專利名稱：用于增進可刻錄光盤刻錄優(yōu)良率的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種用于提高可刻錄光盤(CD-Recordable)(CD-R)刻錄優(yōu)良率(recordable yield)的方法及裝置，其依據(jù)光盤片的質(zhì)量來調(diào)整刻錄速度以提高刻錄質(zhì)量及優(yōu)良率。
背景技術(shù)：
在飛利普公司(Philip Co.)于1990年制定的橙皮書定義的可刻錄光盤標準被廣泛應(yīng)用于光盤(CD)技術(shù)后，不斷發(fā)展的可刻錄光盤已漸漸成為個人計算機中的標準配備。可刻錄光盤(CDRW)的工作原理是以高瓦數(shù)的激光束在空白光盤片(blank CD)燒出可以讀取的凹凸部分(pit and land)。由于該凹凸部分在激光照射后會呈現(xiàn)出具有信號誤差的反射光，因此可以由一般的光盤機讀取。為了刻錄數(shù)據(jù)到一空白光盤片上，在該空白光盤片表面上以濺射方式涂布一層可以被激光改變材質(zhì)的染料，例如，花青染料及偶氮金屬染料。
此外，在可刻錄光盤的發(fā)展中，先后以恒線速度及恒角速度兩寫入模式為發(fā)展重心。目前可刻錄盤片成功率的最大問題來自于盤片質(zhì)量的差異。即使同一識別碼(同批廠商)的盤片質(zhì)量，因每次染料涂布的調(diào)配及濺射的操作等因素，也會有所差異，進而影響盤片對激光的吸收及反射，尤其以染料對高能量刻錄激光吸收分解所產(chǎn)生的變化會使形成的射頻信號變形(transform)。例如，目前CLV可刻錄方法為變動光功率控制(running OPCrunning optical power control)。此變動光功率控制利用讀寫頭(pickup)由內(nèi)到外監(jiān)測寫入射頻信號(WRFWrite Radio Frequency)的第一(此后稱為A)、第二(此后稱為B)、第三(此后稱為C)電平來調(diào)整出光的激光功率。這種方法的最大問題為并不是所有盤片在恒速下調(diào)整光的激光功率即可得到理想的WRF的A、B、C電平。也就是，前述以濺射涂布的染料若在盤片內(nèi)外具有相當大的差異時，例如，厚度及均勻度，則單是恒速是無法調(diào)整出所需的WRF的A、B、C電平。在CAV刻錄模式中，EFM的時鐘是隨盤片上搖擺信號(wobble signal)的周期而變化。而且，讀寫頭在每一點的切線速度的差異必須適時的予以適當?shù)目啼浹舆t時間。同時，此刻錄延遲時間必須在每一不同主軸電動機的轉(zhuǎn)速上分別建立。在數(shù)據(jù)從主機下載至可刻錄光盤的編碼器中編碼成EFM信號后，通過讀寫頭的激光能量控制將EFM圖案(pattern)刻錄至盤片。在刻錄同時反射回來的RF信號稱為WRF。WRF的形狀因激光速度、刻錄延遲及盤片溫度而改變。今以盤片刻錄中的熱影響所造成的邊緣位移(Edge Shift by Thermal Interference)為例，分別示于圖1及圖2。圖1是WRF信號邊緣后移結(jié)果示意圖。圖2是WRF信號前緣后移而后緣前移結(jié)果示意圖。如圖1及2所示，當以一射頻信號作為反饋信號并經(jīng)信號處理取出其邏輯變化后，與原刻入用編碼器(未顯示)的EFM信號圖案(pattern)信號比較以作為量測動態(tài)時間偏差(jitter)值Error1及Error2的參考。接著，按數(shù)據(jù)片(data slice)取出WRF信號即按成片的(Sliced)WRF 1、2來表示刻錄在盤片的實際圖案長度。最后，將成片的WRF 1、2與編碼器的EFM 1、2經(jīng)相位比較的結(jié)果利用一低通率波器取出，其為一相位誤差的參考電平。當刻錄時，不論是CD-R或CD-RW都是使用激光能量加熱于染料上，傳統(tǒng)方式，物理凹面(physical pit)信號的邊緣位置依據(jù)開始刻錄的溫度決定，如果刻錄較長的凹面信號時，盤片溫度停留在高溫的時間延長，因此，激光能量關(guān)斷后溫度不會立即下降，所以成片的WRF信號1、2的邊緣相對于編碼器的輸出EFM信號1、2后移。反之，若刻錄較短則會發(fā)生圖2中WRF信號后緣前移情況。上述狀況皆會產(chǎn)生動態(tài)時間偏差(Jitter)值Error1及Error2。因此必須通過調(diào)整刻錄延遲及激光能量來改善。若是無法經(jīng)由上述方法來改善，則必須降速。另外，圖1中，亦顯示依橙皮書(Orange Book)標準所取得WRF的A、B、C電平值。WRF的波形(profile)與染料晶化深度相關(guān)，而染料晶化深度與時間延遲(3T-11T)射頻波形的對稱性有關(guān)。如果在高速下無法利用寫入激光功率來得到所需的A、B、C電平值，則必須降速。然而，對于降速的要求卻是目前恒速的CLV刻錄技術(shù)所無法達到的。
因此，本發(fā)明的目的是提供一種用于增進可刻錄光盤刻錄優(yōu)良率的方法及裝置，其在刻錄過程中，會依盤片優(yōu)劣靈活地調(diào)整刻錄速度，以此提高刻錄質(zhì)量并增加優(yōu)良率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于增進可刻錄光盤刻錄優(yōu)良率的方法及裝置，其在刻錄過程中，根據(jù)刻錄能量、刻錄延遲及盤片溫度來調(diào)整刻錄速度以達到最佳化優(yōu)良率。該方法包括下列步驟判斷不正確的輸入檢錯碼的次數(shù)；若不正確的輸入檢錯碼次數(shù)超過一第一預(yù)設(shè)值，則降低目前寫入速度；分別將輸入的第一、第二及第三信號電平與預(yù)設(shè)的第一、第二及第三信號電平相比較；根據(jù)上述比較結(jié)果來調(diào)整寫入功率；根據(jù)輸入動態(tài)時間偏差值來調(diào)整寫入延遲；根據(jù)該調(diào)整的寫入功率及該調(diào)整的寫入延遲來調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作。該裝置包括一電平比較器，用以分別將輸入的第一、第二及第三信號電平與預(yù)設(shè)的第一、第二及第三信號電平相比較，并輸出各比較結(jié)果；一限幅器(slicer)，用以將反射的射頻信號(write radio frequency)轉(zhuǎn)換為二進制信號以取出該反射的射頻信號波形；一相位比較器，用以將二進制的反射的射頻信號波形與以8/14位調(diào)制法(eight-to-fourteen modulation)的標記信號波形相比較并產(chǎn)生一相位誤差輸出信號；一低通濾波器，用以利用該相位誤差輸出信號來去除包含在該反射的射頻信號中的低頻基準線波動(low frequency baseline fluctuation)并產(chǎn)生一動態(tài)時間偏差值；以及一優(yōu)良率控制微處理機，用以根據(jù)該電平比較器的各輸出結(jié)果、該動態(tài)時間偏差值及一循環(huán)冗余檢驗檢錯碼(cyclic redundancy check)來調(diào)整讀寫頭輸出功率，刻錄延遲時間表及主軸電動機的轉(zhuǎn)速。


為讓本發(fā)明的上述及其它目的、特征、與優(yōu)點能更顯而易見，下文特舉一較佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下圖1是WRF信號邊緣后移結(jié)果示意圖；圖2是WRF信號前緣后移而后緣前移結(jié)果示意圖；圖3是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本發(fā)明方法流程圖；以及圖5是根據(jù)圖4的一實施例。
31電平比較器，32限幅器，33相位比較器，34低通濾波器，35優(yōu)良率控制微處理機。
具體實施例方式圖3本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。在圖3中，該裝置包括一電平比較器31；一限幅器(slicer)32；一相位比較器33；一低通濾波器34；以及一優(yōu)良率控制微處理機35。如圖3所示，刻錄時讀寫頭依橙皮書定義讀取A、B及C三點信號電平(未顯示)，并分別將選取的A、B及C信號電平輸入，利用內(nèi)部的比較器c1、c2及c3，分別與原刻入的預(yù)設(shè)A、B及C信號電平相比較后，將比較所產(chǎn)生的誤差分別輸出為信號Error A、Error B及Error C。該限幅器32，用以將反射的射頻信號(write)WRF轉(zhuǎn)換為二進制信號BIN。該相位比較器33，用以將二進制的反射的射頻信號BIN相位與經(jīng)編碼器(未顯示)以8/14位調(diào)制法編碼的標記信號EFM相位相比較以產(chǎn)生一相位差輸出信號ERR1來作為刻錄延遲時間表的調(diào)整參考。該低通濾波器34，利用該相位比較器的輸出信號ERR1來除去包含在該反射的射頻信號中的低頻基準線波動并產(chǎn)生一動態(tài)時間偏差值JIT。該優(yōu)良率控制微處理機35，用以根據(jù)該電平比較器的各輸出結(jié)果、該動態(tài)時間偏差值及一循環(huán)冗余檢驗檢錯碼CRCERR來調(diào)整讀寫頭輸出功率及主軸電動機的轉(zhuǎn)速。
圖4本發(fā)明方法流程圖。在圖4中，本方法實施于圖3的優(yōu)良率控制微處理機中。如圖4所示，該方法包括下列步驟判斷不正確的輸入檢錯碼的次數(shù)(S41)；若不正確的輸入檢錯碼次數(shù)超過一第一預(yù)設(shè)值，則降低目前寫入速度(S42)；分別將輸入的第一、第二及第三信號電平與預(yù)設(shè)的第一、第二及第三信號電平(S43)相比較；根據(jù)上述比較誤差來調(diào)整寫入功率(S44)；根據(jù)輸入的動態(tài)時間偏差值來調(diào)整寫入延遲(S45)；根據(jù)該調(diào)整的寫入功率及該調(diào)整的寫入延遲來調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作(S46)。
圖5根據(jù)圖4的一實施例。如圖5所示，檢查檢錯碼CRC是否正確(S51)；若CRC不正確，則利用一第一計數(shù)器加1并判斷該累進的第一計數(shù)器CRCNG內(nèi)含值是否大于一第一預(yù)設(shè)值(S53)，例如，CRCNG＞5；若CRCNG內(nèi)含值大于該第一預(yù)設(shè)值，則重置該第一計數(shù)器CRCNG并降低目前可刻錄速度(S54)；將預(yù)設(shè)A、B、C信號電平分別與取樣A、B、C信號電平相比較后產(chǎn)生的誤差值error A、B、C分別輸入(S55)；判斷該輸入的誤差值error A、B、C是否合適(S56)；若誤差值error A、B、C合適，則重置一第二計數(shù)器Count1(S57)；若誤差值error A、B、C不合適，則相對于誤差值error A、B、C來調(diào)整寫入功率并將該第二計數(shù)器Count1加1(S58)；判斷該第二計數(shù)器Count1內(nèi)含值是否大于一第二預(yù)設(shè)值(S59)，例如，Count1＞8；若該Count1內(nèi)含值大于該第二預(yù)設(shè)值，則重置該第二計數(shù)器及一第三計數(shù)器Count2、降低主軸電動機速度、更新延遲時間表及刻錄功率(S60)；輸入一動態(tài)時間偏差值JIT(S61)；判斷該動態(tài)時間偏差值JIT是否合適(S62)；若值JIT合適，重置該第三計數(shù)器Count2(S63)；若值JIT不合適，則相對于該值JIT來調(diào)整寫入延遲并將該第三計數(shù)器Count2加1(S64)；判斷該第三計數(shù)器Count2內(nèi)含值是否大于一第三預(yù)設(shè)值(S65)，例如，Counnt2＞8；若該第三計數(shù)器Count2內(nèi)含值大于該第三預(yù)設(shè)值，則執(zhí)行步驟S60；判斷該第二及第三計數(shù)器是否為零(S66)；若兩者不是皆為零，執(zhí)行步驟S70；若兩者皆為零，則調(diào)整寫入誤差并將一第四計數(shù)器Count3加1(S67)；判斷該第四計數(shù)器Count3內(nèi)含值是否大于一第四預(yù)設(shè)值(S68)，例如，Count3＞10；若該第四計數(shù)器Count3內(nèi)含值大于該第四預(yù)設(shè)值，重置該第四計數(shù)器Count3、增加主軸電動機速度及更新該延遲時間表(S69)；若該第四計數(shù)器Count3內(nèi)含值未大于該第四預(yù)設(shè)值，重置該第四計數(shù)器Count3并保持目前可刻錄速度及目前延遲時間表內(nèi)容(S70)。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例公開如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神及范圍的情況下，可進行更動與改進，因此本發(fā)明的保護范圍以后附的權(quán)利要求范圍限定的為準。
權(quán)利要求
1.一種用于增進可刻錄光盤優(yōu)良率的方法，其特征在于，利用一寫入射頻信號的波形數(shù)據(jù)來調(diào)整刻錄速度及一刻錄延遲時間表。
2.一種用于增進可刻錄光盤優(yōu)良率的方法，包括下列步驟判斷不正確的輸入檢錯碼的次數(shù)；若不正確的輸入檢錯碼次數(shù)超過一第一預(yù)設(shè)值，則降低目前寫入速度；分別將輸入的第一、第二及第三信號電平與預(yù)設(shè)的第一、第二及第三信號電平比較；根據(jù)上述比較結(jié)果來調(diào)整寫入功率并累計調(diào)整次數(shù)；根據(jù)一輸入的動態(tài)時間偏差值來調(diào)整寫入延遲并累計調(diào)整次數(shù)；根據(jù)該寫入功率的調(diào)整次數(shù)及該寫入延遲的調(diào)整次數(shù)來調(diào)整目前刻錄速度及一延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該調(diào)整目前刻錄速度及一延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作步驟包括保持目前刻錄速度及延遲時間表。
4.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作步驟包括增加刻錄速度及更新該延遲時間表。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表以控制主軸電動機的轉(zhuǎn)速及讀寫頭的寫入操作步驟包括降低刻錄速度及更新該延遲時間表及刻錄功率。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其中，使用一激光源來提供該刻錄功率。
7.如權(quán)利要求2所述的方法，進一步包括若該寫入功率的調(diào)整次數(shù)及該寫入延遲的調(diào)整次數(shù)皆為零時，則調(diào)整寫入誤差并累計調(diào)整次數(shù)的步驟。
8.如權(quán)利要求6所述的方法，進一步包括根據(jù)該累計調(diào)整次數(shù)來調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，該調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表步驟包括保持目前刻錄速度及延遲時間表。
10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，該調(diào)整目前刻錄速度及延遲時間表步驟包括增加刻錄速度及更新該延遲時間表。
11.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該動態(tài)時間偏差值隨讀寫頭溫度及可刻錄盤片使用的染料種類及涂布厚度而改變。
12.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該輸入的第一、第二及第三信號電平來自于當使用讀寫頭激光照射刻錄盤片時的該反射的射頻信號的制定取樣點。
13.如權(quán)利要求2所述的方法，其中，該射頻信號為一反饋信號。
14.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，該制定取樣點定義于橙皮書中。
15.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，該反射的射頻信號波形隨一可刻錄盤片的染料晶化深度而變化。
16.一種提高可刻錄光盤刻錄優(yōu)良率的裝置，包括一電平比較器，用以分別將輸入的第一、第二及第三信號電平與預(yù)設(shè)的第一、第二及第三信號電平相比較，并輸出各比較結(jié)果；一限幅器，用以將反射的射頻信號轉(zhuǎn)換為二進制信號以取出該反射的射頻信號波形；一相位比較器，用以將二進制的反射的射頻信號波形與以8/14位調(diào)制法的標記信號波形相比較并產(chǎn)生相位誤差輸出信號；一低通濾波器，用以利用該相位誤差輸出信號來去除包含在該反射的射頻信號中的低頻基準線波動并產(chǎn)生一動態(tài)時間偏差值；以及一優(yōu)良率控制微處理機，用以根據(jù)該電平比較器的各輸出結(jié)果、該動態(tài)時間偏差值及一循環(huán)冗余檢驗檢錯碼來調(diào)整讀寫頭輸出功率、刻錄延遲時間表及主軸電動機的轉(zhuǎn)速。
17.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中，該動態(tài)時間偏差值隨讀寫頭溫度及一盤片使用的染料種類及涂布厚度而改變。
18.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中，該輸入的第一、第二及第三信號電平來自于使用讀寫頭激光照射可刻錄盤片時的該反射的射頻信號的制定取樣點。
19.如權(quán)利要求18所述的裝置，其中，該制定取樣點定義于橙皮書中。
20.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中，該射頻信號是一反饋信號。
21.如權(quán)利要求16所述的裝置，其中，該反射的射頻信號波形隨一可刻錄盤片的染料晶化深度而變化。
全文摘要
本發(fā)明提供一種用于增進可刻錄光盤優(yōu)良率的方法，其特征在于利用寫入射頻信號的波形數(shù)據(jù)來調(diào)整刻錄速度及刻錄延遲時間表。還提供一種利用該方法的裝置包括電平比較器、限幅器、相位比較器、低通濾波器，其去除包含在反射的射頻信號中的低頻基準線波動并產(chǎn)生一動態(tài)時間偏差值；及一優(yōu)良率控制微處理機，根據(jù)電平比較器的各輸出結(jié)果、動態(tài)時間偏差值及循環(huán)冗余檢驗檢錯碼來調(diào)整讀寫頭輸出功率、刻錄延遲時間表及主軸電動機的轉(zhuǎn)速。
文檔編號G11B7/00GK1400586SQ0112473
公開日2003年3月5日 申請日期2001年7月26日 優(yōu)先權(quán)日2001年7月26日
發(fā)明者蔡清雄, 陳建達, 簡君文 申請人:迪維安公司