一種bin文件轉(zhuǎn)換為atp文件的方法
【專(zhuān)利說(shuō)明】
所屬技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ] 本發(fā)明屬于集成電路測(cè)試領(lǐng)域，應(yīng)用于帶JTAG接口的集成電路，特別是FPGA (Field Programmable Gate Array 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列)、CPLD (Complex ProgrammableLogic Device復(fù)雜可編程邏輯器件)等可編程邏輯器件的測(cè)試，將可執(zhí)行的BIN文件轉(zhuǎn)換為測(cè)試儀器可識(shí)別的ATP文件，便于測(cè)試碼的生成。
【背景技術(shù)】
[0002]JTAG(Joint Test Act1n Group，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)小組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測(cè)試及對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行仿真、調(diào)試，JTAG技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯片內(nèi)部封裝了專(zhuān)門(mén)的測(cè)試電路TAP(Test Access Port，測(cè)試訪問(wèn)口)，通過(guò)專(zhuān)用的JTAG測(cè)試設(shè)備ATE (Automatic Test Equipment)對(duì)內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。
[0003]由于ATE能夠識(shí)別的測(cè)試代碼是保存在ATP格式的文件中，這種文件具有特殊的格式，所以通常需要為測(cè)試設(shè)備配置專(zhuān)門(mén)的存儲(chǔ)和控制器件，用于編寫(xiě)測(cè)試用代碼，并保存在ATP文件之中。這樣就增加了測(cè)試代碼生成的難度，延緩了測(cè)試工作進(jìn)度。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決帶JTAG接口的可編程邏輯器件測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試碼生成困難的問(wèn)題，本發(fā)明提供一種將可執(zhí)行的BIN文件轉(zhuǎn)換成測(cè)試儀器可識(shí)別的ATP文件的方法，便于測(cè)試碼的生成。運(yùn)用該方法，可以通過(guò)應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具來(lái)編寫(xiě)測(cè)試代碼，生成BIN文件，然后將BIN文件轉(zhuǎn)換成ATP文件，這樣不但避免了配備外加存儲(chǔ)器件與控制器件的需求，而且降低測(cè)試代碼生成難度，提高測(cè)試效率。
[0005]本發(fā)明為解決其技術(shù)難題而采取的技術(shù)思路是:首先，使用應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具生成具有既定功能的BIN文件；其次，通過(guò)轉(zhuǎn)換軟件將BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件；再次，為ATP文件添加用于功能驗(yàn)證的測(cè)試碼；最后將ATP文件內(nèi)容轉(zhuǎn)換為ATE可識(shí)別的測(cè)試碼并進(jìn)行測(cè)試。其中，所述的轉(zhuǎn)換軟件是對(duì)本發(fā)明提供的BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件轉(zhuǎn)換方法的自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)。
[0006]本發(fā)明提供的一種BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的轉(zhuǎn)換方法包括以下步驟:
(1)分析BIN文件組成結(jié)構(gòu)，區(qū)分BIN文件中的頭信息、同步字、器件ID;
(2)對(duì)JTAG中的TDI數(shù)據(jù)輸入口進(jìn)行數(shù)據(jù)分配；
(3)添加測(cè)試頭，其中包括測(cè)試的TSB(TimeSet Basic)，JTAG的管腳以及其余測(cè)試管腳，將生成的測(cè)試碼流置于其后；
(4)添加驗(yàn)證功能的測(cè)試碼；
(5)生成ATP文件。
[0007]本發(fā)明的有益效果是:與傳統(tǒng)的針對(duì)帶JTAG接口的集成電路測(cè)試方法相比，本發(fā)明提供的BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的方法避免了配備外加存儲(chǔ)器件與控制器件的需求，而且降低測(cè)試代碼生成難度，提高測(cè)試效率，可方便的應(yīng)用于ATE的測(cè)試工程開(kāi)發(fā)。
【附圖說(shuō)明】
[0008]圖1為文件轉(zhuǎn)換方法流程圖；
圖2為集成電路測(cè)試流程圖；
圖3為應(yīng)用軟件產(chǎn)生的BIN文件格式圖；
圖4為本發(fā)明的轉(zhuǎn)換軟件界面圖；
圖5為生成的ATP文件格式圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]依據(jù)本發(fā)明所述的一種BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的方法，針對(duì)帶JTAG接口的集成電路的測(cè)試過(guò)程，包括以下步驟:
1)在應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具中編寫(xiě)代碼，該代碼包含的是芯片測(cè)試的內(nèi)容，例如由FPGA編程實(shí)現(xiàn)加法器，即使用應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具編寫(xiě)加法器代碼。在該過(guò)程中需指定實(shí)現(xiàn)既定功能的集成電路的管腳；
2)通過(guò)應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具生成可用于JTAG下載的BIN文件；
3)將生成的BIN文件通過(guò)轉(zhuǎn)換軟件轉(zhuǎn)換成ATP文件；
4)在ATP文件中添加測(cè)試的管腳信息，添加測(cè)試驗(yàn)證信息，確保集成電路實(shí)現(xiàn)既定的功能；
5)將ATP文件轉(zhuǎn)換成ATE可識(shí)別的測(cè)試碼，進(jìn)行集成電路測(cè)試。
[0010]最后應(yīng)說(shuō)明的是:顯然，上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說(shuō)明本發(fā)明所作的舉例，而并非對(duì)實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在上述說(shuō)明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無(wú)需也無(wú)法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。而由此所引申出的顯而易見(jiàn)的變化或變動(dòng)仍處于本發(fā)明的保護(hù)范圍之中。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的方法，可用在集成電路芯片級(jí)和成品級(jí)測(cè)試過(guò)程中，對(duì)帶有JTAG接口的可編程邏輯器件實(shí)施測(cè)試，其特征在于:首先，分析BIN文件組成結(jié)構(gòu)，區(qū)分BIN文件中的頭信息、同步字、器件ID ;其次，對(duì)JTAG中的TDI數(shù)據(jù)輸入口進(jìn)行數(shù)據(jù)分配；第三，添加測(cè)試頭，其中包括測(cè)試的TSB (Time Set Basic)，JTAG的管腳以及其余測(cè)試管腳，將生成的測(cè)試碼流置于其后；最后，添加驗(yàn)證功能的測(cè)試碼并生成ATP文件。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的方法，其特征在于:所述方法的實(shí)施步驟包括，使用應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)工具生成具有既定功能的BIN文件；其次，通過(guò)轉(zhuǎn)換軟件將BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件；再次，為ATP文件添加用于功能驗(yàn)證的測(cè)試碼；最后將ATP文件內(nèi)容轉(zhuǎn)換為ATE可識(shí)別的測(cè)試碼并進(jìn)行測(cè)試。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種BIN文件轉(zhuǎn)換為ATP文件的方法，其特征在于:所述轉(zhuǎn)換軟件是對(duì)所述轉(zhuǎn)換方法的自動(dòng)化實(shí)現(xiàn)，包括分析BIN文件格式、對(duì)JTAG中的TDI數(shù)據(jù)輸入口進(jìn)行數(shù)據(jù)分配、添加測(cè)試頭和生成ATP文件功能。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種將可執(zhí)行的BIN文件轉(zhuǎn)換為測(cè)試儀器可識(shí)別的ATP文件的方法。所述方法包括以下步驟：首先，分析BIN文件組成結(jié)構(gòu)，區(qū)分BIN文件中的頭信息、同步字、器件ID；其次，對(duì)JTAG中的TDI數(shù)據(jù)輸入口進(jìn)行數(shù)據(jù)分配；第三，添加測(cè)試頭，其中包括測(cè)試的TSB(Time？Set？Basic)，JTAG的管腳以及其余測(cè)試管腳，將生成的測(cè)試碼流置于其后；最后，添加驗(yàn)證功能的測(cè)試碼并生成ATP文件。該方法可用在集成電路芯片級(jí)和成品級(jí)測(cè)試過(guò)程中，對(duì)帶有JTAG接口的可編程邏輯器件實(shí)施測(cè)試。該方法的優(yōu)點(diǎn)是：無(wú)需添加用于產(chǎn)生測(cè)試代碼的專(zhuān)門(mén)的存儲(chǔ)和控制器件，便于測(cè)試碼生成，降低測(cè)試難度與測(cè)試時(shí)間，可方便地應(yīng)用于ATE的測(cè)試工程開(kāi)發(fā)。
【IPC分類(lèi)】G06F9/445
【公開(kāi)號(hào)】CN105117264
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510592946
【發(fā)明人】張凱虹, 章慧彬, 蘇洋, 王建超
【申請(qǐng)人】中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第五十八研究所
【公開(kāi)日】2015年12月2日
【申請(qǐng)日】2015年9月17日