一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子支付領(lǐng)域，尤其是涉及一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前市場上使用機(jī)器檢測磁頭刷卡的有效性，機(jī)器成本較高，不具有通用性。
[0003]因此需要一種工裝(裝置)適用于POS機(jī)、金融刷卡產(chǎn)品、銀行磁卡規(guī)范核準(zhǔn)中，工裝具有功能有1:對銀行發(fā)行的磁卡檢測是否滿足磁卡標(biāo)準(zhǔn)。2:檢測金融支付產(chǎn)品、POS機(jī)，使用磁頭刷卡時(shí)，磁頭位置包括磁頭中心位置，磁頭有效覆蓋面積是否滿足磁頭刷卡標(biāo)準(zhǔn)。電子支付主要是通過電子支付產(chǎn)品的磁頭與磁卡進(jìn)行刷卡比對信息，來支付。本工裝通過先檢測磁卡是否為合格卡，再檢測刷卡后磁頭的有效位置是與磁卡上信息比對，來支付。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種用于檢測磁頭的方法及磁卡測試裝置。
[0005]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:
[0006]一種用于檢測磁頭的方法，包括以下步驟:
[0007]S100、將在磁道位置顯影處理后的待測試磁卡放置在磁卡測試裝置上，所述磁卡測試裝置上設(shè)有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求；
[0008]S200、將步驟SlOO所得待測試磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判斷所述待測試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，若所述待測試磁卡的尺寸不符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；若所述待測試磁卡的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則進(jìn)入步驟S300 ；
[0009]S300、所述磁卡測試裝置設(shè)有磁道測試模塊；所述磁道測試模塊符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試；判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求，若所述待測試磁卡的磁道符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；若所述待測試磁卡的磁道不符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；
[0010]S400、將合格的磁卡通過待測試磁頭進(jìn)行刷卡操作，比對磁頭劃過的位置是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試要求，若符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試要求，則所述待測試磁頭為合格磁頭。
[0011]本發(fā)明采用的另一技術(shù)方案為:
[0012]一種磁卡測試裝置，所述裝置設(shè)有呈矩形狀凹槽，所述凹槽的尺寸與標(biāo)準(zhǔn)磁卡相適配，所述凹槽用于測試待測試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)；所述裝置還設(shè)有一個(gè)以上的磁道測試裝置，所述磁道測試裝置包括第一測試模塊和第二測試模塊；
[0013]所述第一測試模塊包括第一凹槽、第二凹槽、第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽；所述第一凹槽與第二凹槽相對設(shè)置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽依次平行設(shè)置，所述第三凹槽、第四凹槽和第五凹槽的開口在同一側(cè)；所述第一凹槽的側(cè)壁上設(shè)有第一凸起，所述第一凸起與第一凹槽開口方向相垂直，所述第二凹槽的側(cè)壁上設(shè)有第二凸起，所述第二凸起與第二凹槽開口方向相垂直；所述第三凹槽與第四凹槽之間設(shè)有第三凸起，所述第四凹槽與第五凹槽之間設(shè)有第四凸起；所述第一凸起與第三凹槽相對設(shè)置，所述第二凸起與第五凹槽相對設(shè)置；
[0014]所述第二測試模塊包括第五凸起，所述第五凸起與第四凹槽相對設(shè)置；
[0015]所述第二凹槽與第五凹槽之間設(shè)有第六凹槽；
[0016]所述裝置設(shè)有三個(gè)磁道測試裝置，分別為第一磁道測試裝置、第二磁道測試裝置和第三磁道測試裝置；所述第一磁道測試裝置、第二磁道測試裝置和第三磁道測試裝置相互平行設(shè)置；
[0017]所述第一磁道測試裝置的第三凹槽、第二磁道測試裝置的第三凹槽和第三磁道測試裝置的第三凹槽并列設(shè)置；
[0018]所述第一磁道測試裝置的第四凹槽、第二磁道測試裝置的第四凹槽和第三磁道測試裝置的第四凹槽并列設(shè)置；
[0019]所述第一磁道測試裝置的第五凹槽、第二磁道測試裝置的第五凹槽和第三磁道測試裝置的第五凹槽并列設(shè)置；
[0020]所述第一凸起與第三凹槽相適配；所述第二凸起與第五凹槽相適配。
[0021]本發(fā)明的有益效果在于:通過在磁卡測試裝置上設(shè)有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判斷待測試磁卡的尺寸是否符合要求，若待測試磁卡的尺寸不符合要求，則對于磁卡上所附帶信息的磁條是否標(biāo)準(zhǔn)而言就無任何意義，因此需要優(yōu)先確定待測試磁卡的尺寸是否符合要求；其次，將顯影處理的待測試磁卡與POS機(jī)及金融刷卡產(chǎn)品磁頭進(jìn)行刷卡，若磁頭劃過的有效刷卡位置在裝置的磁頭中心及磁頭位置判定標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，即磁頭的有效刷卡位置符合要求。通過本發(fā)明提供的方法，能夠檢測磁頭是否為合格磁頭。
【附圖說明】
[0022]圖1為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】的用于檢測磁頭的方法的步驟流程圖；
[0023]圖2為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】的磁卡測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0024]標(biāo)號說明:
[0025]1、第一凹槽；2、第二凹槽；3、第三凹槽；4、第四凹槽；5、第五凹槽；6、第一凸起；7、第二凸起；8、第三凸起；9、第四凸起；11、第五凸起；10、第六凹槽；12、數(shù)字區(qū)域測試裝置；13、地址區(qū)域測試裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0026]為詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容、所實(shí)現(xiàn)目的及效果，以下結(jié)合實(shí)施方式并配合附圖予以說明。
[0027]本發(fā)明最關(guān)鍵的構(gòu)思在于:通過判斷待測試磁卡的尺寸是否符合要求，再通過顯影處理的待測試磁卡與電子支付產(chǎn)品刷卡，再用裝置進(jìn)行磁頭有效性測試，確保電子支付產(chǎn)品的磁頭刷卡的有效性。
[0028]請參照圖1，為本發(fā)明【具體實(shí)施方式】的用于檢測磁頭的方法的步驟流程圖，具體如下:
[0029]一種用于檢測磁頭的方法，包括以下步驟:
[0030]S100、將在磁道位置顯影處理后的待測試磁卡放置在磁卡測試裝置上，所述磁卡測試裝置上設(shè)有磁卡定位槽，用于定位磁卡；所述磁卡定位槽的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求；
[0031]S200、將步驟SlOO所得待測試磁卡放置在所述磁卡定位槽中，判斷所述待測試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，若所述待測試磁卡的尺寸不符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；若所述待測試磁卡的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求，則進(jìn)入步驟S300 ；
[0032]S300、所述磁卡測試裝置設(shè)有磁道測試模塊；所述磁道測試模塊符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試；判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求，若所述待測試磁卡的磁道符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；若所述待測試磁卡的磁道不符合磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為不合格磁卡；
[0033]S400、將合格的磁卡通過待測試磁頭進(jìn)行刷卡操作，比對磁頭劃過的位置是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試要求，若符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的磁道測試要求，則所述待測試磁頭為合格磁頭。
[0034]從上述描述可知，本發(fā)明的有益效果在于:通過在磁卡測試裝置上設(shè)有磁卡定位槽，用于定位磁卡和判斷待測試磁卡的尺寸是否符合要求，若待測試磁卡的尺寸不符合要求，則對于磁卡上所附帶信息的磁條是否標(biāo)準(zhǔn)而言就無任何意義，因此需要優(yōu)先確定待測試磁卡的尺寸是否符合要求；其次，將顯影處理的待測試磁卡與POS機(jī)及金融刷卡產(chǎn)品磁頭進(jìn)行刷卡，若磁頭劃過的有效刷卡位置在裝置的磁頭中心及磁頭位置判定標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，即磁頭的有效刷卡位置符合要求。通過本發(fā)明提供的方法，能夠檢測磁頭是否為合格磁頭。
[0035]經(jīng)過顯影處理的磁卡會顯現(xiàn)出磁卡三道磁道的位置，顯影處理后鐵粉與有機(jī)溶劑覆蓋在磁卡磁道位置，從而顯現(xiàn)出三道磁道的位置。
[0036]進(jìn)一步的，所述步驟S200判斷所得待測試磁卡的尺寸是否符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求具體為:所述磁卡定位槽的尺寸符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸最大允許范圍，若所述待測試磁卡能夠放入所述磁卡定位槽，則所述待測試磁卡符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求。
[0037]由上述描述可知，將待測試磁卡放入所述磁卡定位槽中，若能夠放入，則符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡尺寸要求。
[0038]進(jìn)一步的，所述步驟S300判斷步驟S200所得待測試磁卡的磁道是否符合磁道測試模塊的測試要求具體為:所述磁道測試模塊設(shè)有符合標(biāo)準(zhǔn)磁卡的三道磁道，若所述待測試磁卡的三道磁道符合所述磁道測試模塊的測試要求，則所述待測試磁卡為合格磁卡；所述磁道測試模塊的測試要求為:將顯影后的磁卡的三道磁道覆蓋鐵粉與有機(jī)溶劑的位置均在標(biāo)準(zhǔn)磁卡的三道磁道尺寸允許范圍內(nèi)時(shí)，所述待測試磁卡為合格磁卡。所述磁道測試模塊的測試要求為所述磁道測試模塊上的三道磁道的有效位置應(yīng)與顯影出三道磁道的磁卡尺寸相吻合。