專利名稱：光儲存裝置擺置檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光儲存裝置擺置檢測方法，特別是涉及一種在光儲存裝置讀取作業(yè)前檢測擺置方式及提供適當的補償的方法。
背景技術：
光驅發(fā)展至今，其系統(tǒng)已經有相當固定的架構及動作原理，相對的目前改善光驅性能的首要考慮是在降低數據存取時間，因此光驅馬達機構性能及伺服控制系統(tǒng)的設計是相當關鍵的一環(huán)。
光驅存取數據的動作程序，可大略分為下面幾個步驟1.驅動主軸馬達(spindle motor)開機后，驅動主軸馬達旋轉光盤片；2.移動讀寫頭移動光學讀取頭(optical pickup)至盤片內圈；3.聚焦(focusing)使光學讀取頭的鐳射光點聚焦在盤片數據面上；4.循軌(tracking)移動接物鏡使鐳射光點追循單一數據軌(track)；5.讀取軌道編號(track number)由盤片預先格式化數據區(qū)(preformattedsector)讀取軌道編號，以知道光學讀取頭目前所在位置；6.長程循軌如目的軌道與光學讀取頭目前所在軌道差距在312軌(500um)之上，則啟動長程尋軌系統(tǒng)，移動光學讀取頭到目的軌道約50軌處；7.循軌移動接物鏡使鐳射光點追循單一數據軌；8.讀取軌道編號以得知目前軌道與目的軌道的差距。
9.短程循軌微調循軌服務器(tracking servo)以使鐳射光點移動到目的軌道；10.循軌；及11.讀取數據。
由上述操作可知光盤的讀取牽涉到許多操作，尤其是光驅在作尋軌(Seek)的過程中，為了達到快速的定位及譯碼的要求，多半以速度曲線來作長程跳軌的最佳化控制。而由于長程循軌所需花費的時間較多，因此影響數據存取時間甚多。一般在光驅中是利用長程尋軌系統(tǒng)(sled motor servo)將搭載的光學讀取頭快速移動到光盤片的各數據軌去讀取數據。參見圖2，為一光驅系統(tǒng)的伺服控制系統(tǒng)示意圖，此光驅100讀取一光盤片200的數據并送到一接口300。此光驅100包含一控制電路110，可以經由一主軸伺服122而控制一主軸馬達120，通過一聚焦伺服(focusing servo)132及一循軌伺服(tracking servo)134而控制光學讀取頭130內的聚焦裝置(未繪示)，及通過一尋軌伺服(seekingservo)142控制一長程尋軌馬達(sled motor)140以控制光學讀取頭130沿著軌道150移動。
如果光驅為如圖1A所示是水平擺置，則主軸馬達120方向為Z軸；長程尋軌馬達140將光學讀取頭130沿著與Z軸垂直的XY平面上移動；聚焦伺服132將聚焦裝置沿著Z軸方向做微調以聚焦；而循軌伺服134將聚焦裝置沿著與Z軸垂直的XY平面移動以做循軌微調。
由于整個光學讀取頭130的慣性很大，如果光驅100并非為水平擺設，則重力會影響長程尋軌馬達140對于光學讀取頭130的移動行程。如圖1B所示，如果光驅是以垂直方式擺置，亦即光學讀取頭130沿軌道150移動方向平行而非垂直于重力方向(Z軸)，則向下滑動的慣性較強。在將光學讀取頭130向上移動(+Z方向)的操作，會受重力影響使循軌行程不足；在將光學讀取頭130向下移動(-Z方向)的操作，會受重力影響使循軌行程過長。尤其是在長程循軌操作中，一般是使用直流馬達來驅動，如果光驅100非為水平位置擺放，使得光學讀取頭130移動方向有沿著重力方向的分量，則光驅100的定位效能會惡化，影響讀取效能，尤以在垂直操作時更為嚴重。

發(fā)明內容
因此本發(fā)明的目的在于提供一種光儲存裝置擺置檢測方法，可以有效在光儲存裝置讀取作業(yè)前檢測光儲存裝置擺置方式及提供適當的補償。
本發(fā)明的上述目的是這樣實現的一種光儲存裝置擺置檢測方法，其中，包含下列步驟(a).對該光儲存裝置內的一可移動光學單元沿一第一方向施加一力量，使該可移動光學單元移動一固定時間；(b).測量該可移動光學單元的一第一移動距離；
(c).對該可移動光學單元沿與該第一方向相反的一第二方向施加該力量，使該可移動光學單元移動該固定時間；(d).測量該可移動光學單元的一第二移動距離；(e).當該第一移動距離與該第二移動距離之差是在一可容許誤差距離之外，則判定該光儲存裝置為非水平擺放。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，當光儲存裝置為非水平操作，則還包含一步驟(f)根據該第一移動距離及該第二移動距離之差，計算出該光儲存裝置擺放的一傾角及需補償的一增益值。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該光儲存裝置為一光驅。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該可移動光學單元為一光學讀取頭。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該力量為一隨時間變動的力量。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該第一方向是遠離一主軸馬達的方向。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該第一方向是接近一主軸馬達的方向。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，所述的步驟(b)、(d)是用光感測組件如光遮斷器或是霍爾傳感器組件來測量該可移動光學單元的移動距離。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，該力量為一固定力量。
本發(fā)明所述的一種光儲存裝置擺置檢測方法，其中，包含下列步驟(a).對該光儲存裝置的一可移動光學單元沿一第一方向施加一力量，使該可移動光學單元移動一固定距離；(b).測量該可移動光學單元移動所需的一第一移動時間；(c).對該可移動光學單元沿與該第一方向相反的一第二方向施加該力量，使該可移動光學單元移動該固定距離；(d).測量該可移動光學單元移動所需的一第二移動時間；(e).當該第一移動時間與該第二移動時間之差是在一可容許誤差時間之外，則判定該光儲存裝置為非水平擺放。
本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其中，當光儲存裝置為非水平操作，則還包含一步驟(f)根據該第一移動時間及該第二移動時間之差，計算出該光儲存裝置擺放的一傾角及需補償的一增益值。
根據本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，是在光儲存裝置啟動前分別對于光學讀取頭向外及向內以定力移動固定時間，借助測量光學讀取頭向外及向內移動的距離差，以判別該光儲存裝置是否在水平擺置位置下操作，以達到改善光儲存裝置的定位效能及讀取效率的結果。
根據本發(fā)明所述的光儲存裝置擺置檢測方法，是在光儲存裝置啟動前分別對于光學讀取頭向外及向內以定力移動固定距離，借助測量光學讀取頭向外及向內移動固定距離的時間差，以判別該光儲存裝置是否在水平擺置位置下操作，以達到改善光儲存裝置的定位效能及讀取效率的結果。
為使本發(fā)明目的及特征更為人了解，現配合


本發(fā)明的較佳具體實例。

圖1A、圖1B分別是說明光驅水平擺置及垂直擺置的示意圖；圖2是一光驅系統(tǒng)的伺服控制系統(tǒng)示意圖；圖3是本發(fā)明光儲存裝置擺置檢測方式的第一較佳具體實施例的流程圖；圖4是本發(fā)明的另一可行施加電壓波形圖；圖5是本發(fā)明光儲存裝置擺置檢測方式的第二較佳具體實施例的流程圖。
具體實施例方式
參見圖3，為本發(fā)明光儲存裝置擺置檢測方法的第一較佳具體實施例的流程圖。本發(fā)明的方法包含下列步驟S100施加固定力量，將光學讀取頭沿著遠離主軸馬達的方向推動固定時間；S102測量光學讀取頭的第一移動距離；S104施加固定力量，將光學讀取頭沿著接近主軸馬達的方向推動固定時間；S106測量光學讀取頭的第二移動距離；
S108比較第一移動距離及第二移動距離是否相等，如果不相等，則進行步驟S110，否則進行步驟S112；S110判定此光驅為非水平操作；S112結束。
在上述的流程中，在步驟S100是對長程尋軌馬達施加一固定電壓，因此可以固定力量推動該光學讀取頭。在步驟S102是用光感測組件如光遮斷器(photo interrupter)或是霍爾傳感器組件(Hall sensor)來測量該光學讀取頭的移動距離。
此外，如在步驟S108判別光驅為非水平擺置，則可以依據第一移動距離及第二移動距離的差異量，計算出光驅擺放的傾角及需補償的增益值。例如在對抗重力的方向上要增加長程尋軌馬達的驅動電壓，在順應重力的方向上要減少長程尋軌馬達的驅動電壓，以改善光驅的定位效能及讀取效率。另外，在步驟S100也可先將光學讀取頭沿著接近主軸馬達的方向推動固定時間，而在步驟S104將光學讀取頭沿著遠離主軸馬達的方向推動固定時間。
再者，為了增加對于光驅擺置檢測的鑒別率，也可以改變施加于長程尋軌馬達的電壓波形。如圖4所示，例如可以改為多段的不同位準電壓施力，起初用較大的電壓來克服靜摩擦力，接著用較小的電壓來推動光學讀取頭。然而必須注意的是，施加于長程尋軌馬達的電壓波形必須完全相同但電性相反，因此施于二方向的力量才會大小相等方向相反。
參見圖5，為本發(fā)明光儲存裝置擺置檢測方法的第二較佳具體實施例的流程圖。本發(fā)明的方法包含下列步驟S200施加固定力量，將光學讀取頭沿著遠離主軸馬達的方向推動固定距離；S202測量光學讀取頭移動所需的第一移動時間；S204施加固定力量，將光學讀取頭沿著接近主軸馬達的方向推動固定距離；S206測量光學讀取頭的第二移動時間；S208比較第一移動時間及第二移動時間是否相等，如果不相等，則進行步驟S210，否則進行步驟S212S210判定此光驅為非水平操作；
S212結束。
同樣的，在步驟S200也可先將光學讀取頭沿著接近主軸的方向推動固定行程，而在步驟S204將光學讀取頭沿著遠離主軸的方向推動固定行程。
再者，為了增加對于光驅擺置檢測的鑒別率，也可以改變施加電壓的波形。如圖4所示，例如可以改為多段的不同位準電壓施力，起初用較大的電壓來克服靜摩擦力，接著用較小的電壓來推動光學讀取頭。
再者，本發(fā)明并不限定于第一移動距離要等于第二移動距離，當第一移動距離與第二移動距離相減后在一可容許誤差距離之內也可視為第一移動距離約等于第二移動距離。同理，本發(fā)明并不限定于第一移動時間要等于第二移動時問，當第一移動時間與第二移動時間相減后在一可容許誤差時間之內也可視為第一移動時問約等于第二移動時間。
綜上所述，本發(fā)明提供一種光儲存裝置擺置檢測方法，可在光儲存裝置啟動前判別該光儲存裝置是否在水平擺置位置下操作，另外也可以在非水平操作提供適當的增益補償值，以達到改善光儲存裝置的定位效能及讀取效率的結果。
以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例，但本發(fā)明的范圍并不局限于此，因此任何熟悉此項技藝者在本發(fā)明的領域內所實施的變化或修飾皆被涵蓋在本案的專利范圍內。
權利要求
1.一種光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，包含下列步驟(a).對該光儲存裝置內的一可移動光學單元沿一第一方向施加一力量，使該可移動光學單元移動一固定時間；(b).測量該可移動光學單元的一第一移動距離；(c).對該可移動光學單元沿與該第一方向相反的一第二方向施加該力量，使該可移動光學單元移動該固定時間；(d).測量該可移動光學單元的一第二移動距離；(e).當該第一移動距離與該第二移動距離之差是在一可容許誤差距離之外，則判定該光儲存裝置為非水平擺放。
2.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，當光儲存裝置為非水平操作，則還包含一步驟(f)根據該第一移動距離及該第二移動距離之差，計算出該光儲存裝置擺放的一傾角及需補償的一增益值。
3.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該光儲存裝置為一光驅。
4.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該可移動光學單元為一光學讀取頭。
5.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該力量為一隨時間變動的力量。
6.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該第一方向是遠離一主軸馬達的方向。
7.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該第一方向是接近一主軸馬達的方向。
8.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，所述的步驟(b)、(d)是用光感測組件如光遮斷器或是霍爾傳感器組件來測量該可移動光學單元的移動距離。
9.如權利要求1所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該力量為一固定力量。
10.一種光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，包含下列步驟(a).對該光儲存裝置的一可移動光學單元沿一第一方向施加一力量，使該可移動光學單元移動一固定距離；(b).測量該可移動光學單元移動所需的一第一移動時間；(c).對該可移動光學單元沿與該第一方向相反的一第二方向施加該力量，使該可移動光學單元移動該固定距離；(d).測量該可移動光學單元移動所需的一第二移動時間；(e).當該第一移動時間與該第二移動時間之差是在一可容許誤差時間之外，則判定該光儲存裝置為非水平擺放。
11.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，當光儲存裝置為非水平操作，則還包含一步驟(f)根據該第一移動時間及該第二移動時間之差，計算出該光儲存裝置擺放的一傾角及需補償的一增益值。
12.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該光儲存裝置為一光驅。
13.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該可移動光學單元為一光學讀取頭。
14.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該力量為一隨時間變動的力量。
15.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該第一方向是遠離一主軸馬達的方向。
16.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該第一方向是接近一主軸馬達的方向。
17.如權利要求10所述的光儲存裝置擺置檢測方法，其特征在于，該力量為一固定力量。
全文摘要
一種光儲存裝置擺置檢測方法，是在光儲存裝置啟動前分別對于光學讀取頭向外及向內以定力移動固定時間，借助測量光學讀取頭向外及向內移動的距離差，以判別該光儲存裝置是否在水平擺置位置下操作，另外也可以在光儲存裝置啟動前分別對于光學讀取頭向外及向內以定力移動固定距離，借助測量光學讀取頭向外及向內移動固定距離的時間差，以判別該光儲存裝置是否在水平擺置位置下操作，并依據該距離差或者時間差以決定該光儲存裝置擺放的傾角及需補償的增益值，以達到改善光儲存裝置的定位效能及讀取效率的結果。
文檔編號G11B19/20GK1508778SQ02156358
公開日2004年6月30日 申請日期2002年12月18日 優(yōu)先權日2002年12月18日
發(fā)明者徐正煜, 符湘益, 李敦介, 陳福祥, 蔡燿州 申請人:建興電子科技股份有限公司