專利名稱：通訊端口的插針功能的測試方法及其裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種通訊端口的插針功能的測試方法及其裝置，特別涉及一種用以測試串行端口的插針是否正常，以及在插針的信號狀態(tài)變化產(chǎn)生中斷時對插針工作狀態(tài)進行測試的方法及其測試裝置。
計算機檢測軟件和固件(Firmware)是計算機制造商用來檢測其產(chǎn)品質(zhì)量和性能的重要手段。目前，世界上已有許多用來檢測計算機的軟件和相應(yīng)的固件，其中以Diagsoft公司的QA Factory最著名，幾乎已經(jīng)成為各計算機制造廠檢測產(chǎn)品質(zhì)量和性能的標準，就串行端口性能測試而言，QA Factory所采用的方式，主要是以一專用的固件裝置與串行端口連接，通過安裝在計算機硬盤中的一套測試程序，與固件裝置進行串行端口的信息傳遞，然后讀取待測插針內(nèi)的相關(guān)信息，再根據(jù)讀取的信息，判別待測插針的工作性能。然而，在有關(guān)串行端口(COM)插針性能的測試中，各家的檢測軟件和固件均存在有明顯的不足；原因是目前的測試軟件(或設(shè)備)對串行端口的檢測工作僅僅是偵測串行端口的存在和串行端口的地址，并沒有檢測其是否正常工作，也沒有相應(yīng)的固件來支持。甚至上述的QA Factory在串行端口的功能測試時，也只是對串行端口的插針(Pin)第二(RD)、第三(TD)、第四(DTR)、第六(DSR)、第七(RTS)、第八(CTS)的功能作測試，而忽略了插針第一(DCD)及第九(RI)的功能測試；并且在進行外部中斷的測試的過程中，也只通過對接收到一個完整數(shù)據(jù)產(chǎn)生的中斷，和發(fā)送一個完整數(shù)據(jù)產(chǎn)生的中斷的測試，來判斷串行端口是否可正常工作，并沒有進一步對插針CTS、DCD、DSR、和RI的信號狀態(tài)變化產(chǎn)生中斷做測試。
本發(fā)明的主要目的在于提供一串行端口的插針CTD、DCD、DSR、和RI功能的測試方法，以解決目前計算機硬件檢測設(shè)備在串行端口的插針DCD和RI性能測試的遺漏，以及對插針CTD、DCD、DSR、和RI信號狀態(tài)變化產(chǎn)生中斷的測試上的不足。
本發(fā)明的測試方法是交替改變插針RTS上的信號，在每一次改變RTS信號之后，同時通過插針CTS和插針DCD來監(jiān)視信號的變化；和交替改變插針DSR上的信號，在每一次改變DSR信號之后，同時通過插針DTR和插針RI來監(jiān)視信號的變化。此外并由測試連接器以交替改變電位狀態(tài)的方式，分別產(chǎn)生相應(yīng)于插針CTS及插針DSR的測試信息，用以在外部中斷測試時，可對插針CTS、DCD、DSR、和RI上信號的狀態(tài)變化產(chǎn)生的中斷做測試，不只單單對串行端口接收到(或發(fā)送出)一個完整數(shù)據(jù)產(chǎn)生的中斷做測試。
有關(guān)本發(fā)明的詳細內(nèi)容及技術(shù)特征，結(jié)合


如下圖一是本發(fā)明的硬件結(jié)構(gòu)示意圖。
圖二是測試固件的連接端口示意圖。
圖三是本發(fā)明測試串行端口的插針RTS-CTS，DCD的流程圖。
圖四是本發(fā)明測試串行端口的插針DTR-DSR，RI的流程圖。
圖五是本發(fā)明串行端口的CTS插針和DCD插針的中斷測試流程圖。
圖六是本發(fā)明串行端口的DSR插針和RI插針的中斷測試流程圖。
圖七是中斷服務(wù)程序流程圖。
請參閱圖一，其為本發(fā)明的硬件結(jié)構(gòu)示意圖，其中包括有-中央處理單元101，其設(shè)置于計算機主機10中，用以執(zhí)行串行端口102的通訊功能檢測(例如插針性能的檢測)，并且根據(jù)檢測的結(jié)果產(chǎn)生相應(yīng)的報告-計算機可讀/寫記錄介質(zhì)103(例如硬盤，軟盤，磁帶，光盤或是存儲器)，其儲存有中央處理單元101執(zhí)行串行端口102檢測所需的測試系統(tǒng)，并用以記錄整個檢測過程；-測試連接器11，用以與計算機主機10的串行端口102連接，其為一固件，并包含有一通訊接頭111(如D型接頭(D typeconnector))，如圖二所示。圖二揭示了測試連接器11的通訊接頭111各插針間的連結(jié)關(guān)系，其中測試連接器11的通訊接頭111的插針一與插針七、插針八短路；插針二與插針三短路；插針四與插針六、插針九短路；以及-輸出單元104(例如顯示器、或打印裝置等)，用以輸出檢測的結(jié)果。
為能有助于詳細說明本發(fā)明，先將通訊接頭111及串行端口的相互對應(yīng)的九支插針的功能分述如下
·DCD(插針一)用作通訊期間數(shù)據(jù)載波偵測(Data CarrierDetect)，其在整個連結(jié)期間一直保持有效(高電位)，直到通訊連結(jié)中斷。
·RD(插針二)用于接收數(shù)據(jù)(Received Data).
·TD(插針三)用于數(shù)據(jù)發(fā)送(Transmitted Data)。
·DTR(插針四)用以產(chǎn)生數(shù)據(jù)終端準備就緒(Data TerminalReady)信號。
·Common(插針五)信號接地(Signal Ground)。
·DSR(插針六)數(shù)據(jù)準備就緒信號(Data Set Ready)。
·RTS(插針七)請求發(fā)送數(shù)據(jù)信號(Require To Send)。
·CTS(插針八)停止發(fā)送數(shù)據(jù)信號(Clear To Send)。
·RI(插針九)振鈴信號(Ring Indicator)。
實施例1本實施例用于檢測串行端口的插針RTS-CTS，DCD請參閱圖三，其為本發(fā)明測試串行端口的插針RTS-CTS，DCD的流程圖，其測試步驟如下步驟1A在進行測試時先將計數(shù)器(即測試次數(shù))歸零，并清除錯誤標記；步驟1B判斷測試次數(shù)是否為偶數(shù)次，若為“是”則將RTS插針置于低電位(步驟1C)，若為“否”則將RTS插針設(shè)為高電位(步驟1D)；步驟1E把時間計時器歸零；步驟1F讀取CTS插針和DCD插針的狀態(tài)；步驟1G倘若此時CTS插針和DCD插針的狀態(tài)均與RTS的當前狀態(tài)相同，跳至步驟1K，否則執(zhí)行步驟1H；步驟1H將時間計時器加一；步驟1I若時間計時器累計超過一百次則執(zhí)行步驟1J，否則回至步驟1F；步驟1J在計算機可讀寫的記錄介質(zhì)103中設(shè)置一錯誤標記；步驟1K將測試次數(shù)加一；步驟1L若測試次數(shù)未超過一百次，回至步驟1B，否則執(zhí)行步驟1M；步驟1M判斷計算機可讀寫的記錄介質(zhì)103中是否記錄有錯誤標記，若為“否”則執(zhí)行步驟1N，若為“是”則執(zhí)行步驟10；步驟1N在計算機主機10的輸出單元104中顯示待測插針為正常；步驟1O在計算機主機10的輸出單元104中顯示待測插針為異常。
實施例2本實施例用于檢測串行端口的插針DTR-DSR，RI請參閱圖四，其為本發(fā)明測試串行端口的插針DTR-DSR，RI的流程圖，整個測試的程序與圖三類似，其測試步驟如下所列步驟2A在進行測試時系先將計數(shù)器(即測試次數(shù))歸零，并清除錯誤標記；步驟2B判斷測試次數(shù)是否為偶數(shù)次，若為“是”則將DTR插針置于低電位(步驟2C)，若為“否”則將DTR插針設(shè)為高電位(步驟2D)；步驟2E把時間計時器歸零；步驟2F讀取DSR插針和RI插針的狀態(tài)；步驟2G倘若此時DSR插針和RI插針的狀態(tài)均與DTR的當前狀態(tài)相同，跳至步驟2K，否則執(zhí)行步驟2H；步驟2H將時間計時器加一；步驟2I若時間計時器累計超過一百次則執(zhí)行步驟2J，否則返回至步驟2F；步驟2J在計算機可讀寫的記錄介質(zhì)103中設(shè)置一錯誤標記；步驟2K將測試次數(shù)加一；步驟2L若測試次數(shù)未超過一百次，返回至步驟2B，否則執(zhí)行步驟2M；步驟2M判斷計算機可讀寫的記錄介質(zhì)103中是否記錄有錯誤標記，若為否，則執(zhí)行步驟2N，若為是，則執(zhí)行步驟20；步驟2N在計算機主機10的輸出單元104中顯示待測插針為正常；步驟2O在計算機主機10的輸出單元104中顯示待測插針為異常。
實施例3本實施例用于檢測串行端口的CTS插針和DCD插針的中斷圖五為本發(fā)明串行端口的CTS插針和DCD插針的中斷測試流程圖。如圖所示，其測試步驟如下步驟3A進入主程序；步驟3B中央處理單元101禁止所有中斷的產(chǎn)生；步驟3C設(shè)置系統(tǒng)的中斷位置；步驟3D清除掉目前系統(tǒng)中的中斷標記；步驟3E中央處理單元101允許CTS插針和DCD插針的中斷要求；步驟3F連接器11在CTS插針的位置上將以交替的方式(“L”→“H”→“L”→…)，產(chǎn)生一串測試所需的脈沖信號；步驟3G將時間計時器歸零；步驟3H判斷是否出現(xiàn)中斷標記(注一)，若為是則跳至步驟3L，否則跳到步驟3I(其原因是當CTS插針和DCD插針上持續(xù)有電位狀態(tài)上的改變時，串行端口102的控制芯片會在接收到所有的脈沖信號或DCD插針的信號(該信號用以表示串行端口目前正處于連線狀態(tài))后，對中央處理單元101發(fā)出有關(guān)CTS插針和DCD插針的中斷請求。)步驟3I時間計時器加一；步驟3J若時間計時器累計次數(shù)超過十次，執(zhí)行步驟3K，否則回到步驟3H；步驟3K在計算機主機10的輸出單元104中顯示插針狀態(tài)為異常的相應(yīng)信息；步驟3L在計算機主機10的輸出單元104中顯示插針狀態(tài)為正常的相應(yīng)信息；注一一般中斷標記的產(chǎn)生步驟為(參見圖7)步驟5A由系統(tǒng)有關(guān)外圍設(shè)備，或其它處理單元向中央處理單元101發(fā)出中斷請求；步驟5B中央處理單元101在截獲到中斷請求后，會使系統(tǒng)進入中斷服務(wù)程序；步驟5C由中央處理單元101根據(jù)所截獲的中斷請求，產(chǎn)生相應(yīng)的中斷標記；步驟5D結(jié)束中斷服務(wù)程序。
實施例4本實施例用于檢測串行端口的DSR插針和RI插針的中斷請參閱圖六，其為本發(fā)明串行端口的DSR插針和RI插針的中斷測試流程圖。其測試的程序與圖五類似，其步驟如下步驟4A進入主程序；步驟4B中央處理單元101禁止所有中斷的產(chǎn)生；步驟4C設(shè)置系統(tǒng)的中斷位置；步驟4D清除掉目前系統(tǒng)中的中斷標記；步驟4E中央處理單元101允許DSR插針和RI插針的中斷要求；步驟4F連接器11在DSR插針的位置上將以交替的方式(“L”→“H”→“L”→…)，產(chǎn)生一串測試所需的脈沖信號；步驟4G將時間計時器歸零；步驟4H判斷是否出現(xiàn)中斷標記(注一)，若為是則跳至步驟4L，否則跳到步驟4I(其原因是當DSR插針和RI插針上持續(xù)有電位狀態(tài)上的改變時，串行端口102的控制芯片會在接收到所有的脈沖信號或RI插針的振鈴信號后，對中央處理單元101發(fā)出有關(guān)DSR插針和RI插針的中斷請求。)步驟4I時間計時器加一；步驟4J若時間計時器累計次數(shù)超過十次，執(zhí)行步驟4K，否則回到步驟4H；步驟4K在計算機主機10的輸出單元104中顯示插針狀態(tài)為異常的相應(yīng)信息；步驟4L于計算機主機10的輸出單元104中顯示插針狀態(tài)為正常的相應(yīng)信息；所以，經(jīng)由上述各組測試步驟對串行端口的檢測，除了能判斷串行端口的通訊性能之外，亦可從中得知各插針是否能正常工作，如此將可確保串行端口的插針功能與通訊傳輸?shù)馁|(zhì)量。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭示如上，然其目的并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的任何普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可進行各種修改，因此本發(fā)明的保護范圍由所附的權(quán)利要求確定。
權(quán)利要求
1.一種通訊端口插針功能的測試方法，其用以測試通訊端口的一組待測插針的性能，該方法包括如下步驟a.設(shè)定一參考信號；b.檢測該組待測插針的電位；c.判斷該組待測插針的電位是否均與該參考信號的電位相同，若為是則跳至步驟f，若為否則執(zhí)行步驟d；d.判斷是否已超過信息接收的等待時間，若為是則跳至步驟e，若為否則執(zhí)行步驟b；e.找出異常的插針，并進行記錄；以及f.判斷測試是否結(jié)束，若為是則顯示該記錄內(nèi)容，若為否則跳至步驟a.
2.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其中該參考信號來自RTS插針。
3.如權(quán)利要求2所述的測試方法，其中該待測插針包含CTS插針和DCD插針。
4.如權(quán)利要求1所述的測試方法，其中該參考信號來自DTR插針。
5.如權(quán)利要求4所述的測試方法，其中該待測插針包含DSR插針和RI插針。
6.一種通訊端口插針功能的測試方法，其用以在一外部信號經(jīng)一串行端口對一計算機系統(tǒng)提出中斷服務(wù)時，測試該串行端口的信號插針的性能，該方法包括如下步驟a.禁止該計算機系統(tǒng)中有中斷產(chǎn)生；b.于該計算機系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置一中斷位置；c.允許該外部信號的中斷請求；d.自該信號插針接收一相應(yīng)于該外部信號的中斷請求的脈沖信號；以及e.依據(jù)該中斷位置中中斷標記的有無，確定異常的插針，并進行記錄。
7.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其中該外部信號為停止發(fā)送數(shù)據(jù)信號(CTS)和數(shù)據(jù)載波偵測信號(DCD)。
8.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其中該外部信號為數(shù)據(jù)準備就緒信號(DSR)和振鈴信號(RI)。
9.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其中該脈沖信號以高電位、低電位交替的方式產(chǎn)生。
10.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其中該中斷標記在該串行端口的一控制芯片完整接收到來自信號插針的該脈沖信息后才產(chǎn)生。
11.一種應(yīng)用于前述任一通訊端口插針功能測試方法的裝置，其用以測試一串行通訊端口的信號插針的性能，該裝置包括一中央處理單元，用以執(zhí)行該串行端口通訊功能的檢測；一計算機可讀/寫記錄介質(zhì)，用以記錄檢測的結(jié)果；一測試連接器，用于與該串行端口連接；以及一輸出單元，用以輸出檢測結(jié)果。
12.如權(quán)利要求11所述的裝置，其中該計算機可讀/寫記錄介質(zhì)為硬盤。
13.如權(quán)利要求11所述的裝置，其中該測試連接器的DCD插針、RTS插針與CTS插針彼此短路、RD插針與TD插針彼此短路，以及DTR插針、DSR插針與RI插針彼此短路。
14.如權(quán)利要求11所述的測試裝置，其中該輸出單元為顯示器。
全文摘要
本發(fā)明為一種通訊端口插針功能的測試方法及其裝置,適用于串行通訊端口的插針性能的檢測;其通過多次同時讀取數(shù)個插針的當前工作狀態(tài),來檢測串行端口的存在與否,以及通訊地址的正確性,除此之外,還在判斷串行端口通訊性能的同時,分別根據(jù)所讀取的狀態(tài)信息,對各插針是否能正常工作進行檢測,以確保串行端口的插針功能與通訊傳輸?shù)馁|(zhì)量。
文檔編號G06F11/22GK1274117SQ9910664
公開日2000年11月22日 申請日期1999年5月17日 優(yōu)先權(quán)日1999年5月17日
發(fā)明者張有權(quán) 申請人:英業(yè)達股份有限公司