，采用步驟401-步驟403可以準(zhǔn)確獲取變 更的函數(shù)列表。
[0072] 步驟303、根據(jù)變更的函數(shù)列表，查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，獲 取需要回歸測試的測試用例。
[0073] 函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系根據(jù)基準(zhǔn)版本軟件代碼生成，其中，基準(zhǔn)版本軟件代 碼和待測版本軟件代碼中函數(shù)的定義規(guī)則相同，所以，基準(zhǔn)版本軟件代碼和待測版本軟件 代碼包含的函數(shù)相同，所以，根據(jù)變更的函數(shù)列表，查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng) 關(guān)系，可以準(zhǔn)確獲取需要回歸測試的測試用例。
[0074] 其中，函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系可以如表3所示，當(dāng)然，也可以為其他形式，本 發(fā)明實施例對此不進(jìn)行限制。
[0075] 表 3
[0076]
[0077] 如表3所示，對于每個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例，標(biāo)記為I ;對于每個函數(shù)不關(guān)聯(lián)的測 試用例，標(biāo)記為0。
[0078] 優(yōu)選的，步驟303具體包括：
[0079] 根據(jù)變更的函數(shù)列表中每個函數(shù)，分別查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān) 系，獲取變更的函數(shù)列表中每個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例，將每個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例的并集 作為需要回歸測試的測試用例。
[0080] 例如，將表2中包含的每個函數(shù)，分別查詢表3所示函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系， 可得表2中每個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例，如表4所示。
[0083] 將表2中包含的每個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例的并集作為需要回歸測試的測試用例， 如表4所示，需要說明的是，可以通過對函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例取或，取或的結(jié)果即為函數(shù)關(guān) 聯(lián)的測試用例的并集。
[0084] 為了消除所得的測試用例中的冗余測試用例，可以通過下述任意一種方式或多種 方式的結(jié)合來實現(xiàn)。
[0085] 具體的，在一種實例中，對于第一函數(shù)（第一函數(shù)為變更的函數(shù)列表中任意一個 函數(shù)），若該第一函數(shù)為底層函數(shù)，則確定該第一函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例為空。
[0086] 因為底層函數(shù)一般關(guān)聯(lián)的測試用例比較多，有的底層函數(shù)甚至能夠關(guān)聯(lián)80%以上 的測試用例，所以，如果將底層函數(shù)全部輸出作為獲取的需要回歸的測試用例，則會導(dǎo)致測 試用例冗余過大，所以，可以通過放棄底層函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例來實現(xiàn)，使得第一函數(shù)關(guān)聯(lián) 的測試用例為空。例如，若函數(shù)1為底層函數(shù)，則函數(shù)1關(guān)聯(lián)的測試用例如表5所示，最終 得到的并集相對于表4中并集包含的測試用例較少，能夠有效避免變更的底層函數(shù)導(dǎo)致的 冗余測試用例。
[0089] 在另一種實例中，對于第二函數(shù)（第二函數(shù)為變更的函數(shù)列表中任意一個函數(shù)）， 查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，獲取第二函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例，可以包括：
[0090] A、根據(jù)第二函數(shù)查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，獲取所述第二函數(shù) 對應(yīng)的測試用例；
[0091] B、若第二函數(shù)的對應(yīng)的測試用例的數(shù)量大于或等于預(yù)設(shè)閾值，則查詢測試用例信 息庫，獲取第二函數(shù)對應(yīng)的每個測試用例的優(yōu)先級；
[0092] 其中，預(yù)設(shè)閾值可以根據(jù)需要或者經(jīng)驗值確定，為采用根據(jù)測試用例的優(yōu)先級去 除測試用例冗余方法的臨界值，若一個函數(shù)對應(yīng)的測試用例的數(shù)量大于或等于該預(yù)設(shè)閾 值，則只輸出優(yōu)先級最高的測試用例。后臺服務(wù)器20可以維護(hù)每個測試用例的優(yōu)先級，可 以根據(jù)測試用例ID查詢獲取測試用例的優(yōu)先級信息，測試用例的優(yōu)先級為預(yù)先設(shè)置，例 如，可以分為PO級，Pl級，P2級，P3級等，其中，PO級，Pl級，P2級，P3級的優(yōu)先級依次降 低。
[0093] C、將優(yōu)先級最高的測試用例作為所述第二函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例。
[0094] 參見圖6,若函數(shù)3對應(yīng)的測試用例大于預(yù)設(shè)閾值，則函數(shù)3關(guān)聯(lián)的測試用例為優(yōu) 先級最高的測試用例，例如，參見表4和表6,因為函數(shù)3對應(yīng)的測試用例3的優(yōu)先級為P3 級，所以，在表6中記為0,相應(yīng)的，獲取的交集相對于表4中交集包含的測試用例較少。
[0097] 在又一種實例中，對于第三函數(shù)（第三函數(shù)為變更的函數(shù)列表中任意一個函數(shù)）， 查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，獲取第一函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例，可以包括：
[0098] 在函數(shù)列表中，在該第三函數(shù)的相鄰函數(shù)中取N個函數(shù)，分別根據(jù)該N個函數(shù)以及 該第三函數(shù)查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，分別獲取該N個函數(shù)以及該第三 函數(shù)對應(yīng)的測試用例；將該N個函數(shù)以及該第三函數(shù)對應(yīng)的測試用例的交集作為該第三函 數(shù)或者該N個函數(shù)中任意一個函數(shù)關(guān)聯(lián)的測試用例。
[0099] 采用這種方式，相當(dāng)于將該N個函數(shù)以及該第三函數(shù)構(gòu)成一個N+1的函數(shù)集合，以 這個函數(shù)集合整體去查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系，在一個測試用例與該函 數(shù)集合中所有函數(shù)都存在對應(yīng)關(guān)系時，才能作為關(guān)聯(lián)的測試用例輸出，這樣可以有效減小 測試用例的冗余。
[0100] 例如，若第三函數(shù)為函數(shù)2，N值為2,則可以取函數(shù)1，函數(shù)2和函數(shù)3作為一個函 數(shù)集合，如表7所示，將函數(shù)1，函數(shù)2和函數(shù)3對應(yīng)的測試用例取交集后，相對于直接將函 數(shù)1，函數(shù)2和函數(shù)3的測試用例取并集能夠有效減小測試用例的冗余輸出。
[0101] 表 7
[0102]
[0103] 其中，通過調(diào)整N值可以調(diào)整測試用例的輸出個數(shù)，例如，可以設(shè)置默認(rèn)的N值為 1，經(jīng)驗值為3。
[0104] 由此可見，本發(fā)明實施例提供的確定需要回歸測試的測試用例的方法，根據(jù)待測 版本軟件代碼中相對于基準(zhǔn)版本軟件代碼變更的函數(shù)列表，查詢預(yù)先生成的函數(shù)和測試用 例的對應(yīng)關(guān)系，獲取需要回歸測試的測試用例，避免通過測試人員的經(jīng)驗來確認(rèn)回歸測試 的范圍導(dǎo)致的效率低下的問題，而且，一方面，能夠保證獲取的測試用例包含發(fā)生變化的函 數(shù)影響到的測試用例，避免可能出現(xiàn)測試遺漏和質(zhì)量問題；另一方面，因為函數(shù)是根據(jù)預(yù)設(shè) 規(guī)則定義的，且每個函數(shù)在待測版本軟件代碼或者基準(zhǔn)版本軟件代碼中互不相同，提高函 數(shù)定義的精度，減小了獲取測試用例的冗余。所以，可以提高確定需要回歸測試的測試用例 的效率以及準(zhǔn)確度。
[0105] 進(jìn)一步的，參見圖5,在步驟301之前，所述方法還包括：
[0106] 步驟304、對基準(zhǔn)版本軟件代碼進(jìn)行靜態(tài)語法分析，根據(jù)預(yù)設(shè)規(guī)則定義所述基準(zhǔn)版 本軟件代碼的函數(shù)，并獲取定義的每個函數(shù)對應(yīng)的起始行號以及結(jié)束行號；
[0107] 其中，步驟304和步驟402原理相同，只是軟件代碼的版本不同，故在此不再贅述。
[0108] 步驟305、在所述基準(zhǔn)版本軟件代碼的每個函數(shù)對應(yīng)的起始行添加插樁代碼；
[0109] 根據(jù)獲取的每個函數(shù)對應(yīng)的起始行號，在每個函數(shù)的起始行添加"打印該函數(shù)名" 的代碼，如，在函數(shù) com. sample, classl. funcl (int, int)的起始行添加 Log ("com. sample, classl. funcl (int, int)，'）。
[0110] 需要說明的是，若軟件代碼為JAVA語言，由于JAVA語言要求在構(gòu)造函數(shù)中對父類 或本類的構(gòu)造函數(shù)的調(diào)用必須放在函數(shù)體的第一句，否則編譯不通過，所以插樁代碼要放 在構(gòu)造函數(shù)的調(diào)用的下一句。
[0111] 步驟306、執(zhí)行添加插樁代碼后的基準(zhǔn)版本軟件代碼的測試用例，并采集每個測試 用例執(zhí)行期間的插樁代碼的運行記錄。
[0112] 將插樁代碼進(jìn)行編譯，生成可執(zhí)行的目標(biāo)文件，使得用戶終端的應(yīng)用客戶端或者 網(wǎng)頁客戶端對目標(biāo)文件執(zhí)行測試用例，在執(zhí)行測試用例的過程中，用戶終端的應(yīng)用客戶端 或者網(wǎng)頁客戶端向后臺服務(wù)器20反饋每個測試用例的ID以及執(zhí)行的開始時間和結(jié)束時 間，后臺服務(wù)器采集每個測試用例執(zhí)行期間的插樁代碼的運行記錄，以獲取每個測試用例 執(zhí)行過程中調(diào)用的函數(shù)。
[0113] 步驟307、根據(jù)每個測試用例執(zhí)行期間的插樁代碼的運行記錄，生成函數(shù)和測試用 例的對應(yīng)關(guān)系。
[0114] 生成的函數(shù)和測試用例的對應(yīng)關(guān)系可如表3所示。
[0115] 圖6為本發(fā)明實施例提供的確