專利名稱：光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法及系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明系有關(guān)于一種盤片軌距檢測(cè)方法及系統(tǒng)，且特別有關(guān)于一種可以避免光驅(qū)組件的公差與噪聲影響而準(zhǔn)確檢測(cè)盤片軌距的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
(2)背景技術(shù)近年來(lái)，在數(shù)據(jù)儲(chǔ)存媒介的演進(jìn)中，光儲(chǔ)存媒介，如光盤片(CD)、可錄式光盤片(CD-R、CD-RW)等扮演了一個(gè)很重要的地位。光儲(chǔ)存媒介的興起，取代了以往低容量、笨重的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存型態(tài)，使得數(shù)據(jù)可以在高容量且易于攜帶的輕薄盤片中進(jìn)行紀(jì)錄與備份。
在一般的光驅(qū)功能中，通?？梢蕴峁┦褂谜咦杂勺x取盤片中任何位置的功能，即可以跳躍讀取不同盤片位置的數(shù)據(jù)。在此情況中，光驅(qū)必須先依據(jù)使用者所指定的時(shí)間數(shù)據(jù)(位置)計(jì)算與目前光學(xué)讀取頭位置的距離，再通過(guò)步進(jìn)(運(yùn)輸)馬達(dá)與音圈(Voice Coil)馬達(dá)將光學(xué)讀取頭移動(dòng)與微調(diào)至指定的位置以進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取。
在上述過(guò)程中，通常是以標(biāo)準(zhǔn)的盤片軌距(1.6μm)來(lái)計(jì)算相應(yīng)的距離。然而，由于盤片種類的復(fù)雜，依據(jù)不同容量的盤片其盤片軌距亦有所不同(1.3μm~1.6μm)，因此，若僅使用標(biāo)準(zhǔn)的盤片軌距來(lái)計(jì)算相應(yīng)的距離，再加上光驅(qū)組件的公差，光驅(qū)搜尋的目的位置的誤差將會(huì)增大，直接引響搜尋此指定位置的時(shí)間，進(jìn)而延遲光驅(qū)讀取盤片的速度。此外，若通過(guò)光驅(qū)中的數(shù)軌功能來(lái)計(jì)算相應(yīng)的軌距，則容易會(huì)因?yàn)樵肼?Noise)的影響或是盤片本身的刮傷而產(chǎn)生顯著的誤差。
(3)發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，本發(fā)明的目的為提供一種可以避免光驅(qū)組件的公差與噪聲影響而準(zhǔn)確檢測(cè)盤片軌距的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法及系統(tǒng)，進(jìn)而縮短光驅(qū)搜尋指定位置的時(shí)間，以提升光驅(qū)讀取盤片的速度。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明一方面提供一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，用以執(zhí)行盤片軌距檢測(cè)方法，其特點(diǎn)是，至少包括一光學(xué)讀取頭；以及一處理器，用以執(zhí)行盤片軌距檢測(cè)方法，該方法包括下列步驟于一盤片上相應(yīng)一第一半徑距離的一第一位置記錄單圈中包含的一第一幀數(shù)；致使該光學(xué)讀取頭讀取該盤片上于該第一位置的一第一時(shí)間信息；致使該光學(xué)讀取頭移至該盤片上的一第二位置；于該盤片上的一第二位置記錄單圈中包含的一第二幀數(shù)；致使該光學(xué)讀取頭讀取該盤片上于該第二位置的一第二時(shí)間信息；依據(jù)該第一幀數(shù)、該第二幀數(shù)、與該第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)該第二位置的一第二半徑距離；以及依據(jù)該第一半徑距離、該第二半徑距離、該第一時(shí)間信息、該第二時(shí)間信息、與一線速度計(jì)算該盤片的盤片軌距。
依據(jù)本發(fā)明另一方面提供一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，首先，于盤片上相應(yīng)第一半徑距離的第一位置記錄單圈中包含的第一幀(Frame)數(shù)，并讀取第一位置的第一時(shí)間信息。其中，第一半徑距離為盤片上數(shù)據(jù)區(qū)的起始位置與盤片中心的半徑距離。接著，于盤片上的第二位置記錄單圈中包含的第二幀數(shù)，并讀取盤片上于第二位置的第二時(shí)間信息。
之后，依據(jù)第一幀數(shù)、第二幀數(shù)、與第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)第二位置的第二半徑距離。最后，依據(jù)第一半徑距離、第二半徑距離、第一時(shí)間信息、第二時(shí)間信息、與線速度(Linear Velocity)計(jì)算盤片的盤片軌距(Track Pitch)。
(4)


為使本發(fā)明的上述目的、特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合所附圖示，進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明如下圖1為一光驅(qū)伺服系統(tǒng)的方塊示意圖。
圖2是顯示依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法的流程圖。
圖3是顯示一光盤片的示意圖。
圖4是顯示另一光盤片的示意圖。
(5)具體實(shí)施方式
圖1為一光驅(qū)伺服系統(tǒng)的方塊示意圖。光學(xué)讀取頭11從盤片10中取得反射信號(hào)，信號(hào)經(jīng)由射頻IC12放大與處理之后，將聚焦誤差信號(hào)(FE)與循軌誤差信號(hào)(TE)、以及其它相關(guān)數(shù)據(jù)與信號(hào)(例如跨軌信號(hào))送入數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)與微處理器(Micro Processor)13。
微處理器13經(jīng)過(guò)運(yùn)算之后，可以得到各伺服驅(qū)動(dòng)信號(hào)，分別傳送給各伺服機(jī)構(gòu)(Servo)(聚焦伺服14、循軌與尋軌伺服15與主軸馬達(dá)伺服16)，以控制各受控驅(qū)動(dòng)組件(包括聚焦致動(dòng)器17、循軌致動(dòng)器18、運(yùn)輸(Sled)馬達(dá)19與主軸馬達(dá)20)，確保數(shù)據(jù)讀取或?qū)戜浀恼_性。其中，微處理器13可以用于依據(jù)本發(fā)明執(zhí)行盤片軌距檢測(cè)方法，現(xiàn)具體說(shuō)明于下。
圖2是顯示依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法的流程圖。
依據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，首先，如步驟S21，微處理器于盤片上相應(yīng)第一半徑距離的第一位置記錄單圈中包含的第一幀數(shù)。其中，半徑距離代表與盤片中心的半徑距離。
其中，計(jì)算幀數(shù)的功能于大部份的微處理器13中可以提供，且?guī)瑪?shù)會(huì)記錄于幀計(jì)數(shù)器(Frame Counter)中。微處理器13判斷盤片繞一圈的方法是判斷主軸馬達(dá)上傳感器(Sensor)所傳回來(lái)的方波數(shù)目，當(dāng)方波數(shù)目達(dá)到一既定數(shù)目時(shí)，即代表盤片已經(jīng)繞一圈。注意的是，上述既定數(shù)目依據(jù)不同的處理器與構(gòu)件會(huì)有所不同。
接著，如步驟S22，微處理器通過(guò)光學(xué)讀取頭讀取第一位置的第一時(shí)間信息。其中，時(shí)間信息是記錄于盤片中的Q碼(Q-Code)結(jié)構(gòu)中。
之后，如步驟S23，微處理器致使光學(xué)讀取頭任意移至盤片上的一第二位置，并如步驟S24，于盤片上的第二位置記錄單圈中包含的第二幀數(shù)，并且如步驟S25，微處理器通過(guò)光學(xué)讀取頭讀取盤片上于第二位置的第二時(shí)間信息。
接著，如步驟S26，微處理器依據(jù)第一訊框數(shù)F0、第二訊框數(shù)F1、與第一半徑距離r0計(jì)算相應(yīng)第二位置之第二半徑距離r1。其中，單圈之訊框數(shù)F等于當(dāng)圈周長(zhǎng)2πr除以線速度v(寫錄數(shù)據(jù)時(shí)的切線速率)再乘上單位時(shí)間的幀，即F=2πrv×75×98,]]>其中，1秒包括75個(gè)區(qū)塊(Block)，1個(gè)區(qū)塊包括98個(gè)幀。
因此，F(xiàn)0=2πrv×75×98,]]>且F1=2πr1v×75×98,]]>將F1除以F0可以得到F0‾=r0‾,]]>因此，相應(yīng)第二位置之第二半徑距離r1可以依據(jù)公式(1)r1=F1F0×r0]]>進(jìn)行計(jì)算。
值得注意的是，在一情況下，第一半徑距離可以是盤片上數(shù)據(jù)區(qū)的起始位置與盤片中心的半徑距離，即可以是內(nèi)定的標(biāo)準(zhǔn)距離，如2.5cm，此時(shí)，第一時(shí)間信息為0分0秒。因此，上述讀取第一時(shí)間信息的步驟(步驟S22)便可省略。同時(shí)，由于第一幀數(shù)、第二幀數(shù)、與第一半徑距離皆為已知，微處理器可以通過(guò)公式(1)的計(jì)算，求得第二半徑距離。
最后，如步驟S27，依據(jù)第一半徑距離、第二半徑距離、第一時(shí)間信息、第二時(shí)間信息、與線速度計(jì)算盤片的盤片軌距。
請(qǐng)參考第3圖，第3圖系顯示一光盤片30示意圖。其中，A代表第一位置，B代表第二位置，C代表光盤片的盤片中心，p代表盤片軌距。第一位置與第二位置間的面積可以表示為軌的總長(zhǎng)度(第一位置A至第二位置B的長(zhǎng)度((N1-N0)×60×v))乘上盤片軌距p，即可以得到公式(2)((N1-N0)×60×v)×p。
另一方面，請(qǐng)參考圖4，圖4系顯示另一光盤片40示意圖。類似地，A代表第一位置，B代表第二位置，C代表光盤片的盤片中心，第一位置A與盤片中心C的距離為第一半徑距離r0，且第二位置B與盤片中心C的距離為第二半徑距離r1。第一位置與第二位置間的面積亦可以表示為第二位置B至盤片中心C的面積減去第一位置A至盤片中心C的面積，即可以得到公式(3)πr12-πr02。
由于面積相同，因此，公式(2)等于公式(3)，即((N1-N0)×60×v)×p=πr12-πr02,]]>因此，盤片軌距p可以依據(jù)公式(4)p=πr12-πr02(N1-N0)×60×v]]>進(jìn)行計(jì)算。
如前所述，由于線速度與第一半徑距離已知，第一時(shí)間信息與第二時(shí)間信息可以分別于步驟S22與S25中通過(guò)光驅(qū)的光學(xué)讀取頭讀取得知，且第二半徑距離已于步驟S26中通過(guò)公式(1)求得，因此，光驅(qū)的微處理器可以通過(guò)公式(4)求得盤片軌距。
當(dāng)盤片軌距正確得知之后，當(dāng)使用者欲讀取盤片中任何位置或時(shí)間點(diǎn)的數(shù)據(jù)時(shí)，光驅(qū)系統(tǒng)便可以依據(jù)此精確的盤片軌距，直接計(jì)算欲讀取數(shù)據(jù)的正確位置，并通過(guò)馬達(dá)與音圈馬達(dá)將光學(xué)讀取頭移動(dòng)與微調(diào)至此位置以進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，從而減少光驅(qū)系統(tǒng)搜尋目的位置的誤差。更詳細(xì)地說(shuō)，由上述第一位置A與第二位置B間的距離除以由公式(4)所求出的軌距可以推得由第一位置A移動(dòng)至第二位置B所需的跨軌軌數(shù)，而前述的馬達(dá)與音圈馬達(dá)即可依據(jù)此跨軌軌數(shù)來(lái)移動(dòng)或是微調(diào)讀取頭。
因此，藉由本發(fā)明所提供的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法及系統(tǒng)，可以避免光驅(qū)組件的公差與噪聲影響而準(zhǔn)確檢測(cè)盤片的軌距，進(jìn)而縮短光驅(qū)搜尋指定位置的時(shí)間，以提升光驅(qū)讀取盤片的速度。
雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭示如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉本技術(shù)的人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作出種種的等效變化或等效替換，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所界定的為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，包括下列步驟于一盤片上相應(yīng)一第一半徑距離的一第一位置記錄單圈中包含的一第一幀數(shù)；讀取該盤片上于該第一位置的一第一時(shí)間信息；于該盤片上的一第二位置記錄單圈中包含的一第二幀數(shù)；讀取該盤片上于該第二位置的一第二時(shí)間信息；依據(jù)該第一幀數(shù)、該第二幀數(shù)、與該第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)該第二位置的一第二半徑距離；以及依據(jù)該第一半徑距離、該第二半徑距離、該第一時(shí)間信息、該第二時(shí)間信息、與一線速度計(jì)算該盤片的盤片軌距。
2.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，該第一半徑距離為該盤片上數(shù)據(jù)區(qū)的起始位置與該盤片中心的半徑距離。
3.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，計(jì)算相應(yīng)該第二位置的該第二半徑距離是依據(jù)下列公式r1=F1F0×r0]]>其中，r1為該第二半徑距離、r0為該第一半徑距離、F0為該第一幀數(shù)、與F1為該第二幀數(shù)。
4.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，該第一時(shí)間信息與該第二時(shí)間信息是記錄于Q碼。
5.如權(quán)利要求1所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，計(jì)算該盤片的盤片軌距是依據(jù)下列公式p=πr12-πr02(N1-N0)×60×v,]]>其中，p為盤片軌距、r0為該第一半徑距離、r1為該第二半徑距離、N0為該第一時(shí)間信息、N1為該第二時(shí)間信息、與v為該線速度。
6.一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，至少包括一光學(xué)讀取頭；以及一處理器，依據(jù)一盤片軌距檢測(cè)方法來(lái)控制該光學(xué)讀取頭，該方法包括以下步驟于一盤片上相應(yīng)一第一半徑距離的一第一位置記錄單圈中包含的一第一幀數(shù)；讀取該盤片上于該第一位置的一第一時(shí)間信息；于該盤片上的一第二位置記錄單圈中包含的一第二幀數(shù)；讀取該盤片上于該第二位置的一第二時(shí)間信息；依據(jù)該第一幀數(shù)、該第二幀數(shù)、與該第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)該第二位置的一第二半徑距離；以及依據(jù)該第一半徑距離、該第二半徑距離、該第一時(shí)間信息、該第二時(shí)間信息、與一線速度計(jì)算該盤片的盤片軌距。
7.如權(quán)利要求6所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該第一半徑距離為該盤片上數(shù)據(jù)區(qū)的起始位置與該盤片中心的半徑距離。
8.如權(quán)利要求6所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理器計(jì)算相應(yīng)該第二位置的該第二半徑距離是依據(jù)下列公式r1=F1F0×r0,]]>其中，r1為該第二半徑距離、r0為該第一半徑距離、F0為該第一幀數(shù)、與F1為該第二幀數(shù)。
9.如權(quán)利要求6所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該第一時(shí)間信息與該第二時(shí)間信息是記錄于Q碼。
10.如權(quán)利要求6所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該處理器計(jì)算該盤片的盤片軌距是依據(jù)下列公式p=πr12-πr02(N1-N0)×60×v]]>其中，p為盤片軌距、r0為該第一半徑距離、r1為該第二半徑距離、N0為該第一時(shí)間信息、N1為該第二時(shí)間信息、與v為該線速度。
11.一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，適用于一光驅(qū)系統(tǒng)，其特征在于，包括下列步驟于一盤片上相應(yīng)一第一半徑距離的一第一位置記錄單圈中包含的一第一幀數(shù)，其中該第一半徑距離為該盤片上數(shù)據(jù)區(qū)的起始位置與該盤片中心的半徑距離；于該盤片上的一第二位置記錄單圈中包含的一第二幀數(shù)；依據(jù)該第一幀數(shù)、該第二幀數(shù)、與該數(shù)據(jù)區(qū)初始半徑距離計(jì)算相應(yīng)該第二位置的一第二半徑距離；讀取該盤片上于該第二位置的一第二時(shí)間信息；以及依據(jù)該數(shù)據(jù)區(qū)初始半徑距離、該第二半徑距離、該第二時(shí)間信息、與一線速度計(jì)算該盤片的盤片軌距。
12.如權(quán)利要求11所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，計(jì)算相應(yīng)該第二位置的該第二半徑距離是依據(jù)下列公式r1=F1F0×r0]]>其中，r1為該第二半徑距離、r0為該第一半徑距離、F0為該第一幀數(shù)、與F1為該第二幀數(shù)。
13.如權(quán)利要求11所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，該第一時(shí)間信息與該第二時(shí)間信息是記錄于Q碼。
14.如權(quán)利要求11所述的光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，其特征在于，計(jì)算該盤片的盤片軌距是依據(jù)下列公式p=πr12-πr02N1×60×v,]]>其中，p為盤片軌距、r0為該第一半徑距離、r1為該第二半徑距離、N1為該第二時(shí)間信息、與v為該線速度。
15.一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，該光驅(qū)具有一讀取頭，該讀取頭依據(jù)該盤片軌距移動(dòng)，其特征在于，該方法至少包括下列步驟于一盤片上相應(yīng)一第一半徑距離的一第一位置記錄單圈中包含的一第一幀數(shù)；讀取該盤片上于該第一位置的一第一時(shí)間信息；于該盤片上的一第二位置記錄單圈中包含的一第二幀數(shù)；讀取該盤片上于該第二位置的一第二時(shí)間信息；依據(jù)該第一幀數(shù)、該第二幀數(shù)、與該第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)該第二位置的一第二半徑距離；以及依據(jù)該第一半徑距離、該第二半徑距離、該第一時(shí)間信息、該第二時(shí)間信息、與一線速度計(jì)算該盤片的盤片軌距。
全文摘要
一種光驅(qū)的盤片軌距檢測(cè)方法，首先，于盤片上相應(yīng)第一半徑距離的第一位置記錄單圈中包含的第一幀(Frame)數(shù)，并讀取第一位置的第一時(shí)間信息。接著，于盤片上的第二位置記錄單圈中包含的第二幀數(shù)，并讀取盤片上于第二位置的第二時(shí)間信息。之后，依據(jù)第一幀數(shù)、第二幀數(shù)、與第一半徑距離計(jì)算相應(yīng)第二位置的第二半徑距離，并依據(jù)第一半徑距離、第二半徑距離、第一時(shí)間信息、第二時(shí)間信息、與線速度(Linear Velocity)計(jì)算盤片的盤片軌距(Track Pitch)。
文檔編號(hào)G11B20/18GK1553438SQ03142419
公開(kāi)日2004年12月8日 申請(qǐng)日期2003年6月5日 優(yōu)先權(quán)日2003年6月5日
發(fā)明者蔡俊祥 申請(qǐng)人:華碩電腦股份有限公司