1.一種功能函數(shù)測試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述從預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)之前，還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述從預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中確定受所述代碼修改片段影響的功能函數(shù)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，還包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述基于所述目標(biāo)節(jié)點并根據(jù)所述影響關(guān)系和所述調(diào)用關(guān)系，遍歷所述預(yù)設(shè)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖的過程中，還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型生成所述待測試函數(shù)對應(yīng)的測試代碼，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述判斷結(jié)果生成所述待測試函數(shù)對應(yīng)的測試代碼，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述生成所述待測試函數(shù)對應(yīng)的模擬函數(shù)，包括：
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述基于目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型根據(jù)所述模擬函數(shù)生成所述待測試函數(shù)對應(yīng)的測試代碼，包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，所述利用所述目標(biāo)預(yù)訓(xùn)練模型并根據(jù)所述模擬函數(shù)和所述查詢結(jié)果，生成所述待測試函數(shù)對應(yīng)的測試代碼，包括：
11.根據(jù)權(quán)利要求1至10任一項所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，還包括：
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的功能函數(shù)測試方法，其特征在于，還包括：
13.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
14.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至12任意一項所述功能函數(shù)測試方法的步驟。
15.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序/指令，其特征在于，該計算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至12任一項所述功能函數(shù)測試方法的步驟。