q[μm]的信號。即，在物鏡45的位置的Q[μm]標記處進行測量。
然后，使n的值僅增加1(步驟S306)，返回步驟S303。然后，重復步驟S303～S306的處理，直到CPU18判斷n的值和規(guī)定值N的值一致。
在CPU18判斷出n的值和N的值一致的情況下(步驟S303)，CPU18在存儲于RAM19中的RF信號振幅電平測量值中求最大的值，求與該最大值對應的n的值(nrmax)(步驟S307)。進而CPU18在存儲于RAM19中的WBL信號振幅電平測量值中求最大的值，求與該最大值對應的n的值(nwmax)(步驟S308)。
接著，CPU18對伺服部件6提供指令，以使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動“Q×{N-1-(nrmax+nwmax)/2}[μm]”(步驟S309)。伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于僅移動“Q×{N-1-(nrmax+nwmax)/2}[μm]”的控制信號。由此，可以使物鏡45移動到RF信號振幅最大的物鏡45的位置和WBL信號振幅最大的物鏡45的位置的中間位置。即，該信號的值(電流值)相當于聚焦偏移的值。在該處理結束時，聚焦偏移的設定處理結束。
而且，在本處理例中，一邊使物鏡45暫時遠離光盤D后緩慢地靠近一邊測量RF信號振幅，但也可以進行暫時接近光盤D后緩慢遠離的處理。
接著，利用圖20對球面象差的調整的處理進行說明。圖20的各處理是與圖12(A)和圖12(B)的情況對應的處理。這是根據(jù)記錄在ROM17中的程序CPU18執(zhí)行的處理。
CPU18在處理開始時，在變量1中輸入0的值(進行初始化)(步驟S401)。接著，CPU18對伺服部件6提供指令，以使準直透鏡42、74移動到規(guī)定的位置(開始位置)(步驟S402)。伺服部件6接受該指令，進行控制，使得在致動器73中流過規(guī)定的電流，使準直透鏡42、74的位置例如在規(guī)定范圍內最靠近半導體激光器41。
接著，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45向遠離光盤D的方向移動“J×(L-1)/2[μm]”(步驟S403)。這里，J是在準直透鏡42、74一定的情況下每次測量RF信號和WBL信號的振幅時物鏡45移動的距離。而且，L是在準直透鏡42、74一定的情況下測量RF信號和WBL信號振幅的次數(shù)。伺服部件6根據(jù)該指令使物鏡控制致動器48中流過電流，僅移動“J×(L-1)/2[μm]”。
接著，CPU18判斷變量1的值是否與表示測量的次數(shù)的L(例如11)一致(步驟S404)。在不一致的情況下(步驟S404的否)，CPU18對峰值保持電路913、915、919、921提供指令，在該物鏡45的位置取得RF信號和WBL信號的振幅電平(在DVD-RW/R的情況下，為LPP信號電平)r1、w1。然后，CPU18將這些振幅電平(或者LPP信號電平)與這時的變量1的值一起存儲在RAM19中(步驟S405)。而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。例如，在規(guī)定地址檢測RF信號振幅r1和WBL振幅w1，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記或空間的區(qū)域(測試區(qū)域)中，進行RF信號振幅r1和WBL信號振幅w1的檢測。這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF信號振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄標記檢測RF信號振幅r1。而且，WBL信號振幅的檢測在沒有標記的區(qū)域中進行也可以。這時，可以得到不被RF信號影響的WBL信號。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動J[μm](例如0.1μm)(步驟S406)。伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于移動J[μm]的信號。即，在物鏡45的位置的J[μm]標記處進行測量。然后，使變量1的值僅增加1(步驟S407)，返回步驟S404。然后，重復步驟S404～S407的處理，直到CPU18判斷變量1的值和L的值一致。
在CPU18判斷出變量1的值和L的值一致的情況下(步驟S404的是)，CPU18在存儲于RAM19中的RF信號振幅電平測量值中求最大的值，求與該最大值對應的變量1的值(lrmax)(步驟S408)。進而CPU18在存儲于RAM19中的WBL信號振幅電平測量值中求最大的值，求與該最大值對應的變量1的值(lwmax)(步驟S409)。
接著，CPU18判斷“l(fā)rmax-lwmax”的值是否比規(guī)定的值P小(步驟S410)。這里，P設為球面象差對再現(xiàn)/記錄特性不產(chǎn)生影響的程度的值。即，P的值被設定為充分接近RF信號的振幅為最大的聚焦位置(物鏡45的位置)和WBL信號的振幅為最大的聚焦位置(物鏡45的位置)。
“l(fā)rmax-lwmax”的值大于等于規(guī)定的值P的情況下，為了變更準直透鏡42、74的位置而再次進行RF信號和WBL信號的振幅的測量，進行步驟S411～S413的處理。即，首先，再次初始化變量1的值(設1＝0)(步驟S411)。由于現(xiàn)在物鏡45接近光盤D，所以CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45向遠離光盤D的方向僅移動“J×(L-1)[μm]”(步驟S412)。伺服部件6接受該指令，使致動器48中流過電流，以使物鏡45僅移動“J×(L-1)[μm]”。通過該處理，物鏡45的位置與測量前的位置相同。
然后，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡42、74的位置沿著光路向一定方向，在本例中為遠離半導體激光器的方向僅移動d[μm](步驟S413)。伺服部件6根據(jù)該指令，使致動器73中流過電流，使得僅移動d[μm]。
之后，CPU18重復步驟S404～S413的處理，直到在步驟S410的判斷中“l(fā)rmax-lwmax”的值比規(guī)定的值P小。然后，在“l(fā)rmax-lwmax”的值比規(guī)定的值P小的情況下，作為球面象差已被調整而離開該處理。
之后，在重視RF信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lwmax的位置(即，準直透鏡位置調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
取代上述處理，為了平衡地進行RF信號的檢測和WBL信號的檢測，也可以CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)和得到lwmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)之間的位置，例如中間位置。伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lwmax的位置和得到lrmax的位置之間的位置(在本例的情況下為中間位置)(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
而且，在規(guī)定的時間，即使進行步驟S404～S413的處理，“l(fā)rmax-lwmax”的值也不比規(guī)定的值P小的情況下，也可以離開該處理，使準直透鏡移動到最初的位置，或者“l(fā)rmax-lwmax”的值為最小的位置。由此，可以對應“l(fā)rmax-lwmax”的值長久地不能小于規(guī)定的值P的情況。
接著，參照圖21，對球面象差的調整的處理的另一個例子進行說明。該處理為對應于圖12(A)和圖12(B)的結構的處理。它們是根據(jù)記錄在ROM17中的程序，CPU18執(zhí)行的處理。
這里，步驟S402～S409和步驟S411～S413的處理，進行與圖20中記載的相同步驟S的處理一樣的處理。因此，與這些處理有關的說明如上所述，這里省略說明。在步驟S414中，作為變量，CPU18除了1還格式化m。該變量m是表示使準直透鏡42、74的位置移動的次數(shù)的變量。
在步驟S415中，CPU18判斷l(xiāng)rmax和lwmax是否為相同的值。即，判斷RF信號和WBL信號的振幅為最大的物鏡45的位置是否相同。在判斷為相同的情況下(步驟S415的是)，將這時的準直透鏡42、74的位置作為可以校正球面象差的位置而結束本處理。
另一方面，在判斷為不相同的情況下(步驟S415的是)，將這時的lrmax和lwmax的差與變量m的值一起存儲在RAM19中(步驟S416)。然后，CPU18判斷m的值是否與M一致(步驟S417)。這里，M的值是決定準直透鏡42、74的移動次數(shù)的值，CPU18可以使準直透鏡42、74每次d[μm]地僅移動M次。在步驟S417的判斷中判斷為不一致的情況下(步驟S417的否)，作為變量m，將使其增加1的值作為新的m(步驟S418)，重復步驟S404～S409、S415～S418、S411～S413的處理，直到在步驟S415的處理中，判斷出lrmax和lwmax為相同的值，或者在步驟S417中判斷出已使準直透鏡42、74移動了M次。
在步驟S417中，在判斷出已使準直透鏡42、74移動了M次的情況下(步驟S417的是)，CPU18從RAM19中存儲的值中求lrmax和lwmax最小時的m的值(mmin)(步驟S419)。然后，使準直透鏡42、74從開始位置沿著光路向一定方向，在本例的情況下為遠離半導體激光器41的方向移動“mmin×d[μm]”，結束該處理。由此，可以設定與RF信號振幅和WBL信號振幅為最大的物鏡45的位置最接近的準直透鏡42、74的位置，可以校正球面象差。
之后，在經(jīng)過步驟S419、S420的步驟S而結束的情況下，在重視RF信號檢測時，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lwmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。取代上述處理，為了平衡地進行RF信號的檢測和WBL信號的檢測，也可以CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)和得到lwmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)之間的位置，例如中間位置。伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置和得到lwmax的位置之間的位置(在本例的情況下為中間位置)(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在步驟S415的判斷為肯定(步驟S415的是)，直接處理已經(jīng)結束的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax和lwmax的位置(即，準直透鏡42、74的位置調整后的RF信號和WBL信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax和lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
接著，參照圖22，對球面象差的調整的處理的另一例進行說明。圖22的各處理是與圖14(A)和圖14(B)的結構對應的處理。它們是根據(jù)ROM17中記錄的程序，CPU18執(zhí)行的處理。
而且，由于圖22的步驟S401是與圖20、圖21的處理的步驟S401、圖22的步驟S403～S412是與圖20、圖21的處理的步驟S403～S412分別對應的處理相同的處理，所以省略詳細的說明。
即，CPU18在步驟S402中對伺服部件6發(fā)出指令，以便對折射率可變元件75施加規(guī)定的基準電壓(開始電壓)。伺服部件6接受該指令，對折射率可變元件75施加開始電壓。
在步驟S413中，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，以使對折射率可變元件75施加的電壓增加v〔V(伏)〕。伺服部件6接受該指令，對折射率可變元件施加增加了v〔V〕的電壓。通過進行這樣的處理，可以使用折射率可變元件進行球面象差的校正。
之后，在重視RF信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lwmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
取代上述處理，為了平衡地進行RF信號的檢測和WBL信號的檢測，也可以CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)和得到lwmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)之間的位置，例如中間位置。伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置和得到lwmax的位置之間的位置(在本例的情況下為中間位置)(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
而且，在規(guī)定的時間，即使進行步驟S404～S413的處理，“l(fā)rmax-lwmax”的值也不比規(guī)定的值P小的情況下，也可以離開該處理，對新折射率可變元件施加最初的基準電源，或使“l(fā)rmax-lwmax”的值為最小的電壓。由此，可以應對“l(fā)rmax-lwmax”的值長久地不能小于規(guī)定的值P的情況。
接著，參照圖23對球面象差的調整處理的另一例進行說明。圖23的各處理是與圖14(A)和圖14(B)的結構對應的處理。它們是根據(jù)記錄在ROM17的程序，CPU18執(zhí)行的處理。該處理例表示光盤D為不具有臺前坑(LPP)111(參照圖1)的DVD+RW、DVD+R、CD-R、CD-RW等的情況下的處理。
除了步驟S402、S413、S420的處理以外，與圖21相同標號的步驟S與圖21的處理相同。而且，步驟S402、S413與圖22中說明的處理一樣。因此，步驟S420的處理以外如上述說明的那樣，這里省略說明。
在步驟S420中，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，以便對折射率可變元件施加對開始電壓增加了“mmin×v〔V(伏)〕”電壓的電壓。伺服部件6接受該指令，對折射率可變元件施加增加了“mmin×v〔V(伏)〕”的電壓。通過進行這樣的處理，可以使用折射率可變元件75進行球面象差的校正。
之后，通過步驟S419、S420的步驟S而結束的情況下，在重視RF信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lwmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
取代上述處理，為了平衡地進行RF信號的檢測和WBL信號的檢測，也可以CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的RF信號振幅為最大的物鏡45的位置)和得到lwmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的WBL振幅為最大的物鏡45的位置)之間的位置，例如中間位置。伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax的位置和得到lwmax的位置之間的位置(在本例的情況下為中間位置)(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
另一方面，在步驟S415的判斷為肯定(步驟S415的是)，直接處理已經(jīng)結束的情況下，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45移動到得到了lrmax和lwmax的位置(即，對于折射率可變元件75的施加電壓調整后的RF信號和WBL信號振幅為最大的物鏡45的位置)。然后，伺服部件6接受該指令，使物鏡45移動到得到lrmax和lwmax的位置(提供新的偏移電流)，進行之后的聚焦伺服控制。
而且，在上述的全部處理中，也可以通過近似運算和插補運算求RF信號和WBL信號的振幅的最大值，使物鏡45或者準直透鏡移動，或者調整折射率可變元件的施加電壓，以成為通過該運算求出的最大值。
通過在對光盤裝置1的光盤D的記錄動作之前進行以上說明的控制，可以抑制由于記錄動作之前上升的光盤裝置1內的溫度而產(chǎn)生的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
而且，通過在記錄動作之后進行上述控制，可以抑制由于記錄動作而上升的光盤裝置1內的溫度所產(chǎn)生的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
而且，通過在連續(xù)記錄中，以特定的時間間隔(例如每5分鐘1次，記錄1000軌道后1次等)進行上述控制，可以抑制由于記錄動作而上升的光盤裝置1內的溫度所產(chǎn)生的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
此外，通過在光盤D的特定位置(例如，半徑30mm、40mm、50mm)進行上述控制，可以抑制光盤D固有的彎曲等引起的非點象差導致的不良情況。
本發(fā)明的球面象差元件，也考慮一起使用用于對具有多個記錄層的光盤(DVD的2層盤等)相關的基本厚度差導致的球面象差進行校正的球面象差元件。
〔實施方式2〕接著，將本發(fā)明的一個實施方式作為實施方式2進行說明。該實施方式特別是主要進行校正非點象差的處理。
在實施方式1中說明的圖7是在溝尋跡等中使用通過低通濾波器截止了高頻分量的信號的推挽信號的波形的圖。
理想的情況，是光拾取器在聚焦信號為零時RF振幅值為最大值，信息信號的差錯率為最小，從擺動信號和LPP信號得到的信號也最好。
因此，作為光盤裝置，例如使聚焦位置在±0.5μm的范圍內振動，用內部電路測量這時的RF信號振幅，并用內部的CPU進行近似等處理，求RF信號振幅值為最大值的聚焦位置，進行使聚焦信號具有偏移等的控制，以始終聚焦控制為RF信號振幅值最大值的聚焦位置(參照圖8)。
但是，在由于光拾取器的光學部件組裝誤差和光源LD自身的特性等在激光的點中存在非點象差時，在半徑方向、切線方向的光點徑為最小的聚焦位置不同，半徑方向、切線方向的光點徑為最小的聚焦位置向以光點峰值位置為中心聚焦的前后位置分開(參照圖9(A))。
另一方面，RF信號振幅值為最大值的位置不由于非點象差而變化，基本上光點峰值強度為最大值的聚焦位置是RF信號振幅值為最大值的位置(參照圖10)。
一般來說，在RF信號振幅值為最大值時，信息信號的差錯率為最小，在徑向光點徑最小時，由擺動信號和LPP信號得到的信號最佳，所以作為系統(tǒng)，即使聚焦控制為RF信號振幅值為最大值的聚焦位置，也存在從擺動信號和LPP信號得到的信號惡化的情況(參照圖11)。
這樣，在存在非點象差的情況下，例如還考慮不將RF信號振幅值為最大值的位置設為聚焦控制位置，而求RF信號振幅值為最大值的聚焦位置F1和擺動振幅值為最大值的聚焦位置F2，將它們位置的中間F＝(F1+F2)/2設為聚焦控制位置。
這時，如果非點象差大，則有可能由于設為了中間的位置而哪一個都不行，即有可能得不到良好的信號。
因此，對在象差中主要抑制非點象差而得到良好的信號的結構進行說明。而且，在以下的說明中，對于與實施方式1相同的結構要素等，利用與實施方式1的說明一樣的標號，省略詳細的說明。
首先，光盤D的整體的結構與前述的圖3、圖4一樣，而且，控制信號生成部71和控制部72的電路結構和動作也和利用圖16的說明一樣。于是，在本例中，在非點象差的調整中使用與實施方式1的圖12(A)和圖12(B)、圖14(A)和圖14(B)一樣的裝置。
首先，在圖12(A)和圖12(B)、圖14(A)和圖14(B)的裝置中，與控制信號生成部71生成的控制信號相當?shù)男盘?，利用擺動信號和LPP信號的振幅值(或者相當于這些信號的S/N，C/N的信號它們由光盤裝置1的內部電路測量(生成))作為從光盤D的溝得到的信號，來自標記的信號在RF信號中例如利用作為最長的標記長度的14T振幅值(RF振幅值)。
這里，控制規(guī)定的非點象差產(chǎn)生元件，以使RF振幅值為最大值的聚焦位置和從溝得到的控制信號為最佳的聚焦位置一致或者接近，對還包含了盤1的基板的光學系統(tǒng)的非點象差的量進行直接校正。
作為該非點象差產(chǎn)生元件(方法)，如果是圖12(A)和圖12(B)的結構，則通過準直透鏡控制致動器73，使準直透鏡42可以在光軸方向上移動，控制信號生成部71根據(jù)聚焦位置和從溝得到的信息信號來生成非點象差控制信號并輸出到控制部72，控制部72通過該非點象差控制信號驅動準直透鏡控制致動器73。
而且，如果按照圖14(B)的結構，將折射率可變元件75設置在發(fā)散(會聚)光路中的光源41和準直透鏡42之間，控制信號生成部71根據(jù)從聚焦位置和溝得到的信息信號生成折射率控制信號并輸出到控制部72，控制部72通過該折射率控制信號控制對折射率可變元件75的施加電壓。
這種情況下有可以減小元件的優(yōu)點。而且，即使在傾斜設置的情況下，由于還包含由此而產(chǎn)生的非點象差而可以進行校正，所以對于傾斜的設置精度也不是那么嚴格。
而且，如果按照圖14(A)的結構，將折射率可變元件75設置在通過準直透鏡42后的平行光路中的分光器43和偏振光棱鏡44之間，控制信號生成部71根據(jù)從聚焦位置和溝得到的信息信號生成折射率控制信號并輸出到控制部72，控制部72通過該折射率控制信號控制對折射率可變元件75的施加電壓。
在這種情況下，容易附加球面象差和慧差等其它的象差校正功能，同時由于不論在平行光路中的哪里設置，該功能都不改變，所以有設置值的自由度增加的優(yōu)點。
通過前述的控制信號生成部71、控制部72，本發(fā)明的象差調整裝置被實施。于是，通過控制信號生成部71、控制部72執(zhí)行的處理，實現(xiàn)再現(xiàn)信號取得部件、溝形狀取得部件、取得再現(xiàn)信號的步驟、取得溝形狀信號的步驟。而且，通過后述的圖24～圖30的處理，實現(xiàn)合焦部件、象差產(chǎn)生部件、象差調整部件、產(chǎn)生象差的步驟、調整象差的步驟。于是，通過ROM17實現(xiàn)本發(fā)明的存儲介質，通過存儲在該ROM17中的程序，實施本發(fā)明的程序。
接著，通過以上的裝置結構，對按照存儲介質的ROM17中存儲的程序，CPU18執(zhí)行的狀態(tài)設定處理進行說明。
圖24是表示狀態(tài)設定處理的整體的處理概要的流程圖。CPU18在開始狀態(tài)設定處理時，在步驟S51中對伺服部件6發(fā)出指令，從而使物鏡控制致動器48動作，進行聚焦引入(合焦部件)(步驟S501)，將聚焦伺服打開(ON)。而且，在已經(jīng)完成聚焦引入的情況下，跳過該處理。
接著，在聚焦偏移設定處理中，進行設定聚焦偏移的處理(步驟S502)。其細節(jié)在后面敘述。
而且，在不進行聚焦偏移的設定而進行非點象差的校正的情況下，跳過步驟S502的處理。
接著，在非點象差校正(非點象差調整)處理中進行非點象差的校正(調整)(象差產(chǎn)生部件、象差調整部件、產(chǎn)生象差的步驟、調整象差的步驟)(步驟S503)。其細節(jié)在后面敘述。而且，在上述的處理中，也可以在步驟S502的處理之前進行步驟S503的處理。
這樣，在步驟S503的處理結束時，結束狀態(tài)設定處理。
而且，如果進行步驟S503的處理，則可以提高再現(xiàn)(RF)信號和擺動(WBL)信號的檢測精度，可以正確地進行對光盤D的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)和記錄。而且，如果與步驟S502的處理一起進行，則可以進一步實現(xiàn)檢測精度的提高。
圖25是表示圖24所示的聚焦偏移設定處理(步驟S502)的詳細的處理的流程圖，該處理是為了將RF信號的振幅值(RF振幅值、振幅電平)為最大的位置作為物鏡的聚焦位置，在聚焦伺服信號中重疊偏移信號的處理。
首先，CPU18作為準備階段，將變量n的值設定為0(n＝1)(步驟S511)。
然后，CPU18對伺服部件6發(fā)出指令，使得物鏡45由聚焦打開的聚焦位置向遠離光盤D的方向僅移動S[μm](例如0.5μm)(步驟S512)。
伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于使物鏡45由聚焦打開的聚焦位置向遠離光盤D的方向移動S[μm]的信號(電流)。物鏡控制致動器48使物鏡45由聚焦打開的聚焦位置向遠離光盤D的方向僅移動S[μm](例如0.5μm)。
接著，判斷n的值是否與N(例如為11)一致(步驟S513)。在判斷為不一致的情況下(步驟S513的否)，對峰值保持電路(PH)71、73提供指令，在該物鏡的位置(最初為僅移動上述S后的位置)測量RF信號的RF振幅值rn，并將該測量的RF振幅值rn與這時的n的值一起存儲在RAM19中(步驟S514)。
而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。
例如，通過規(guī)定地址中存在的標記檢測RF振幅值rn，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記的區(qū)域(測試區(qū)域)中進行RF振幅值rn的檢測。
這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF振幅值的振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。而且，也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄的規(guī)定標記檢測RF振幅值rn。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](例如0.1μm)(步驟S515)。
伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm]的信號。物鏡控制致動器48使物鏡45從僅移動上述S后的位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](例如0.1μm)。
然后，使n的值僅增加1(n＝n+1)(步驟S516)，返回步驟S513的判斷處理。
然后，重復步驟S513～S516的處理，直到判斷n的值和N的值一致(步驟S513中的是)。
在步驟S513中，判斷出n的值和N的值一致的情況下(步驟S513的是)，在存儲于RAM19中的RF振幅值(RF信號振幅電平測量值)中求最大值的RF振幅值，求與該RF振幅值對應的n的值(nrmax)(步驟S517)。
接著，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動Q×(N-1-nrmax)[μm](步驟S518)。
伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動Q×(N-1-nrmax)[μm]的信號，對物鏡控制致動器48使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動Q×(N-1-nrmax)[μm]。
由此，可以使物鏡45移動到RF振幅值值為最大值的位置。
即，該信號的值(電流值)相當于聚焦偏移的值。在該處理結束時，聚焦偏移的設定處理結束。
而且，在本處理例中，一邊使物鏡45暫時遠離光盤D后緩慢地靠近一邊測量RF振幅值，但不限于該處理，也可以進行暫時接近光盤D后緩慢遠離來測量RF振幅值的處理。
而且，在進行著圖24所示的步驟S502的處理期間，準直透鏡被配置在后述的規(guī)定的基準位置(開始位置)和移動到離該開始位置最遠的位置的中間位置(圖12(A)和圖12(B)所示的結構的情況)。
在進行步驟S502的處理期間，對折射率可變元件施加的電壓設為規(guī)定的基準電壓(開始電壓)和最大施加電壓的中間的電壓(圖14(A)和圖14(B)所示的結構的情況)。
接著，對圖12(A)和圖12(B)所示的結構中的非點象差調整處理進行說明。
圖26和圖27是表示圖24所示的步驟S503的非點象差調整處理的詳細的處理的流程圖。
如圖26所示，CPU18作為準備階段將變量m的值設定為0(m＝0)(步驟S521)。然后，對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡位于規(guī)定的基準位置(開始位置)(步驟S522)。伺服部件6根據(jù)該指令，對準直透鏡控制致動器73提供用于使準直透鏡42移動到開始位置的信號(電流)，準直透鏡控制致動器73使準直透鏡42移動到開始位置。
而且，準直透鏡控制致動器73由與聚焦致動器相同的結構來構成。
接著，判斷m的值是否與M(例如11)一致(步驟S523)，在不一致的情況下(步驟S523的否)，對峰值保持電路(PH)913、915、919、921發(fā)出指令，在該準直透鏡42的位置測量作為RF信號和WBL信號的各振幅電平(在DVD-R盤、DVD-RW盤的情況下為LPP信號電平(LPP信號值))的RF振幅值rm和WBL振幅值wm，將該測量出的RF振幅值和WBL振幅值(或者LPP信號值)與這時的m的值一起存儲在RAM19中(步驟S524)。
而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。
例如，在規(guī)定地址檢測RF振幅值rm和WBL振幅值wm，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記或空間的區(qū)域(測試區(qū)域)中，進行RF振幅值rm和WBL振幅值wm的檢測。
這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF振幅值的振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄的規(guī)定標記檢測RF振幅值rm。而且，WBL振幅值的檢測在沒有標記的區(qū)域中進行也可以。這時，可以得到不被RF信號影響的WBL信號。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使準直透鏡42從其位置向沿著光路的方向(例如，向接近半導體激光器光源的方向)僅移動q[μm](例如0.1μm)。伺服部件6根據(jù)該指令對準直透鏡控制致動器73提供用于使準直透鏡42從該位置向沿著光路的方向僅移動q[μm]的信號，準直透鏡控制致動器73使準直透鏡42從該位置向沿著光路的方向僅移動q[μm](步驟S525)。
然后，使m的值僅增加1(m＝m+1)(步驟S526)，返回步驟S523的判斷處理。
然后，重復步驟S523～S526的處理，直到判斷m的值和M的值一致(步驟S523的是)。
在判斷出m的值和M的值一致的情況下(步驟S523的是)，在存儲于RAM19中的RF振幅值(RF信號振幅電平測量值)中求最大值的RF振幅值，求與該RF振幅值對應的m的值(mrmax)(步驟S527)。
進而，在存儲于RAM19中的WBL振幅值(WBL信號振幅電平測量值)中求最大值的WBL振幅值，求與該WBL振幅值對應的m的值(mwmax)(步驟S528)，進入圖27的步驟S529。
在圖27所示的步驟S529中，判斷對應于上述最大值的RF振幅值的m的值mrmax和對應于上述最大值的WBL振幅值的m的值mwmax是否一致，在mrmax和mwmax不一致的情況下(步驟S529的否)，即，RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置和WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置不同的情況下，對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向(例如遠離半導體激光器光源的方向)僅移動q×{M-1-(mrmax+mwmax)/2}[μm]。
伺服部件6根據(jù)該指令，對準直透鏡控制致動器73提供用于使準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向僅移動q×{M-1-(mrmax+mwmax)/2}[μm]的信號，準直透鏡控制致動器73使準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向僅移動q×{M-1-(mrmax+mwmax)/2}[μm](步驟S530)。
通過該處理，可以使準直透鏡42移動到RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置和WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置的中間位置。因此，可以減少非點象差的影響。
另一方面，在mrmax和mwmax一致的情況下(步驟S529的是)，即，RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置和WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置相同的情況下，對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向(例如遠離半導體激光器光源的方向)僅移動q×(M-1-mrmax)[μm]。
伺服部件6根據(jù)該指令，對準直透鏡控制致動器73提供用于使準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向移動q×(M-1-mrmax)[μm]的信號，準直透鏡控制致動器73使準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向移動q×(M-1-mrmax)[μm](步驟S531)。
由此，使準直透鏡42移動到RF振幅值和WBL振幅值為最大的位置，可以調整非點象差。
而且，在步驟S529中，mrmax和mwmax不一致的情況下，在重視RF信號的檢測的情況下，為了使準直透鏡42移動到RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置，也可以對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向(例如遠離半導體激光器光源的方向)僅移動q×(M-1-mrmax)[μm]。
取而代之，即使在RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置和WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置之間，也可以使準直透鏡42移動到RF振幅值為最大的位置。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，為了使準直透鏡42移動到WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置，也可以對伺服部件6發(fā)出指令，使得準直透鏡42從該位置向沿著光路的另一個方向(例如遠離半導體激光器光源的方向)僅移動q×(M-1-mwmax)[μm]。
取而代之，即使在RF振幅值為最大的準直透鏡42的位置和WBL振幅值為最大的準直透鏡42的位置之間，也可以使準直透鏡42移動到WBL振幅值為最大的位置。
這樣，在對非點象差校正(調整)結束時，結束該非點象差校正處理。
接著，對圖14(A)和圖14(B)所示的結構(使用折射率可變元件的結構)中的非點象差調整處理進行說明。
圖28和圖29是表示圖24所示的步驟S503的另一個非點象差調整處理的流程圖。
如圖28所示，CPU18作為準備階段將變量m的值設定為0(m＝0)(步驟S541)。然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以便對折射率可變元件75施加規(guī)定的基準電壓(開始電壓)。伺服部件6根據(jù)該指令，對折射率可變元件75提供開始電壓(步驟S542)。
接著，判斷m的值是否與M(例如11)一致(步驟S543)，在不一致的情況下(步驟S543的否)，對峰值保持電路(PH)913、915、919、921發(fā)出指令，測量在該施加電壓下的作為RF信號和WBL信號的各振幅電平(在DVD-R盤、DVD-RW盤的情況下為LPP信號電平(LPP信號值))的RF振幅值rm和WBL振幅值wm，將該測量出的RF振幅值rm和WBL振幅值wm(或者LPP信號電平)與這時的m的值一起存儲在RAM19中(步驟S544)。
而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。
例如，在規(guī)定地址檢測RF振幅值rm和WBL振幅值wm，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記或空間的區(qū)域(測試區(qū)域)中，進行RF振幅值rm和WBL振幅值wm的檢測。
這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF振幅值的振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。而且，也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄的規(guī)定標記檢測RF振幅值rm。而且，WBL振幅值的檢測在沒有標記的區(qū)域中進行也可以。這時，可以得到不被RF信號影響的WBL信號。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，使得施加電壓僅增加V[V]。伺服部件6根據(jù)該指令，使對折射率可變元件75施加的電壓增加V[V](步驟S545)。然后，使m的值僅增加1(m＝m+1)(步驟S546)，返回步驟S543的判斷處理。
然后，重復步驟S543～S546的處理，直到判斷m的值和M的值一致(步驟S543的是)。
在判斷出m的值和M的值一致的情況下(步驟S543的是)，在存儲于RAM19中的RF振幅值(RF信號振幅電平測量值)中求最大值的RF振幅值，求與該RF振幅值對應的m的值(mrmax)(步驟S547)。
進而，在存儲于RAM19中的WBL振幅值(WBL信號振幅電平測量值)中求最大值的WBL振幅值，求與該WBL振幅值對應的m的值(mwmax)(步驟S548)，進入圖29的步驟S549。
在圖29所示的步驟S549中，判斷對應于上述最大值的RF振幅值的m的值mrmax和對應于上述最大值的WBL振幅值的m的值mwmax是否一致，在mrmax和mwmax不一致的情況下(步驟S549的否)，即，RF振幅值為最大的施加電壓和WBL振幅值為最大的施加電壓不同的情況下，對伺服部件6發(fā)出指令，使得在步驟S550中從這時的(當前的)施加電壓中僅減少V×{M-1-(mrmax+mwmax)/2}[V]。伺服部件6根據(jù)該指令，將對折射率可變元件75施加的電壓僅降低V×{M-1-(mrmax+mwmax)/2}[V]。
通過該處理，可以將施加電壓設定為RF振幅值最大的施加電壓和WBL振幅值最大的施加電壓的中間電壓。因此，可以減少非點象差的影響。
另一方面，在mrmax和mwmax一致的情況下(步驟S549的是)，即，RF振幅值為最大的施加電壓和WBL振幅值為最大的施加電壓相同的情況下，對伺服部件6發(fā)出指令，使得從當前的施加電壓中僅減少V×(M-1-mrmax)[V]。伺服部件6根據(jù)該指令，將對折射率可變元件75施加的電壓僅降低V×(M-1-mrmax)[V]。
由此，設定為RF振幅值和WBL振幅值為最大的施加電壓，可以調整非點象差。
而且，在mrmax和mwmax不一致的情況下(步驟S549)，在重視RF信號的檢測的情況下，為了施加RF振幅值為最大的施加電壓，也可以對伺服部件6發(fā)出指令，使得從當前的施加電壓中僅減少V×(M-1-mrmax)[V]。
取而代之，即使在RF振幅值為最大的施加電壓和WBL振幅值為最大的施加電壓之間，也可以對折射率可變元件75施加接近于RF振幅值為最大的施加電壓的施加電壓。
另一方面，在重視WBL信號的檢測的情況下，為了施加WBL振幅值為最大的施加電壓，也可以對伺服部件6發(fā)出指令，使得從當前的施加電壓中僅減少V×(M-1-mwmax)[V]。
取而代之，即使在RF振幅值為最大的施加電壓和WBL振幅值為最大的施加電壓之間，也可以對折射率可變元件75施加接近于WBL振幅值為最大的施加電壓的施加電壓。
這樣，在對非點象差校正并結束時，結束該非點象差校正處理。
圖30是表示圖24所示的聚焦偏移設定處理(步驟S502)的詳細的處理的流程圖。
該處理是為了將物鏡45的聚焦位置設為RF振幅值為最大值的位置(RF信號的振幅電平為最大的位置)和WBL振幅值為最大值的位置(WBL信號的振幅電平為最大的位置)的中間位置，對聚焦伺服信號重疊偏移信號的處理。
首先，CPU18作為準備階段，將變量n的值設定為0(步驟S561)。然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從聚焦打開(ON)的聚焦位置向遠離光盤D的方向移動S[μm](例如0.5μm)。
伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于使物鏡45從聚焦打開(ON)的聚焦位置向遠離光盤D的方向僅移動S[μm]的信號(電流)，物鏡控制致動器48使物鏡45從聚焦打開的聚焦位置向遠離光盤D的方向僅移動S[μm](例如0.5μm)(步驟S562)。
接著，判斷n的值是否與N(例如為11)一致(步驟S563)。在判斷為不一致的情況下(步驟S563的否)，對峰值保持電路(PH)913、915、919、921提供指令，在該物鏡45的位置測量作為RF信號和WBL信號的各振幅電平(在DVD-R盤、DVD-RW盤的情況下，為LPP信號電平(LPP信號值))的RF振幅值rn和WBL振幅值wn，并將該測量的RF振幅值和WBL振幅值(或者LPP信號值)與這時的n的值一起存儲在RAM19中(步驟S564)。
而且，執(zhí)行本處理的條件(測量位置、測量標記長度)在每次都需要一樣。
例如，在規(guī)定地址檢測RF信號振幅值rn和WBL振幅值wn，或者在規(guī)則地記錄著規(guī)定的標記或空間的區(qū)域(測試區(qū)域)中，進行RF振幅值rn和WBL振幅值wn的檢測。這時，盡可能地使用標記長度長者(例如作為最長標記長度的14T)可以增大RF振幅值的振幅電平，可以進行高精度的電平檢測。也可以在處理前在測試區(qū)域中記錄規(guī)定標記，并根據(jù)該記錄的規(guī)定標記檢測RF振幅值rn。
而且，WBL振幅值的檢測在沒有標記的區(qū)域中進行也可以。
這時，可以得到不被RF信號影響的WBL信號。
然后，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](例如0.1μm)。伺服部件6根據(jù)該指令對物鏡控制致動器(聚焦線圈)36提供用于使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm]的信號。物鏡控制致動器48使物鏡45從該位置向接近光盤D的方向僅移動Q[μm](步驟S565)。
然后，使n的值僅增加1(n＝n+1)，返回步驟S563的判斷處理(步驟S566)。
然后，重復步驟S563～S566的處理，直到判斷n的值和N的值一致(步驟S563的是)。
在判斷出n的值和N的值一致的情況下(步驟S563的是)，在存儲于RAM19中的RF振幅值(RF信號振幅電平測量值)中求最大值，求與該RF振幅值對應的n的值(nrmax)(步驟S567)。
進而，在存儲于RAM19中的WBL振幅值(WBL信號振幅電平測量值)中求最大值，求與該WBL振幅值對應的n的值(nwmax)(步驟S568)。
接著，對伺服部件6發(fā)出指令，以使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向僅移動Q×{N-1-(nrmax+nwmax)/2}[μm]。伺服部件6根據(jù)該指令，對物鏡控制致動器(聚焦線圈)48提供用于僅使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向移動Q×{N-1-(nrmax+nwmax)/2}[μm]的信號，物鏡控制致動器48僅使物鏡45從該位置向遠離光盤D的方向移動Q×{N-1-(nrmax+nwmax)/2}[μm](步驟S569)。
由此，可以使物鏡45移動到RF振幅值為最大的物鏡45的位置和WBL振幅值為最大的物鏡45的位置的中間位置。即，該信號的值(電流值)相當于聚焦偏移的值。
在該處理結束時，聚焦偏移的設定處理結束。
而且，在本處理例中，一邊使物鏡45暫時遠離光盤D后緩慢地靠近一邊測量RF振幅a，但不限于此，也可以進行暫時接近光盤D后緩慢遠離來測量的處理。
而且，在上述的全部處理中，也可以通過近似運算和插補運算求RF信號和WBL信號的振幅的最大值，使物鏡或者準直透鏡移動，或者調整折射率可變元件的施加電壓，以成為通過該運算求出的最大值。
通過在記錄動作之前進行以上的控制，可以抑制由于記錄動作之前上升的光盤裝置內溫度而產(chǎn)生的也包括光盤基板的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
而且，通過在記錄動作之后進行上述控制，可以抑制由于記錄動作而上升的光盤裝置內的溫度所產(chǎn)生的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
而且，通過在數(shù)據(jù)連續(xù)記錄中，以特定的時間間隔(例如每5分鐘1次，記錄1000軌道后1次等)進行上述控制，可以抑制由于記錄動作而上升的驅動器內的溫度所產(chǎn)生的光學系統(tǒng)的偏差引起的非點象差導致的不良情況。
此外，通過在光盤的特定位置(例如，半徑30mm、40mm、50mm)進行上述控制，可以抑制光盤固有的彎曲等引起的非點象差導致的不良情況。
這樣，為了抑制C/N(S/N)惡化，通過在從光源到光盤的光路中設置非點象差產(chǎn)生部件，并通過根據(jù)從溝得到的信號和信息信號兩者生成的控制信號來進行控制，從而使點特性變化，即使在點中存在非點象差的情況下，也可以進行控制，以對從溝得到的信號和信息信號兩者保持適當?shù)腟/N，可以使可靠性提高。
而且，作為象差生成部件，通過使用折射率可變部件，可以沒有驅動機構地將非點象差產(chǎn)生部件固定配置在光學系統(tǒng)內，可以提高可靠性。
進而，通過使用一般的元件，可以增加控制的穩(wěn)定性而提高可靠性，也可以降低裝置的成本。
而且，將液晶的電極圖案設為單一平面圖案，并可以實現(xiàn)液晶元件的低成本化和液晶元件的設置精度的緩和。進而，可以實現(xiàn)液晶元件的設置精度的緩和。
再有，對于光拾取器的組裝誤差和隨時間變化、溫度變化產(chǎn)生的非點象差的變化，作為驅動器進行控制，以便對從溝得到的信號和信息信號兩者保持適當?shù)腟/N，可以使驅動器的可靠性提高。
而且，在實施方式1、2中，作為折射率可變元件，除了前述的例子，也可以使用固態(tài)結晶元件構成的電光學元件等。
如以上說明的那樣，實施方式1是在象差中主要調整球面象差的處理，實施方式2是主要調整非點象差的處理。而且，作為非點象差、球面象差以外的象差，已知有慧差、畸變象差、像面象差的賽德爾(Seidel)的5個象差。而且，除了賽德爾的5個象差以外，作為象差還有色象差。在本發(fā)明中，不限于球面象差、非點象差，在由于光學系統(tǒng)而產(chǎn)生這些象差的情況下，考慮一起降低這些象差的影響。
而且，本發(fā)明不限于上述實施例，不用說，在本發(fā)明的范圍內可以進行各種改良和變更。
本發(fā)明在產(chǎn)業(yè)上的可利用性在于，如以上說明的那樣，按照本發(fā)明，即使在對光信息記錄介質照射的光點中存在非點象差、球面象差等象差的情況下，也可以對從溝得到的信號和信息信號兩者保持適當?shù)腟/N。
權利要求
1.一種象差調整裝置，具有象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述象差。
2.如權利要求1所述的象差調整裝置，具有合焦部件，使產(chǎn)生了所述象差的光合焦在所述光信息記錄介質上。
3.如權利要求2所述的象差調整裝置，所述象差調整部件調整所述象差，使得所述再現(xiàn)信號的振幅為最大的合焦位置和所述溝形狀信號的振幅為最大的合焦位置的差比規(guī)定值小。
4.如權利要求2所述的象差調整裝置，所述象差調整部件調整所述象差，使得所述再現(xiàn)信號的振幅為最大的合焦位置和所述溝形狀信號的振幅為最大的合焦位置一致。
5.如權利要求2所述的象差調整裝置，所述合焦部件根據(jù)所述再現(xiàn)信號調整光的合焦位置。
6.如權利要求2所述的象差調整裝置，所述合焦部件根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號調整光的合焦位置。
7.如權利要求1所述的象差調整裝置，所述象差調整部件調整由所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的象差，使得所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號的振幅為最大。
8.如權利要求1所述的象差調整裝置，所述象差調整部件在所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號的振幅為最大的條件各自不同的情況下，調整由所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的象差，使其為各條件下的振幅的平均。
9.如權利要求1所述的象差調整裝置，所述象差產(chǎn)生部件通過設置在從所述光源照射光的光路中的準直透鏡來產(chǎn)生所述象差，所述象差調整部件使所述準直透鏡向所述光路方向移動，從而調整所述象差。
10.如權利要求1所述的象差調整裝置，所述象差產(chǎn)生部件通過設置在從所述光源照射光的光路中的折射率可變元件來產(chǎn)生所述象差，所述象差調整部件改變所述折射率可變元件的折射率來調整所述球面象差。
11.如權利要求10所述的象差調整裝置，所述折射率可變元件為液晶元件。
12.如權利要求11所述的象差調整裝置，所述液晶元件被配置在所述光路的發(fā)散或者會聚光路中。
13.如權利要求11所述的象差調整裝置，所述液晶元件被配置在所述光路的平行光路中。
14.一種光拾取器，具有象差調整裝置，該象差調整裝置具有象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述象差，通過由所述象差調整裝置調整了球面象差的光對所述光信息記錄介質進行信息的記錄或者再現(xiàn)。
15.一種光信息記錄介質裝置，具有象差調整裝置，該象差調整裝置具有象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述象差，通過由所述象差調整裝置調整了象差的光對所述光信息記錄介質進行信息的記錄或者再現(xiàn)。
16.一種可在計算機中讀取的程序，該程序使對所述光信息記錄介質照射光，從而進行信息的記錄或者再現(xiàn)的光信息記錄介質裝置執(zhí)行以下部件象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生球面象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述球面象差。
17.一種存儲可在計算機中讀取的程序的存儲介質，該程序使對所述光信息記錄介質照射光，從而進行信息的記錄或者再現(xiàn)的光信息記錄介質裝置執(zhí)行以下部件象差產(chǎn)生部件，使從光源照射的光產(chǎn)生球面象差；再現(xiàn)信號取得部件，從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號；溝形狀信號取得部件，從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號；以及象差調整部件，根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的所述球面象差。
18.一種象差調整方法，包含以下步驟使從光源照射的光產(chǎn)生象差的步驟；從來自具有引導溝的光信息記錄介質的反射光取得信息的再現(xiàn)信號的步驟；從來自所述光信息記錄介質的反射光取得與所述引導溝的形狀對應的溝形狀信號的步驟；以及根據(jù)所述再現(xiàn)信號和所述溝形狀信號，調整所述象差的步驟。
全文摘要
在光拾取器中，通過使準直透鏡向光路方向移動等，使從作為光源的半導體激光器照射的激光中產(chǎn)生球面象差。在控制信號生成部中，從來自光盤的反射光中取得信息的再現(xiàn)信號(RF信號)，并且取得對應于光盤的引導溝的形狀的溝形狀信息(擺動信號、LPP信號)。然后，根據(jù)該RF信號和擺動信號或者LPP信號，調整前述的球面象差，從而，即使在光點中存在非點象差的情況下，也可以對從溝得到的信號和信息信號兩者保持適當?shù)腟/N。
文檔編號G11B7/1369GK1846259SQ200480025010
公開日2006年10月11日 申請日期2004年3月15日 優(yōu)先權日2003年9月19日
發(fā)明者秋山洋 申請人:株式會社理光