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開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品與流程

文檔序號(hào):40603548發(fā)布日期:2025-01-07 20:44閱讀:8來源:國(guó)知局
開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品與流程

本申請(qǐng)涉及夾層復(fù)合材料結(jié)構(gòu)測(cè)試,尤其涉及一種開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。


背景技術(shù):

1、噪聲是指一切不規(guī)則的信號(hào),可以分為氣體動(dòng)力噪聲、機(jī)械噪聲和電磁性噪聲。噪聲不但會(huì)影響人們的日常生活,還會(huì)對(duì)物體或者設(shè)備造成損害。

2、目前的降噪技術(shù)主要通過微穿孔板與蜂窩結(jié)構(gòu)復(fù)合制備的夾層結(jié)構(gòu)進(jìn)行降噪,微穿孔板與蜂窩結(jié)構(gòu)黏粘,配合剛性背板構(gòu)成復(fù)合結(jié)構(gòu)。由于微穿孔板上分布的微孔微小,內(nèi)部空氣介質(zhì)流阻較大,則吸入的外部聲波在有限空間中與空氣介質(zhì)發(fā)生反復(fù)摩擦,以消耗聲能,不再通過微孔傳導(dǎo)出去,從而達(dá)到吸聲降噪的作用。根據(jù)前述內(nèi)容可得,微穿孔板上的微孔占比(開孔率)成為衡量夾層結(jié)構(gòu)吸聲降噪能力的主要指標(biāo)之一。

3、微穿孔板上的微孔尺寸較?。ㄍǔP∮谝缓撩祝┎⑶椅⒖椎臄?shù)量較多,工作人員只能通過放大鏡進(jìn)行放大后進(jìn)行檢測(cè),需花費(fèi)較多的時(shí)間。雖然目前已具有理論公式計(jì)算穿孔率的方式,由于微穿孔板中的部分微孔可能存在未打通的情況,則公式計(jì)算結(jié)果易與人為檢測(cè)結(jié)果有較大的偏差。因此,如何有效檢測(cè)微穿孔板的開孔率是一個(gè)亟待解決的技術(shù)問題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于上述問題,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,以實(shí)現(xiàn)有效檢測(cè)微穿孔板的開孔率的目的。具體方案如下:

2、本申請(qǐng)第一方面提供一種開孔率確定方法,所述開孔率確定方法包括:

3、獲取微穿孔板的完整面板圖像;

4、基于預(yù)設(shè)像素值范圍識(shí)別所述完整面板圖像,標(biāo)記獲得多個(gè)微孔區(qū)域圖像,所述微孔區(qū)域圖像的像素值落入所述預(yù)設(shè)像素值范圍;

5、其中,所述預(yù)設(shè)像素值范圍的獲取過程為:響應(yīng)于用戶的點(diǎn)擊操作,確定所述完整面板圖像上的一個(gè)位置點(diǎn),以所述位置點(diǎn)為基準(zhǔn)進(jìn)行擴(kuò)大填充,直至獲得一個(gè)微孔區(qū)域,以微孔區(qū)域邊界處的最低像素值作為所述預(yù)設(shè)像素值范圍的最小取值,以所述微孔區(qū)域中的最高像素值作為所述預(yù)設(shè)像素值范圍的最大取值;

6、根據(jù)所述多個(gè)微孔區(qū)域圖像的區(qū)域總面積和所述完整面板圖像的面積獲得所述微穿孔板的開孔率。

7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,所述完整面板圖像為灰度圖像,所述獲取微穿孔板的完整面板圖像,包括:

8、控制激光共聚焦顯微鏡對(duì)已固定在固定臺(tái)上的微穿孔板進(jìn)行掃描,對(duì)掃描后的多個(gè)圖像進(jìn)行拼接,對(duì)拼接后的圖像進(jìn)行灰度處理,獲得所述完整面板圖像。

9、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,所述控制激光共聚焦顯微鏡對(duì)已固定在固定臺(tái)上的微穿孔板進(jìn)行掃描,包括:

10、控制所述激光共聚焦顯微鏡移動(dòng)多個(gè)移動(dòng)周期,獲得所述微穿孔板的圖像,一個(gè)移動(dòng)周期包括:從所述微穿孔板的坐標(biāo)原點(diǎn)出發(fā),沿所述微穿孔板的x正方向移動(dòng)第一距離,沿所述y正方向移動(dòng)第二距離,沿所述微穿孔板的x負(fù)方向移動(dòng)所述第一距離,沿所述y正方向移動(dòng)所述第二距離;

11、其中,所述微穿孔板的坐標(biāo)原點(diǎn)位于所述微穿孔板的左下角,所述第一距離不小于所述微穿孔板的長(zhǎng)度,所述第二距離不大于所述激光共聚焦顯微鏡的視野高度。

12、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,在所述基于預(yù)設(shè)像素值范圍識(shí)別所述面板圖像,獲得多個(gè)微孔區(qū)域圖像之后,所述開孔率確定方法還包括:

13、通過腐蝕算法、去孤點(diǎn)算法、去碎屑算法和去毛刺算法中的至少一種算法對(duì)所述多個(gè)微孔區(qū)域圖像進(jìn)行篩選。

14、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,所述開孔率確定方法還包括:

15、響應(yīng)于所述用戶的區(qū)域修改操作,對(duì)篩選后的多個(gè)微孔區(qū)域圖像進(jìn)行再次篩選。

16、本申請(qǐng)第二方面提供一種開孔率確定裝置,包括:

17、獲取單元,用于獲取微穿孔板的完整面板圖像;

18、識(shí)別單元,用于基于預(yù)設(shè)像素值范圍識(shí)別所述完整面板圖像,標(biāo)記獲得多個(gè)微孔區(qū)域圖像,所述微孔區(qū)域圖像的像素值落入所述預(yù)設(shè)像素值范圍;

19、其中,所述預(yù)設(shè)像素值范圍的獲取過程為:響應(yīng)于用戶的點(diǎn)擊操作,確定所述完整面板圖像上的一個(gè)位置點(diǎn),以所述位置點(diǎn)為基準(zhǔn)進(jìn)行擴(kuò)大填充,直至獲得一個(gè)微孔區(qū)域,以微孔區(qū)域邊界處的最低像素值作為所述預(yù)設(shè)像素值范圍的最小取值,以所述微孔區(qū)域中的最高像素值作為所述預(yù)設(shè)像素值范圍的最大取值;

20、計(jì)算單元,用于根據(jù)所述多個(gè)微孔區(qū)域圖像的區(qū)域總面積和所述完整面板圖像的面積獲得所述微穿孔板的開孔率。

21、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,所述完整面板圖像為灰度圖像,所述獲取單元包括:

22、掃描子單元,用于控制激光共聚焦顯微鏡對(duì)已固定在固定臺(tái)上的微穿孔板進(jìn)行掃描,對(duì)掃描后的多個(gè)圖像進(jìn)行拼接;

23、灰度子單元,用于對(duì)拼接后的圖像進(jìn)行灰度處理,獲得所述完整面板圖像。

24、在一種可能的實(shí)現(xiàn)中,所述掃描子單元具體配置為:

25、控制所述激光共聚焦顯微鏡移動(dòng)多個(gè)移動(dòng)周期,獲得所述微穿孔板的圖像,一個(gè)移動(dòng)周期包括:從所述微穿孔板的坐標(biāo)原點(diǎn)出發(fā),沿所述微穿孔板的x正方向移動(dòng)第一距離,沿所述y正方向移動(dòng)第二距離,沿所述微穿孔板的x負(fù)方向移動(dòng)所述第一距離,沿所述y正方向移動(dòng)所述第二距離;

26、其中,所述微穿孔板的坐標(biāo)原點(diǎn)位于所述微穿孔板的左下角,所述第一距離不小于所述微穿孔板的長(zhǎng)度,所述第二距離不大于所述激光共聚焦顯微鏡的視野高度。

27、本申請(qǐng)第三方面提供一種電子設(shè)備,包括至少一個(gè)處理器和與所述處理器連接的存儲(chǔ)器,其中:

28、所述存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序;

29、所述處理器用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序,以使所述電子設(shè)備能夠?qū)崿F(xiàn)上述第一方面或第一方面任一實(shí)現(xiàn)方式的開孔率確定方法。

30、本申請(qǐng)第四方面提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括計(jì)算機(jī)可讀指令,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)可讀指令在電子設(shè)備上運(yùn)行時(shí),使得所述電子設(shè)備實(shí)現(xiàn)上述第一方面或第一方面任一實(shí)現(xiàn)方式的開孔率確定方法。

31、借由上述技術(shù)方案,本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊环N開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。本方法通過掃描房方式,獲得微穿孔板的完整面板圖像,并基于預(yù)設(shè)像素值范圍確定完整面板圖像中的多個(gè)微孔區(qū)域圖像,根據(jù)多個(gè)微孔區(qū)域圖像的區(qū)域總面積和完整面板圖像的面積獲得微穿孔板的開孔率。本方法可以根據(jù)像素值范圍識(shí)別出完整面板圖像中的微孔區(qū)域圖像,像素值范圍由人為一次確定的微孔區(qū)域確定,可以提高識(shí)別準(zhǔn)確率,并且可以直接基于區(qū)域總面積和完整面板圖像的面積獲得微穿孔板的開孔率,有效降低人為檢測(cè)開孔率需花費(fèi)的時(shí)間。進(jìn)一步的,圖像識(shí)別方式檢測(cè)微孔并計(jì)算開孔率的方式,相較于理論公式計(jì)算的方式,圖像識(shí)別方式可以更為反應(yīng)和貼近微穿孔板的實(shí)際微孔情況。



技術(shù)特征:

1.一種開孔率確定方法,其特征在于,所述開孔率確定方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開孔率確定方法,其特征在于,所述完整面板圖像為灰度圖像,所述獲取微穿孔板的完整面板圖像,包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的開孔率確定方法,其特征在于,所述控制激光共聚焦顯微鏡對(duì)已固定在固定臺(tái)上的微穿孔板進(jìn)行掃描,包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的開孔率確定方法,其特征在于,在所述基于預(yù)設(shè)像素值范圍識(shí)別所述面板圖像,獲得多個(gè)微孔區(qū)域圖像之后,所述開孔率確定方法還包括:

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的開孔率確定方法,其特征在于,所述開孔率確定方法還包括:

6.一種開孔率確定裝置,其特征在于,所述開孔率確定裝置包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開孔率確定裝置,其特征在于,所述完整面板圖像為灰度圖像,所述獲取單元包括:

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開孔率確定裝置,其特征在于,所述掃描子單元具體配置為:

9.一種電子設(shè)備,其特征在于,包括至少一個(gè)處理器和與所述處理器連接的存儲(chǔ)器,其中:

10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,其特征在于,包括計(jì)算機(jī)可讀指令,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)可讀指令在電子設(shè)備上運(yùn)行時(shí),使得所述電子設(shè)備實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5中任意一項(xiàng)所述的開孔率確定方法。


技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)公開了一種開孔率確定方法、裝置、電子設(shè)備和計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,涉及夾層結(jié)構(gòu)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,包括:獲取微穿孔板的完整面板圖像;并基于預(yù)設(shè)像素值范圍識(shí)別,獲得多個(gè)微孔區(qū)域圖像;其中,預(yù)設(shè)像素值范圍的獲取過程為:響應(yīng)于點(diǎn)擊操作,確定完整面板圖像的一個(gè)位置點(diǎn),并以此為基準(zhǔn)進(jìn)行填充,獲得一個(gè)微孔區(qū)域,以微孔區(qū)域邊界處的最低像素值作為最小取值,以微孔區(qū)域中的最高像素值作為最大取值;根據(jù)多個(gè)微孔區(qū)域圖像的區(qū)域總面積和完整面板圖像的面積獲得微穿孔板的開孔率。本申請(qǐng)根據(jù)像素值范圍識(shí)別微孔區(qū)域圖像,基于區(qū)域總面積和完整面板圖像的面積獲得開孔率,減少時(shí)間,圖像識(shí)別方式可以更為反應(yīng)和貼近微穿孔板的實(shí)際微孔情況。

技術(shù)研發(fā)人員:王占彬,劉昌奎,肖淑華,孫煒,韓雨田,張行健
受保護(hù)的技術(shù)使用者:中國(guó)航發(fā)北京航空材料研究院
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/1/6
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