本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)，尤其涉及一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、在目前的互聯(lián)網(wǎng)環(huán)境和金融、貿(mào)易等領(lǐng)域，大多數(shù)的存儲(chǔ)系統(tǒng)都要求全天不間斷地對外界提供服務(wù)，長時(shí)間地不間斷運(yùn)行后，將會(huì)導(dǎo)致存儲(chǔ)系統(tǒng)不斷老化，進(jìn)而導(dǎo)致存儲(chǔ)系統(tǒng)的故障率上升，運(yùn)行效率下降。因此，如何有效識別存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，是目前業(yè)界亟待解決的重要課題。

2、相關(guān)技術(shù)中，通常僅針對存儲(chǔ)系統(tǒng)的功能和性能開展對應(yīng)的測試，而針對存儲(chǔ)系統(tǒng)老化的測試方法不足，導(dǎo)致與存儲(chǔ)系統(tǒng)的軟硬件老化相關(guān)的問題通常很難識別和消除，只能依賴人工在長期運(yùn)行過程中周期性地對存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行檢測，以發(fā)現(xiàn)存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，導(dǎo)致無法及時(shí)、準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，進(jìn)而難以保障存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中依賴人工在長期運(yùn)行過程中周期性地對存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行檢測，無法及時(shí)、準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，難以保障存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性的缺陷，實(shí)現(xiàn)及時(shí)、精準(zhǔn)地預(yù)測和識別存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，進(jìn)而提高存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性。

2、本發(fā)明提供一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，包括：

3、根據(jù)待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)信息，在多個(gè)老化測試因子庫和多個(gè)老化測試因子互斥庫中，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)老化測試因子庫和目標(biāo)老化測試因子互斥庫；所述目標(biāo)老化測試因子庫包括多項(xiàng)可執(zhí)行的測試因子，所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫包括多對互斥的第一測試因子對；

4、根據(jù)所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)所需執(zhí)行的測試因子的目標(biāo)數(shù)量、所述目標(biāo)老化測試因子庫和所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)測試因子集；所述目標(biāo)測試因子集包括所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子；

5、根據(jù)所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行老化測試，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試結(jié)果。

6、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，各所述老化測試因子庫是基于如下步驟構(gòu)建的：

7、根據(jù)各存儲(chǔ)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)信息，獲取各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化模式庫；各所述老化模式庫包括各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)中各軟件和各硬件的老化信息；

8、根據(jù)所述老化信息，獲取各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試庫；

9、按照各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化因素類型，對所述老化測試庫中的老化測試用例進(jìn)行拆分，得到多個(gè)不同老化因素類型的子測試庫；

10、按照各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)的部件類型和老化測試內(nèi)容，對各所述子測試庫中的老化測試用例進(jìn)行拆分，得到各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的多項(xiàng)可執(zhí)行的測試因子；

11、根據(jù)各所述存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的多項(xiàng)可執(zhí)行的測試因子，構(gòu)建各所述老化測試因子庫。

12、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，所述方法還包括：

13、判斷所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試結(jié)果是否滿足所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試需求，得到第一判斷結(jié)果；

14、在判斷獲知所述老化測試結(jié)果不滿足所述老化測試需求的情況下，根據(jù)所述第一判斷結(jié)果，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試庫進(jìn)行更新。

15、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，各所述老化測試因子互斥庫是基于如下步驟構(gòu)建的：

16、根據(jù)各所述老化測試因子庫的各對測試因子對中各測試因子的配置信息，對各對所述測試因子對進(jìn)行沖突檢驗(yàn)；所述測試因子對為每兩個(gè)測試因子組合形成的因子對；

17、根據(jù)沖突檢驗(yàn)結(jié)果，在各所述老化測試因子庫的多對所述測試因子對中，獲取配置信息中存在沖突項(xiàng)的測試因子對作為第一測試因子對；

18、根據(jù)多對第一測試因子對，構(gòu)建各所述老化測試因子庫對應(yīng)的老化測試因子互斥庫。

19、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，所述根據(jù)所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)所需執(zhí)行的測試因子的目標(biāo)數(shù)量、所述目標(biāo)老化測試因子庫和所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)測試因子集，包括：

20、根據(jù)所述目標(biāo)數(shù)量，在所述目標(biāo)老化測試因子庫中，獲取多組不同的測試因子集；所述測試因子集包含所述目標(biāo)數(shù)量的測試因子；

21、將各組所述測試因子集中每兩個(gè)測試因子進(jìn)行組合，得到各組所述測試因子集中的多對第二測試因子對；

22、將各組所述測試因子集中的各對第二測試因子對與所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫中的各對第一測試因子對進(jìn)行排重；

23、根據(jù)重排結(jié)果，判斷各組所述測試因子集中，是否存在與所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫中的任一對第一測試因子對重復(fù)的第二測試因子對，得到第二判斷結(jié)果；

24、根據(jù)所述第二判斷結(jié)果，在多組所述測試因子集中，獲取不存在所述第二測試因子對的至少一組候選測試因子集；

25、在至少一組所述候選測試因子集中隨機(jī)選擇一組測試因子集，構(gòu)建所述目標(biāo)測試因子集。

26、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，所述根據(jù)所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行老化測試，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試結(jié)果，包括：

27、對所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子進(jìn)行解耦處理，得到多個(gè)獨(dú)立的第一測試用例，根據(jù)各所述第一測試用例，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)分別進(jìn)行老化測試，得到第一老化測試分支結(jié)果；

28、對所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子進(jìn)行耦合，得到第二測試用例，根據(jù)所述第二測試用例，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)整體進(jìn)行老化測試，得到第二老化測試分支結(jié)果；

29、根據(jù)所述第一老化測試分支結(jié)果和所述第二老化測試分支結(jié)果，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試結(jié)果。

30、根據(jù)本發(fā)明提供的一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法，所述方法還包括：

31、根據(jù)樣條插值函數(shù)，對各所述第一測試用例的執(zhí)行信息與所述第一老化測試分支結(jié)果之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行擬合，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的第一性能擬合函數(shù)；

32、根據(jù)所述樣條插值函數(shù)，對所述第二測試用例的執(zhí)行信息與所述第二老化測試分支結(jié)果之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行擬合，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的第二性能擬合函數(shù)；

33、根據(jù)所述第一性能擬合函數(shù)和所述第二性能擬合函數(shù)，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的性能變化信息。

34、本發(fā)明還提供一種存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試裝置，包括：

35、獲取模塊，用于根據(jù)待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)信息，在多個(gè)老化測試因子庫和多個(gè)老化測試因子互斥庫中，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)老化測試因子庫和目標(biāo)老化測試因子互斥庫；所述目標(biāo)老化測試因子庫包括多項(xiàng)可執(zhí)行的測試因子，所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫包括多對互斥的第一測試因子對；

36、隨機(jī)調(diào)用模塊，用于根據(jù)所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)所需執(zhí)行的測試因子的目標(biāo)數(shù)量、所述目標(biāo)老化測試因子庫和所述目標(biāo)老化測試因子互斥庫，獲取所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)測試因子集；所述目標(biāo)測試因子集包括所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子；

37、執(zhí)行模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子，對所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行老化測試，得到所述待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試結(jié)果。

38、本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法。

39、本發(fā)明還提供一種非暫態(tài)計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法。

40、本發(fā)明還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法。

41、本發(fā)明提供的存儲(chǔ)系統(tǒng)老化測試方法、裝置、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，通過根據(jù)待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)信息，關(guān)聯(lián)獲取待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)對應(yīng)的目標(biāo)老化測試因子庫和目標(biāo)老化測試因子互斥庫，并聯(lián)合待測試存儲(chǔ)系統(tǒng)所需執(zhí)行的測試因子的目標(biāo)數(shù)量、目標(biāo)老化測試因子庫和目標(biāo)老化測試因子互斥庫進(jìn)行目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子的優(yōu)化選擇，以基于優(yōu)化選擇的目標(biāo)數(shù)量的待執(zhí)行測試因子進(jìn)行存儲(chǔ)系統(tǒng)的老化測試，以有效預(yù)測和識別存儲(chǔ)系統(tǒng)在全生命周期內(nèi)出現(xiàn)的性能衰退和潛在故障，將存儲(chǔ)系統(tǒng)缺陷提前暴露出來，預(yù)測和提高存儲(chǔ)系統(tǒng)的使用壽命，進(jìn)而提高存儲(chǔ)系統(tǒng)的可靠性。