一種自動(dòng)校驗(yàn)的編程燒寫方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種可編程電路的燒寫校驗(yàn)方法，具體涉及一種自動(dòng)校驗(yàn)的編程燒寫 方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 現(xiàn)有的otp (-次性可編程)、flash等可編程的MCU電路，在程序開發(fā)時(shí)，一般會(huì) 有配套的燒寫器，用于flash或otp的編程燒寫。程序燒錄進(jìn)flash或otp后，為了確保程 序燒錄正確，一般還會(huì)通過燒寫器將燒錄的程序回讀校驗(yàn)。如附圖1所示，為了節(jié)省編程燒 寫引腳，燒寫器采用四線制燒錄（電源、地、時(shí)鐘、雙向數(shù)據(jù)口），燒寫器進(jìn)行數(shù)據(jù)燒寫及數(shù)據(jù) 回讀時(shí)，都是通過一根數(shù)據(jù)線來實(shí)現(xiàn)的，其數(shù)據(jù)燒寫和數(shù)據(jù)回讀過程是分時(shí)的，如果燒寫的 數(shù)據(jù)需要全部回讀出來，回讀過程就需要花費(fèi)比較長(zhǎng)的時(shí)間。如附圖2所示，是現(xiàn)有燒寫器 和MCU之間的燒寫和校驗(yàn)回讀時(shí)序圖，校驗(yàn)回讀過程中，數(shù)據(jù)是采用串行移位方式，從MCU 的可編程存儲(chǔ)器里面讀出的數(shù)據(jù)給燒寫器校驗(yàn)，一般燒寫了多少個(gè)數(shù)據(jù)，就需要串行讀出 多少個(gè)數(shù)據(jù)來校驗(yàn)，已確保寫入的數(shù)據(jù)都得到正確的編程，因此在編程數(shù)據(jù)回讀校驗(yàn)時(shí)，編 程容量越大，串行回讀校驗(yàn)所花費(fèi)的時(shí)間也就越多。
[0003] 采用上述的方式進(jìn)行燒寫校驗(yàn)，MCU電路內(nèi)部可編程存儲(chǔ)器和MCU電路接口設(shè)計(jì) 如附圖3所示，MCU電路包括編程控制器、可編程存儲(chǔ)器、數(shù)據(jù)寄存器和地址寄存器。該方 式的校驗(yàn)原理是：（1)編程控制器接收燒寫器發(fā)出的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)，可以使電路進(jìn)入編程模 式或讀出校驗(yàn)?zāi)Ｊ?；?)在編程模式下，編程控制器接收燒寫器發(fā)出的時(shí)鐘和數(shù)據(jù)(包括地 址信息和編程數(shù)據(jù))，地址信息在第三時(shí)鐘（clk3)的控制下通過地址輸入輸出端口（aio) 串行移入地址寄存器，決定編程的地址；編程數(shù)據(jù)在第二時(shí)鐘（clk2)的控制下通過串行數(shù) 據(jù)輸入輸出端口（dio)串行移入數(shù)據(jù)寄存器；（3)完成數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換后，燒寫器打入燒寫命 令，編程控制器發(fā)出編程指令（prog)和第一時(shí)鐘（clkl)，數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容寫入到地址寄 存器指定的存儲(chǔ)空間，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的燒錄；（4)完成數(shù)據(jù)燒錄后，為了校驗(yàn)燒錄的正確性，燒 寫器再打入校驗(yàn)命令，編程控制器使電路進(jìn)入校驗(yàn)?zāi)Ｊ剑唬?)在校驗(yàn)?zāi)Ｊ较?，編程控制器?收燒寫器發(fā)出的地址信息，先指定要校驗(yàn)存儲(chǔ)空間的地址，接著發(fā)出讀取信號(hào)（read)和第 一時(shí)鐘（clkl)，將指定地址空間的內(nèi)容讀出到數(shù)據(jù)寄存器，再通過第二時(shí)鐘（clk2)，將數(shù) 據(jù)寄存器的內(nèi)容串行移出，通過數(shù)據(jù)端口送給燒寫器校驗(yàn)。
[0004] 現(xiàn)有的燒寫校驗(yàn)方法存在的缺點(diǎn)是：寫入的數(shù)據(jù)越多，串行讀出的時(shí)間越長(zhǎng)，這個(gè) 缺點(diǎn)最終會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的批量編程的生產(chǎn)效率低下。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種自動(dòng)校驗(yàn)的編程燒寫方法，該方 法在數(shù)據(jù)燒寫的過程中就能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)燒寫成功的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)校驗(yàn)，節(jié)省校驗(yàn)回讀時(shí)間。
[0006] 為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是：一種自動(dòng)校驗(yàn)的編程燒寫 方法，基于可編程的MCU電路，該電路包括編程控制器、可編程存儲(chǔ)器、數(shù)據(jù)寄存器和地址 寄存器，其特征在于，所述的燒寫方法的實(shí)現(xiàn)還基于MCU電路中增加了累加校驗(yàn)單元，所述 的累加校驗(yàn)單元分別與可編程存儲(chǔ)器、數(shù)據(jù)寄存器和編程控制器連接，該燒寫方法具體包 括如下步驟：（1)所述編程控制器接收配套的燒寫器發(fā)出的時(shí)鐘信號(hào)和數(shù)據(jù)信號(hào)，數(shù)據(jù)信 號(hào)中包括地址信息和編程數(shù)據(jù)；（2)所述編程控制器中的地址信息在第三時(shí)鐘的控制下通 過地址輸入輸出總線串行移入地址寄存器，存儲(chǔ)編程的地址，編程數(shù)據(jù)在第二時(shí)鐘的控制 下通過數(shù)據(jù)輸入輸出總線串行移入數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器；（3)在完成數(shù)據(jù)串并轉(zhuǎn)換后，燒寫器打入 燒寫命令，編程控制器發(fā)出編程指令和第一時(shí)鐘，數(shù)據(jù)寄存器的內(nèi)容寫入到地址寄存器指 定的存儲(chǔ)空間，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的燒錄，在完成所有數(shù)據(jù)燒錄后，燒寫器發(fā)出一個(gè)校驗(yàn)值，數(shù)據(jù)寄 存器將燒寫器送出的校驗(yàn)值完成串并轉(zhuǎn)換后送入累加校驗(yàn)單元；（4)所述可編程存儲(chǔ)器進(jìn) 行對(duì)數(shù)據(jù)的編程存儲(chǔ)，并將存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)發(fā)送到累加校驗(yàn)單元，所述累加校驗(yàn)單元對(duì)編程后 的可編程存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)進(jìn)行累加校驗(yàn)，得到一個(gè)累加值；（5)通過所述累加校驗(yàn)單元 比較累加值和燒寫器送出的校驗(yàn)值，若校驗(yàn)值和累加值一致，則得到一個(gè)正確標(biāo)志信號(hào)，并 將正確標(biāo)志信號(hào)通過編程控制器發(fā)送給燒寫器；若校驗(yàn)值和累加值不一致，則得到一個(gè)錯(cuò) 誤標(biāo)記信號(hào)，并將錯(cuò)誤標(biāo)志信號(hào)通過編程控制器發(fā)送給燒寫器，燒寫器根據(jù)返回的標(biāo)志信 號(hào)來判斷寫入的數(shù)據(jù)是否正確，如果接收到正確標(biāo)志信號(hào)，則判斷數(shù)據(jù)燒錄正確，如果接收 到錯(cuò)誤標(biāo)志信號(hào)，則判斷數(shù)據(jù)燒錄失效。
[0007] 優(yōu)選的：上述步驟（4)中的累加校驗(yàn)單元對(duì)可編程存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取累加 校驗(yàn)的方式有兩種。
[0008] 第一種方式是進(jìn)行當(dāng)前地址編程后即讀出給累加校驗(yàn)單元進(jìn)行累加計(jì)算累加值； 當(dāng)字節(jié)或字編程時(shí)間加上讀取時(shí)間小于等于數(shù)據(jù)串行移位時(shí)間時(shí)，采用的是此種方式，數(shù) 據(jù)的移位、編程、讀取、地址遞增采用流水線方式進(jìn)行，在進(jìn)行當(dāng)前數(shù)據(jù)移位時(shí)，編程控制器 進(jìn)行對(duì)上一次移位數(shù)據(jù)進(jìn)行編程和讀取動(dòng)作，累加校驗(yàn)單元執(zhí)行對(duì)當(dāng)前讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行累加 計(jì)算，累加計(jì)算后當(dāng)前地址加1，執(zhí)行下一個(gè)數(shù)據(jù)的串行移位，并將上次移位數(shù)據(jù)寫入到數(shù) 據(jù)緩存中。
[0009] 第二種方式是在所有地址編程結(jié)束后，順序讀取所有地址內(nèi)容給累加校驗(yàn)單元進(jìn) 行累加計(jì)算累加值；當(dāng)字節(jié)或字編程時(shí)間加上讀取時(shí)間大于數(shù)據(jù)串行移位時(shí)間時(shí)，采用的 是這種方式，編程控制器先對(duì)電路按地址順序進(jìn)行編程，編程結(jié)束后再按地址順序?qū)⒖删?程存儲(chǔ)器的內(nèi)容讀取進(jìn)行累加，最后得到一個(gè)累加值。
[0010] 本發(fā)明的有益效果是：在現(xiàn)有的MCU電路中增加了累加校驗(yàn)單元，能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng) 校驗(yàn)功能，校驗(yàn)結(jié)束后送出少量的校驗(yàn)數(shù)據(jù)（即正確標(biāo)志信號(hào)或錯(cuò)誤標(biāo)志信號(hào)）給燒寫器做 校驗(yàn)確認(rèn)即可，可以節(jié)省回讀校驗(yàn)時(shí)間，能夠提高產(chǎn)品批量編程生產(chǎn)效率。
【附圖說明】
[0011] 圖1，現(xiàn)有技術(shù)四線制燒寫器與MCU電路的連接示意圖； 圖2,現(xiàn)有技術(shù)燒寫器和MCU之間的燒寫和校驗(yàn)回讀時(shí)序圖； 圖3,現(xiàn)有技術(shù)MCU電路內(nèi)部可編程存儲(chǔ)器和MCU電路接口連接圖； 圖4,本發(fā)明MCU電路內(nèi)部可編程存儲(chǔ)器和MCU電路接口連接圖； 圖5,本發(fā)明實(shí)現(xiàn)實(shí)施例一的時(shí)序圖； 圖6，本發(fā)明實(shí)現(xiàn)實(shí)施例二的時(shí)序圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012] 下面結(jié)合附圖4-6來說明本發(fā)明的工作原理以及實(shí)現(xiàn)方式。
[0013] 如圖4所示，是本發(fā)明MCU電路內(nèi)部可編程存儲(chǔ)器和MCU電路接口連接圖，該電路 圖中，包括可編程存儲(chǔ)器、數(shù)據(jù)寄存器、地址寄存器(包括地址遞增)、累加校驗(yàn)單元、編程控 制器。所述的編程控制器通過時(shí)鐘和數(shù)據(jù)端口連接配套的燒寫器；所述的編程控制器通過 第二時(shí)鐘（clk2)、串行數(shù)據(jù)輸入輸出端口（dio)、數(shù)據(jù)傳輸方向（dir)端口分別與數(shù)據(jù)寄存 器的時(shí)鐘輸入端口、串行數(shù)據(jù)輸入輸出端口、數(shù)據(jù)傳輸方向輸入端口連接，數(shù)據(jù)寄存器的并 行總線輸入/輸出端連接可編程存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)總線（Data_bus);所述的編程控制器通過第 三時(shí)鐘（clk3)、地址輸入輸出端口（aio)分別連接地址寄存器的時(shí)鐘輸入端、地址輸入端 口，地址寄存器的地址總線輸出端與可編程存儲(chǔ)器的地址總線輸入端連接；所述累加校驗(yàn) 單元的輸入端連接可編程存儲(chǔ)器，其輸出端連接編程控制器，所述數(shù)據(jù)寄存器也與累加校 驗(yàn)單元連接。該電路的工作原理是：所述編程控制器接收配套的燒寫器發(fā)出時(shí)鐘信號(hào)、地址 信息和