專利名稱：驗證測試用rom的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種驗證方法，尤其是涉及IC設(shè)計中驗證測試用ROM的方法。
背景技術(shù)：
目前，在IC設(shè)計領(lǐng)域，ROM驗證一般采用的是求和的方法來驗證，即比較所有ROM單元中的內(nèi)容的和是否和預(yù)期的所有內(nèi)容的和相等。對于TROM(測試用ROM)，程序會在TROM中分配兩個單元來存儲TROM的和的高位和低位以便于成測時進行比較和自測。而該程序本身又會對包含這兩個單元在內(nèi)的所有TROM的單元進行求和。即設(shè)TROM的和被存放在變量TROM_CheckSum_High和TROM_CheckSum_Low中，因為這兩個值本來就是TROM中兩個單元，在對TROM求和的同時也包含對這兩個單元的求和，如果這兩個單元的值改變，TROM的checksum和也會改變，同時，TROM的checksum和的改變也會引起TROM中的這兩個單元的值的改變，這樣就會形成一種循環(huán)。
如何能又快又準確的求整個TROM的和呢？傳統(tǒng)的辦法是用線性逼進的辦法去嘗試，即先估計出TROM的和的大概值，將其填入TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中，然后再對TROM求和，用求出的和再去修改TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low的值。重復以上過程，直到最后CheckSum的值和TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中的值吻合為止。
利用這種方法，帶有很大的隨機性，數(shù)據(jù)收斂的快慢與驗證人員的經(jīng)驗有很大關(guān)系。并且，由于驗證采用嘗試的方式進行，對于驗證人員的人力和時間都是一種浪費。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)的上述不足，提出一種具有較高速度和正確性的驗證測試用ROM的方法。
本發(fā)明的上述目的是通過下述技術(shù)方案實現(xiàn)的首先，在測試用ROM中預(yù)先分配四個存儲單元，分別用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，在驗證程序初次編譯之前，令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容互補，存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容互補；之后，編譯該驗證程序并對其二進制代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲于測試用ROM之中所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，并分別將其補碼存儲于測試用ROM中預(yù)先分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最后，通過編譯修改后的程序并對其二進制代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內(nèi)容是否正確。
和現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果由于本發(fā)明采用求補的方法，只需要一次編譯之后就可以求出TROM之和。將該值填入源程序中后，再次編譯之后求和，該和一定和上次所求的和相等。這樣，只需要一次編譯就求出了CheckSum的值，只需要再次編譯，就驗證了CheckSum的正確性，保證了其驗證的快速性和正確性。


圖1是用線性逼進的方法求checksum的示意圖；圖2是本發(fā)明用求補方法求CheckSum的示意圖；具體實施方式
下面結(jié)合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步描述。
如圖1所示，傳統(tǒng)的線性逼進的方法求checksum時，先估計出TROM的和的大概值，將其填入TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中，然后再對TROM求和，用求出的和再去修改TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low的值。重復以上過程，直到最后CheckSum的值和TROM_CheckSum_High與TROM_CheckSum_Low中的值吻合為止。
如圖2所示，為了保證TROM的和在填入TROM中的存儲單元之前和之后其和能保持不變，可以在TROM中再分配另外兩個存儲單元，分別用來存儲保存TROM的和的補碼。比如設(shè)A單元用來保存TROM的和的高位，B單元用來保存TROM的和的低位。同時，再另外分配兩個存儲單元C和D，分別用來存儲A和B的補碼，使得A+C＝全F，B+D＝全F。
在程序編好以后，經(jīng)過編譯，根據(jù)其二進制代碼，求出TROM的和。比如求出的TROM的和的高位為A’低位為B’。則，只要將A’和B’的值填入到相應(yīng)的和的高位和低位的存儲單元中A和B去，同時根據(jù)A’和B’的值，修改相應(yīng)的補碼存儲單元C和D中的值C’和D’，使得A’+C’＝全F；B’+D’＝全F。
根據(jù)這種方案，只要這四個單元的和保持不變，就可以保證TROM的和不變?？梢酝ㄟ^編譯修改過的程序并對其二進制代碼求和來驗證TROM的和是否改變。按照這種方法，可以絕對保證對于修改過后的程序，TROM求出的和與TROM中所保存的和的高位和低位一致。
編程時，不論采用哪種語言實現(xiàn)，其基本方法類似。以字長為32位的處理器為例，只要在具體運算之前，對以下變量進行如此初始化Complement_TROM_CheckSum_High＝0xffffffff；Complement_TROM_CheckSum_Low＝0xffffffff；TROM_CheckSum_High＝0；TROM_CheckSum_Low＝0；在程序編好以后，編譯該程序，并對相應(yīng)的二進制文件求一次和，假設(shè)求出的和的高32位為TROM_CheckSum_High1，低32位為TROM_CheckSum_Low1，則只要把真正的TROM的和填入相應(yīng)的存儲單元，同時將其補碼的值也做相應(yīng)的改動即可。如下所示TROM_CheckSum_High＝TROM_CheckSum_High1；TROM_CheckSum_Low＝TROM_CheckSum_Low1；Complement_TROM_CheckSum_High＝0xffffffff-TROM_CheckSum_High；Complement_TROM_CheckSum_Low＝0xffffffff-TROM_CheckSum_Low；利用這種方法，TROM的和在修改前后一定沒有變，所以TROM的和不需要再重復求出，該值就可以作為TROM的和的正確值來驗證TROM。只要將TROM中的各個單元的內(nèi)容相加，得出的值與TROM的和的正確值相比較即可驗證TROM中的內(nèi)容是否正確。
權(quán)利要求
1.一種驗證測試用ROM的方法，其特征在于首先，在測試用ROM中預(yù)先分配四個存儲單元，分別用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，在驗證程序初次編譯之前，令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容互補，存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容互補；之后，編譯該驗證程序并對其二進制代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲于測試用ROM之中所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，并分別將其補碼存儲于測試用ROM中預(yù)先分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最后，通過編譯修改后的程序并對其二進制代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內(nèi)容是否正確。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種驗證測試用ROM的方法，利用本方法可提高驗證測試用ROM的速度和正確性。在測試用ROM中預(yù)先分配四個存儲單元，用來存儲測試用ROM的和的高位和低位以及高位和低位的補碼，并令存儲高位及高位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容以及存儲低位及低位的補碼的兩個存儲單元的內(nèi)容互補；編譯驗證程序并對其二進制代碼求出測試用ROM的和；接著分別將其和的高位和低位存儲于測試用ROM所分配的存儲和的高位和低位的存儲單元中，并分別將其補碼存儲于測試用ROM中所分配的存儲和的高位和低位的補碼的存儲單元中；最后通過編譯修改后的程序并對其二進制代碼求和，利用求出的測試用ROM的和的正確值來判斷測試用ROM的和是否改變，從而驗證測試用ROM的內(nèi)容是否正確。
文檔編號G11C29/00GK1641795SQ200410015919
公開日2005年7月20日 申請日期2004年1月17日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月17日
發(fā)明者蔣英 申請人:上海華虹集成電路有限責任公司