本技術(shù)實施例涉及顯示屏檢測領域，尤其涉及一種含電路區(qū)的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、隨著工業(yè)和互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的日新月異的發(fā)展，行業(yè)對工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來越精細化、標準化，就顯示面板行業(yè)而言，產(chǎn)品質(zhì)量好壞直接影響其產(chǎn)品競爭力，這其中，產(chǎn)品形制尺寸規(guī)格的精度是產(chǎn)品質(zhì)量的最基本的工藝指標。顯示屏作為設備的顯示組件之一，被運用在各種高端設備上，例如手機、電視、平板電腦等。而隨著人們對畫面顯示的要求不斷提高，顯示屏逐漸成為技術(shù)精密的產(chǎn)品。

2、顯示屏的缺陷檢測是進行調(diào)整的必要過程，顯示屏缺陷可以分為顯示缺陷和屏體缺陷。顯示缺陷是指顯示屏在顯示畫面過程中出現(xiàn)的不和諧的區(qū)域，現(xiàn)有技術(shù)中，顯示缺陷通常需要在待測顯示屏上輸入特定的畫面，再通過相機采集圖，再進行圖像檢測即可分析出來。而屏體缺陷是指顯示屏自身表面或者內(nèi)部產(chǎn)生了損傷的區(qū)域（如崩角、異物等），這類缺陷無需輸入圖像，通過相機采集圖，再進行圖像檢測即可分析出來。

3、但是，隨著顯示屏的應用領域越來越廣泛，增加的功能越來越多，在顯示屏內(nèi)部或是表面增設了精密的電路結(jié)構(gòu)以及其他功能結(jié)構(gòu)。這類結(jié)構(gòu)在進行顯示缺陷的檢測上不會造成太大影響。但是屏體缺陷由于不需要進行畫面顯示，使得這類含結(jié)構(gòu)的顯示屏在對應的結(jié)構(gòu)區(qū)域內(nèi)容易出現(xiàn)屏體缺陷的誤檢和漏檢，目前影響較大的主要是電路結(jié)構(gòu)和邊界結(jié)構(gòu)，電路結(jié)構(gòu)通常是一塊非常薄的電路板，由于電路結(jié)構(gòu)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)復雜，主要呈現(xiàn)為層次不同的塊狀，且整體面積較大，集中分布，設置于顯示屏內(nèi)部。其次是邊界結(jié)構(gòu)，邊界結(jié)構(gòu)同樣位于顯示屏內(nèi)部主要呈現(xiàn)為細條狀，層次單一。

4、本技術(shù)主要針對包含電路區(qū)的外觀顯示屏體，在傳統(tǒng)的檢測屏體缺陷時，需要通過外接光源進行打光，以增強缺陷的顯示，針對無電路區(qū)域的顯示區(qū)域增強效果明顯。但是，由于電路結(jié)構(gòu)的出現(xiàn)，當外接光源環(huán)境產(chǎn)生細微變化時，會導致每張拍攝的顯示屏圖像之間在電路區(qū)域產(chǎn)生較大差異，導致對該區(qū)域的屏體缺陷檢測不準確。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)公開了一種含電路區(qū)的顯示屏圖像的處理方法、裝置及存儲介質(zhì)，用于提高含電路區(qū)的顯示屏圖像的屏體缺陷檢測精度。

2、本技術(shù)第一方面公開了一種含電路區(qū)的顯示屏圖像的處理方法，包括：

3、開啟光源，通過工業(yè)線掃相機對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像，待測顯示屏內(nèi)含電路結(jié)構(gòu)；

4、對顯示屏圖像進行區(qū)域紋理結(jié)構(gòu)劃分，生成電路區(qū)外觀圖像、顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像；

5、選取一塊標準限樣屏，并對標準限樣屏進行拍攝，生成限樣屏電路區(qū)外觀圖像，標準限樣屏與待測顯示屏為同類型顯示屏，標準限樣屏為無缺陷顯示屏；

6、對電路區(qū)外觀圖像和限樣屏電路區(qū)外觀圖像進行降采樣，生成第一壓縮圖像和第二壓縮圖像；

7、根據(jù)電路區(qū)外觀圖像對應的屏體檢測缺陷生成灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子；

8、根據(jù)灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子為第一壓縮圖像和第二壓縮圖像分別進行底帽算法；

9、將第一壓縮圖像和第二壓縮圖像進行形態(tài)學膨脹和算數(shù)運算得到結(jié)果圖像；

10、對結(jié)果圖像進行閾值分析處理和上采樣擴大處理，生成目標電路區(qū)外觀圖像；

11、對顯示區(qū)外觀圖像進行自適應強調(diào)濾波算法處理，生成目標顯示區(qū)外觀圖像；

12、對目標電路區(qū)外觀圖像、目標顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結(jié)果。

13、可選的，在開啟光源，通過工業(yè)線掃相機對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像之后，在對顯示屏圖像進行區(qū)域紋理結(jié)構(gòu)劃分，生成電路區(qū)外觀圖像、顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像之前，處理方法還包括：

14、確定顯示屏圖像的過渡點；

15、采用最小二乘算法對過渡點進行擬合成線段；

16、對擬合的線段求取交點，生成原始變換點對；

17、通過點對變換矩陣將結(jié)合原始變換點對和顯示屏長寬參數(shù)對顯示屏圖像進行像素點矯正處理。

18、可選的，在選取一塊標準限樣屏，并對標準限樣屏進行拍攝，生成限樣屏電路區(qū)外觀圖像之后，對電路區(qū)外觀圖像和限樣屏電路區(qū)外觀圖像進行降采樣得到第一壓縮圖像和第二壓縮圖像之前，處理方法還包括：

19、確定限樣屏電路區(qū)外觀圖像的干擾區(qū)域和輔助修復區(qū)域；

20、確定干擾區(qū)域內(nèi)的待修復像素點位置和輔助修復區(qū)域的輔助像素點位置；

21、根據(jù)待修復像素點位置、輔助像素點位置和輔助修復區(qū)域內(nèi)輔助像素點的灰度對干擾區(qū)域內(nèi)待修復像素點的灰度進行灰度補償修復處理。

22、可選的，對顯示屏圖像進行區(qū)域紋理結(jié)構(gòu)劃分，生成電路區(qū)外觀圖像、顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像，包括：

23、在顯示屏圖像上的待測區(qū)域之間的交界處繪制輪廓點；

24、根據(jù)輪廓點的坐標位置以及預設的多區(qū)域形狀生成多邊形區(qū)域集合；

25、確定多邊形區(qū)域集合中的電路區(qū)域和顯示區(qū)域，并為電路區(qū)域和顯示區(qū)域分別生成二值化電路圖像和二值化顯示圖像；

26、將顯示屏圖像分別與二值化電路圖像和二值化顯示圖像進行邏輯與運算，生成電路區(qū)外觀圖像和顯示區(qū)外觀圖像；

27、將二值化電路圖像和二值化顯示圖像進行邏輯或運算，再進行邏輯取反運算得到二值化邊界圖像；

28、將顯示屏圖像與二值化邊界圖像進行邏輯與運算，生成邊界區(qū)外觀圖像。

29、可選的，在顯示屏圖像上的待測區(qū)域之間的交界處繪制輪廓點，包括：

30、獲取樣本顯示屏的模塊增強圖像，樣本顯示屏與待測顯示屏為同類型顯示屏，模塊增強圖像為邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域經(jīng)過顯示增強的樣本顯示屏拍攝圖像，邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域的顯示增強程度不同；

31、獲取顯示屏圖像的第一灰度均值、第一標準差和模塊增強圖像的第二灰度均值和第二標準差；

32、根據(jù)第一灰度均值和第二灰度均值計算顯示屏圖像和模塊增強圖像的亮度調(diào)整系數(shù)；

33、根據(jù)第一標準差和第二標準差計算顯示屏圖像和模塊增強圖像的對比度增強系數(shù)；

34、將顯示屏圖像和模塊增強圖像進行算數(shù)差影運算，生成中間圖像；

35、根據(jù)亮度調(diào)整系數(shù)、對比度增強系數(shù)和中間圖像生成邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域的對比度加權(quán)數(shù)據(jù)；

36、根據(jù)對比度加權(quán)數(shù)據(jù)對中間圖像的像素點灰度值進行增強處理，生成結(jié)構(gòu)區(qū)域增強圖像；

37、在結(jié)構(gòu)區(qū)域增強圖像中繪制間隔相等的徑向線段和橫向線段；

38、對徑向線段和橫向線段上的像素點進行灰度分析，確定躍變點的坐標數(shù)據(jù)；

39、使用躍變點的坐標數(shù)據(jù)在顯示屏圖像上繪制待測區(qū)域之間的輪廓點。

40、可選的，對目標電路區(qū)外觀圖像、目標顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結(jié)果，包括：

41、對目標顯示區(qū)外觀圖像進行形態(tài)學處理、特征篩選分析、坐標變換，生成目標顯示區(qū)外觀圖像的第一缺陷分析結(jié)果；

42、對目標電路區(qū)外觀圖像進行特征量篩選和坐標變換，生成目標電路區(qū)外觀圖像的第二缺陷分析結(jié)果；

43、通過卷積濾波算法處理邊界區(qū)外觀圖像，在對邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷特征篩選和坐標變換，生成邊界區(qū)外觀圖像的第三缺陷分析結(jié)果；

44、將第一缺陷分析結(jié)果、第二缺陷分析結(jié)果和第三缺陷分析結(jié)果確定為缺陷分析結(jié)果。

45、本技術(shù)第二方面公開了一種含電路區(qū)的顯示屏圖像的處理裝置，包括：

46、第一生成單元，用于開啟光源，通過工業(yè)線掃相機對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像，待測顯示屏內(nèi)含電路結(jié)構(gòu)；

47、第二生成單元，用于對顯示屏圖像進行區(qū)域紋理結(jié)構(gòu)劃分，生成電路區(qū)外觀圖像、顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像；

48、第三生成單元，用于選取一塊標準限樣屏，并對標準限樣屏進行拍攝，生成限樣屏電路區(qū)外觀圖像，標準限樣屏與待測顯示屏為同類型顯示屏，標準限樣屏為無缺陷顯示屏；

49、第四生成單元，用于對電路區(qū)外觀圖像和限樣屏電路區(qū)外觀圖像進行降采樣，生成第一壓縮圖像和第二壓縮圖像；

50、第五生成單元，用于根據(jù)電路區(qū)外觀圖像對應的屏體檢測缺陷生成灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子；

51、運算單元，用于根據(jù)灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子為第一壓縮圖像和第二壓縮圖像分別進行底帽算法；

52、第六生成單元，用于將第一壓縮圖像和第二壓縮圖像進行形態(tài)學膨脹和算數(shù)運算得到結(jié)果圖像；

53、第七生成單元，用于對結(jié)果圖像進行閾值分析處理和上采樣擴大處理，生成目標電路區(qū)外觀圖像；

54、強調(diào)濾波單元，用于對顯示區(qū)外觀圖像進行自適應強調(diào)濾波算法處理，生成目標顯示區(qū)外觀圖像；

55、輸出單元，用于對目標電路區(qū)外觀圖像、目標顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結(jié)果。

56、可選的，在第一生成單元之后，在第二生成單元之前，處理裝置還包括：

57、第一確定單元，用于確定顯示屏圖像的過渡點；

58、擬合單元，用于采用最小二乘算法對過渡點進行擬合成線段；

59、第八生成單元，用于對擬合的線段求取交點，生成原始變換點對；

60、矯正單元，用于通過點對變換矩陣將結(jié)合原始變換點對和顯示屏長寬參數(shù)對顯示屏圖像進行像素點矯正處理。

61、可選的，在第三生成單元之后，第四生成單元之前，處理裝置還包括：

62、第二確定單元，用于確定限樣屏電路區(qū)外觀圖像的干擾區(qū)域和輔助修復區(qū)域；

63、第三確定單元，用于確定干擾區(qū)域內(nèi)的待修復像素點位置和輔助修復區(qū)域的輔助像素點位置；

64、修復單元，用于根據(jù)待修復像素點位置、輔助像素點位置和輔助修復區(qū)域內(nèi)輔助像素點的灰度對干擾區(qū)域內(nèi)待修復像素點的灰度進行灰度補償修復處理。

65、可選的，第二生成單元，包括：

66、繪制模塊，用于在顯示屏圖像上的待測區(qū)域之間的交界處繪制輪廓點；

67、第一生成模塊，用于根據(jù)輪廓點的坐標位置以及預設的多區(qū)域形狀生成多邊形區(qū)域集合；

68、第二生成模塊，用于確定多邊形區(qū)域集合中的電路區(qū)域和顯示區(qū)域，并為電路區(qū)域和顯示區(qū)域分別生成二值化電路圖像和二值化顯示圖像；

69、第三生成模塊，用于將顯示屏圖像分別與二值化電路圖像和二值化顯示圖像進行邏輯與運算，生成電路區(qū)外觀圖像和顯示區(qū)外觀圖像；

70、邏輯運算模塊，用于將二值化電路圖像和二值化顯示圖像進行邏輯或運算，再進行邏輯取反運算得到二值化邊界圖像；

71、第四生成模塊，用于將顯示屏圖像與二值化邊界圖像進行邏輯與運算，生成邊界區(qū)外觀圖像。

72、可選的，繪制模塊，包括：

73、獲取樣本顯示屏的模塊增強圖像，樣本顯示屏與待測顯示屏為同類型顯示屏，模塊增強圖像為邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域經(jīng)過顯示增強的樣本顯示屏拍攝圖像，邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域的顯示增強程度不同；

74、獲取顯示屏圖像的第一灰度均值、第一標準差和模塊增強圖像的第二灰度均值和第二標準差；

75、根據(jù)第一灰度均值和第二灰度均值計算顯示屏圖像和模塊增強圖像的亮度調(diào)整系數(shù)；

76、根據(jù)第一標準差和第二標準差計算顯示屏圖像和模塊增強圖像的對比度增強系數(shù)；

77、將顯示屏圖像和模塊增強圖像進行算術(shù)差影運算，生成中間圖像；

78、根據(jù)亮度調(diào)整系數(shù)、對比度增強系數(shù)和中間圖像生成邊界結(jié)構(gòu)區(qū)域和電路結(jié)構(gòu)區(qū)域的對比度加權(quán)數(shù)據(jù)；

79、根據(jù)對比度加權(quán)數(shù)據(jù)對中間圖像的像素點灰度值進行增強處理，生成結(jié)構(gòu)區(qū)域增強圖像；

80、在結(jié)構(gòu)區(qū)域增強圖像中繪制間隔相等的徑向線段和橫向線段；

81、對徑向線段和橫向線段上的像素點進行灰度分析，確定躍變點的坐標數(shù)據(jù)；

82、使用躍變點的坐標數(shù)據(jù)在顯示屏圖像上繪制待測區(qū)域之間的輪廓點。

83、可選的，輸出單元，包括：

84、對目標顯示區(qū)外觀圖像進行形態(tài)學處理、特征篩選分析、坐標變換，生成目標顯示區(qū)外觀圖像的第一缺陷分析結(jié)果；

85、對目標電路區(qū)外觀圖像進行特征量篩選和坐標變換，生成目標電路區(qū)外觀圖像的第二缺陷分析結(jié)果；

86、通過卷積濾波算法處理邊界區(qū)外觀圖像，在對邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷特征篩選和坐標變換，生成邊界區(qū)外觀圖像的第三缺陷分析結(jié)果；

87、將第一缺陷分析結(jié)果、第二缺陷分析結(jié)果和第三缺陷分析結(jié)果確定為缺陷分析結(jié)果。

88、本技術(shù)第三方面提供了一種含電路區(qū)的顯示屏圖像的處理裝置，包括：

89、處理器、存儲器、輸入輸出單元以及總線；

90、處理器與存儲器、輸入輸出單元以及總線相連；

91、存儲器保存有程序，處理器調(diào)用程序以執(zhí)行如第一方面以及第一方面的任意可選的處理方法。

92、本技術(shù)第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，計算機可讀存儲介質(zhì)上保存有程序，程序在計算機上執(zhí)行時執(zhí)行如第一方面以及第一方面的任意可選的處理方法。

93、從以上技術(shù)方案可以看出，本技術(shù)實施例具有以下優(yōu)點：

94、本技術(shù)中，首先開啟光源，再通過工業(yè)線掃相機對待測顯示屏進行拍攝，生成顯示屏圖像，待測顯示屏內(nèi)含電路結(jié)構(gòu)。首先對顯示屏圖像進行區(qū)域紋理結(jié)構(gòu)劃分，生成電路區(qū)外觀圖像、顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像。顯示區(qū)外觀圖像對應的待測顯示屏區(qū)域中沒有電路結(jié)構(gòu)以及邊界結(jié)構(gòu)，可以直接按照正常檢測方式進行屏體檢測。邊界區(qū)外觀圖像為存在邊界結(jié)構(gòu)的邊界區(qū)域，結(jié)構(gòu)層次單一，檢測難度相對較小。而設置了電路機構(gòu)的電路區(qū)外觀圖像的檢測難度上升，電路結(jié)構(gòu)雖然薄但是整體結(jié)構(gòu)復雜，當外接光源環(huán)境產(chǎn)生細微變化時，會導致每張拍攝的顯示屏圖像之間在電路區(qū)域產(chǎn)生較大差異。當確定了電路區(qū)外觀圖像之后，選取一塊標準限樣屏，并對標準限樣屏進行拍攝，生成限樣屏電路區(qū)外觀圖像，標準限樣屏與待測顯示屏為同類型顯示屏，標準限樣屏為無缺陷顯示屏。對電路區(qū)外觀圖像和限樣屏電路區(qū)外觀圖像進行降采樣，生成第一壓縮圖像和第二壓縮圖像。根據(jù)電路區(qū)外觀圖像對應的屏體檢測缺陷生成灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子。根據(jù)灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子為第一壓縮圖像和第二壓縮圖像分別進行底帽算法。將第一壓縮圖像和第二壓縮圖像進行形態(tài)學膨脹和算數(shù)運算得到結(jié)果圖像。對結(jié)果圖像進行閾值分析處理和上采樣擴大處理，生成目標電路區(qū)外觀圖像。對顯示區(qū)外觀圖像進行自適應強調(diào)濾波算法處理，生成目標顯示區(qū)外觀圖像。對目標電路區(qū)外觀圖像、目標顯示區(qū)外觀圖像和邊界區(qū)外觀圖像進行缺陷檢測，輸出缺陷分析結(jié)果。

95、通過先對無缺陷的限樣屏電路區(qū)外觀圖像和電路區(qū)外觀圖像進行降采樣，將二者的圖像特征提取出來，確定需要對電路區(qū)外觀圖像進行檢測的屏體缺陷，根據(jù)屏體缺陷的類型和缺陷面積生成灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子，通過灰度形態(tài)學結(jié)構(gòu)核算子對降采樣之后的第一壓縮圖像和第二壓縮圖像分別進行底帽算法、形態(tài)學膨脹，最后對第一壓縮圖像和第二壓縮圖像進行算數(shù)運算。通過底帽運算的方式處理電路區(qū)外觀圖像，減少光照變化給電路區(qū)外觀圖像帶來的差異，提高含電路區(qū)的顯示屏圖像的屏體缺陷檢測精度。