專利名稱：光盤設(shè)備和相位差檢測(cè)器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤設(shè)備和相位差檢測(cè)器，具體地說，涉及具有獲取用于跟蹤控制的檢測(cè)信號(hào)相位差的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的光盤設(shè)備和相位差檢測(cè)器。
背景技術(shù)：
眾所周知，諸如DVD(數(shù)字多功能光盤)之類的光盤近年來作為數(shù)字記錄媒體流行。因此，也希望重放這種光盤的光盤設(shè)備具有高的可靠性。在這種光盤內(nèi)，存儲(chǔ)區(qū)設(shè)置在一些螺旋形的軌道上，而軌道號(hào)碼含有地址信息。
此外，在重放中快進(jìn)和快倒時(shí)，馬達(dá)將傳感器傳送到一定位置后，通過用致動(dòng)器適當(dāng)使鏡頭傾斜，相對(duì)軌道進(jìn)行細(xì)調(diào)(跟蹤控制)。跟蹤控制此時(shí)用跟蹤誤差信號(hào)進(jìn)行，跟蹤誤差信號(hào)是將來自一個(gè)光傳感器的4分光檢測(cè)器的檢測(cè)信號(hào)對(duì)角相加所得到的信號(hào)的相位差。
日本專利申請(qǐng)公開第11-149649號(hào)揭示了一種光盤設(shè)備，其中跟蹤控制用的跟蹤誤差信號(hào)用將來自光傳感器的4分光檢測(cè)器的檢測(cè)信號(hào)對(duì)角相加得到的信號(hào)的相位差確定。
然而，上述日本專利申請(qǐng)公開第11-149649號(hào)示出了一種通常所知的模擬型相位差檢測(cè)電路，在這種模擬型相位差檢測(cè)電路中對(duì)4分光檢測(cè)器的四個(gè)表面的各自對(duì)角相加(A+C，B+D)進(jìn)行二值化采樣，通過比較確定差分，而為了調(diào)整偏置和檢測(cè)相位差需要為比較進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的二值化采樣。
也就是說，由于這種電路是模擬型檢測(cè)電路，因此就有這樣的問題，即需要用較大規(guī)模的電路進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間的處理直到得到供跟蹤控制用的相位差信號(hào)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明考慮了以上情況，本發(fā)明的目的是提供一種光盤設(shè)備和相位差檢測(cè)器，具有一個(gè)由一個(gè)小規(guī)模、高處理速度的數(shù)字電路形成的相位差信號(hào)檢測(cè)電路，用來產(chǎn)生跟蹤控制所用的相位差信號(hào)。
按照本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種光盤設(shè)備，這種光盤設(shè)備包括一個(gè)讀取部，配置成通過用一個(gè)4分部件讀取一個(gè)射到光盤上的聚束光點(diǎn)的反射光，輸出第一至第四讀取信號(hào)；第一相加部，配置成通過以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)來自讀取部的第一讀取信號(hào)和第三讀取信號(hào)進(jìn)行采樣和相加，輸出第一相加信號(hào)；第二相加部，配置成通過以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)來自讀取部的第二讀取信號(hào)和第四讀取信號(hào)進(jìn)行采樣和相加，輸出第二相加信號(hào)；檢測(cè)部，配置成在對(duì)第一相加信號(hào)與第二相加信號(hào)的比較得出值不相同時(shí)，通過使第一相加部和第二相加部的采樣定時(shí)不同，再重復(fù)進(jìn)行比較直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一相加信號(hào)與第二相加信號(hào)之間的相位差信號(hào)；以及控制部，配置成根據(jù)來自檢測(cè)部的相位差信號(hào)在跟蹤中對(duì)聚束光點(diǎn)進(jìn)行控制。
按照本發(fā)明的另一方面，提供了一種相位差檢測(cè)器，這種相位差檢測(cè)器包括一個(gè)比較部，配置成將一個(gè)以第一定時(shí)采樣的第一信號(hào)與一個(gè)以第二定時(shí)采樣的第二信號(hào)相比較；以及檢測(cè)部，配置成在比較部得出第一信號(hào)與第二信號(hào)值不相同時(shí)，通過使第一定時(shí)與第二定時(shí)不同再重復(fù)進(jìn)行比較直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一信號(hào)與第二信號(hào)的相位差信號(hào)。


圖1為示出按照本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的方框圖；圖2為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的傳感器的詳細(xì)情況的方框圖；圖3為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的詳細(xì)情況的方框圖；
圖4為用于說明按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路所用的檢測(cè)信號(hào)的一個(gè)例子的時(shí)序圖；圖5為用于說明在沒有用按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路時(shí)的處理例子的時(shí)序圖；圖6為說明按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理操作的流程圖；圖7為用于說明按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理操作的時(shí)序圖；以及圖8為用于說明按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理操作的時(shí)序圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。如下面所述的實(shí)施例將以一個(gè)具有一個(gè)檢測(cè)作為供跟蹤控制用的跟蹤信號(hào)的相位差的跟蹤誤差信號(hào)TE的相位差檢測(cè)電路的光盤設(shè)備為例進(jìn)行說明。然而，按照本發(fā)明設(shè)計(jì)的相位差檢測(cè)器是可以在用普通電子設(shè)備檢測(cè)模擬信號(hào)相位差時(shí)應(yīng)用的技術(shù)。
圖1為示出用來說明該實(shí)施例的光盤設(shè)備的方框圖。圖2為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的傳感器的詳細(xì)情況的方框圖。圖3為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的詳細(xì)情況的方框圖。
(按照實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備)結(jié)構(gòu)和操作按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的一個(gè)例子具有圖1所示的配置。其中，光盤D是一個(gè)能記錄用戶數(shù)據(jù)項(xiàng)的光盤或?qū)Ｓ糜谧x取這些數(shù)據(jù)項(xiàng)的光盤。在該實(shí)施例中，光盤將作為一個(gè)能記錄數(shù)據(jù)項(xiàng)的光盤進(jìn)行說明。能記錄數(shù)據(jù)項(xiàng)的光盤包括諸如DVD-R、DVD-RAM、CD-R和CD-RW之類的光盤。
在光盤D的表面上形成一些螺旋形的凸緣軌道和凹槽軌道。光盤D在主軸馬達(dá)13驅(qū)動(dòng)下旋轉(zhuǎn)。對(duì)于光盤D的信息項(xiàng)用傳感器15記錄在光盤D上和從光盤D上重放。
在傳感器15上，配置了一個(gè)物鏡22，如圖2所示。物鏡22可以在驅(qū)動(dòng)線圈21的驅(qū)動(dòng)下沿聚焦方向(鏡頭的光軸方向)移動(dòng)。此外，物鏡22可以在驅(qū)動(dòng)線圈20的驅(qū)動(dòng)下沿跟蹤方向(與鏡頭光軸垂直的方向)移動(dòng)。跟蹤控制可以通過移動(dòng)激光的聚束光點(diǎn)來實(shí)現(xiàn)。
半導(dǎo)體激光二極管28按照未示出的激光控制電路提供的信號(hào)產(chǎn)生激光。半導(dǎo)體激光二極管28所產(chǎn)生的激光通過準(zhǔn)直鏡25、半棱鏡24、光學(xué)系統(tǒng)23和物鏡22射到光盤D上。從光盤D反射的反射光通過物鏡22、光學(xué)系統(tǒng)23、半棱鏡24和聚光鏡27傳送給光檢測(cè)器(PD)26。
跟蹤誤差/聚焦誤差光檢測(cè)器26包括四個(gè)分光檢測(cè)單元，它們向RF放大器12提供信號(hào)A、B、C和D。如稍后要說明的那樣，RF放大器12將信號(hào)A、B、C和D提供給數(shù)字相位差檢測(cè)電路39。數(shù)字相位差檢測(cè)電路39通過數(shù)據(jù)總線DB將相位差比較結(jié)果R提供給CPU 40。
此外，RF放大器12將等于(A+C)-(B+D)的聚焦誤差信號(hào)FE提供給聚焦控制部37。RF放大器12還將等于(A+C)-(B+D)的擺動(dòng)信號(hào)WB提供給擺動(dòng)PLL部/地址檢測(cè)部36和將等于(A+C)-(B+D)的RF信號(hào)提供給數(shù)據(jù)重放部35。
這里，RF放大器12向跟蹤控制部38提供用推挽法產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)TE(PP)和用3光束法產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)TE(3B)。
下面將簡(jiǎn)單地說明一下DPD法、PP法和3光束法。DPD法是在這個(gè)實(shí)施例中要說明的數(shù)字相位差檢測(cè)電路39的相位差檢測(cè)方法。DPD法是一種根據(jù)傳感器對(duì)角計(jì)算檢測(cè)相位差再用相位差調(diào)整鏡頭的方法。PP法是一種根據(jù)軌道徑向內(nèi)部與外部的輸出和的差分值調(diào)整鏡頭的方法。這個(gè)差分值等于(A+D)-(B+C)。3光束法是一種通過在軌道上布置一些主光束和兩個(gè)子光束根據(jù)兩個(gè)光束的光量的差分值調(diào)整鏡頭的方法。
此外，跟蹤控制部38還按照CPU 40根據(jù)數(shù)字相位差檢測(cè)電路39提供的相位差結(jié)果信號(hào)R產(chǎn)生的跟蹤誤差信號(hào)TE(DPD)，產(chǎn)生軌道驅(qū)動(dòng)信號(hào)，并將它提供給跟蹤方向的驅(qū)動(dòng)線圈20。
此外，在跟蹤控制部38內(nèi)按照光盤類型選擇跟蹤誤差信號(hào)。在CD(CD-ROM之類)的重放系統(tǒng)中，選擇用3光束法得到的TE(3B)。在CD(CD-R，CD-RW之類)的記錄系統(tǒng)中，選擇用3光束法/PP法得到的TE(PP)或TE(3B)。在DVD(DVD-ROM之類)的重放系統(tǒng)中，選擇用DPD法得到的TE(DPD)。在DVD(DVD-RAM，DVD-R，DVD-RW之類)的記錄系統(tǒng)中，選擇用PP法得到的TE(PP)。這里，在下一代DVD中，也是在重放系統(tǒng)中用DPD法，在記錄系統(tǒng)中用PP法。
另一方面，聚焦控制部37的輸出信號(hào)提供給聚焦驅(qū)動(dòng)線圈21。結(jié)果，不斷地將激光控制成正好聚焦在光盤D的記錄膜上。
由于聚焦控制和跟蹤控制，光檢測(cè)器26內(nèi)的光檢測(cè)單元的輸出信號(hào)的和信號(hào)RF反映了在光盤D的軌道上形成的凹坑等的反射率相應(yīng)于記錄信息的改變。這個(gè)信號(hào)提供給數(shù)據(jù)重放部35。
其他處理在物鏡22用以上跟蹤控制部38控制時(shí)，傳感器15在未示出的線程馬達(dá)的控制下使得物鏡22位于光盤的最適當(dāng)位置。
數(shù)據(jù)重放部35根據(jù)來自PLL電路16的重放時(shí)鐘信號(hào)重放記錄數(shù)據(jù)項(xiàng)。此外，數(shù)據(jù)重放部35還具有測(cè)量信號(hào)RF的振幅的功能，所測(cè)得的值用CPU 40讀取。
此外，馬達(dá)控制電路14、激光控制電路、PLL電路16、數(shù)據(jù)重放部35、聚焦控制部37、跟蹤控制部38、數(shù)字相位差檢測(cè)電路39之類可以都配置在一個(gè)LSI芯片上，作為一個(gè)伺服控制電路。而且，這些電路可以用CPU 40通過總線DB控制。
CPU 40按照主機(jī)44通過接口電路43提供的操作命令對(duì)光盤設(shè)備進(jìn)行總體控制。此外，CPU 40用RAM 41作為工作區(qū)，按照記錄在ROM42上的控制程序進(jìn)行預(yù)定操作。
此外，如圖3所示，數(shù)字相位差檢測(cè)電路39具有時(shí)鐘振蕩部50，以及用時(shí)鐘振蕩部50提供的時(shí)鐘信號(hào)CLK對(duì)RF放大器12分別提供的讀取信號(hào)A、讀取信號(hào)B、讀取信號(hào)C和讀取信號(hào)D進(jìn)行A/D變換的A/D電路52、53、54和55。
數(shù)字相位差檢測(cè)電路39還具有分別接收A/D電路52、53、54、55的輸出和時(shí)鐘信號(hào)CLK的寄存器存儲(chǔ)/代碼處理部56、57、58、59，以及具有分別接收寄存器存儲(chǔ)/代碼處理部56、57、58、59的輸出和偏置信號(hào)OA、OB、OC、OD的偏置計(jì)算部60、61、62、63。
數(shù)字相位差檢測(cè)電路39還具有一個(gè)從偏置計(jì)算部60和62接收按檢測(cè)信號(hào)A和C偏置的兩個(gè)計(jì)算信號(hào)用來進(jìn)行相加處理的相加部64和一個(gè)從偏置計(jì)算部61和63接收按照檢測(cè)信號(hào)B和D偏置的兩個(gè)計(jì)算信號(hào)用來進(jìn)行相加處理的相加部65，這兩個(gè)相加部的相加結(jié)果提供給檢測(cè)部66進(jìn)行信號(hào)比較處理。檢測(cè)部66通過例如數(shù)據(jù)總線DB將相位比較結(jié)果R提供給CPU 40等。
數(shù)字相位差檢測(cè)電路39還具有一個(gè)采樣定時(shí)產(chǎn)生部51。采樣定時(shí)產(chǎn)生部51從時(shí)鐘振蕩部50接收時(shí)鐘信號(hào)CLK和從檢測(cè)部66和CPU 40接收相位比較結(jié)果R，產(chǎn)生適當(dāng)?shù)牟蓸佣〞r(shí)信號(hào)提供給A/D電路52、53、54和55。
(按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的操作)下面將結(jié)合附圖詳細(xì)說明以上光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的操作。圖4為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路所用的檢測(cè)信號(hào)的一個(gè)例子的時(shí)序圖。圖5為示出在沒有使用按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路時(shí)的處理例子的時(shí)序圖。圖6為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理的一個(gè)例子的流程圖。圖7為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理的一個(gè)例子的時(shí)序圖。圖8為示出按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的光盤設(shè)備的數(shù)字相位差檢測(cè)電路的處理的一個(gè)例子的時(shí)序圖。
普通相位差檢測(cè)電路首先，說明普通相位差檢測(cè)電路的原理。在圖4中，在時(shí)期T1，圖2中所示的光檢測(cè)器26檢測(cè)到的聚束光點(diǎn)產(chǎn)生一個(gè)在時(shí)序圖上方的軌道偏移。然后，在時(shí)期T2，聚束光點(diǎn)呈現(xiàn)沒有軌道偏移的狀態(tài)。最后，在時(shí)期T3，聚束光點(diǎn)產(chǎn)生一個(gè)在時(shí)序圖下方的軌道偏移。
業(yè)已明確的是，這樣的聚束光點(diǎn)的軌道偏移反映為光檢測(cè)器26內(nèi)4分光檢測(cè)器的四個(gè)表面的各自對(duì)角相加的信號(hào)S1和S2(A+C，B+D跟蹤誤差信號(hào))的相位差偏移。因此，在進(jìn)行跟蹤控制時(shí)，要求確實(shí)檢測(cè)對(duì)角相加的信號(hào)S1和S2的相位差偏移。
沒有使用該實(shí)施例的相位差檢測(cè)電路下面將說明用沒有使用該實(shí)施例的相位差檢測(cè)電路檢測(cè)對(duì)角相加的信號(hào)S1和S2的相位差偏移的情況。也就是說，采用圖5所示的DPD法，用4分光檢測(cè)器檢測(cè)從光盤反射的光束，確定4分光檢測(cè)器的四個(gè)表面的各自對(duì)角相加S1(＝A+C)和S2(＝B+D)，再對(duì)對(duì)角相加的結(jié)果S1和S2進(jìn)行二值化處理，如圖5所示。
然后，確定經(jīng)二值化的信號(hào)S1和S2的時(shí)差分量，再用該時(shí)差分量作為一個(gè)相位差信號(hào)用于跟蹤控制。這樣，由于相位差信號(hào)根據(jù)對(duì)角相加信號(hào)S1和S2的相對(duì)關(guān)系確定，因此在相位差中需要長(zhǎng)時(shí)間比較。
應(yīng)提一下的是，在圖5中，光束與凹坑之間的關(guān)系在時(shí)期T1向左偏移。接著，示出了在時(shí)期T2被引導(dǎo)到軌道上，而以后在時(shí)期T3關(guān)系向右偏移的情況。在各時(shí)期T1至T3內(nèi)觀察信號(hào)的輸出時(shí)，S1(A+C)和S2(B+D)的相位改變?nèi)鐖D5所示，在時(shí)期T1相位滯后，在時(shí)期T2相位相同，而在時(shí)期T3相位超前。
按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的數(shù)字相位差檢測(cè)電路接下來將結(jié)合附圖詳細(xì)說明用以上按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的數(shù)字相位差檢測(cè)電路進(jìn)行以上相位差檢測(cè)處理的情況。按照該實(shí)施例，在檢測(cè)到存在作為光檢測(cè)器26的輸出A、B、C和D的對(duì)角相加得到的信號(hào)的相位差時(shí)，通過使在輸出A、B、C和D的A/D變換時(shí)的采樣定時(shí)不同來檢測(cè)相位差的大小。
結(jié)果，與傳統(tǒng)的模擬型相位差檢測(cè)器相同的功能可以用一個(gè)小規(guī)模的更為迅速地執(zhí)行處理的數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)。
在按照該實(shí)施例設(shè)計(jì)的數(shù)字相位差檢測(cè)電路39中，來自圖2中所示的四分光檢測(cè)器26的信號(hào)A、B、C和D通過RF放大器12提供，通過將相位差比較結(jié)果R按照CPU 40的采樣定時(shí)控制操作通過數(shù)據(jù)總線DB輸出給CPU 40之類，用CPU 40識(shí)別在該時(shí)點(diǎn)的相位差。
也就是說，首先，在數(shù)字相位差檢測(cè)電路39內(nèi)，接收來自時(shí)鐘振蕩部50的時(shí)鐘信號(hào)CLK。相同的定時(shí)信號(hào)從采樣定時(shí)產(chǎn)生部51提供給各個(gè)A/D電路52、53、54和55。
結(jié)果，在各個(gè)A/D電路52、53、54和55處，信號(hào)A、B、C和D如圖7所示以同樣的采樣定時(shí)受到A/D變換，被數(shù)字化。
接收到數(shù)字信號(hào)A、B、C和D后，寄存器存儲(chǔ)/代碼處理部56、57、58和59將數(shù)據(jù)項(xiàng)存儲(chǔ)在寄存器內(nèi)，以進(jìn)行進(jìn)一步的代碼處理。此后，這些數(shù)字信號(hào)和預(yù)先給出的偏置值OA、OB、OC和OD分別提供給偏置計(jì)算部60、61、62和63。根據(jù)這些值，對(duì)數(shù)字信號(hào)A、B、C和D進(jìn)行偏置計(jì)算。
然后，在圖6所示的流程圖內(nèi)，經(jīng)偏置計(jì)算的數(shù)字信號(hào)A和數(shù)字信號(hào)C在相加部64處相加。以同樣方式，經(jīng)偏置計(jì)算的數(shù)字信號(hào)B和數(shù)字信號(hào)D在相加部65處相加。相加結(jié)果在相位差的檢測(cè)部66進(jìn)行比較和處理。其結(jié)果通過例如數(shù)據(jù)總線DB輸出給CPU 40之類作為相位差結(jié)果R(S10)。
這里，在相位差結(jié)果為“0”或一個(gè)無限接近于“0”時(shí)(S11為“是”)，就表示不存在相位差。因此，CPU 40確定不存在相位差，所以不進(jìn)行跟蹤控制(S16)。
在相位差結(jié)果不為“0”時(shí)(S11為“否”)，CPU 40確定存在相位差。因此，向采樣定時(shí)產(chǎn)生部51提供控制信號(hào)C，以便通過將S1采樣與S2采樣的采樣時(shí)鐘偏移一個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行采樣(S12)。
結(jié)果，如圖8所示，采樣定時(shí)產(chǎn)生部51通過偏移一個(gè)時(shí)鐘為S1提供采樣定時(shí)t1和為S2提供采樣定時(shí)t2。然后，CPU 40所用的計(jì)數(shù)器的計(jì)數(shù)值加1(S13)。用這樣的采樣定時(shí)操作再次進(jìn)行前面提到的相位差比較處理。從而確定相位差比較結(jié)果R是否成為“0”(S14)。
在相位差比較結(jié)果R成為“0”時(shí)，認(rèn)為存在一個(gè)時(shí)鐘段的相位差。CPU 40確定相位差為一個(gè)時(shí)鐘段。用這樣的方式，給出相位差為一個(gè)時(shí)鐘CLK單位。如果相位差比較結(jié)果R沒有成為“0”，就確定需要進(jìn)一步移動(dòng)采樣定時(shí)t1。確定了需要移動(dòng)采樣定時(shí)t1，過程就返回步驟S12，繼續(xù)同樣的操作。
于是，這個(gè)過程一直繼續(xù)到相位差比較結(jié)果R成為“0”。CPU 40將與在相位差比較結(jié)果R成為“0”時(shí)的計(jì)數(shù)器值一致的相位差T輸出給跟蹤控制部38，例如作為跟蹤誤差信號(hào)TE(DPD)(S15)。
跟蹤控制部38通過按照跟蹤信號(hào)將驅(qū)動(dòng)信號(hào)提供給驅(qū)動(dòng)線圈20，在驅(qū)動(dòng)線圈20的驅(qū)動(dòng)下，使聚束光點(diǎn)沿跟蹤方向(與鏡頭的光軸垂直的方向)移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)跟蹤控制。
此外，如上所述，在這里優(yōu)選的是在跟蹤控制部38例如按照光盤類型選擇跟蹤誤差信號(hào)。例如，在CD(CD-ROM之類)的重放系統(tǒng)中，優(yōu)選的是選擇3光束法得到的TE(3B)。在CD(CD-R，CD-RW之類)的記錄系統(tǒng)中，優(yōu)選的是選擇用3光束法/PP法得到的TE(PP)或TE(3B)。在DVD(DVD-ROM之類)的重放系統(tǒng)中，優(yōu)選的是選擇用DPD法得到的TE(DPD)。在DVD(DVD-RAM，DVD-R，DVD-RW之類)的記錄系統(tǒng)中，優(yōu)選的是選擇用PP法得到的TE(PP)。
在下一代DVD中，DPD法用于重放系統(tǒng)，而PP法用于記錄系統(tǒng)。然而，本實(shí)施例并不局限于在這里所說明的選擇方法。按照技術(shù)狀況，可以選擇這些控制方法中的一種方法，或者組合使用這些方法。
按照上述實(shí)施例設(shè)計(jì)的數(shù)字相位差檢測(cè)方法，系統(tǒng)可以用小規(guī)模數(shù)字電路而不用模擬電路部配置。此外，可以用小規(guī)模電路通過只用經(jīng)偏移的采樣定時(shí)來比較信號(hào)實(shí)現(xiàn)迅速的相位差檢測(cè)。
此外，在以上實(shí)施例中，控制部的功能由CPU 40實(shí)現(xiàn)。優(yōu)選的是，控制部的操作可以作為例如數(shù)字相位差檢測(cè)電路39的采樣定時(shí)產(chǎn)生部51的功能實(shí)現(xiàn)。這樣，就能不需要CPU 40介入直接從數(shù)字相位檢測(cè)部39向跟蹤控制部38提供跟蹤誤差信號(hào)TE(DPD)。
此外，在以上實(shí)施例中，已作為一個(gè)例子說明了用相位差檢測(cè)電路產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)TE(DPD)以進(jìn)行光盤設(shè)備跟蹤控制的情況。然而，這個(gè)實(shí)施例并不局限于此。優(yōu)選的是，將這個(gè)電路應(yīng)用于設(shè)備內(nèi)處理其他信號(hào)的數(shù)字相位差檢測(cè)電路。
要提一下的是，本發(fā)明實(shí)際上并不局限于以上這個(gè)實(shí)施例。在實(shí)現(xiàn)這個(gè)實(shí)施例時(shí)，能根據(jù)本發(fā)明的精神以各種方式改變和具體實(shí)現(xiàn)各個(gè)組成部分。此外，能通過適當(dāng)合并在以上實(shí)施例中所揭示的多個(gè)組成部分從而形成本發(fā)明的各種型式。例如，有些組成部分可以從在這個(gè)實(shí)施例中所示出的所有組成部分中省去。此外，這些組成部分按照不同的實(shí)施方式可以予以適當(dāng)合并。
權(quán)利要求
1.一種光盤設(shè)備，其特征在于所述光盤設(shè)備包括一個(gè)讀取部(15)，配置成通過用一個(gè)4分部件讀取一個(gè)射到光盤(D)上的聚束光點(diǎn)的反射光，輸出第一至第四讀取信號(hào)(A至D)；第一相加部(52，54和64)，配置成通過以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)來自讀取部(15)的第一讀取信號(hào)(A)和第三讀取信號(hào)(C)進(jìn)行采樣和相加，輸出第一相加信號(hào)(A+C)；第二相加部(53，55和65)，配置成通過以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)來自讀取部(15)的第二讀取信號(hào)(B)和第四讀取信號(hào)(D)進(jìn)行采樣和相加，輸出第二相加信號(hào)(B+D)；檢測(cè)部(51，66)，配置成通過在比較第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)得出值不相同時(shí)，使第一相加部(52，54和64)與第二相加部(53，55和65)的采樣定時(shí)不同，再重復(fù)進(jìn)行比較直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)之間的相位差信號(hào)；以及控制部(35和38)，配置成根據(jù)來自檢測(cè)部(51和66)的相位差信號(hào)在跟蹤中對(duì)聚束光點(diǎn)進(jìn)行控制。
2.一種按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述第一相加部(52，54和64)和第二相加部(53，55和65)包括多個(gè)A/D變換部，配置成從讀取部(15)獲取第一至第四讀取信號(hào)(A至D)，通過以預(yù)定定時(shí)進(jìn)行采樣將這些信號(hào)A/D變換成數(shù)字信號(hào)。
3.一種按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述檢測(cè)部(51，66)包括一個(gè)計(jì)數(shù)器(40)，配置成在比較第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)得出值不相同時(shí)，通過使第一相加部(52，54和64)與第二相加部(53，55和65)的采樣定時(shí)不同再重復(fù)進(jìn)行比較直到達(dá)到值相同中對(duì)使采樣定時(shí)不同的頻數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)。
4.按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述光盤設(shè)備還包括一個(gè)時(shí)鐘產(chǎn)生部(50)，配置成產(chǎn)生一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)(CLK)，其中所述檢測(cè)部(51和66)配置成使得在對(duì)第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)的比較得出值不相同時(shí)，第一相加部(52，54和64)與第二相加部(53，55和65)的采樣定時(shí)以時(shí)鐘信號(hào)(CLK)的時(shí)鐘為單位相差。
5.一種按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述4分部件中用于從讀取部(15)輸出第一讀取信號(hào)(A)和第三讀取信號(hào)(C)的兩個(gè)單元配置在該4分部件內(nèi)的一個(gè)對(duì)角位置上，而用于輸出第二讀取信號(hào)(B)和第四讀取信號(hào)(D)的兩個(gè)單元配置在該4分部件內(nèi)的另一個(gè)對(duì)角位置上。
6.一種按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述光盤設(shè)備還包括多個(gè)偏置計(jì)算部(60至63)，配置成向第一相加部(52，54和64)和第二相加部(53，55和65)提供通過將相應(yīng)的偏置值與來自讀取部(15)的第一讀取信號(hào)至第四讀取信號(hào)(A至D)分別相加所得到的值。
7.一種按照權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其特征在于所述控制部(35和38)包括一個(gè)CPU(40)，配置成接收來自檢測(cè)部(51和66)的相位差信號(hào)，按照該相位差信號(hào)的值將一個(gè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)提供給一個(gè)致動(dòng)器(20)，以驅(qū)動(dòng)聚束光點(diǎn)所通過的物鏡(22)，從而實(shí)現(xiàn)跟蹤控制。
8.一種相位差檢測(cè)器，其特征在于所述相位差檢測(cè)器包括一個(gè)比較部(66)，配置成將一個(gè)以第一定時(shí)采樣的第一信號(hào)(A+C)與一個(gè)以第二定時(shí)采樣的第二信號(hào)(B+D)進(jìn)行比較；以及檢測(cè)部(51和66)，配置成通過在比較部(66)得出第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)值不相同時(shí)，使第一定時(shí)與第二定時(shí)不同，再重復(fù)比較直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)的相位差信號(hào)。
9.一種按照權(quán)利要求8所述的相位差檢測(cè)器，其特征在于所述檢測(cè)部(51，66)包括一個(gè)計(jì)數(shù)器(40)，配置成對(duì)使第一與第二定時(shí)不同的頻數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，而且所述檢測(cè)部(51，66)根據(jù)計(jì)數(shù)器(40)的計(jì)數(shù)結(jié)果檢測(cè)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)之間的相位差信號(hào)。
10.一種按照權(quán)利要求8所述的相位差檢測(cè)器，其特征在于所述相位差檢測(cè)器還包括一個(gè)時(shí)鐘產(chǎn)生部(50)，配置成產(chǎn)生一個(gè)時(shí)鐘信號(hào)(CLK)，其中所述檢測(cè)部(51和66)配置成使得在對(duì)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)的比較得出值不相同時(shí)，第一定時(shí)與第二定時(shí)以時(shí)鐘信號(hào)(CLK)的時(shí)鐘為單位相差。
11.一種檢測(cè)相位差的方法，其特征在于所述方法包括下列步驟將一個(gè)以第一定時(shí)采樣的第一信號(hào)(A+C)與一個(gè)以第二定時(shí)采樣的第二信號(hào)(B+D)進(jìn)行比較(S10)；通過在比較結(jié)果得出第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)值不相同時(shí)，使第一定時(shí)與第二定時(shí)不同，再重復(fù)比較直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)的相位差信號(hào)(S11至S14)。
12.一種按照權(quán)利要求11所述的檢測(cè)相位差的方法，其特征在于所述檢測(cè)相位差信號(hào)的步驟(S11至S14)包括對(duì)使第一與第二定時(shí)不同的頻數(shù)計(jì)數(shù)，并根據(jù)該計(jì)數(shù)結(jié)果檢測(cè)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)之間的相位差信號(hào)。
13.一種按照權(quán)利要求11所述的檢測(cè)相位差的方法，其特征在于在檢測(cè)相位差信號(hào)的步驟(S11至S14)中，在對(duì)第一信號(hào)(A+C)與第二信號(hào)(B+D)的比較得出值不相同時(shí)，使第一定時(shí)與第二定時(shí)以一個(gè)時(shí)鐘產(chǎn)生部(50)輸出的時(shí)鐘信號(hào)(CLK)的時(shí)鐘為單位相差。
全文摘要
用一個(gè)4分部件從一個(gè)光盤(D)獲取第一讀取信號(hào)至第四讀取信號(hào)(A至D)。以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)第一讀取信號(hào)和第三讀取信號(hào)(A和C)采樣后相加從而得到第一相加信號(hào)(A+C)，而以一個(gè)預(yù)定定時(shí)對(duì)第二讀取信號(hào)和第四讀取信號(hào)(B和D)采樣后相加從而得到第二相加信號(hào)(B+D)。在對(duì)第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)的比較得出值不相同時(shí)，通過使對(duì)第一相加信號(hào)(A+C)和第二相加信號(hào)(B+D)的采樣定時(shí)不同，再重復(fù)比較這兩個(gè)信號(hào)直到達(dá)到值相同，來檢測(cè)第一相加信號(hào)(A+C)與第二相加信號(hào)(B+D)的相位差信號(hào)，從而根據(jù)檢測(cè)到的相位差信號(hào)進(jìn)行跟蹤控制。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1637885SQ200410101098
公開日2005年7月13日 申請(qǐng)日期2004年12月24日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月25日
發(fā)明者小島訓(xùn), 米澤實(shí) 申請(qǐng)人:株式會(huì)社東芝