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系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

文檔序號(hào):40453761發(fā)布日期:2024-12-27 09:18閱讀:18來源:國知局
系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)與流程

本發(fā)明涉及電子通信,具體涉及一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。


背景技術(shù):

1、系統(tǒng)級(jí)芯片(system?on?chip,soc)是指將中央處理器cpu和輸入輸出外設(shè)、存儲(chǔ)器以及其他功能外設(shè)集成為一體的芯片。隨著系統(tǒng)級(jí)芯片應(yīng)用場(chǎng)景越來越復(fù)雜,對(duì)于系統(tǒng)級(jí)芯片的功耗要求越來越高,低功耗設(shè)計(jì)成為系統(tǒng)級(jí)芯片關(guān)鍵性的性能指標(biāo),系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證也成為獨(dú)立驗(yàn)證方向。常見并有效的低功耗設(shè)計(jì)采用電源域設(shè)計(jì),系統(tǒng)級(jí)芯片在不同的工作模式時(shí)只保留必要的電源域工作,其他電源域全部處于掉電狀態(tài),從而大大節(jié)省系統(tǒng)級(jí)芯片功耗。

2、但系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗設(shè)計(jì)給系統(tǒng)級(jí)芯片驗(yàn)證提出了新的挑戰(zhàn),目前普遍采用的低功耗驗(yàn)證方法是在單元測(cè)試ut層或者系統(tǒng)測(cè)試st層通過芯片中電源域設(shè)計(jì)進(jìn)行約束的文件格式(unified?power?format,upf)模擬芯片睡眠及喚醒場(chǎng)景,通過斷言(systemverilog?assertion,sva)或者波形檢查具體信號(hào)是否符合預(yù)期,這種方法只能驗(yàn)證硬件的正確性并很難做到自動(dòng)化監(jiān)控。實(shí)際低功耗場(chǎng)景的處理是軟硬件強(qiáng)相關(guān)的,除了驗(yàn)證硬件能否正確喚醒外,還需要驗(yàn)證romcode軟件能否從低功耗喚醒后正確啟動(dòng)。而romcode軟件的驗(yàn)證一般是在現(xiàn)場(chǎng)可編程邏輯門陣列fpga上進(jìn)行,但是fpga上沒法模擬芯片的低功耗關(guān)電源域場(chǎng)景。因此,目前亟需一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,以解決現(xiàn)有技術(shù)中缺乏對(duì)于系統(tǒng)級(jí)芯片軟硬件強(qiáng)相關(guān)的實(shí)際場(chǎng)景進(jìn)行低功耗驗(yàn)證的問題。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述不足,本發(fā)明提供一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),有效解決現(xiàn)有技術(shù)中缺乏對(duì)于系統(tǒng)級(jí)芯片軟硬件強(qiáng)相關(guān)的實(shí)際場(chǎng)景進(jìn)行低功耗驗(yàn)證的問題。

2、第一方面,本發(fā)明提供一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,所述方法應(yīng)用于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件和電源域約束文件格式upf約束文件搭建的驗(yàn)證平臺(tái),所述方法包括:

3、在預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段通過驗(yàn)證平臺(tái)模擬系統(tǒng)級(jí)芯片上電,將芯片啟動(dòng)指令和aon寄存器匯編指令預(yù)先載入所述系統(tǒng)級(jí)芯片中;

4、執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述系統(tǒng)級(jí)芯片的電源管理單元是否進(jìn)入低功耗狀態(tài);

5、若所述電源管理單元未進(jìn)入所述低功耗狀態(tài),所述系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),重新引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令;

6、若所述電源管理單元進(jìn)入所述低功耗狀態(tài),引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片的中央處理器執(zhí)行aon寄存器匯編指令,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令是否正確執(zhí)行,以確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片是否低功耗驗(yàn)證成功。

7、進(jìn)一步的,所述預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段包括寄存器傳輸級(jí)rtl仿真階段和電源pg網(wǎng)表仿真階段。

8、進(jìn)一步的,所述在預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段通過驗(yàn)證平臺(tái)模擬系統(tǒng)級(jí)芯片上電,包括:

9、若所述預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段為所述寄存器傳輸級(jí)rtl仿真階段,則通過標(biāo)準(zhǔn)庫上電函數(shù)給電源信號(hào)模擬供電。

10、若所述預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段為所述電源pg網(wǎng)表仿真階段,則通過拉高電源引腳進(jìn)行模擬供電。

11、進(jìn)一步的,所述芯片啟動(dòng)指令包括所述系統(tǒng)級(jí)芯片的初始化配置參數(shù)、啟動(dòng)環(huán)境參數(shù)和啟動(dòng)地址參數(shù),所述aon寄存器匯編指令包括串口打印命令和固定寄存器操作命令。

12、進(jìn)一步的,所述將芯片啟動(dòng)指令和aon寄存器匯編指令預(yù)先載入所述系統(tǒng)級(jí)芯片中,包括:

13、將所述芯片啟動(dòng)指令和所述aon寄存器匯編指令對(duì)應(yīng)的軟件文本文件轉(zhuǎn)換成對(duì)應(yīng)的二進(jìn)制文件;

14、通過硬件描述語言將對(duì)應(yīng)的所述二進(jìn)制文件寫入所述系統(tǒng)級(jí)芯片中。

15、進(jìn)一步的,所述系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),重新引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令,包括:

16、所述系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),所述驗(yàn)證平臺(tái)觸發(fā)所述電源管理單元進(jìn)入所述低功耗狀態(tài),關(guān)閉除aon寄存器外的至少一個(gè)電源域;

17、所述驗(yàn)證平臺(tái)觸發(fā)所述電源管理單元退出所述低功耗狀態(tài),恢復(fù)全部電源域,重新引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令。

18、進(jìn)一步的,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令是否正確執(zhí)行,以確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片是否低功耗驗(yàn)證成功,包括:

19、若所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令正確執(zhí)行,則確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片低功耗驗(yàn)證成功;

20、若所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令未正確執(zhí)行,則確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片低功耗驗(yàn)證失敗。

21、第二方面,本發(fā)明提供一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證系統(tǒng),所述系統(tǒng)應(yīng)用于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件和電源域約束文件格式upf約束文件搭建的驗(yàn)證平臺(tái),所述系統(tǒng)包括:

22、第一處理模塊,用于預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段通過驗(yàn)證平臺(tái)模擬系統(tǒng)級(jí)芯片上電,將芯片啟動(dòng)指令和aon寄存器匯編指令預(yù)先載入所述系統(tǒng)級(jí)芯片中;

23、狀態(tài)判斷模塊,用于執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述系統(tǒng)級(jí)芯片的電源管理單元是否進(jìn)入低功耗狀態(tài);

24、第二處理模塊,用于若所述電源管理單元未進(jìn)入所述低功耗狀態(tài),所述系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),重新引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令;

25、狀態(tài)驗(yàn)證模塊,用于若所述電源管理單元進(jìn)入所述低功耗狀態(tài),引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片的中央處理器執(zhí)行aon寄存器匯編指令,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令是否正確執(zhí)行,以確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片是否低功耗驗(yàn)證成功。

26、第三方面,本發(fā)明提供一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序?qū)崿F(xiàn)如本發(fā)明第一方面所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法。

27、第四方面,本發(fā)明提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如本發(fā)明第一方面所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法。

28、本發(fā)明提供的一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),利用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件和電源域約束文件格式upf約束文件搭建的驗(yàn)證平臺(tái),在寄存器傳輸級(jí)rtl仿真階段和電源pg網(wǎng)表仿真階段從更系統(tǒng)的角度對(duì)系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗進(jìn)行驗(yàn)證,與系統(tǒng)級(jí)芯片的實(shí)際使用場(chǎng)景接近,同時(shí)可以有效驗(yàn)證系統(tǒng)級(jí)芯片啟動(dòng)以及軟硬件協(xié)同處理的正確性,自動(dòng)化判斷低功耗驗(yàn)證是否成功。



技術(shù)特征:

1.一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述方法應(yīng)用于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件和電源域約束文件格式upf約束文件搭建的驗(yàn)證平臺(tái),所述方法包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段包括寄存器傳輸級(jí)rtl仿真階段和電源pg網(wǎng)表仿真階段。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述在預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段通過驗(yàn)證平臺(tái)模擬系統(tǒng)級(jí)芯片上電,包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述芯片啟動(dòng)指令包括所述系統(tǒng)級(jí)芯片的初始化配置參數(shù)、啟動(dòng)環(huán)境參數(shù)和啟動(dòng)地址參數(shù),所述aon寄存器匯編指令包括串口打印命令和固定寄存器操作命令。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述將芯片啟動(dòng)指令和aon寄存器匯編指令預(yù)先載入所述系統(tǒng)級(jí)芯片中,包括:

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),重新引導(dǎo)所述系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行所述芯片啟動(dòng)指令,包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法,其特征在于,所述驗(yàn)證平臺(tái)判斷所述aon寄存器匯編指令是否正確執(zhí)行,以確定所述系統(tǒng)級(jí)芯片是否低功耗驗(yàn)證成功,包括:

8.一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)應(yīng)用于電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化軟件和電源域約束文件格式upf約束文件搭建的驗(yàn)證平臺(tái),所述系統(tǒng)包括:

9.一種電子設(shè)備,包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序?qū)崿F(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法。


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供一種系統(tǒng)級(jí)芯片的低功耗驗(yàn)證方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:在預(yù)設(shè)驗(yàn)證階段通過驗(yàn)證平臺(tái)模擬系統(tǒng)級(jí)芯片上電,將芯片啟動(dòng)指令和AON寄存器匯編指令預(yù)先載入系統(tǒng)級(jí)芯片中;執(zhí)行芯片啟動(dòng)指令,驗(yàn)證平臺(tái)判斷電源管理單元是否進(jìn)入低功耗狀態(tài);若電源管理單元未進(jìn)入低功耗狀態(tài),系統(tǒng)級(jí)芯片正常上電啟動(dòng),重新引導(dǎo)系統(tǒng)級(jí)芯片執(zhí)行芯片啟動(dòng)指令;若電源管理單元進(jìn)入低功耗狀態(tài),引導(dǎo)系統(tǒng)級(jí)芯片的中央處理器執(zhí)行AON寄存器匯編指令,驗(yàn)證平臺(tái)判斷AON寄存器匯編指令是否正確執(zhí)行,以確定系統(tǒng)級(jí)芯片是否低功耗驗(yàn)證成功。本發(fā)明可以有效驗(yàn)證系統(tǒng)級(jí)芯片啟動(dòng)以及軟硬件協(xié)同處理的正確性,自動(dòng)化判斷低功耗驗(yàn)證是否成功。

技術(shù)研發(fā)人員:孫成思,何瀚,王燦,樓煌輝,李想
受保護(hù)的技術(shù)使用者:杭州芯勢(shì)力半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/26
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