觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法，該觸控顯示面板包括：基板，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；觸控電極陣列，至少設(shè)置于基板的顯示區(qū)域，觸控電極陣列包括由多個沿行方向和列方向排布的觸控電極；以及多條觸摸信號輸出線和多條數(shù)據(jù)線，每個觸控電極各自對應(yīng)至少一條觸摸信號輸出線，觸控電極電連接對應(yīng)的觸摸信號輸出線，觸摸信號輸出線電連接至少一條數(shù)據(jù)線，觸摸信號輸出線的第一端通過至少一測試開關(guān)器件串聯(lián)對應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第一端。本發(fā)明能有效節(jié)省功耗，減少電位切換，同時也可以消除因非掃描區(qū)間電極電平跳動對掃描區(qū)間的擾動，進(jìn)一步增強觸控識別的信噪比，提升觸控識別的性能。
【專利說明】
觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸摸屏(In Cell Touch Panel)，一般將液晶顯示面板(LiquidCrystal Display，IXD)的公共電極層劃分為多個公共電極塊，并將每一公共電極塊分別通過一走線與一控制IC(integrated circuit)電連接。所述公共電極塊復(fù)用做觸控電極。在顯示狀態(tài)下，所述公共電極塊用于接收公共電壓信號，在觸摸狀態(tài)下，所述公共電極塊作為觸控驅(qū)動電極并用于發(fā)射觸控驅(qū)動信號。
[0003]圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種觸控顯示面板的示意圖。圖2是現(xiàn)有技術(shù)的觸控顯示面板中觸控電極的電路圖。如圖1和2所示，現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控顯示面板10’包括矩陣排列的多個被復(fù)用的公共電極、數(shù)據(jù)線14’以及柵極線19’。在顯示狀態(tài)，公共電極像素電極之間形成電場以驅(qū)動液晶偏轉(zhuǎn)，在觸摸狀態(tài)，每個公共電極被配置為觸控電極11’。每個觸控電極11’通過以獨立的觸摸信號輸出線12’連接到一對應(yīng)的前置放大器13’。而且觸控電極11’的觸摸信號輸出線12’和為像素充電的數(shù)據(jù)線14’位于不同的層面上，二者之間相互獨立。觸控顯示面板通過觸摸模式和顯示模式分時操作。由于在數(shù)據(jù)線14’和公共電極之間電平交替變化會有耦合電容Cvd存在，通常為降低這個耦合電容Cvd，觸摸狀態(tài)會在公共電極輸入脈沖時，數(shù)據(jù)線14’上也會打出相同相位的脈沖，依次降低耦合電容Cvd。
[0004]圖3是現(xiàn)有技術(shù)的觸控顯示面板的顯示狀態(tài)示意圖。如圖3所示，在現(xiàn)有的內(nèi)嵌式觸控顯示架構(gòu)中，為了降低數(shù)據(jù)線14’和公共電極之間的耦合電容Cvd，在收集觸控信號的區(qū)間，數(shù)據(jù)線14’上會打出和Vcom相同相位的脈沖;但是在切回顯示狀態(tài)時，由于數(shù)據(jù)線14’上的電位并不會立刻從之前的脈沖電位變?yōu)楝F(xiàn)在顯示狀態(tài)所需的電位，所以在觸摸狀態(tài)切回顯示狀態(tài)的前幾行(見圖3中的第一區(qū)域111’)內(nèi)會存在充電不足的現(xiàn)象，顯示上表現(xiàn)為橫紋，無法實現(xiàn)顯示效果，其余部分如第二區(qū)域112’正常顯示;而在收集觸控信號的區(qū)間，目前是所有的傳感器都會打和Vcom相同相位的脈沖，這樣也會導(dǎo)致面板功耗增加。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]針對現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本發(fā)明的目的在于提供觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法，能有效節(jié)省功耗，減少電位切換，同時也可以消除因非掃描區(qū)間電極電平跳動對掃描區(qū)間的擾動，進(jìn)一步增強觸控識別的信噪比，提升觸控識別的性能。
[0006]本發(fā)明實施例提供的一種觸控顯示面板，包括:
[0007]基板，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域；
[0008]觸控電極陣列，至少設(shè)置于所述基板的顯示區(qū)域，所述觸控電極陣列包括由多個沿行方向和列方向排布的觸控電極；以及
[0009]多條觸摸信號輸出線和多條數(shù)據(jù)線，每個所述觸控電極各自對應(yīng)至少一條觸摸信號輸出線，所述觸控電極電連接對應(yīng)的所述觸摸信號輸出線，所述觸摸信號輸出線電連接至少一條所述數(shù)據(jù)線，所述觸摸信號輸出線的第一端通過至少一測試開關(guān)器件串聯(lián)對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線的第一端。
[0010]優(yōu)選地，每條所述觸摸信號輸出線的第一端僅通過一測試開關(guān)器件串聯(lián)對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線的第一端。
[0011 ]優(yōu)選地，處于顯示狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件被配置為開路；
[0012]處于觸摸狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件被配置為通路。
[0013]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件是低溫多晶硅晶體管。
[0014]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件的控制端分別電連接到一測試總線。
[0015]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件位于非顯示區(qū)域。
[0016]優(yōu)選地，同一列所述觸控電極對應(yīng)的多條所述數(shù)據(jù)線的第一端分別連接到一測試端子，每條所述數(shù)據(jù)線的第一端與所述測試端子之間分別串聯(lián)所述測試開關(guān)器件；
[0017]每一列所述觸控電極中的一個觸控電極連接的至少一條所述觸摸信號輸出線的第一端電連接所述測試端子，所述觸摸信號輸出線與所述測試端子之間串聯(lián)一觸控開關(guān)器件。
[0018]優(yōu)選地，處于測試階段時，所述測試開關(guān)器件被配置為通路，觸控開關(guān)器件被配置為開路；
[0019]處于顯示狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都被配置為開路；
[0020]處于觸摸狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都被配置為通路。
[0021]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都是低溫多晶硅晶體管。
[0022]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件的控制端分別電連接到一測試總線；
[0023]所述觸控開關(guān)器件的控制端分別電連接到一觸控總線。
[0024]優(yōu)選地，所述測試開關(guān)器件、所述觸控開關(guān)器件以及所述測試端子都位于非顯示區(qū)域。
[0025]優(yōu)選地，所述觸摸信號輸出線的第二端電連接一前置放大器。
[0026]優(yōu)選地，所述觸控電極是自電容觸控電極或是互電容觸控電極。
[0027]優(yōu)選地，處于顯示狀態(tài)時，所述觸控電極被復(fù)用為公共電極。
[0028]本發(fā)明實施例提供的一種觸控顯示面板的使用方法，采用上述的觸控顯示面板，包括:
[0029]處于顯示狀態(tài)時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為開路；
[0030]處于觸摸狀態(tài)時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為通路;所述觸控電極陣列逐列掃描觸摸信號，被掃描的一列的所述觸控電極和對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線被輸入相同的脈沖信號。
[0031]優(yōu)選地，未被掃描的其余列的所述觸控電極和對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線被提供參考電位。
[0032]本發(fā)明實施例提供的一種觸控顯示面板的檢測方法，采用上述的觸控顯示面板，包括:處于測試階段時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為通路，所述觸摸信號輸出線的第一端與所述測試端子之間被配置為開路，通過每一列所述觸控電極對應(yīng)的所述測試端子提供電位，進(jìn)行畫面檢測。
[0033]本發(fā)明的觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法能夠使得在非掃描區(qū)間的觸控檢測電極和數(shù)據(jù)線收集觸控信號階段維持起始的電位不用動作，可以節(jié)省功耗，并且減少電位切換，同時也可以消除因非掃描區(qū)間電極電平跳動對掃描區(qū)間的擾動，進(jìn)一步增強觸控識別的信噪比，提升觸控識別的性能。
【附圖說明】
[0034]通過閱讀參照以下附圖對非限制性實施例所作的詳細(xì)描述，本發(fā)明的其它特征、目的和優(yōu)點將會變得更明顯。
[0035]圖1是現(xiàn)有技術(shù)的一種觸控顯不面板的不意圖；
[0036]圖2是現(xiàn)有技術(shù)的觸控顯示面板中觸控電極的電路圖；
[0037]圖3是現(xiàn)有技術(shù)的觸控顯示面板的顯示狀態(tài)示意圖；
[0038]圖4是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板的示意圖；
[0039]圖5是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板中單個觸控電極的電路示意圖；
[0040]圖6是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板的顯示狀態(tài)和觸摸狀態(tài)下的波形圖；
[0041 ]圖7是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板的示意圖；
[0042]圖8是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板中單個觸控電極的電路示意圖；以及
[0043]圖9是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板的顯示狀態(tài)和觸摸狀態(tài)下的波形圖。
【具體實施方式】
[0044]現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的實施方式;相反，提供這些實施方式使得本發(fā)明將全面和完整，并將示例實施方式的構(gòu)思全面地傳達(dá)給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。在圖中相同的附圖標(biāo)記表示相同或類似的結(jié)構(gòu)，因而將省略對它們的重復(fù)描述。
[0045]第一實施例
[0046]圖4是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板的示意圖。如圖4所示，本發(fā)明的觸控顯示面板10，包括:基板、觸控電極陣列、多條觸摸信號輸出線12以及多條數(shù)據(jù)線14?；灏@示區(qū)域和非顯示區(qū)域。觸控電極陣列設(shè)置于基板的顯示區(qū)域，觸控電極陣列包括由多個沿行方向和列方向排布的觸控電極11。每個觸控電極11各自對應(yīng)至少一條觸摸信號輸出線12，觸控電極11電連接對應(yīng)的觸摸信號輸出線12，觸摸信號輸出線12電連接至少一條數(shù)據(jù)線14(鑒于觸摸信號輸出線12與數(shù)據(jù)線14為不同的導(dǎo)線且不同層設(shè)置，因此，使用直線表示觸摸信號輸出線12，虛線表示數(shù)據(jù)線14)，觸摸信號輸出線12的第一端僅通過一測試開關(guān)器件15串聯(lián)對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14的第一端。測試開關(guān)器件15可以是低溫多晶硅晶體管，但不以此為限。并且，可以通過測試開關(guān)器件15控制觸摸信號輸出線12與數(shù)據(jù)線14之間的導(dǎo)通狀態(tài)，即處于顯示狀態(tài)時，測試開關(guān)器件15被配置為開路;處于觸摸狀態(tài)時，測試開關(guān)器件15被配置為通路。觸摸信號輸出線12的第二端電連接一前置放大器13。測試開關(guān)器件15的控制端分別電連接到一測試總線SW。測試開關(guān)器件15位于非顯示區(qū)域，但不以此為限。
[0047]本發(fā)明中的觸控電極11是自電容觸控電極11或是互電容觸控電極11ο在本實施例中通過觸控電極11被配置為自電容觸控電極11來舉例說明。觸控電極11是被分時復(fù)用的電極，處于顯示狀態(tài)時，觸控電極11被復(fù)用為公共電極。
[0048]本發(fā)明將每條觸摸信號輸出線12與其對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14之間設(shè)置測試開關(guān)器件15(TFT開關(guān)，即薄膜晶體管開關(guān))。在顯示狀態(tài)，測試開關(guān)器件15斷開，數(shù)據(jù)線14和公共電極(即觸控電極11)獨立動作。而在觸摸狀態(tài)，測試開關(guān)器件15閉合，觸控電極11逐列掃描，在對應(yīng)的掃描區(qū)塊，自容式觸控電極11和數(shù)據(jù)線14打出相同的脈沖;在非掃描區(qū)塊自容式觸控電極11和數(shù)據(jù)線14被提供參考電位，從而增強信噪比的同時降低功耗。
[0049]圖5是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板中單個觸控電極的電路示意圖。如圖5所示，本實施例中的基本單元如圖所示:每條觸摸信號輸出線12與其對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14之間的測試開關(guān)器件15采用低溫多晶硅(LTPS)的薄膜晶體管。可選地，測試開關(guān)器件15為P溝道的薄膜晶體管。進(jìn)一步地說，在顯示狀態(tài)，測試開關(guān)器件15的控制柵處于高電位，觸摸信號輸出線12和數(shù)據(jù)線14斷開，公共電極(即觸控電極11)與數(shù)據(jù)線14獨立工作。而在觸摸狀態(tài)，測試開關(guān)器件15的控制柵處于低電位，觸摸信號輸出線12和數(shù)據(jù)線14閉合，觸摸信號輸出線12和數(shù)據(jù)線14導(dǎo)通，觸控電極11可以通過觸摸信號輸出線12和數(shù)據(jù)線14進(jìn)行觸控識別以及觸控信號的輸出。
[0050]圖6是本發(fā)明的第一種觸控顯示面板的顯示狀態(tài)和觸摸狀態(tài)下的波形圖。如圖6所示，根據(jù)不同的階段(數(shù)據(jù)線是分批進(jìn)行掃描的，部分?jǐn)?shù)據(jù)線被掃描時，其余部分的數(shù)據(jù)線未被掃描)，所以數(shù)據(jù)線可以分為某一時刻處于掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DLl和處于非掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DL2，觸控電極可以分為掃描區(qū)間的觸控電極RXl和非掃描區(qū)間的觸控電極RX2。測試開關(guān)器件15的通斷狀態(tài)受測試總線SW控制，高電平時關(guān)閉，低電平時導(dǎo)通。在觸控顯示面板的使用過程中，顯示狀態(tài)D與觸摸狀態(tài)T相互交替。與現(xiàn)有的驅(qū)動方式和架構(gòu)相比，在非掃描區(qū)間的觸控電極RX2和在非掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DL2在觸摸狀態(tài)控階段T中沒有動作，這樣也能消除因非掃描區(qū)間的電極電平的跳動對掃描區(qū)間的電極的擾動，進(jìn)一步增強信噪比，提升觸控識別的性能。
[0051]現(xiàn)有的驅(qū)動架構(gòu)和方式中，所有的觸控電極和數(shù)據(jù)線會因觸摸狀態(tài)和顯示狀態(tài)的狀態(tài)反復(fù)切換而頻繁改變電位，每次切換后前幾行的像素會存在充電不足而出現(xiàn)橫紋。顯然，本發(fā)明中的觸控電極和數(shù)據(jù)線沒有如此頻繁的電位切換，因此充電不足的現(xiàn)象得到改善，電極前幾行的橫紋現(xiàn)象會被大大減輕。
[0052]本發(fā)明還提供一種觸控顯示面板的使用方法，采用上述的觸控顯示面板10，包括:處于顯示狀態(tài)時，電連接到同一觸控電極11的觸摸信號輸出線12與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14之間被配置為開路。處于觸摸狀態(tài)時，電連接到同一觸控電極11的觸摸信號輸出線12與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14之間被配置為通路。觸控電極陣列逐列掃描觸摸信號，被掃描的一列的觸控電極11和對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14被輸入相同的脈沖信號。未被掃描的其余列的觸控電極11和對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14被提供參考電位。該方法的實施原理如前，此處不再贅述。
[0053]第二實施例
[0054]圖7是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板的示意圖。如圖7所示，本發(fā)明的觸控顯示面板10，包括:基板、觸控電極陣列、多條觸摸信號輸出線12以及多條數(shù)據(jù)線14。基板包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域。觸控電極陣列設(shè)置于基板的顯示區(qū)域，觸控電極陣列包括由多個沿行方向和列方向排布的觸控電極11。每個觸控電極11各自對應(yīng)至少一條觸摸信號輸出線12，觸控電極11電連接對應(yīng)的觸摸信號輸出線12，觸摸信號輸出線12電連接至少一條數(shù)據(jù)線
14。同一列觸控電極11對應(yīng)的多條數(shù)據(jù)線14的第一端分別連接到一測試端子17，每條數(shù)據(jù)線14的第一端與測試端子17之間分別串聯(lián)測試開關(guān)器件16。每一列觸控電極11中的一個觸控電極連接的至少一條觸摸信號輸出線12的第一端電連接測試端子17，觸摸信號輸出線12與測試端子17之間串聯(lián)一觸控開關(guān)器件18。測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18可以都是低溫多晶硅晶體管，但不以此為限。觸摸信號輸出線12的第二端電連接一前置放大器13。并且，可以通過測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18控制觸摸信號輸出線12與數(shù)據(jù)線14之間的導(dǎo)通狀態(tài)，即處于測試階段時(例如:在觸控顯示面板的生產(chǎn)線上)，測試開關(guān)器件16被配置為通路，觸控開關(guān)器件18被配置為開路。處于顯示狀態(tài)時(此時觸控顯示面已經(jīng)是成品)，測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18都被配置為開路。處于觸摸狀態(tài)時(此時觸控顯示面已經(jīng)是成品)，測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18都被配置為通路。測試開關(guān)器件16的控制端分別電連接到一測試總線SWl。觸控開關(guān)器件18的控制端分別電連接到一觸控總線SW2。測試開關(guān)器件16、測試端子17以及觸控開關(guān)器件18位于非顯示區(qū)域，但不以此為限。
[0055]本發(fā)明中的觸控電極11是自電容觸控電極11或是互電容觸控電極11ο在本實施例中通過觸控電極11被配置為自電容觸控電極11來舉例說明。觸控電極11是被分時復(fù)用的電極，處于顯示狀態(tài)時，觸控電極11被復(fù)用為公共電極。
[0056]本發(fā)明將每條數(shù)據(jù)線14的第一端與測試端子17之間分別串聯(lián)測試開關(guān)器件16(TFT開關(guān)，即薄膜晶體管開關(guān))，并且將每一列觸控電極11中的一個觸控電極連接的至少一條觸摸信號輸出線12的第一端電連接測試端子17，觸摸信號輸出線12與測試端子17之間串聯(lián)一觸控開關(guān)器件18(TFT開關(guān)，即薄膜晶體管開關(guān))。進(jìn)一步地說，在測試階段可以將測試開關(guān)器件16閉合，觸控開關(guān)器件18斷開，實行面板的初步畫面檢測，提前攔檢不良。在模組成型后顯示狀態(tài)，測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18都斷開;在觸摸狀態(tài)，測試開關(guān)器件16和觸控開關(guān)器件18都閉合，執(zhí)行觸控動作對應(yīng)的觸控電極和數(shù)據(jù)線打相同的脈沖，處于非掃描區(qū)間的觸控電極和數(shù)據(jù)線給參考電位，可以增強信噪比的同時降低功耗。
[0057]圖8是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板中單個觸控電極的電路示意圖。如圖8所示，本實施例中的基本單元如圖所示:每條數(shù)據(jù)線14的第一端與測試端子17之間分別串聯(lián)測試開關(guān)器件16采用低溫多晶硅(LTPS)的薄膜晶體管?？蛇x地，測試開關(guān)器件15為P溝道的薄膜晶體管。每一列觸控電極11中的一條觸摸信號輸出線12的第一端電連接測試端子17，該觸摸信號輸出線12與測試端子17之間串聯(lián)的觸控開關(guān)器件18也采用低溫多晶硅(LTPS)的薄膜晶體管。
[0058]進(jìn)一步地說，在測試階段，測試開關(guān)器件16的控制柵處于高電位，數(shù)據(jù)線14與測試端子17之間斷開;觸控開關(guān)器件18的控制柵處于低電位，測試端子17與觸摸信號輸出線12之間導(dǎo)通，實行面板的初步畫面檢測，提前攔檢不良。
[0059]在模組成型后的顯示狀態(tài)，測試開關(guān)器件16的控制柵處于高電位，數(shù)據(jù)線14與測試端子17之間斷開，觸控開關(guān)器件18的控制柵處于高電位，測試端子17與觸摸信號輸出線12之間斷開，觸摸信號輸出線12、數(shù)據(jù)線14和測試端子17之間斷開，公共電極(即觸控電極11)與數(shù)據(jù)線14獨立工作。
[0060]在模組成型后的觸摸狀態(tài)，測試開關(guān)器件16的控制柵處于低電位，數(shù)據(jù)線14與測試端子17之間導(dǎo)通，觸控開關(guān)器件18的控制柵處于低電位，測試端子17與觸摸信號輸出線12之間導(dǎo)通，執(zhí)行觸控動作對應(yīng)的觸控電極和數(shù)據(jù)線打相同的脈沖，非掃描區(qū)間的觸控電極和數(shù)據(jù)線給參考電位，可以增強信噪比的同時降低功耗。
[0061]第二實施例在第一實施例的基礎(chǔ)上，將每列觸控電極對應(yīng)的數(shù)據(jù)線通過測試開關(guān)器件16(測試總線SWl控制)連接到同一個測試端子17，并且將此列觸控電極的一個觸控電極連接的至少一條觸摸信號輸出線通過另外的觸控開關(guān)器件18(觸控總線SW2)連接到測試端子17;這樣既保持了第一實施例所有的優(yōu)點，還可以在面板測試階段提前檢測面板的相關(guān)不良，避免不良流入下一工站，減少材料耗損節(jié)約成本。
[0062]圖9是本發(fā)明的第二種觸控顯示面板的顯示狀態(tài)和觸摸狀態(tài)下的波形圖。如圖9所示，根據(jù)不同的階段(數(shù)據(jù)線是分批進(jìn)行掃描的，部分?jǐn)?shù)據(jù)線被掃描時，其余部分的數(shù)據(jù)線未被掃描)，數(shù)據(jù)線可以分為在某一時刻處于掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DLl和處于非掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DL2，觸控電極可以分為掃描區(qū)間的觸控電極RXI和非掃描區(qū)間的觸控電極RX2。測試開關(guān)器件16的通斷狀態(tài)受測試總線SWl控制，高電平時關(guān)閉，低電平時導(dǎo)通。觸控開關(guān)器件18的通斷狀態(tài)受測試總線SW2控制，高電平時關(guān)閉，低電平時關(guān)導(dǎo)通。在觸控顯示面板的制造和使用過程中，首先是測試階段A，測試階段A接觸之后是顯示狀態(tài)D與觸摸狀態(tài)T相互交替。同樣地，與現(xiàn)有的驅(qū)動方式和架構(gòu)相比，在非掃描區(qū)間的觸控電極RX2和在非掃描區(qū)間的數(shù)據(jù)線DL2在觸摸狀態(tài)T中沒有動作，這樣也能消除因非掃描區(qū)間的電極電平的跳動對掃描區(qū)間的電極的擾動，進(jìn)一步增強信噪比，提升觸控識別的性能。
[0063]與第一實施例相同地，第二實施例中的觸控電極和數(shù)據(jù)線沒有如此頻繁的電位切換，因此充電不足的現(xiàn)象得到改善，電極前幾行的橫紋現(xiàn)象會被大大減輕。
[0064]本發(fā)明還提供一種觸控顯示面板的檢測方法，采用第二實施例中的觸控顯示面板10，包括:處于測試階段時，電連接到同一觸控電極11的觸摸信號輸出線12與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線14之間被配置為通路，觸摸信號輸出線12的第一端與測試端子17之間被配置為開路，通過每一列觸控電極11對應(yīng)的測試端子17提供電位，進(jìn)行畫面檢測。該方法的實施原理如前，此處不再贅述。該方法可以在測試階段可以將測試開關(guān)器件16閉合，觸控開關(guān)器件18斷開，通過給測試端子17提供電位，實行面板的初步畫面檢測，提前攔檢不良，避免不良流入后續(xù)工站，造成材料耗損和成本上升。
[0065]綜上，本發(fā)明的觸控顯示面板及其使用方法、檢測方法能夠使得在非掃描區(qū)間的觸控檢測電極和數(shù)據(jù)線收集觸控信號階段維持起始的電位不用動作，可以節(jié)省功耗，并且減少電位切換，同時也可以消除因非掃描區(qū)間電極電平跳動對掃描區(qū)間的擾動，進(jìn)一步增強觸控識別的信噪比，提升觸控識別的性能。
[0066]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出多個簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項】
1.一種觸控顯示面板，其特征在于，包括: 基板，包括顯示區(qū)域和非顯示區(qū)域； 觸控電極陣列，至少設(shè)置于所述基板的顯示區(qū)域，所述觸控電極陣列包括由多個沿行方向和列方向排布的觸控電極；以及 多條觸摸信號輸出線和多條數(shù)據(jù)線，每個所述觸控電極各自對應(yīng)至少一條觸摸信號輸出線，所述觸控電極電連接對應(yīng)的所述觸摸信號輸出線，所述觸摸信號輸出線電連接至少一條所述數(shù)據(jù)線，所述觸摸信號輸出線的第一端通過至少一測試開關(guān)器件串聯(lián)對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線的第一端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控顯示面板，其特征在于，每條所述觸摸信號輸出線的第一端僅通過一測試開關(guān)器件串聯(lián)對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線的第一端。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的觸控顯示面板，其特征在于，處于顯示狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件被配置為開路； 處于觸摸狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件被配置為通路。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件是低溫多晶硅晶體管。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件的控制端分別電連接到一測試總線。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件位于非顯示區(qū)域。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的觸控顯示面板，其特征在于，同一列所述觸控電極對應(yīng)的多條所述數(shù)據(jù)線的第一端分別連接到一測試端子，每條所述數(shù)據(jù)線的第一端與所述測試端子之間分別串聯(lián)所述測試開關(guān)器件； 每一列所述觸控電極中的一個觸控電極連接的至少一條所述觸摸信號輸出線的第一端電連接所述測試端子，所述觸摸信號輸出線與所述測試端子之間串聯(lián)一觸控開關(guān)器件。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控顯示面板，其特征在于， 處于測試階段時，所述測試開關(guān)器件被配置為通路，觸控開關(guān)器件被配置為開路； 處于顯示狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都被配置為開路； 處于觸摸狀態(tài)時，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都被配置為通路。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件和觸控開關(guān)器件都是低溫多晶硅晶體管。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件的控制端分別電連接到一測試總線； 所述觸控開關(guān)器件的控制端分別電連接到一觸控總線。11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述測試開關(guān)器件、所述觸控開關(guān)器件以及所述測試端子都位于非顯示區(qū)域。12.根據(jù)權(quán)利要求1至11中任意一項所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述觸摸信號輸出線的第二端電連接一前置放大器。13.根據(jù)權(quán)利要求1至11中任意一項所述的觸控顯示面板，其特征在于，所述觸控電極是自電容觸控電極或是互電容觸控電極。14.根據(jù)權(quán)利要求1至11中任意一項所述的觸控顯示面板，其特征在于，處于顯示狀態(tài)時，所述觸控電極被復(fù)用為公共電極。15.—種觸控顯示面板的使用方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求1至14中任意一項所述的觸控顯示面板，包括: 處于顯示狀態(tài)時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為開路； 處于觸摸狀態(tài)時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為通路;所述觸控電極陣列逐列掃描觸摸信號，被掃描的一列的所述觸控電極和對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線被輸入相同的脈沖信號。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的觸控顯示面板的使用方法，其特征在于，未被掃描的其余列的所述觸控電極和對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線被提供參考電位。17.—種觸控顯示面板的檢測方法，其特征在于，采用如權(quán)利要求7至11任意一項所述的觸控顯示面板，包括:處于測試階段時，電連接到同一所述觸控電極的所述觸摸信號輸出線與對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線之間被配置為通路，所述觸摸信號輸出線的第一端與所述測試端子之間被配置為開路，通過每一列所述觸控電極對應(yīng)的所述測試端子提供電位，進(jìn)行畫面檢測。
【文檔編號】G06F3/041GK106095184SQ201610450114
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月20日
【發(fā)明人】鄭志偉, 楊康鵬, 許育民
【申請人】廈門天馬微電子有限公司, 天馬微電子股份有限公司