技術(shù)特征：

1.一種缺陷圖像生成方法，其特征在于，包括步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷圖像生成方法，其特征在于，在所述根據(jù)多個(gè)所述正常樣本圖像和高斯噪聲，計(jì)算獲取每個(gè)所述正常樣本圖像對應(yīng)的缺陷掩碼的步驟中，具體包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷圖像生成方法，其特征在于，在所述計(jì)算獲取每個(gè)所述正常樣本圖像對應(yīng)的缺陷樣本圖像的步驟中，具體包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷圖像生成方法，其特征在于，所述第一生成網(wǎng)絡(luò)通過第一初始生成網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練得到，訓(xùn)練方法包括步驟：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的缺陷圖像生成方法，其特征在于，所述第一生成網(wǎng)絡(luò)的訓(xùn)練方法還包括步驟：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的缺陷圖像生成方法，其特征在于，所述第二生成網(wǎng)絡(luò)通過第二初始生成網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練得到，訓(xùn)練方法包括步驟：

7.一種缺陷圖像生成裝置，其特征在于，包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的缺陷圖像生成裝置，其特征在于，所述第一生成網(wǎng)絡(luò)包括第一生成器和第一雙層次判別器，所述第二生成網(wǎng)絡(luò)包括第二生成器和第二雙層次判別器；

9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述方法的步驟。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述方法的步驟。

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┝艘环N缺陷圖像生成方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。該方法包括步驟：獲取多個(gè)正常樣本圖像，將正常樣本圖像和高斯噪聲輸入第一生成網(wǎng)絡(luò)中；根據(jù)多個(gè)正常樣本圖像和高斯噪聲，計(jì)算獲取每個(gè)正常樣本圖像對應(yīng)的缺陷掩碼；將正常樣本圖像和其對應(yīng)的缺陷掩碼輸入第二生成網(wǎng)絡(luò)中，計(jì)算獲取每個(gè)正常樣本圖像對應(yīng)的缺陷樣本圖像。本申請通過利用大量現(xiàn)有的正常樣本圖像，生成大量高質(zhì)量、種類多樣且合理的缺陷掩碼和缺陷樣本圖像，進(jìn)一步將大量的缺陷掩碼和缺陷樣本圖像用于下游的缺陷檢測任務(wù)，不僅適用范圍廣，還能在生成缺陷樣本圖像的同時(shí)提供缺陷樣本圖像的像素級(jí)標(biāo)簽，即缺陷掩碼，有效提升了下游任務(wù)的性能。

技術(shù)研發(fā)人員：姜曉恒,徐明亮,李英杰,盧洋,崔麗莎,南曉斐
受保護(hù)的技術(shù)使用者：鄭州大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6