本發(fā)明涉及磁盤性能優(yōu)，尤其涉及一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在現(xiàn)有的存儲系統(tǒng)中，磁盤陣列的性能常常受到單個(gè)慢速磁盤的影響，導(dǎo)致整體讀寫速度下降。盡管表面上所有磁盤看似正常工作，但某些磁盤可能由于固有的性能問題或老化而導(dǎo)致響應(yīng)時(shí)長延長，處理速度緩慢，進(jìn)而拖累整個(gè)磁盤陣列的表現(xiàn)。但是，現(xiàn)有技術(shù)中，無法準(zhǔn)確地定位出磁盤陣列中的異常磁盤，無法及時(shí)對異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。

2、因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待改進(jìn)和提高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于，針對現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無法準(zhǔn)確地定位出磁盤陣列中的異常磁盤，無法及時(shí)對異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化等問題。

2、為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下：

3、第一方面，本發(fā)明提供一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其中，所述方法包括：

4、獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，基于每個(gè)磁盤每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，確定所述磁盤陣列的性能等級，其中，所述性能等級用于反映所述磁盤陣列處理io操作的整體響應(yīng)速度；

5、若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則確定所述磁盤陣列中的異常磁盤；

6、獲取所述異常磁盤處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長，并基于所述異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。

7、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于每個(gè)磁盤每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，確定所述磁盤陣列的性能等級，包括：

8、獲取預(yù)設(shè)的第一時(shí)長閾值，將每個(gè)磁盤對應(yīng)的所有響應(yīng)時(shí)長與所述第一時(shí)長閾值進(jìn)行比較；

9、針對每個(gè)磁盤，確定所有響應(yīng)時(shí)長中大于所述第一時(shí)長閾值的占比信息；

10、基于所述占比信息，確定每個(gè)磁盤所對應(yīng)的處理速度等級；

11、基于每個(gè)磁盤所對應(yīng)的處理速度等級，確定所述磁盤陣列的性能等級。

12、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于每個(gè)磁盤所對應(yīng)的處理速度等級，確定所述磁盤陣列的性能等級，包括：

13、將所有的磁盤的處理速度等級進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，獲取每一種處理速度等級對應(yīng)的磁盤數(shù)量，并確定磁盤數(shù)量最多的處理速度等級；

14、將磁盤數(shù)量最多的處理速度等級作為所述磁盤陣列的性能等級。

15、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則確定所述磁盤陣列中的異常磁盤，包括：

16、若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則獲取所述磁盤陣列中處理速度等級最低的磁盤；

17、將處理速度等級最低的磁盤作為所述異常磁盤。

18、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取所述異常磁盤處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長，并基于所述異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，包括：

19、獲取所述異常磁盤在所述預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長；

20、獲取磁盤陣列中除去異常磁盤以外的磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)處理io操作的第二平均響應(yīng)時(shí)長；

21、基于所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與第二平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。

22、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與第二平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，包括：

23、將所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與所述第二平均響應(yīng)時(shí)長進(jìn)行比較，確定時(shí)間差值；

24、若所述時(shí)間差值超過預(yù)設(shè)值，則將所述時(shí)間差值超過預(yù)設(shè)值所對應(yīng)的異常磁盤更換或者格式化處理。

25、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與第二平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，還包括：

26、若所述時(shí)間差值小于預(yù)設(shè)值，則將所述時(shí)間差值小于預(yù)設(shè)值所對應(yīng)的異常磁盤中使用頻率低于預(yù)設(shè)頻率值的數(shù)據(jù)刪除或者轉(zhuǎn)移。

27、第二方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種磁盤陣列的性能優(yōu)化系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)包括：

28、性能等級確定模塊，用于獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，基于每個(gè)磁盤每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，確定所述磁盤陣列的性能等級，其中，所述性能等級用于反映所述磁盤陣列處理io操作的整體響應(yīng)速度；

29、異常磁盤確定模塊，用于若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則確定所述磁盤陣列中的異常磁盤；

30、異常磁盤優(yōu)化模塊，用于獲取所述異常磁盤處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長，并基于所述異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。

31、第三方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種終端，其中，所述終端包括存儲器、處理器及存儲在存儲器中并可在處理器上運(yùn)行的磁盤陣列的性能優(yōu)化程序，處理器執(zhí)行磁盤陣列的性能優(yōu)化程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述方案中任一項(xiàng)的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法的步驟。

32、第四方面，本發(fā)明實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其中，計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有磁盤陣列的性能優(yōu)化程序，所述磁盤陣列的性能優(yōu)化程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述方案中任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法的步驟。

33、有益效果：與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明提供了一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，本發(fā)明首先獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，基于每個(gè)磁盤每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，確定所述磁盤陣列的性能等級，其中，所述性能等級用于反映所述磁盤陣列處理io操作的整體響應(yīng)速度。若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則確定所述磁盤陣列中的異常磁盤，并獲取所述異常磁盤處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長；基于所述異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。本發(fā)明通過分析每個(gè)磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長來確定磁盤陣列的性能等級，并且可在磁盤陣列的性能等級低于預(yù)設(shè)等級時(shí)對磁盤陣列中的異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，保證磁盤陣列可以正常運(yùn)行且有利于提高整個(gè)磁盤陣列的使用壽命。

技術(shù)特征：

1.一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述基于每個(gè)磁盤每一次處理io操作的響應(yīng)時(shí)長，確定所述磁盤陣列的性能等級，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述基于每個(gè)磁盤所對應(yīng)的處理速度等級，確定所述磁盤陣列的性能等級，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述若所述性能等級為預(yù)設(shè)的異常等級，則確定所述磁盤陣列中的異常磁盤，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述獲取所述異常磁盤處理io操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長，并基于所述異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述基于所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與第二平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法，其特征在于，所述基于所述第一平均響應(yīng)時(shí)長與第二平均響應(yīng)時(shí)長，對所述異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，還包括：

8.一種磁盤陣列的性能優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：

9.一種終端，其特征在于，所述終端包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運(yùn)行的磁盤陣列的性能優(yōu)化程序，所述處理器執(zhí)行磁盤陣列的性能優(yōu)化程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)上存儲有磁盤陣列的性能優(yōu)化程序，所述磁盤陣列的性能優(yōu)化程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能優(yōu)化方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種磁盤陣列的性能優(yōu)化方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)，方法包括：獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤在預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)每一次處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長，基于每個(gè)磁盤每一次處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長，確定磁盤陣列的性能等級，性能等級用于反映的磁盤陣列處理IO操作的整體響應(yīng)速度；若性能等級低于預(yù)設(shè)等級，則確定磁盤陣列中的異常磁盤，并獲取異常磁盤處理IO操作的第一平均響應(yīng)時(shí)長；基于異常磁盤對應(yīng)的第一平均響應(yīng)時(shí)長，對異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化。本發(fā)明可在磁盤陣列的性能等級低于預(yù)設(shè)等級時(shí)對磁盤陣列中的異常磁盤進(jìn)行優(yōu)化，保證磁盤陣列可以正常運(yùn)行且有利于提高整個(gè)磁盤陣列的使用壽命。

技術(shù)研發(fā)人員：鄭挺松,賈彬浩,黃華賓
受保護(hù)的技術(shù)使用者：柏科數(shù)據(jù)技術(shù)（深圳）股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/30