一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及產品檢測技術領域，提供一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法及系統(tǒng)，方法包括：測試腔持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到測試腔的工作緩沖區(qū)中；當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內，從而實現(xiàn)對采集到的測試數(shù)據的安全同步轉移，保證待測芯片與測試數(shù)據的對應關系，提高測試效率。
【專利說明】
一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法及系統(tǒng)
技術領域
[0001]本發(fā)明屬于產品檢測技術領域，尤其涉及一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法及系統(tǒng)。
【背景技術】
[0002]在微機電產品的測試過程中，待測芯片和測試數(shù)據需要在不同的測試腔體中轉移。如果數(shù)據傳輸過程中發(fā)生異常情況，采集到的數(shù)據就有可能丟失。當需要測試當前芯片時，待測芯片和測試數(shù)據就會發(fā)生混亂，當產生這些混亂錯誤時，測試無法恢復芯片和數(shù)據的對應關系，從而浪費大量的芯片物料，從而進一步的增加成本，降低測試效率。

【發(fā)明內容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，旨在解決現(xiàn)有技術中待測芯片與測試數(shù)據容易發(fā)生混亂，導致浪費大量芯片物料，增加成本，降低測試效率的問題。
[0004]本發(fā)明是這樣實現(xiàn)的，一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，所述方法包括下述步驟:
[0005]測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中；
[0006]當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；
[0007]下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；
[0008]當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。
[0009]作為一種改進的方案，所述測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集的步驟之前還包括下述步驟:
[0010]預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據。
[0011]作為一種改進的方案，所述方法還包括下述步驟:
[0012]在控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的同時，控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)；
[0013]當記錄的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，測試設備進行告警信息提示。
[0014]作為一種改進的方案，所述控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的步驟之后還包括下述步驟:
[0015]當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息。
[0016]作為一種改進的方案，所述方法還包括下述步驟:
[0017]當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。
[0018]作為一種改進的方案，所述采集條件包括待測芯片的待測芯片溫度采集項和壓力采集項。
[0019]本發(fā)明的另一目的在于提供一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:
[0020]測試采集保存模塊，用于在測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中；
[0021 ]測試數(shù)據發(fā)送轉移模塊，用于當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；
[0022]校驗保存模塊，用于下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；
[0023]測試數(shù)據復制轉移模塊，用于當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。
[0024]作為一種改進的方案，所述系統(tǒng)還包括:
[0025]緩沖區(qū)分配模塊，用于預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據。
[0026]作為一種改進的方案，所述系統(tǒng)還包括:
[0027]發(fā)送次數(shù)記錄模塊，用于在控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的同時，控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)；
[0028]告警信息提示模塊，用于當記錄的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，測試設備進行告警信息提示。
[0029]作為一種改進的方案，所述系統(tǒng)還包括:
[0030]確認信息發(fā)送模塊，用于當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息；
[0031]測試數(shù)據重新發(fā)送模塊，用于當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。
[0032]在本發(fā)明中，測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到測試腔的工作緩沖區(qū)中；當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內，從而實現(xiàn)對采集到的測試數(shù)據的安全同步轉移，保證待測芯片與測試數(shù)據的對應關系，提高測試效率。
【附圖說明】
[0033]圖1是本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法的實現(xiàn)流程圖；
[0034]圖2是本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法中測試腔的執(zhí)行流程圖；
[0035]圖3是本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法中下一個測試腔的執(zhí)行流程圖；
[0036]圖4是本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)的結構框圖。
【具體實施方式】
[0037]為了使本發(fā)明的目的、技術方案及優(yōu)點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發(fā)明進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0038]圖1示出了本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法的實現(xiàn)流程圖，其具體的步驟如下所述:
[0039]在步驟SlOl中，測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中。
[0040]在步驟S102中，當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔。
[0041]在步驟S103中，下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內。
[0042]在步驟S104中，當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。
[0043]在執(zhí)行上述步驟SlOl之前，還需要做如下配置:
[0044]預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據，該工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)的容量大小可以根據實際的需要進行設置。
[0045]在該實施例中，對采集到的測試數(shù)據進行安全同步轉移到下一個測試腔，保證待測芯片與測試數(shù)據的對應關系，提高測試效率。
[0046]其中，在上述圖1所示的實施例一的基礎上，圖2示出了本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法中測試腔的執(zhí)行流程圖，其具體的步驟如下所述:
[0047]在步驟S201中，測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集。
[0048]其中，該采集條件是預先設置的對待測芯片的測試項內容，例如溫度采集項和壓力采集項等，即在測試腔內需要對待測芯片進行多個項內容的數(shù)據采集，在此不再贅述。
[0049]在步驟S202中，將采集到的測試數(shù)據保存到測試腔的工作緩沖區(qū)中。
[0050]在步驟S203中，判斷采集條件是否結束，若是執(zhí)行步驟S204，否則返回執(zhí)行S201，繼續(xù)進行數(shù)據采集。
[0051]其中，該采集條件結束即為測試腔內所有待測芯片的所有測試項目均已經完成。
[0052]在步驟S204中，當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔，同時控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)。
[0053]在步驟S205中，判斷測試腔是否收到測試數(shù)據接收確認消息，是則結束，否則執(zhí)行步驟S206。
[0054]在步驟S206中，判斷向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)是否達到預先設定的數(shù)值，是則執(zhí)行步驟S207，否則返回執(zhí)行步驟S204。
[0055]在該步驟中，當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。
[0056]在步驟S207中，當向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，則進行告警信息提示。
[0057]其中，在上述圖1和圖2所示的實施例的基礎上，圖3示出了本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法中下一個測試腔的執(zhí)行流程圖，其具體的步驟如下所述:
[0058]在步驟S301中，下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內。
[0059]在步驟S302中，當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息。
[0060]在該步驟，下一個測試腔對接收到的測試數(shù)據需要進行準確性校驗，滿足準確性校驗條件的數(shù)據才將其保存到臨時緩沖區(qū)內，否則丟棄。
[0061]在步驟S303中，當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。
[0062]圖4是本發(fā)明提供的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)的結構框圖，為了便于說明，圖中僅給出了與本發(fā)明實施例相關的內容。
[0063]測試采集保存模塊11用于在測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中；
[0064]測試數(shù)據發(fā)送轉移模塊12用于當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；
[0065]校驗保存模塊13用于下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；
[0066]測試數(shù)據復制轉移模塊14用于當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。
[0067]其中，緩沖區(qū)分配模塊15用于預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據。
[0068]發(fā)送次數(shù)記錄模塊16用于在控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的同時，控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)；
[0069]告警信息提示模塊17用于當記錄的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，測試設備進行告警信息提示。
[0070]確認信息發(fā)送模塊18用于當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息；
[0071]測試數(shù)據重新發(fā)送模塊19用于當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。
[0072]其中，上述各個模塊的具體實現(xiàn)如圖1和圖2所示的流程所述，在此不再贅述。
[0073]在本發(fā)明中，測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到測試腔的工作緩沖區(qū)中；當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔；下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內；當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內，從而實現(xiàn)對采集到的測試數(shù)據的安全同步轉移，保證待測芯片與測試數(shù)據的對應關系，提高測試效率。
[0074]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內所作的任何修改、等同替換和改進等，均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟: 測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中； 當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔； 下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內； 當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。2.根據權利要求1所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集的步驟之前還包括下述步驟: 預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據。3.根據權利要求1所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述方法還包括下述步驟: 在控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的同時，控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)； 當記錄的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，測試設備進行告警信息提示。4.根據權利要求3所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述方法還包括下述步驟: 當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息。5.根據權利要求4所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述方法還包括下述步驟: 當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。6.根據權利要求1所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移方法，其特征在于，所述采集條件包括待測芯片的待測芯片溫度采集項和壓力采集項。7.一種微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 測試采集保存模塊，用于在測試腔接收到測試開始信號后，開始持續(xù)對待測芯片進行符合采集條件的數(shù)據采集，并將采集到的測試數(shù)據保存到所述測試腔的工作緩沖區(qū)中； 測試數(shù)據發(fā)送轉移模塊，用于當采集條件結束時，控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送轉移給下一個測試腔； 校驗保存模塊，用于下一個測試腔對所述測試腔發(fā)送的測試數(shù)據進行準確性校驗，并將校驗通過后的測試數(shù)據保存到下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內； 測試數(shù)據復制轉移模塊，用于當檢測到待測芯片轉移到下一個測試腔時，控制將下一個測試腔的臨時緩沖區(qū)內的測試數(shù)據復制轉移到下一個測試腔的工作緩沖區(qū)內。8.根據權利要求7所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 緩沖區(qū)分配模塊，用于預先為測試設備的每一個測試腔分配工作緩沖區(qū)和臨時緩沖區(qū)，其中，所述工作緩沖區(qū)用于存放真正數(shù)據，所述臨時緩沖區(qū)用于緩存臨時數(shù)據。9.根據權利要求7所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 發(fā)送次數(shù)記錄模塊，用于在控制將測試腔的工作緩沖區(qū)內的測試數(shù)據發(fā)送給下一個測試腔的同時，控制記錄向下一個測試腔發(fā)送測試數(shù)據的次數(shù)； 告警信息提示模塊，用于當記錄的次數(shù)超過預先設定的數(shù)值時，測試設備進行告警信息提示。10.根據權利要求9所述的微機電產品測試數(shù)據同步安全轉移系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 確認信息發(fā)送模塊，用于當下一個測試腔對測試腔發(fā)送的測試數(shù)據校驗通過后時，向所述測試腔發(fā)送測試數(shù)據接收確認消息； 測試數(shù)據重新發(fā)送模塊，用于當所述測試腔在預設的時間內，未接收到測試數(shù)據接收確認消息時，所述測試腔向下一個測試腔重新發(fā)送所述測試數(shù)據。
【文檔編號】G06F3/06GK105930102SQ201610302240
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年5月6日
【發(fā)明人】倪連財, 王連斌
【申請人】歌爾聲學股份有限公司