專利名稱：：檢驗盤缺陷管理區(qū)信息的方法及執(zhí)行該方法的測試設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及一種能夠在一記錄和再現(xiàn)盤上記錄信息并從該盤再現(xiàn)信息的設(shè)備，尤其涉及一種檢驗盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地產(chǎn)生或更新盤的缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法以及用于執(zhí)行該方法的測試設(shè)備。記錄和再現(xiàn)盤是采用諸如激光束的光來記錄和再現(xiàn)信息的光盤，例如是數(shù)字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重寫盤。根據(jù)“可重寫盤DVD規(guī)范，部分1，物理規(guī)范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”,DVD-RAM在其每側(cè)包括4個DMA，即DMAl、DMA2、DMA3和DMA4，用于管理其上的缺陷。如圖1所示，DMAl和DMA2位于靠近盤內(nèi)徑的導(dǎo)入?yún)^(qū)，DMA3和DMA4位于靠近盤外經(jīng)的導(dǎo)出區(qū)。每個DMA后跟隨保留扇區(qū)。DMA中存儲有盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有關(guān)盤格式結(jié)構(gòu)的信息，例如盤認證標記、DDS/PDL更新計數(shù)器和每個區(qū)的開始邏輯扇區(qū)號。PDL包括有關(guān)在盤初始化期間在盤上檢測到的所有缺陷扇區(qū)的信息。SDL包括有關(guān)在使用盤時出現(xiàn)的缺陷塊(糾錯碼(ECC)塊)中每個第一扇區(qū)的扇區(qū)號的信息、有關(guān)被用來替代缺陷塊的備用塊中每個第一扇區(qū)的扇區(qū)號的信息、以及有關(guān)備用區(qū)的信息。可以立即讀取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面，DMA包括隨盤上缺陷位置和數(shù)目變化的信息。此外，可通過基于DMA中所登記的缺陷信息來執(zhí)行一算法來獲得一些信息，例如，每個區(qū)域的開始扇區(qū)號或邏輯扇區(qū)號0的位置信息。為了防止由于DMA信息中的差錯引起的錯誤的缺陷管理，因此在盤的每側(cè)存在4個DMA。由于這種DMA信息與物理數(shù)據(jù)扇區(qū)緊密相關(guān)，因此，當不正確地寫入或讀出DMA信息時，諸如可移動光盤的記錄介質(zhì)可能與兩種不同的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備不兼容。這是因為，當將盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(例如DVD-RAM記錄和再現(xiàn)設(shè)備)的記錄和再現(xiàn)體系結(jié)構(gòu)分成文件系統(tǒng)層、用于將主計算機與記錄和再現(xiàn)設(shè)備相接口的主接口層、用于記錄和再現(xiàn)物理信號的物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備(或盤驅(qū)動器)層、和記錄介質(zhì)層時，在物理盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備層及其下面的層執(zhí)行DMA信息的寫入和讀取。在實際的文件系統(tǒng)中，僅基于邏輯扇區(qū)號將要被記錄或再現(xiàn)的用戶信息發(fā)送到盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，并且盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備將邏輯扇區(qū)號變換成物理扇區(qū)號，以記錄或再現(xiàn)用戶信息。在這種情況下，使用DMA信息。因此，當在盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中錯誤地讀取或?qū)懭隓MA信息時，在其他記錄和再現(xiàn)設(shè)備上不能正確地讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)。因此，需要一種用于檢驗盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正確地讀取記錄在盤上的信息并且將DMA信息正確地記錄到盤上以產(chǎn)生或更新DMA信息的方法。為了解決上述問題，本發(fā)明的第一目的是提供一種用于檢驗在盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中當在進行認證情況下進行再初始化時是否正常地產(chǎn)生或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法。本發(fā)明的第二目的是提供一種用于檢驗在盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中當在進行認證情況下進行再初始化時，采用具有物理缺陷的盤和被配置為每種缺陷信息均包含在主缺陷列表中的測試基準DMA鏡像文件產(chǎn)生的盤的DMA信息是否被正常地產(chǎn)生或更新的方法。本發(fā)明的第三目的是提供一種用于檢驗在盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備中當在進行認證情況下進行再初始化時是否正常地產(chǎn)生或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的設(shè)備。本發(fā)明的其他目的和優(yōu)點部分可從后面的描述中得出，部分可從描述中清楚地看出，或可從本發(fā)明實踐中學(xué)習(xí)到。為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述和其他目的，提供了一種用于檢驗在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的方法。該方法包括下列步驟采用測試基準信息和具有物理缺陷的測試盤，在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中在進行認證的情況下進行再初始化，并在再初始化之后，從所產(chǎn)生的缺陷管理信息中產(chǎn)生測試信息；和，將從測試基準信息中得到的基準信息與測試信息相比較，并提供對測試信息的檢驗結(jié)果。為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述和其他目的，還提供了一種用于測試在具有DMA信息的盤上記錄信息或從這種盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的設(shè)備。該設(shè)備包括測試盤，其具有測試基準信息和物理缺陷；基準驅(qū)動器，用于當記錄和再現(xiàn)設(shè)備在進行認證情況下進行再初始化之后，從測試盤的DMA產(chǎn)生測試信息；和檢驗器，用于將從測試基準信息和物理缺陷中得到的基準信息與測試信息相比較，并檢驗測試信息。通過下面結(jié)合附圖對優(yōu)選實施例的描述，本發(fā)明的上述和其他目的和優(yōu)點將會變得更加清楚，其中圖1表示可重寫盤的示意性配置；圖2的框圖表示本發(fā)明測試設(shè)備的功能；圖3表示C-2盤的缺陷結(jié)構(gòu)；圖4A至4D是由圖2的檢驗器所執(zhí)行的用于檢驗的詳細檢查表的示例；圖5表示在通過認證進行再初始化之前C-2盤的缺陷管理區(qū)(DMA)中的鏡像文件與通過認證進行再初始化之后C-2盤的DMA中的鏡像文件之間的關(guān)系；圖6表示本發(fā)明檢驗方法的流程圖；和圖7的框圖表示圖2所示的待測試驅(qū)動器。下面將通過下面結(jié)合示例性地示出示例的附圖對本發(fā)明優(yōu)選實施例進行詳細描述，其中，相同部件采用相同標號。下面將參照附圖描述實施例，以解釋本發(fā)明。參照圖2，測試設(shè)備包括C-1盤201、缺陷管理區(qū)(DMA)鏡像文件提供器203、基準驅(qū)動器205、C-2盤207、待測試盤209、C-2’盤211、C-2’盤DMA鏡像文件213、和檢驗器215。C-1盤201是測試盤，其具有故意的物理缺陷，目的是測試能夠在諸如數(shù)字通用盤隨機存取存儲器(DVD-RAM)的可重寫盤上記錄信息或由其再現(xiàn)信息的盤驅(qū)動器。因此，當測試盤驅(qū)動器時，將C-1盤201上的物理缺陷用作已知信息。另外，設(shè)計C-1盤201使之滿足在“可重寫盤DVD規(guī)范2.O版(DVDSpecificationforRewritableDiscVersion2.0)”中所規(guī)定的容量為4.7千兆字節(jié)的相位變化記錄DVD-RAM的條件。DMA鏡像文件提供器203提供作為測試基準信息的測試基準DMA鏡像文件，該測試基準信息包括如圖1所示的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)信息、主缺陷列表(PDL)信息和次缺陷列表(SDL)信息，并滿足輔助備用區(qū)(SSA)為不滿的條件。具體地講，DMA鏡像文件提供器203提供測試基準DMA鏡像文件，該鏡像文件被配置成各種缺陷均包含在PDL中。換言之，測試基準DMA鏡像文件具有PDL，該PDL包含具有有關(guān)由盤制造商定義的缺陷扇區(qū)信息的P列表、有關(guān)在盤認證期間檢測到的有缺陷扇區(qū)的信息的G1列表、和有關(guān)不認證地偏移到SDL的有缺陷扇區(qū)的信息的G2列表。為了提高測試效果，當待測試驅(qū)動器209進行再初始化時，提供測試基準DMA鏡像文件，該鏡像文件包括有關(guān)在差錯出現(xiàn)概率最高的特定位置上的缺陷的信息。換言之，為了滿足由“可重寫盤DVD規(guī)范，部分1，物理規(guī)范版本2.O(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”提出的算法的所有情況，將測試基準DMA鏡像文件配置成包括有關(guān)集中在位于應(yīng)定位第一邏輯扇區(qū)處的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。另外，測試基準DMA鏡像文件的特征在于每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)被認作是錯誤的，并且設(shè)置有缺陷扇區(qū)使得每個區(qū)域中的可用扇區(qū)總數(shù)是16的倍數(shù)。鏡像文件具有相同內(nèi)容作為實際文件，但是卻位于與實際文件的物理位置不同的位置上?；鶞黍?qū)動器205是改進的測試驅(qū)動器，用于測試能夠在盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的設(shè)備。當將C-1盤201加載到基準驅(qū)動器205并且從DMA鏡像文件提供器203提供測試基準DMA鏡像文件時，基準驅(qū)動器205在C-1盤201上記錄測試基準DMA鏡像文件，以產(chǎn)生C-2盤207。測試基準DMA鏡像文件被記錄到C-1盤201上，而不管C-1盤201上的物理缺陷如何。因此，C-2盤207包括C-1盤201的物理缺陷和與物理缺陷無關(guān)的測試基準DMA鏡像文件信息。與C-1盤201類似，C-2盤207滿足容量為4.7千兆字節(jié)的相位變化記錄DVD-RAM的條件。當將在進行認證情況下被再初始化的C-2’盤211加載到基準驅(qū)動器205中時，基淮驅(qū)動器205立即讀取記錄在C-2’盤211上的DMA信息，并根據(jù)DMA信息輸出C-2，盤DMA鏡像文件213，作為測試信息。該測試信息可以是C-2’盤DMA鏡像文件213的一部分。待測試驅(qū)動器209是能夠在可重新盤上記錄信息和從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備。當將C-2盤207加載到待測試驅(qū)動器209中時，待測試驅(qū)動器209在進行認證情況下執(zhí)行再初始化，從而產(chǎn)生或更新C-2盤207中所包含的DMA信息。換言之，考慮到C-1盤201上的物理缺陷，當待測試驅(qū)動器209通過認證對C-2盤207進行再初始化時，包含在C-2盤207中的測試基準DMA信息采用DMA更新，或者產(chǎn)生新的DMA信息。因此，當將C-2盤207加載到待測試驅(qū)動器209中時，待測試驅(qū)動器209產(chǎn)生包含所產(chǎn)生或更新的DMA信息的C-2’盤211。C-2’盤211被加載到基準驅(qū)動器205中，因此，基于記錄在C-2’盤211上的DMA信息的C-2’盤DMA鏡像文件213可作為測試信息輸出。來自基準驅(qū)動器205的測試信息被提供給檢驗器215。在提供測試信息時，基準驅(qū)動器205可立即將測試信息提供給檢驗器215。檢驗器215使用當待測試驅(qū)動器209在進行認證情況下進行再初始化期間正常地讀取和更新C-2盤207的DMA時所期望獲得的基準信息，來檢驗C-2’盤DMA鏡像文件213。基準信息可由檢驗器215根據(jù)從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件和先前提供的C-1盤201中所包含的物理缺陷信息來設(shè)置。另外，如圖4A至4D所示，DMA信息表可以是先前準備和使用的。圖4A表示檢驗器215所能包括的用于DMA檢驗的檢查表。該列表的檢查項目包括DMA1至DMA4的差錯條件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新計數(shù)器、SDL1至SDL4中的SDL更新計數(shù)器、以及DMA1至DMA4中的內(nèi)容。DMA項目中的差錯條件用于檢查DMA中是否存在差錯，其中的兩個位于導(dǎo)入?yún)^(qū)，另兩個位于導(dǎo)出區(qū)。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA這4個DMA中不能存在不能糾正的差錯。如果在任意一個DMA中存在任何不能糾正的差錯，則輸出測試結(jié)果，以通知用戶待測試驅(qū)動器209未能產(chǎn)生或更新C-2盤207的DMA。當DMA的產(chǎn)生或更新以失敗告終時，用戶需要采用另一測試盤從頭重新測試。為了在進行認證的情況下進行再初始化時檢驗DDS/PDL和SDL更新計數(shù)器項目，檢查表示4個DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新計數(shù)器值的“M+k”值，以查看值“M”是否為先前值和值“k”是否為“1”，因為當更新或重寫DDS/PDL時每個DDS/PDL更新計數(shù)器值遞增1?！跋惹爸怠笔侵复郎y試驅(qū)動器209在進行認證的情況下進行再初始化之前的“M”值。還檢查4個DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA中的8個DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否相同。檢查表示4個SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新計數(shù)器值的“N+k”值，以查看值“N”是否為先前值以及值“k”是否為“2”，因為當更新或重寫SDL時每個SDL更新計數(shù)器值遞增1?！跋惹爸怠笔侵复郎y試驅(qū)動器209在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前的“N”值。還檢查4個SDL更新計數(shù)器的值是否相同。另外，還檢查4個DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的內(nèi)容是否相同。圖4B表示檢驗器215所能包括的用于DDS的檢驗的檢查表。該列表的檢查項目包括DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)位置、第一邏輯扇區(qū)號(LSN0)位置、每個區(qū)域的開始LSN等。驗證DDS標識符為“0A0Ah”。檢查盤認證標記的一個字節(jié)中表示是否在進程中的比特位置b7的值是否為“0b”。如果比特位置b7的值為“0b”，則表明正在進行格式化。因此，當比特位置b7的值為“1b”時，檢驗器215確定格式化失敗。此外，檢查盤認證標記中保留的比特位置b6至b2是否全部為“0b”，并檢查表示用戶認證標記的比特位置b1的值是否為“1b”。還檢查表示盤制造商認證標記的比特位置b0的值是否為“1b”。為了檢驗相應(yīng)的DDS/PDL更新計數(shù)器，檢查表示DDS/PDL更新計數(shù)器值的值M是否為先前值，并且表示DDS/PDL更新計數(shù)器增量的值k是否為“2”，該增量表示DDS/PDL更新計數(shù)器“M”在測試前和測試后的差值。還檢查組數(shù)的值是否為表示組數(shù)為1的“0001h”，并且區(qū)域數(shù)的值是否為表示區(qū)域數(shù)為35的“0023h”。另外，檢查主備用區(qū)中第一扇區(qū)號是否為“031000h”和主備用區(qū)中最后的扇區(qū)號是否為“0341FFh”。檢查是否根據(jù)在PDL中登記的缺陷數(shù)來確定每個區(qū)域的開始LSN(LSN0)，即第二區(qū)域(區(qū)域1)至第35區(qū)域(區(qū)域34)的開始LSN的位置。在PDL中登記的缺陷覆蓋C-1盤201上的物理缺陷和從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷。檢查DDS結(jié)構(gòu)中剩余的保留區(qū)域(字節(jié)位置396至2047)是否全部為“00h”。如圖4C所示，用于檢驗PDL結(jié)構(gòu)的檢查項目包括PDL標識符、PDL中項目數(shù)、PDL項目的完整性(integrity)、和未使用區(qū)域。檢查PDL標識符是否為“0001h”。PDL中的項目數(shù)是C-1盤201上物理缺陷數(shù)與從DMA鏡像文件提供器203提供的測試基準DMA鏡像文件的PDL中登記的缺陷數(shù)之和。為了檢驗每個PDL項目的完整性，檢查項目的類型和有缺陷的扇區(qū)號。檢查PDL項目類型是否被設(shè)置成表示C-2盤207上存在的已知的P列表的“00b”、和設(shè)置成表示在用戶認證期間出現(xiàn)的有缺陷扇區(qū)的G1列表的“10b”。另外，還檢查PDL中有缺陷的扇區(qū)號是否以遞增順序?qū)懭?。當檢查PDL中的項目類型時，不栓查G2列表，因為，如果待測試驅(qū)動器209在進行認證情況下執(zhí)行再初始化，如圖5所示，則保持C-2盤207的DMA中老PDL510中的P列表511而去除G1列表513和G2列表515，并且產(chǎn)生具有新PDL530的C-2’盤211，新PDL530具有其中登記了通過認證從C-2盤207檢測到的缺陷的G1列表533。G1列表533應(yīng)包含有關(guān)C-1盤201上所有有缺陷扇區(qū)的信息，以確定待測試驅(qū)動器209是否正常地認證在C-1盤201上人為地制作的有缺陷扇區(qū)。另外，檢查未使用區(qū)域是否被設(shè)置成“FFh”。如圖4D所示，用于驗證SDL結(jié)構(gòu)的檢查項目包括SDL標識符、SDL更新計數(shù)器、次備用區(qū)(SSA)的開始扇區(qū)號、邏輯扇區(qū)總數(shù)、DDS/PDL更新計數(shù)器、備用區(qū)滿標記、SDL中的項目數(shù)、SDL項目的完整性、未使用區(qū)域、保留區(qū)域等。檢查SDL標識符是否為“0002h”。為了檢驗相應(yīng)的SDL更新計數(shù)器的項目，檢查表示SDL更新計數(shù)器值的值N是否為先前值，并且表示SDL更新計數(shù)器增量的值k是否為“2”，該增量表示SDL更新計數(shù)器“N”在測試前和測試后的差值。為了檢驗相應(yīng)的DDS/PDL更新計數(shù)器的項目，檢查表示DDS/PDL更新計數(shù)器值的值M是否為先前值，并且表示DDS/PDL更新計數(shù)器增量的值k是否為“2”。檢查備用區(qū)滿標記是否表示次備用區(qū)為不滿，并且檢查SDL中的項目數(shù)是否被設(shè)置成“00h”，該值是通常表示什么都沒有的值。此外，由于SDL的總使用區(qū)域是已知的，因此，如果檢查SDL中的項目數(shù)，則可確定SDL未使用區(qū)域的尺寸。因此，檢查C-2’盤DMA鏡像文件213的未使用區(qū)域的尺寸是否等于SDL未使用區(qū)域的尺寸，后者是根據(jù)SDL中的項目數(shù)得知的，還檢查未使用區(qū)域是否被設(shè)置成“FFh”。另外，還檢查所有保留區(qū)域的期望值是否為“00h”。這是因為，當待測試驅(qū)動器209在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化時，去除C-2盤207中存在的老的SDL520，如圖5所示。當通過認證從C-2盤207上檢測到的缺陷溢出指定給G1列表533的區(qū)域時，在C-2’盤211的新SDL540中登記超出的缺陷。因此，當檢測到的缺陷溢出G1列表533時，需要檢查SDL項目的完整性是否包括G1列表的項目類型的缺陷信息。通過將如圖4A至4D所示設(shè)置的基準信息與包含在C-2’盤DMA鏡像文件213中的信息相比較，檢驗器215檢驗在進行認證情況下執(zhí)行再初始化期間待測試驅(qū)動器209是否正常地產(chǎn)生或更新了C-2盤207的DMA。在通過認證執(zhí)行再初始化的模式下，將檢驗結(jié)果作為測試待測試驅(qū)動器209的結(jié)果輸出?？娠@示結(jié)果以供用戶觀看。為此，本發(fā)明可包括顯示單元。因此，在通過認證執(zhí)行再初始化的模式下，可通知用戶待測試驅(qū)動器209是否正常地從盤讀出了DMA信息并且產(chǎn)生或更新了DMA。圖6是本發(fā)明1的檢驗方法的流程圖。在步驟601，通過在滿足圖2所示條件的C-1盤201上記錄滿足圖2所示條件的測試基準DMA鏡像文件，產(chǎn)生C-2盤207。接下來，在步驟602，將C-2盤207加載到待測試驅(qū)動器209，并對C-2盤207在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化。在步驟S603，從再初始化的C-2’盤211中讀出DMA信息，并根據(jù)該DMA信息來產(chǎn)生C-2’盤DMA鏡像文件213。C-2’盤DMA鏡像文件213用作測試信息。此時，可提取C-2’盤DMA鏡像文件213的一部分作為測試信息，如圖2所示。在步驟S604，檢驗C-2’盤DMA鏡像文件213。該檢驗是以由圖2所示檢驗器215執(zhí)行的相同的方式采用所期望的基準信息(或期望值)來執(zhí)行的。在完成檢驗之后，在步驟605輸出檢驗結(jié)果，從而用戶能夠評估待測試驅(qū)動器209的DMA產(chǎn)生或更新功能。圖7表示的待測試驅(qū)動器110具有用于發(fā)出光的光源22、用于將來自光源的光聚焦到盤D時的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述檢驗處理試圖檢驗控制器26的適當操作。如上所述，本發(fā)明在待測試驅(qū)動器中對C-2盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，其中C-2盤采用具有已知的物理缺陷的C-1盤和測試基準DMA鏡像文件產(chǎn)生的，其中，PDL包括P列表、G1列表和G2列表等所有類型的缺陷。檢驗在進行認證情況下執(zhí)行再初始化后所得到的基于C-2’盤DMA鏡像文件的測試信息，以得到對待測試驅(qū)動器的DMA讀取和記錄功能的測試結(jié)果。因此，能夠方便地測試能夠在盤上記錄信息和從該盤再現(xiàn)信息的驅(qū)動器的DMA產(chǎn)生或更新功能。當執(zhí)行再初始化時，本發(fā)明采用滿足具有最高差錯出現(xiàn)概率的條件的測試基準DMA鏡像文件，從而執(zhí)行滿足由“可重寫盤DVD規(guī)范，部分1，物理規(guī)范版本2.0(DVDSpecificationsforRewritableDiscPart1PhysicalSpecificationsVersion2.0)”提出的算法的所有情況的檢驗和測試。另外，用戶自己就可采用測試基準DMA鏡像文件生成其中PDL包括P列表、G1列表和G2列表的C-2盤，從而由于不需制造商生產(chǎn)和提供測試盤作為C-2盤而降低成本。用戶可采用基準驅(qū)動器205、DMA鏡像文件提供器203和C-1盤201來生成C-2盤。盡管已圖示和描述了本發(fā)明的幾個優(yōu)選實施例，但是，本領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員可在不背離本發(fā)明原理和宗旨的前提下對實施例進行修改，本發(fā)明的范圍由其權(quán)利要求書和其等同物限定。權(quán)利要求1.一種用于檢驗在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的產(chǎn)生或更新DMA信息功能的方法，該方法包括下列步驟采用測試基準信息和具有物理缺陷的測試盤，在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中在進行認證的情況下進行再初始化，并在再初始化之后從所產(chǎn)生的DMA信息中產(chǎn)生測試信息；和將從測試基準信息和物理缺陷中得到的基準信息與測試信息相比較，并提供對測試信息的檢驗結(jié)果。2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述測試盤包括有關(guān)滿足在進行認證的情況下進行再初始化期間容易出現(xiàn)差錯的條件的位置的信息。3.如權(quán)利要求1所述的方法，其中測試盤包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，并且每個區(qū)域中可用扇區(qū)的總數(shù)是16的倍數(shù)。4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在進行認證的情況下進行再初始化時的測試基準信息是鏡像文件。5.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在進行認證的情況下進行再初始化時的測試基準信息是DMA鏡像文件。6.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，在進行認證的情況下進行再初始化時的測試基準信息是DMA鏡像文件，它被配置成在主缺陷列表(PDL)中包含有多種缺陷。7.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，當在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中對測試盤正常地在進行認證的情況下進行再初始化時，根據(jù)DMA鏡像文件和物理缺陷信息設(shè)置在進行比較時期望的基準信息。8.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，所述PDL包括P1列表、G1列表和G2列表，所述P列表包括有關(guān)有盤制造商定義的缺陷扇區(qū)的信息，G1列表包括有關(guān)在認證期間檢測到的缺陷扇區(qū)的信息，所述G2列表包括有關(guān)在不進行認證的情況下從DMA鏡像文件中的次缺陷列表(SDL)去除的缺陷扇區(qū)的信息。9.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述比較步驟包括檢查是否從測試信息中刪除了包含在DMA鏡像文件中的G1列表、G2列表和SDL。10.如權(quán)利要求8所述的方法，其中，所述比較步驟包括檢查是否保持P列表，是否在G1列表中包括由在測試盤中存在的人為的缺陷扇區(qū)，是否不存在SDL項目。11.如權(quán)利要求6所述的方法，其中，在進行認證的情況下進行再初始化時產(chǎn)生的測試信息是鏡像文件。12.如權(quán)利要求11所述的方法，其中所述比較步驟包括檢驗所述測試信息的DMA的結(jié)構(gòu)；檢驗所述測試信息的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)；檢驗所述測試信息的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)；和檢驗所述測試信息的次缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中所述檢驗DMA結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查DMA差錯條件、DDS/PDL和SDL更新計數(shù)器、和DMA的內(nèi)容。14.如權(quán)利要求13所述的方法，其中，檢驗DMA差錯條件的步驟包括檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位于測試盤導(dǎo)入?yún)^(qū)，而另兩個位于導(dǎo)出區(qū)；檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，并且DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否相同；檢查SDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查4個SDL中SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，并且SDL更新計數(shù)器的值是否相同；和檢查DMA的內(nèi)容的步驟包括檢查4個DMA的內(nèi)容是否相同。15.如權(quán)利要求12所述的方法，其中所述檢驗DDS的步驟包括檢查DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)位置、第一邏輯扇區(qū)號的位置、和每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。16.如權(quán)利要求15所述的方法，其中檢查DDS的步驟包括檢查DDS標識符是否為預(yù)定值；檢查盤認證標記的步驟包括檢查盤認證標記中表示在進程中的比特的值是否為“0b”，并且表示盤制造商認證的比特的值和表示用戶認證的比特的值是否為“1b”檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”；檢查組數(shù)的步驟包括檢查組數(shù)是否為預(yù)定值；檢查區(qū)域數(shù)的步驟包括檢查區(qū)域數(shù)是否為預(yù)定值；檢查主備用區(qū)位置的步驟包括分別檢查主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號是否為預(yù)定的扇區(qū)號；檢查第一邏輯扇區(qū)號的步驟包括檢查是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來確定第一邏輯扇區(qū)號的位置；和檢查開始邏輯扇區(qū)號的步驟包括檢查是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來確定每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。17.如權(quán)利要求12所述的方法，其中檢驗PDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查PDL標識符、PDL中的項目數(shù)、和PDL項目的完整性。18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中檢查PDL標識符的步驟包括檢查PDL標識符是否為預(yù)定值；檢查項目數(shù)的步驟包括檢查PDL中的項目數(shù)是否與PDL中登記的缺陷數(shù)相同；和檢查PDL項目的完整性的步驟包括檢查PDL項目的完整性是否包括測試盤上DMA中的P1列表、在用戶認證期間檢測到的缺陷的G1列表。19.如權(quán)利要求12所述的方法，其中所述檢驗SDL結(jié)構(gòu)的步驟包括檢查SDL標識符、SDL更新計數(shù)器、次備用區(qū)(SSA)的開始扇區(qū)號、邏輯扇區(qū)總數(shù)、DDS/PDL更新計數(shù)器、備用區(qū)滿標記、SDL中的項目數(shù)、SDL項目的完整性、未使用區(qū)域、和保留區(qū)域。20.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，檢查SDL標識符的步驟包括檢查SDL標識符是否為預(yù)定值；檢查SDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”；檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”；檢查SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)的步驟包括檢查是否根據(jù)由用戶指定的SSA的尺寸適當?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)；檢查備用區(qū)滿標記、SDL的項目數(shù)和SDL項目的完整性的步驟包括檢查備用區(qū)滿標記是否表示SSA為不滿，SDL中的項目數(shù)是否被設(shè)置成表示不存在項目的“00h”，以及是否不存在有關(guān)SDL的信息；和檢查未使用區(qū)域和保留區(qū)域的步驟包括檢查SDL的未使用區(qū)域的尺寸，并檢查未使用區(qū)域是否為預(yù)定值，以及保留區(qū)域是否為預(yù)定值。21.如權(quán)利要求19所述的方法，其中，檢查SDL標識符的步驟包括檢查SDL標識符是否為預(yù)定值；檢查SDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”；檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的步驟包括檢查DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”；檢查SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)的步驟包括檢查是否根據(jù)由用戶指定的次備用區(qū)(SSA)的尺寸適當?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)；檢查備用區(qū)滿標記、SDL的項目數(shù)和SDL項目的完整性的步驟包括檢查備用區(qū)滿標記是否表示SSA為不滿，并且是否當在認證期間檢測到的缺陷溢出指定到PDL的G1列表的區(qū)域時在SDL中登記了G1列表；和檢查未使用區(qū)域和保留區(qū)域的步驟包括檢查SDL的未使用區(qū)域的尺寸，并檢查未使用區(qū)域是否為預(yù)定值，以及保留區(qū)域是否為預(yù)定值。22.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括將測試基準信息記錄到具有物理缺陷的盤，而不管物理缺陷如何，以產(chǎn)生測試盤。23.如權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述產(chǎn)生測試信息的步驟包括從在進行認證的情況下再初始化的測試盤上的DMA中直接讀取測試信息。24.如權(quán)利要求1所述的方法，還包括顯示檢驗結(jié)果作為測試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA產(chǎn)生或更新功能的結(jié)果。25.一種用于測試在具有缺陷管理信息(DMA)信息的盤上記錄信息或從這種盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA信息產(chǎn)生或更新功能的設(shè)備。該設(shè)備包括基準驅(qū)動器，用于在記錄和再現(xiàn)設(shè)備對測試盤在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之后，從具有測試基準信息和物理缺陷的測試盤的DMA產(chǎn)生測試信息和檢驗器，用于將從測試基準信息和物理缺陷中得到的基準信息與測試信息相比較，并提供檢驗測試信息。26.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中所述測試基準信息是DMA鏡像文件。27.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，所述基準驅(qū)動器將測試基準信息記錄到具有物理缺陷的盤，而不管物理缺陷如何，以產(chǎn)生測試盤。28.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，所述測試盤包括有關(guān)滿足當記錄和再現(xiàn)設(shè)備進行再初始化期間容易出現(xiàn)差錯的條件的位置的缺陷信息。29.如權(quán)利要求28所述的設(shè)備，其中，所述測試盤包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，并且每個區(qū)域中可用扇區(qū)的總數(shù)不是16的倍數(shù)。30.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，所述測試基準信息是DMA鏡像文件，其中在主缺陷列表(PDL)中包含有多種缺陷。31.如權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，所述PDL包括P1列表、G1列表和G2列表，所述P列表包括有關(guān)有盤制造商定義的缺陷扇區(qū)的信息，G1列表包括有關(guān)在認證期間檢測到的缺陷扇區(qū)的信息，所述G2列表包括有關(guān)在不進行認證的情況下從DMA鏡像文件中的次缺陷列表(SDL)去除的缺陷扇區(qū)的信息。32.如權(quán)利要求31所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢查是否從測試信息中去除了包含在測試基準信息中的G1列表、G2列表和SDL。33.如權(quán)利要求31所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢查在已被再初始化的測試盤上的DMA的G2列表中是否包括存在于測試盤上的物理缺陷和人為缺陷。34.如權(quán)利要求30所述的設(shè)備，其中，由所述基準驅(qū)動器產(chǎn)生的測試信息是鏡像文件。35.如權(quán)利要求34所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢驗測試信息中的DMA的結(jié)構(gòu)、盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)、和次缺陷列表(SDL)結(jié)構(gòu)。36.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器通過檢查DMA差錯條件、DDS/PDL和SDL更新計數(shù)器、和DMA的內(nèi)容，來檢驗DMA結(jié)構(gòu)。37.如權(quán)利要求36所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢查4個DMA，即寫入測試盤4個位置的DMA中的任意一個中是否存在差錯，其中的兩個位于測試盤導(dǎo)入?yún)^(qū)，而另兩個位于導(dǎo)出區(qū)，4個DDS中和4個SDL中的DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否相同，4個SDL中SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”,SDL更新計數(shù)器的值是否相同，以及4個DMA的內(nèi)容是否相同。38.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，通過檢查DDS標識符、盤認證標記、DDS/PDL更新計數(shù)器、組數(shù)、區(qū)域數(shù)、主備用區(qū)位置、第一邏輯扇區(qū)號的位置、和每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號，所述檢驗器具有DDS。39.如權(quán)利要求38所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢查DDS標識符是否為預(yù)定值，檢查盤認證標記中表示在進程中的比特的值是否為“0b”，表示盤制造商認證的比特的值和表示用戶認證的比特的值是否為“1b”，DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，檢查組數(shù)、區(qū)域數(shù)、及主備用區(qū)的第一和最后扇區(qū)號，檢查是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來確定第一邏輯扇區(qū)號的位置，和是否根據(jù)PDL中登記的缺陷數(shù)來確定每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。40.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器通過檢查PDL標識符、PDL中的項目數(shù)、和PDL項目的完整性，來檢驗PDL結(jié)構(gòu)。41.如權(quán)利要求40所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器通過檢查PDL標識符來檢驗PDL結(jié)構(gòu)，并且檢查PDL中的項目數(shù)是否與PDL中登記的缺陷數(shù)相同，和PDL項目的完整性是否包括測試盤上DMA中的P列表和在用戶認證期間檢測到的缺陷的G1列表。42.如權(quán)利要求35所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器通過檢查SDL標識符、SDL更新計數(shù)器、次備用區(qū)(SSA)的開始扇區(qū)號、邏輯扇區(qū)總數(shù)、DDS/PDL更新計數(shù)器、備用區(qū)滿標記、SDL中的項目數(shù)、SDL項目的完整性、未使用區(qū)域、和保留區(qū)域，來檢驗SDL結(jié)構(gòu)。43.如權(quán)利要求42所述的設(shè)備，其中，所述檢驗器檢查SDL標識符是否為預(yù)定值，并檢查SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”,DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，是否根據(jù)由用戶指定的SSA的尺寸適當?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)，備用區(qū)滿標記是否表示次器備用區(qū)為不滿，SDL中的項目數(shù)是否被設(shè)置成表示不存在項目的“00h”，是否不存在有關(guān)SDL項目的信息，檢查SDL的未使用區(qū)域的尺寸，未使用區(qū)域是否為預(yù)定值，以及保留區(qū)域是否為預(yù)定值。44.如權(quán)利要求42所述的設(shè)備，其中，通過檢查SDL標識符，并檢查SDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示SDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的SDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，DDS/PDL更新計數(shù)器的值是否為“先前值”，表示DDS/PDL更新計數(shù)器在進行認證情況下執(zhí)行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新計數(shù)器增量是否為“2”，是否根據(jù)由用戶指定的SSA的尺寸適當?shù)卦O(shè)置了SSA的開始扇區(qū)號和邏輯扇區(qū)的總數(shù)，備用區(qū)滿標記設(shè)備是否表示SSA為不滿，是否當在認證期間檢測到的缺陷溢出指定到PDL的G1列表的區(qū)域時在SDL中登記了G1列表，檢查SDL的未使用區(qū)域的尺寸，未使用區(qū)域是否為預(yù)定值，以及保留區(qū)域是否為預(yù)定值，所述檢驗器檢驗SDL結(jié)構(gòu)。45.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，所述基準驅(qū)動器從在進行認證的情況下再初始化的測試盤上的DMA中直接讀取測試信息。46.如權(quán)利要求25所述的設(shè)備，其中，還包括顯示器，用于顯示檢驗結(jié)果作為測試記錄和再現(xiàn)設(shè)備的DMA產(chǎn)生或更新功能的結(jié)果。47.一種用于檢驗在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當?shù)禺a(chǎn)生或更新DMA信息的方法，該方法包括下列步驟根據(jù)在進行認證情況下執(zhí)行再初始化的測試模式，來設(shè)置測試基準；根據(jù)在進行認證情況下執(zhí)行再初始化的測試模式，來從DMA信息中產(chǎn)生測試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備產(chǎn)生或更新的；和在再初始化的測試模式下，采用測試基準來執(zhí)行用于檢驗測試信息的測試。48.如權(quán)利要求47所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。49.如權(quán)利要求47所述的方法，其中所述測試信息是直接從被用于測試的盤上的DMA區(qū)域讀取的。50.如權(quán)利要求47所述的方法，其中產(chǎn)生測試信息的步驟包括記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，并選擇其中輔助備用區(qū)不滿的DMA鏡像文件。51.如權(quán)利要求50所述的方法，還包括通過在空白盤上形成已知的物理缺陷，來得到第一測試盤；和通過在第一測試盤上記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，和在第一測試盤中記錄表示輔助備用區(qū)不滿的鏡像文件，來得到第二測試盤，并且在產(chǎn)生測試信息時采用第二測試盤。52.如權(quán)利要求51所述的方法，其中，執(zhí)行測試的步驟包括通過在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，檢查第二測試盤的DMA信息是否與預(yù)定DMA結(jié)構(gòu)相一致，檢查是否保持P列表，檢查與第一測試盤的已知缺陷相同的缺陷列表，并檢查第二測試盤每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號53.一種用于檢驗在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息信息的光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備中是否適當?shù)禺a(chǎn)生或更新DMA的方法，該方法包括下列步驟根據(jù)在進行認證情況下執(zhí)行再初始化的測試模式，來從DMA信息中產(chǎn)生測試信息，所述DMA信息是由所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備產(chǎn)生或更新的；和采用用于檢驗DMA信息的測試基準來檢驗測試信息。54.如權(quán)利要求53所述的方法，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。55.一種用于測試在具有缺陷管理區(qū)域(DMA)信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以檢查DMA信息是否被適當?shù)禺a(chǎn)生或更新的設(shè)備，包括改進的驅(qū)動器單元，用于從測試盤的產(chǎn)生或更新的DMA信息中產(chǎn)生測試信息，它是在記錄和再現(xiàn)設(shè)備相應(yīng)于在進行認證情況下執(zhí)行的再初始化對具有DMA鏡像文件的測試盤在進行認證情況下執(zhí)行再初始化后得到的；和檢驗器，用于相應(yīng)于在進行認證情況下執(zhí)行的再初始化將測試信息與預(yù)定的測試信息相比較，以檢驗測試結(jié)果。56.如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中所述測試信息是DMA鏡像文件。57.如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，其中所述改進的驅(qū)動單元從測試盤上的DMA區(qū)域讀取測試信息，并將該測試信息提供給檢驗器。58.如權(quán)利要求57所述的設(shè)備，其中測試盤是在第一測試盤上記錄有DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容的第二測試盤，第一測試盤是通過在空白盤上形成已知的物理缺陷而得到的，在第一測試盤中記錄有其輔助備用區(qū)不滿的鏡像文件。59.如權(quán)利要求58所述的設(shè)備，其中所述檢驗器檢查第二測試盤的DMA信息是否與預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)相一致，并且是否保持P列表，并檢查與已知缺陷相同的缺陷列表和第二測試盤的每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。60.一種檢驗記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，包括下列步驟采用再現(xiàn)和記錄設(shè)備，對包含預(yù)定缺陷信息的測試盤在進行認證情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。61.如權(quán)利要求60所述的方法，還包括得知空白盤中預(yù)定位置上的物理缺陷，以產(chǎn)生第一測試盤；通過在第一測試盤中記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，和在第一測試盤中記錄表示輔助備用區(qū)為不滿的鏡像文件，得到第二測試盤；使記錄和再現(xiàn)設(shè)備對第二測試盤在進行認證地的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生具有DMA信息的第二測試盤；和采用基準驅(qū)動器從具有DMA信息的第二測試盤僅讀取DMA信息，以產(chǎn)生測試DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。62.如權(quán)利要求61所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查第二測試盤的DMA信息是否與預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)相一致，檢查是否保持P列表，并檢查與第一測試盤的已知缺陷相同的缺陷列表和第二測試盤的每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。63.一種檢驗記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當?shù)胤g和處理缺陷信息的方法，包括下列步驟準備具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤；通過使記錄和再現(xiàn)設(shè)備對測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，來產(chǎn)生測試信息和對測試信息進行檢驗測試。64.如權(quán)利要求63所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。65.如權(quán)利要求64所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。66.一種檢驗記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否適當?shù)刈x取和處理缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法，包括下列步驟采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤采用在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生DMA信息；根據(jù)所測試的DMA信息產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。67.如權(quán)利要求66所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。68.如權(quán)利要求67所述的方法，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。69.如權(quán)利要求64所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)、和DMA的次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。70.一種由記錄和再現(xiàn)設(shè)備采用下列處理步驟適當?shù)禺a(chǎn)生的DMA信息，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生DMA信息根據(jù)所產(chǎn)生的DMA信息產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。71.如權(quán)利要求70所述的DMA信息，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。72.如權(quán)利要求71所述的DMA信息，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。73.如權(quán)利要求72所述的DMA信息，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)、和DMA的次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。74.一種按照下列處理步驟檢驗的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生DMA信息；根據(jù)所產(chǎn)生的DMA信息產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。75.如權(quán)利要求74所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。76.如權(quán)利要求75所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。77.如權(quán)利要求74所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)、和DMA的次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。78.一種采用下列處理步驟檢驗的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，該處理步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備對具有已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生DMA信息；將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。79.如權(quán)利要求78所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。80.如權(quán)利要求79所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。81.如權(quán)利要求78所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)、和DMA的次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。82.一種用于測試在具有缺陷管理區(qū)域信息的可記錄和可再現(xiàn)光盤上記錄信息或從該盤再現(xiàn)信息的記錄和再現(xiàn)設(shè)備以檢查DMA信息是否被適當?shù)禺a(chǎn)生的設(shè)備，包括改進的驅(qū)動器，用于采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，根據(jù)再現(xiàn)裝置通過對包含已知的物理缺陷和測試基準DMA鏡像文件的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化而產(chǎn)生的測試盤的DMA信息，來產(chǎn)生測試信息，以產(chǎn)生DMA信息；和檢驗器，用于將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。83.如權(quán)利要求82所述的設(shè)備，其中改進的驅(qū)動器僅從具有DMA信息的測試盤讀取DMA信息，以產(chǎn)生DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。84.如權(quán)利要求82所述的設(shè)備，其中，通過在具有已知的物理缺陷的第一測試盤上記錄DMA的預(yù)先確定的內(nèi)容，并且在第一測試盤上記錄表示輔助備用區(qū)為不滿的測試基準DMA鏡像文件，改進的驅(qū)動器產(chǎn)生第二測試盤；所述記錄和再現(xiàn)設(shè)備對第二測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生具有DMA信息的第二測試盤；和所述改進的驅(qū)動器僅從具有DMA信息的測試盤讀取DMA信息，以產(chǎn)生DMA鏡像文件作為測試信息，其中，基準測試信息是基準DMA鏡像文件。85.如權(quán)利要求84所述的設(shè)備，其中所述檢驗器檢查第二測試盤的DMA信息是否與預(yù)定的DMA結(jié)構(gòu)相一致，檢查是否保持P列表，并檢查與第一測試盤的已知缺陷相同的缺陷列表和第二測試盤的每個區(qū)域的開始邏輯扇區(qū)號。86.如權(quán)利要求82所述的設(shè)備，其中通過檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)，所述檢驗器比較測試信息和基淮測試信息。87.如權(quán)利要求82所述的設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括有關(guān)集中在位于第一邏輯扇區(qū)應(yīng)所在的地方的物理扇區(qū)周圍的缺陷的信息。88.如權(quán)利要求87所述的記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述測試基準DMA鏡像文件包括被認為是錯誤的每個區(qū)域的第一和最后扇區(qū)，有缺陷扇區(qū)如下設(shè)置，即，使得每個區(qū)域的可用扇區(qū)總數(shù)不是16的倍數(shù)。89.如權(quán)利要求55所述的設(shè)備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗器提供基準測試信息，以比較測試信息和基準測試信息。90.如權(quán)利要求74所述的設(shè)備，還包括DMA鏡像文件提供器，其向檢驗器提供基準測試信息，以比較DMA鏡像文件和基準DMA鏡像文件。91.一種制造相一致的記錄和再現(xiàn)設(shè)備的方法，包括下列步驟制造更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)(DMA)信息的未認證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備；和檢驗所述未認證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否與標準相一致，所述檢驗步驟包括采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，對包含預(yù)定缺陷信息和測試基準DMA鏡像文件的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生測試信息；和將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗，所述檢驗表示所述未認證的記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否與標準相一致。92.如權(quán)利要求91所述的方法，其中所述比較步驟包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。93.一種用于記錄和再現(xiàn)光盤上的信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光源，用于發(fā)出光；聚焦部件，用于將光聚焦到光盤上，以記錄和再現(xiàn)信息；和控制器，用于控制所述光源，通過如下處理來檢驗所述控制器以更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)(DMA)信息，即，采用記錄和再現(xiàn)設(shè)備，對包含預(yù)定的缺陷信息和測試基準DMA信息的測試盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化，以產(chǎn)生測試信息，和，將測試信息與基準測試信息相比較，以確定記錄和再現(xiàn)設(shè)備的檢驗。94.如權(quán)利要求93所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述比較包括檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。95.一種用于記錄和再現(xiàn)光盤上的信息的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，包括光源，用于發(fā)出光；聚焦部件，用于將光聚焦到光盤上，以記錄和再現(xiàn)信息；和控制器，用于控制所述光源，和在對光盤在進行認證的情況下執(zhí)行再初始化之后更新和產(chǎn)生缺陷管理區(qū)信息，從而缺陷管理區(qū)信息與標淮相一致。96.如權(quán)利要求95所述的盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備，其中所述控制器檢查構(gòu)成測試信息的DMA結(jié)構(gòu)、DMA的盤定義結(jié)構(gòu)(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)結(jié)構(gòu)和次列表(SDL)結(jié)構(gòu)。97.如權(quán)利要求16所述的方法，其中所述檢驗DDS的步驟還包括檢查剩余的保留區(qū)域是否具有預(yù)定值。98.如權(quán)利要求18所述的方法，其中所述檢驗PDL的步驟還包括檢查未使用的區(qū)域是否是預(yù)定值。全文摘要一種用于檢驗盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備在進行認證情況下執(zhí)行再初始化時是否正常地產(chǎn)生或更新缺陷管理區(qū)(DMA)信息的方法及采用該方法的測試設(shè)備。該方法包括步驟:采用測試基準信息和具有物理缺陷的測試盤,在記錄和再現(xiàn)設(shè)備中在進行認證的情況下進行再初始化,之后從DMA信息產(chǎn)生測試信息;和將從測試基準信息和物理缺陷中得到的基準信息與測試信息相比較,并提供對測試信息的檢驗結(jié)果。因此,能夠容易地判定盤記錄和再現(xiàn)設(shè)備是否正常地執(zhí)行了DMA產(chǎn)生或更新功能。文檔編號G11B27/00GK1323033SQ0111239公開日2001年11月21日申請日期2001年4月6日優(yōu)先權(quán)日2000年4月8日發(fā)明者高禎完,鄭鉉權(quán)申請人:三星電子株式會社