基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法
【專利摘要】基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，本發(fā)明涉及高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法。本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)精度低以及空間信息利用率低的問題。具體過程為：一、建立張量表示下的目標(biāo)和背景的信號(hào)表示模型；二、分別建立目標(biāo)和背景的四階張量矩陣；三、求取目標(biāo)和背景的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜三個(gè)背景方向和三個(gè)目標(biāo)方向的正交投影矩陣；四、將待檢測(cè)信號(hào)映射到三得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣本投影子空間中；五、判定待檢測(cè)信號(hào)是否為檢測(cè)目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于η時(shí)，為檢測(cè)目標(biāo)；否則為背景目標(biāo)；其中η為閾值。本發(fā)明用于圖像檢測(cè)領(lǐng)域。
【專利說明】
基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本發(fā)明涉及高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 高光譜傳感器主要通過在不同的光學(xué)或近紅外波段進(jìn)行地物反射信息提取，獲取 地面的圖-譜特征，高光譜圖像包含了地物的光譜特征，地物的空間特征，這種幾乎連續(xù)的 光譜采樣信息，可以反映地物在光譜上很小的差異變化，因此這種特征常被稱為診斷特征， 作為對(duì)地物進(jìn)行分類和檢測(cè)的依據(jù)。研究高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)新技術(shù)，具有重要的理論意 義和應(yīng)用價(jià)值。在軍事方面，可以揭露敵方目標(biāo)的偽裝、隱藏和欺騙。在民用方面，公共安 全、食品安全、質(zhì)量監(jiān)控、森林著火點(diǎn)檢測(cè)、失事點(diǎn)搜尋與營救等方面已經(jīng)有重要應(yīng)用。
[0003] 現(xiàn)有典型的目標(biāo)檢測(cè)方法有基于有限沖積響應(yīng)濾波器的約束能量最小化方法 (constrained energy minimization，CEM)，正交子空間目標(biāo)檢測(cè)方法（orthogonal subspace projection，0SP)，匹配子空間檢測(cè)方法（matched subspace detector，MSD)，自 適應(yīng)子空間檢測(cè)方法(adaptive subspace detector，ASD)等經(jīng)典方法以及近幾年提出的 稀疏表示檢測(cè)方法（sparse representation，SR)等。
[0004] 當(dāng)前目標(biāo)檢測(cè)主要利用光譜匹配特性，通過光譜匹配程度判斷單點(diǎn)光譜的屬性， 并未充分考慮在高分條件下空間約束增強(qiáng)的特性，即局部相關(guān)性增大的特性，空間_光譜聯(lián) 合檢測(cè)方法可以提高光譜和空間的利用能力，但一般的空間-光譜聯(lián)合方法僅僅從光譜或 空間的簡(jiǎn)單組合操作進(jìn)行分析，而不能從三維數(shù)據(jù)整體進(jìn)行信息挖掘，導(dǎo)致高光譜圖像目 標(biāo)檢測(cè)精度低以及空間信息利用不足。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)精度低以及空間信息利用率 低的問題，而提出基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法。
[0006] 具體過程為：
[0007]步驟一、建立張量表不下的目標(biāo)樣本Hi和背景樣本Ho的信號(hào)表不模型；
[0008] 步驟二、根據(jù)高光譜樣本數(shù)據(jù)和窗口大小，分別建立目標(biāo)樣本Hi和背景樣本Ho的空 間X、空間Y、光譜和原子的四階張量矩陣；
[0009] 步驟三、依據(jù)張量匹配子空間投影算法，求取目標(biāo)樣本出和背景樣本Ho的空間X、空 間Y、光譜和原子的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜三個(gè)背景方向和三個(gè)目標(biāo)方向的正 交投影矩陣；
[0010] 待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)背景方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為背景樣本投影子 空間，待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)目標(biāo)方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為目標(biāo)樣本投影子空 間；
[0011 ]步驟四、提取待檢測(cè)信號(hào)的空間X、空間Y和光譜的三階張量矩陣，分別利用步驟三 得到的正交投影矩陣將待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟三得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣本 投影子空間中；
[0012]步驟五、分別計(jì)算待檢測(cè)信號(hào)與步驟四得到的目標(biāo)樣本和背景樣本投影子空間投 影下的信號(hào)的誤差，依據(jù)張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型和給定的閾值，判定待檢測(cè)信 號(hào)是否為檢測(cè)目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于n時(shí)，為檢測(cè)目標(biāo)； 否則為背景目標(biāo);其中n為閾值。
[0013]本發(fā)明的有益效果為：
[0014] 由于本發(fā)明方法將高光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成張量形式進(jìn)行處理，能夠?qū)Χ嗑S數(shù)據(jù)整體信 息進(jìn)行挖掘，相比于當(dāng)前目標(biāo)檢測(cè)單獨(dú)利用光譜匹配特性，以及一般的僅通過光譜和空間 的簡(jiǎn)單組合操作的空間-光譜聯(lián)合方法，克服了不能從三維數(shù)據(jù)整體進(jìn)行信息挖掘的缺點(diǎn)。 提高了空間信息利用率以及高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)的精度。
[0015] 為了驗(yàn)證本發(fā)明所提出的方法的性能，針對(duì)一組機(jī)載可見光/紅外成像光譜儀 (Airborne Visible Infrared Imaging Spectrometer，AVIRIS)米集的一組機(jī)場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行 了實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)結(jié)果驗(yàn)證了本發(fā)明提出的基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法的 有效性。當(dāng)虛警概率為1(T 2時(shí)，本發(fā)明方法的檢測(cè)精度達(dá)到89%，比傳統(tǒng)方法檢測(cè)精度提高 了10%以上。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)流程不意圖；
[0017] 圖2a是信號(hào)張量表示條件下背景Ho的表示模型圖，1為待檢測(cè)信號(hào)，凡、為:和 為B為從背景庫中選取的一些背景樣本的張量原子，ai、a2和a n分別為為i、為2和為〇.相對(duì)應(yīng) 的權(quán)重系數(shù)；
[0018] 圖2b是信號(hào)張量表示條件下目標(biāo)Hi的表示模型圖，為,、為2和為》為從目標(biāo)庫中選 取的一些目標(biāo)樣本的張量原子，bl、b2和bm為凡、為:和美相對(duì)應(yīng)的權(quán)重系數(shù)；
[0019] 圖3a是飛機(jī)場(chǎng)真實(shí)高光譜數(shù)據(jù)的一個(gè)波段的灰度圖；
[0020] 圖3b是飛機(jī)場(chǎng)數(shù)據(jù)基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)結(jié)果圖；
[0021 ]圖3c是飛機(jī)場(chǎng)數(shù)據(jù)高光譜圖像匹配子空間檢測(cè)結(jié)果圖；
[0022]圖4是飛機(jī)場(chǎng)數(shù)據(jù)上述兩種方法檢測(cè)結(jié)果的接收機(jī)工作R0C曲線圖，Tensor MSD為 本發(fā)明基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，MSD為傳統(tǒng)的高光譜圖像目標(biāo)檢 測(cè)方法，Detection power為檢測(cè)精度，F(xiàn)alse alarm rate為虛警概率。
【具體實(shí)施方式】
[0023]【具體實(shí)施方式】一:結(jié)合圖1說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式的基于張量匹配子空間的 高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，具體過稱為：
[0024]步驟一、建立張量表示下的目標(biāo)樣本壓和背景樣本Ho的信號(hào)表示模型；
[0025]步驟二、根據(jù)高光譜樣本數(shù)據(jù)和窗口大小，分別建立目標(biāo)樣本出和背景樣本Ho的空 間X、空間Y、光譜和原子的四階張量矩陣；
[0026]步驟三、依據(jù)張量匹配子空間投影算法，求取目標(biāo)樣本出和背景樣本Ho的空間X、空 間Y、光譜和原子的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜三個(gè)背景方向和三個(gè)目標(biāo)方向的正 交投影矩陣；
[0027]待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)背景方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為背景樣本投影子 空間，待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)目標(biāo)方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為目標(biāo)樣本投影子空 間；
[0028]步驟四、提取待檢測(cè)信號(hào)的空間X、空間Y和光譜的三階張量矩陣，分別利用步驟三 得到的正交投影矩陣將待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟三得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣本 投影子空間中；
[0029] 步驟五、分別計(jì)算待檢測(cè)信號(hào)與步驟四得到的目標(biāo)樣本和背景樣本投影子空間投 影下的信號(hào)的誤差，依據(jù)張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型和給定的閾值，判定待檢測(cè)信 號(hào)是否為檢測(cè)目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于n時(shí)，為檢測(cè)目標(biāo)； 否則為背景目標(biāo);其中n為閾值。
[0030]
【具體實(shí)施方式】二:結(jié)合圖2a、圖2b說明本實(shí)施方式，本實(shí)施方式與【具體實(shí)施方式】一 不同的是:所述步驟一中建立張量表示下的目標(biāo)樣本Hi和背景樣本Ho的信號(hào)表示模型;具體 過程為： F0.Ubx4/? + 3^V0
[0031] b 4' ° //, / ,l)xia+ \：N]
[0032] 其中，3A表示待檢測(cè)信號(hào)的三階張量表示;表示背景樣本形成的四階張量子空 間；4取表示目標(biāo)樣本形成的四階張量子空間;X4表示在張量的第四維進(jìn)行加權(quán)求和運(yùn)算;a、 0表示相應(yīng)的豐度系數(shù)，即相應(yīng)的權(quán)重;^^ 為一個(gè)高斯隨機(jī)噪聲的三階張量表示；
[0033] 其它步驟及參數(shù)與【具體實(shí)施方式】一相同。
【具體實(shí)施方式】 [0034] 三:本實(shí)施方式與一或二不同的是:所述步驟二中根 據(jù)高光譜樣本數(shù)據(jù)和窗口大小，分別建立目標(biāo)樣本Hi和背景樣本Ho的空間X、空間Y、光譜和 原子的四階張量矩陣;具體過稱為：
[0035] 步驟二一、從高光譜樣本數(shù)據(jù)庫中隨機(jī)選取高光譜樣本數(shù)據(jù)及設(shè)定高光譜樣本數(shù) 據(jù)的窗口尺寸；
[0036] 步驟二二、將每個(gè)選取的高光譜樣本數(shù)據(jù)的背景樣本轉(zhuǎn)換成三階張量的形式，然 后將所有的三階張量形式的背景樣本組成四階張量；
[0037]步驟二三、將每個(gè)選取的高光譜樣本數(shù)據(jù)的目標(biāo)樣本轉(zhuǎn)換成三階張量的形式，然 后將所有的三階張量形式的目標(biāo)樣本組成四階張量；
[0038] 所述三階張量為空間X、空間Y和光譜；四階張量為空間X、空間Y、光譜和原子。
[0039] 其它步驟及參數(shù)與【具體實(shí)施方式】一或二相同。
【具體實(shí)施方式】 [0040] 四：本實(shí)施方式與一至三之一不同的是:所述步驟三 中依據(jù)張量匹配子空間投影算法，求取目標(biāo)樣本出和背景樣本Ho的空間X、空間Y、光譜和原 子的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜三個(gè)背景方向和三個(gè)目標(biāo)方向的正交投影矩陣；
[0041] 待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)背景方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間就是背景樣本投影 子空間，待檢測(cè)信號(hào)在三個(gè)目標(biāo)方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間就是目標(biāo)樣本投影子 空間;投影矩陣的具體過程為：
[0043] 其中，仏表示四階背景字典相關(guān)的正交投影矩陣，示四階目標(biāo)背 景字典相關(guān)的正交投影矩陣，1 = 1，2,3,4;〈43〉[^.4表示兩個(gè)張量在^衫隹的內(nèi)積運(yùn)算， i，j，k為信號(hào)維度，i，j，k取值為1，2，3，4，知^為正交投影矩陣大小，Ii、12為空間尺寸，13為 光譜維數(shù);414表示目標(biāo)-背景樣本形成的四階張量子空間， 4找表示背景樣本形成的四階張 量子空間。
[0044] 其它步驟及參數(shù)與【具體實(shí)施方式】一或二相同。
[0045]
【具體實(shí)施方式】五:本實(shí)施方式與【具體實(shí)施方式】一至四之一不同的是:所述步驟四 中提取待檢測(cè)信號(hào)的空間X、空間Y和光譜的三階張量矩陣，分別利用步驟三得到的正交投 影矩陣將待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟三得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣本投影子空間中； 具體過程為： f,(3J4.)= 3JzLx1t/1x,t/2x 3C/3
[0046] f:( :vl)= 1J4x.rx:r;x,F,
[0047] 其中，為待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟三得到的背景樣本投影子空間中；
[0048] 為待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟三得到的目標(biāo)-背景樣本投影子空間中。
[0049] 其它步驟及參數(shù)與【具體實(shí)施方式】一至三之一相同。
【具體實(shí)施方式】 [0050] 六:本實(shí)施方式與一至五之一不同的是:所述步驟五 中分別計(jì)算待檢測(cè)信號(hào)與步驟四得到的目標(biāo)樣本和背景樣本投影子空間投影下的信號(hào)的 誤差，依據(jù)張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型和給定的閾值，判定待檢測(cè)信號(hào)是否為檢測(cè) 目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于n時(shí)，為檢測(cè)目標(biāo);否則為背景目 標(biāo);其中n為閾值;具體過程為：
[
[0052]其中，TD( ?)表示待檢測(cè)信號(hào)的檢測(cè)結(jié)果，E( ?)表示信號(hào)能量，||{表示 Frobenius(弗羅貝尼烏斯范數(shù))范數(shù)的平方，n表示設(shè)定的閾值。
[0053]采用以下實(shí)施例驗(yàn)證本發(fā)明的有益效果：
[0054] 實(shí)施例一：
[0055] 實(shí)驗(yàn)所用數(shù)據(jù)是AVIRIS傳感器獲得的美國圣地亞哥高光譜圖像，數(shù)據(jù)包含224個(gè) 光譜波段，波長范圍為0.4~1.8wii，地面分辨率3.5m，灰度范圍為0~10000，圖像大小150 X 150。數(shù)據(jù)已經(jīng)經(jīng)過了大氣、幾何校正等預(yù)處理，并去除了低信噪比和水汽吸收波段，保留了 126個(gè)波段。圖3a為原始數(shù)據(jù)第4波段圖像，圖3b為基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo) 檢測(cè)結(jié)果圖，圖3c為高光譜圖像匹配子空間檢測(cè)結(jié)果圖，用來作為對(duì)比實(shí)驗(yàn)，圖4為兩種方 法的接收機(jī)工作特性曲線。從圖3b和圖3c的檢測(cè)結(jié)果圖和圖4所示的與之對(duì)應(yīng)的接收機(jī)工 作特性曲線可以看出：與對(duì)比試驗(yàn)相比，本發(fā)明方法能夠在低虛警率的情況下達(dá)到更好的 檢測(cè)結(jié)果，證明了本發(fā)明方法的有效性;圖4當(dāng)虛警概率為1(T 2時(shí)，本發(fā)明方法的檢測(cè)概率達(dá) 到89%，比傳統(tǒng)方法提高程度大于10%。
[0056] 本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，本領(lǐng)域 技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于 本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于：基于張量匹配子空 間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法具體過稱為： 步驟一、建立張量表示下的目標(biāo)樣本化和背景樣本化的信號(hào)表示模型； 步驟二、根據(jù)高光譜樣本數(shù)據(jù)和窗口大小，分別建立目標(biāo)樣本化和背景樣本化的空間X、 空間Y、光譜和原子的四階張量矩陣； 步驟=、依據(jù)張量匹配子空間投影算法，求取目標(biāo)樣本化和背景樣本化的空間X、空間Y、 光譜和原子的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜=個(gè)背景方向和=個(gè)目標(biāo)方向的正交投 影矩陣； 待檢測(cè)信號(hào)在=個(gè)背景方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為背景樣本投影子空間， 待檢測(cè)信號(hào)在=個(gè)目標(biāo)方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間為目標(biāo)樣本投影子空間； 步驟四、提取待檢測(cè)信號(hào)的空間X、空間Y和光譜的=階張量矩陣，分別利用步驟=得到 的正交投影矩陣將待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟=得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣本投影 子空間中； 步驟五、分別計(jì)算待檢測(cè)信號(hào)與步驟四得到的目標(biāo)樣本和背景樣本投影子空間投影下 的信號(hào)的誤差，依據(jù)張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型和給定的闊值，判定待檢測(cè)信號(hào)是 否為檢測(cè)目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于n時(shí)，為檢測(cè)目標(biāo);否則 為背景目標(biāo);其中n為闊值。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于： 所述步驟一中建立張量表示下的目標(biāo)樣本化和背景樣本化的信號(hào)表示模型;具體過程為：其中，3A表示待檢測(cè)信號(hào)的=階張量表示；4斟表示背景樣本形成的四階張量子空間；4巧表示目標(biāo)樣本形成的四階張量子空間；X4表示在張量的第四維進(jìn)行加權(quán)求和運(yùn)算;a、e表 示相應(yīng)的豐度系數(shù)，即相應(yīng)的權(quán)重；3V。、3^1為一個(gè)高斯隨機(jī)噪聲的=階張量表示。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于： 所述步驟二中根據(jù)高光譜樣本數(shù)據(jù)和窗口大小，分別建立目標(biāo)樣本化和背景樣本化的空間 X、 空間Y、光譜和原子的四階張量矩陣;具體過稱為： 步驟二一、從高光譜樣本數(shù)據(jù)庫中隨機(jī)選取高光譜樣本數(shù)據(jù)及設(shè)定高光譜樣本數(shù)據(jù)的 窗口尺寸； 步驟二二、將每個(gè)選取的高光譜樣本數(shù)據(jù)的背景樣本轉(zhuǎn)換成=階張量的形式，然后將 所有的=階張量形式的背景樣本組成四階張量； 步驟二=、將每個(gè)選取的高光譜樣本數(shù)據(jù)的目標(biāo)樣本轉(zhuǎn)換成=階張量的形式，然后將 所有的=階張量形式的目標(biāo)樣本組成四階張量； 所述=階張量為空間X、空間Y和光譜；四階張量為空間X、空間Y、光譜和原子。4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于： 所述步驟=中依據(jù)張量匹配子空間投影算法，求取目標(biāo)樣本化和背景樣本化的空間X、空間 Y、 光譜和原子的四階張量矩陣中空間X、空間Y和光譜=個(gè)背景方向和=個(gè)目標(biāo)方向的正交 投影矩陣； 待檢測(cè)信號(hào)在=個(gè)背景方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間就是背景樣本投影子空 間，待檢測(cè)信號(hào)在=個(gè)目標(biāo)方向正交投影矩陣映射下的數(shù)據(jù)空間就是目標(biāo)樣本投影子空 間;投影矩陣的具體過程為：其中，Ui表示四階胃京于興相大的It父議駭化I伴，1 = i，Z，3，4 ; Vi表示四階目標(biāo)背景字 典相關(guān)的正交投影矩陣，i = 1，2，3，4; 表示兩個(gè)張量在i，j，k維的內(nèi)積運(yùn)算，i，j，k 為信號(hào)維度，i，j，k取值為1，2,3,4,妒"'為正交投影矩陣大小，Ii、l2為空間尺寸，l3為光譜 維數(shù);4巧b表示目標(biāo)-背景樣本形成的四階張量子空間/辟表示背景樣本形成的四階張量子 空間。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于： 所述步驟四中提取待檢測(cè)信號(hào)1?的空間X、空間Y和光譜的=階張量矩陣，分別利用步驟= 得到的正交投影矩陣將待檢測(cè)信號(hào)Ia映射到步驟=得到的目標(biāo)樣本投影子空間和背景樣 本投影子空間中；具體過程為：其中，為待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟立得到的背景樣本投影子空間中； f; (為待檢測(cè)信號(hào)映射到步驟S得到的目標(biāo)-背景樣本投影子空間中。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述基于張量匹配子空間的高光譜圖像目標(biāo)檢測(cè)方法，其特征在于： 所述步驟五中分別計(jì)算待檢測(cè)信號(hào)3過與步驟四得到的目標(biāo)樣本和背景樣本投影子空間投 影下的信號(hào)的誤差，依據(jù)張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型和給定的闊值，判定待檢測(cè)信 號(hào)是否為檢測(cè)目標(biāo)，如果張量表達(dá)下的廣義似然比檢測(cè)模型值大于等于n時(shí)，為檢測(cè)目 標(biāo);否則為背景目標(biāo);其中n為闊值;具體過程為：其中，TD( ?)表示待檢測(cè)信號(hào)la的檢測(cè)結(jié)果，E( ?)表示信號(hào)能量，IMI^表示Frobenius 范數(shù)的平方，化Obenius為弗羅貝尼烏斯范數(shù)，Tl表示設(shè)定的闊值。
【文檔編號(hào)】G06T7/00GK105913448SQ201610356306
【公開日】2016年8月31日
【申請(qǐng)日】2016年5月25日
【發(fā)明人】谷延鋒, 劉永健, 高國明
【申請(qǐng)人】哈爾濱工業(yè)大學(xué)